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Die Erfindung betrifft eine Testschaltungsanordnung
zum Testen eines Endgerätanschlusses
in einem Datenübertragungsnetz.
Das Datenübertragungsnetz
ist beispielsweise ein Telekommunikationsnetz, in dem Sprachdaten
durchschaltevermittelt übertragen
werden. Die Datenübertragung
ist durch die Phasen, Verbindungsaufbau, Datenübertragung und Verbindungsabbau
auf allen Protokollebenen bestimmt. So werden die Daten in Zeitschlitzen
gemäß einem
Zeitmultiplexverfahren übertragen.
Einzelne Übertragungskanäle bleiben
während
einer Datenübertragung
einer Verbindung zugeordnet.
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Das Datenübertragungsnetz kann jedoch auch
ein Datenpaketübertragungsnetz
sein, in dem Sprachdaten oder anderer Nutzdaten in Datenpaketen übertragen
werden, die einen Paketkopf und einen Paketrumpf zur Übertragung
der Nutzdaten haben. Eine verbindungsorientierte Übertragung
findet in den Datenpaketübertragungsnetzen
nur auf höheren
Protokollebenen statt.
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Das Datenübertragungsnetz kann jedoch auch
ein Datenübertragungsnetz
sein, in dem die Daten in einem Übertragungsabschnitt
in einem Telekommunikationsnetz und in einem anderen Übertragungsabschnitt
in einem Datenpaketübertragungsnetz übertragen
werden. Derartige Verfahren werden beispielsweise als Trunking-Verfahren
bezeichnet. Beispielsweise liegen der erste und der letzte Datenübertragungsabschnitt
in einem oder in zwei verschiedenen Telekommunikationsnetzen. Ein
mittlerer Datenübertragungsabschnitt
liegt beispielsweise im Internet.
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Es ist Aufgabe der Erfindung, zum
Testen eines Endgeräteanschlusses
eine einfach aufgebaute Testschaltungsanordnung anzugeben, die insbesondere
in einem zuverlässigen
Testverfahren mit geringem Bedienaufwand eingesetzt werden kann.
Außer dem
sollen ein Testsystem, insbesondere ein Testsystem mit einer solchen
Testschaltungsanordnung, und ein Testverfahren angegeben werden.
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Die auf die Testschaltungsanordnung
bezogene Aufgabe wird durch eine Testschaltungsanordnung mit den
im Patentanspruch 1 angegebenen Merkmalen erfüllt. Weiterbildungen sind in
den Unteransprüchen
angegeben.
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Die erfindungsgemäße Testschaltungsanordnung
enthält:
- – einen
Prüfeinrichtungsanschluss,
der zum Anschluss einer Prüfeinrichtung
geeignet ist, die Funktionen eines in einem Datenübertragungsnetz
betriebenen Endgerätes
nachbildet,
- – einen
netzseitigen Anschluss, der zum Anschluss der Schaltungsanordnung
an das Datenübertragungsnetz
geeignet ist,
- – eine
Steuereinheit, die Signalisierungsfunktionen einer Anschlusseinheit
nachbildet, mit der ein Endgerät
an das Datenübertragungsnetz
angeschlossen wird,
- – eine
vorzugsweise in der Steuereinheit enthaltene Zugriffseinheit, die
auf ein Testergebnisdatum zugreift, in dem ein Testergebnis eines
Tests einer zu testenden Anschlusseinheit vermerkt ist,
- – und
eine vorzugsweise in der Steuereinheit enthaltene Kontrolleinheit,
die im Zusammenwirken mit der Zugriffseinheit bei positivem Testergebnis eine
Nachbildung von Signalisierungsfunktionen zulässt und bei negativem Testergebnis
keine Nachbildung von Signalisierungsfunktionen zulässt.
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Der Prüfeinrichtungsanschluss ermöglicht es,
beim Test eine externe Prüfeinrichtung
zu nutzen, beispielsweise eine sogenannte MTA-Prüfeinrichtung (Metallic Test
Access). Damit wird in den Test eine Prüfeinrichtung einbezogen, für die Bedienpersonal
bereits geschult ist. Außerdem
wird in den Test eine Prüfeinrichtung
einbezogen, die unabhängig von
der zu testen den Anschlusseinheit bzw. unabhängig von einer zu testenden
Vermittlungsstelle arbeitet und beispielsweise auch von einem anderen Hersteller
hergestellt worden ist, als die Anschlusseinheit bzw. die Vermittlungsstelle.
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Der netzseitige Anschluss gewährleistet, dass
die Schaltungsanordnung auf einfache Art und Weise beim Test bereits
vorhandene Steuerfunktionen nutzen kann. So lässt sich über den netzseitigen Anschluss
auf einfache Weise das Testergebnisdatum zu der Testschaltungsanordnung übertragen.
Jedoch ist auch ein einfacher Zugriff auf ein an einer anderen Stelle
als in der Testschaltungsanordnung gespeichertes Testergebnisdatum über den
netzseitigen Anschluss möglich.
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Durch die Einbeziehung eines Testergebnisdatums
lässt sich
ein Teil des Tests unabhängig
von der Testschaltungsanordnung durchführen, beispielsweise durch
einen Selbsttest der zu testenden Anschlusseinheit.
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Bei einer Weiterbildung der Testschaltungsanordnung
werden die Funktionen der Steuereinheit, der Zugriffseinheit und
der Kontrolleinheit durch eine ohne Prozessor arbeitende elektronische
Schaltung erbracht. Bei einer alternativen Weiterbildung wird eine
Schaltung eingesetzt, die einen Prozessor enthält. Der Prozessor arbeitet
Programmbefehle eines Programms ab und erbringt dabei Funktionen
der Steuereinheit, der Zugriffseinheit und der Kontrolleinheit.
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Bei einer anderen Weiterbildung bildet
die Steuereinheit Signalisierungsfunktionen einer Anschlusseinheit
für ein
Endgerät
mit einer analogen Datenübertragung
nach. Alternativ bildet die Steuereinheit Signalisierungsfunktionen
für ein
Endgerät mit
digitaler Datenübertragung
nach.
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Bei einer nächsten Weiterbildung bildet
die Prüfeinrichtung
die Grundfunktionen eines analogen Endgerätes nach, nämlich:
- – Erzeugen
eines Schleifenschlusses, und
- – die
Wahl eines Kennzeichens.
- Die Testschaltungsanordnung enthält auf der anderen Seite Einheiten,
die Grundfunktionen einer Anschlusseinheit zum Anschluss eines analogen Endgerätes nachbilden,
nämlich:
- – eine
Schleifenschlusserfassungseinheit,
- – eine
Einheit zum Erfassen eines Wählkennzeichens,
- – eine
Versorgungsschaltung, mit der eine Spannung an den Prüfeinrichtungsanschluss
angelegt wird, und
- – eine
Wähltonausgabeeinheit,
die einen Wählton an
die Prüfeinrichtung
anlegt, d.h. ein sogenanntes Freizeichen.
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Bei einer nächsten Weiterbildung dient
der Prüfeinrichtungsanschluss
zum Anschluss einer zweidrahtigen Teilnehmerleitung. Der netzseitige
Anschluss enthält
eine Funktionseinheit, die digitale Daten gemäß einem vorgegebenen Verfahren
sendet und/oder empfängt,
vorzugsweise gemäß einem PCM--Verfahren (pulse
Code modulation) oder gemäß einem
ISDN (Integrated Services Digital Network) orientierten Verfahren,
z.B. dem IOM2-Verfahren (ISDN oriented modulator Interface second
generation). Insbesondere ist der netzseitige Anschluss zum Austausch
von Steuermeldungen geeignet. Im Rahmen dieser Steuermeldungen wird
auch auf das Testergebnisdatum zugegriffen.
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Die Erfindung betrifft in einem weiteren
Aspekt ein Testsystem, das insbesondere eine erfindungsgemäße Testschaltungsanordnung
oder eine deren Weiterbildungen enthält. Das Testsystem enthält:
- – mehrere
Anschlusseinheiten, an die jeweils ein Endgerät eines Datenübertragungsnetzes über eine
Anschlussleitung angeschlossen ist und die jeweils eine Testfunktion
für einen
Selbsttest enthalten,
- – eine
zentrale Steuereinheit, die Steuerfunktionen für die Anschlusseinheiten erbringt,
beispielsweise unter Verwendung eines sogenannten Gruppenprozessors
für mehrere
Anschlusseinheiten oder unter Verwendung eines Zentralpro zessors
für alle
Anschlusseinheiten einer Netzknoteneinrichtung,
- – mindestens
eine zentrale Prüfeinrichtung,
die auch als externe Prüfeinrichtung
ausgebildet sein kann,
- – Umschalteinheiten,
an die jeweils ein zu einem Endgerät führender Abschnitt einer Anschlussleitung,
ein zu einer Anschlusseinheit führender
Verbindungsabschnitt und eine zu der zentralen Prüfeinrichtung
führende
Leitung angeschlossen sind,
- – und
eine zwischen die zentrale Prüfeinrichtung und
die zentrale Steuereinheit geschaltete oder schaltbare Testschaltungsanordnung,
die Signalisierungsfunktionen einer Anschlusseinheit nachbildet.
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Auf Grund dieses Aufbaus des Testsystems gelten
die für
die Testschaltungsanordnung und deren Weiterbildungen genannten
technischen Wirkungen ebenfalls. Außerdem enthält das Testsystem nur eine
kleine Anzahl von Umschalteinheiten. So sind je Anschlussleitung
bei einer Weiterbildung nur ein Relais vorgesehen, das vorzugsweise
weniger als vier Umschalter enthält,
beispielsweise nur zwei Umschalter. Alternativ werden je Anschlussleitung
nur vier Schalttransistoren verwendet. Durch diese Maßnahmen
lassen sich die Herstellungskosten für das Testsystem beträchtlich
verringern.
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Die Erfindung betrifft in einem weiteren
Aspekt ein Verfahren zum Testen eines Endgerätanschlusses, insbesondere
mit der erfindungsgemäßen Testschaltungsanordnung
bzw. mit dem erfindungsgemäßen Testsystem
bzw. mit deren Weiterbildungen. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren
werden ohne Beschränkung
durch die angegebene Reihenfolge folgende Verfahrensschritte ausgeführt:
- – Senden
einer Prüfanforderung
an eine Anschlusseinheit, die zum Anschluss eines Endgerätes eines
Datenübertragungsnetzes
dient,
- – Ausführen eines
Selbsttests der Anschlusseinheit,
- – Vermerken
des Testergebnisses des Selbsttests, und
- – Ausführen eines
Funktionstests mit Hilfe einer zentralen Prüfeinrichtung, die unabhängig von dem
Testergebnis arbeitet, und mit Hilfe einer Prüfeinrichtungsanschlusseinheit,
die abhängig
von dem Testergebnis die Funktion der Anschlusseinheit nachbildet.
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Bei einer anderen Weiterbildung wird
beim Bearbeiten einer Belegungsanforderung die zentrale Steuereinheit
einbezogen. Dadurch lässt
sich die Auslastung einer vermittlungstechnischen Einrichtung prüfen oder
es lassen sich Teilnehmersperren in den Test einbeziehen.
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Damit gelten für das erfindungsgemäße Verfahren
und dessen Weiterbildung ebenfalls die oben genannten technischen
Wirkungen.
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Im Folgenden werden Ausführungsbeispiele der
Erfindung an Hand der beiliegenden Zeichnungen erläutert. Darin
zeigen:
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1 Funktionseinheiten
eines Testsystems zum Testen von Anschlusseinheiten für analoge
Endgeräte
an eine Vermittlungsstelle, und
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2 während des
Tests ausgeführte
Verfahrensschritte.
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1 zeigt
Funktionseinheiten eines Testsystems, mit dessen Hilfe sich Teilnehmer-Anschlusseinheiten 12 bis 16 testen
lassen, beispielsweise acht oder zweiunddreißig Anschlusseinheiten einer
Anschlussbaugruppe (Line Trunc Group – LTG). Jede Anschlusseinheit 12 bis 16 ist
unter Zwischenschaltung jeweils eines Relais 20 bis 24 mit
jeweils einer Anschlussleitung 30 bis 34 verbunden. Die
Anschlussleitungen 30 bis 34 haben jeweils zwei Adern,
beispielsweise aus Kupfer, siehe a-Adern 30a bis 34a und
b-Adern 30b bis 34b. Die Anschlussleitungen 30 bis 34 führen zu
Teilnehmern T1nA bis T1nN, wobei N eine natürliche Zahl bezeichnet, deren
Wert mit der Anzahl der Anschlusseinheiten 12 bis 16 übereinstimmt.
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Zwischen den Relais 20 bis 24 und
den Anschlusseinheiten 12 bis 16 liegen jeweils
Verbindungsabschnitte 40 bis 44, die ebenfalls
jeweils zwei elektrisch leitende Verbindungsadern 40a, 40b bis 44a, 44b enthalten.
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Jedes Relais 20 bis 24 enthält zwei
Umschalter 20a, 20b bis 24a, 24b.
Die Beschaltung der Umschalter 20a bis 24b ist
für alle
Anschlusseinheiten 12 bis 16 gleich und wird deshalb
im Folgenden nur für
die Umschalter 20a und 20b erläutert.
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Die a-Ader 30a ist mit dem
Mittelkontakt des Umschalters 20a verbunden. Der Umschalter 20a ist in
Ruhestellung mit dem Verbindungsabschnitt 40a verbunden.
Der Mittelkontakt des Umschalters 20b ist mit der b-Ader 30b verbunden.
In Ruhestellung ist der Umschalter 20b mit dem Verbindungsabschnitt 40b verbunden.
Damit sind auch die Anschlussleitung 30 und die Teilnehmer-Anschlusseinheit 12 miteinander
verbunden. Ein Endgerät
des Teilnehmers T1nA ist damit auch mit dem Telekommunikationsnetz
verbunden.
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Für
einen Testmodus ist der Umschalter 20a mit einer Leitung 50a verbindbar,
die zu einer zentralen Prüfeinrichtung 52 des
Testsystems 10 führt. Ebenso
ist der Umschalter 20b im Testmodus mit einer Leitung 50b verbunden,
die ebenfalls zur Prüfeinrichtung 52 führt. Die
Leitungen 50a, 50b werden auch als Outgoing-Testbus
der Prüfeinrichtung 52 bezeichnet.
Im Testmodus besteht damit keine Verbindung zwischen dem Endgerät eines
Teilnehmers, z.B. T1nA und einer Teilnehmeranschlusseinheit, z.B.
der Anschlusseinheit 12. Mit Hilfe der anderen Relais 20 bis 24 sind
auch die anderen Anschlussleitungen 30 bis 34 mit
der Prüfeinrichtung 52 wahlweise
verbindbar.
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Die zentrale Prüfeinrichtung 52 ist
beispielsweise eine sogenannte MTA-Prüfeinrichtung (Metallic Test
Access) und besitzt neben einem Anschluss für die Leitungen 50a, 50b einen
weite ren Anschluss für
Leitungen 54a und 54b, die zu einem Relais 60 führen, das
zwei Arbeitskontakte 62a und 62b enthält, d.h.
sogenannte Schließer.
Die Leitung 54a führt zum
Arbeitskontakt 62a. Die Leitung 54b führt zum Arbeitskontakt 62b.
Der andere Anschluss des Arbeitskontaktes 62a ist mit einer
elektrisch leitenden Verbindung 64a verbunden, die zu einer
Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 führt. Von
dem anderen Anschluss des Arbeitskontaktes 62b führt eine
Verbindung 64b zu der Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66.
Die Leitungen 54a, 54b werden auch als Ingoing-Testbus
der Prüfeinrichtung 52 bezeichnet.
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Außerdem enthält das Testsystem 10 eine zentrale
Steuereinheit 68, die über
Kommunikationsschnittstellen 70 bis 74 mit den
Teilnehmer-Anschlusseinheiten 12 bis 16 und über eine
funktionsgleiche Kommunikationsschnittstelle 76 mit der
Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 Daten
austauscht. Beispielsweise ist die zentrale Steuereinheit 68 ein Gruppenprozessor
für eine
Gruppe von Anschlusseinheiten oder ein Zentralprozessor einer Vermittlungsstelle,
in der sich mehrere Gruppen von Anschlusseinheiten für Teilnehmer
befinden.
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Die Teilnehmer-Anschlusseinheiten 12 bis 16 enthalten
jeweils:
- – ein
Hochvoltteil zum Schützen
der Anschlusseinheit vor Oberspannungen auf einer Anschlussleitung,
- – eine
Analog-Digital-Wandlereinheit bzw, eine Digital-Analog-Wandlereinheit,
- – eine
Datenverarbeitungseinheit, und
- – eine
integrierte Testfunktion für
einen Selbsttest der Anschlusseinheit, die auch als ILTF-Einheit (Integrated
Line Test Function) bezeichnet wird. Die ILTF-Einheit ist bspw.
in einem Telekommunikationsschaltkreis einer Anschlusseinheit 12 bis 16 integriert.
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Die zentrale Prüfeinrichtung 52 enthält:
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- – eine
Einheit zum Prüfen
der Leitungsseite an den Leitungen 50a, 50b. Insbesondere
zum Prüfen
von elektrischen Parametern wie Nebenschluss, Weckerkapazität, Fremdspannungen usw.
- – eine
Funktionsprüfungseinheit
zu den Leitungen 54a, 54b hin. Insbesondere dient
die Funktionsprüfungseinheit
zum Herstellen eines Schleifenschlusses, zum Prüfen eines Wähltones und zum Senden einer
Ziffer.
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Die Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 enthält:
- – eine
Spannungserzeugungsschaltung zum Anlegen einer Spannung an die Verbindungen 64a, 64b,
- – eine
Schleifenschlusserfassungseinheit,
- – eine
Wähltonerzeugungseinheit,
- – eine
Steuereinheit.
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Im Ausführungsbeispiel enthält die Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 einen
A/D-Wandler und einen D/A-Wandler, um in Sonderfällen Sprache über die
Anschlusseinheit 66 übertragen
zu können. Bei
einem anderen Ausführungsbeispiel
enthält
die Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 dagegen
keinen A/D-Wandler und keinen D/A-Wandler, weil keine Sprache über die
Anschlusseinheit 66 übertragen werden
muss.
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In 1 ist
eine übergeordnete
Steuerschaltung des Testsystems 10 zum Steuern der Relais 20 bis 24 und 60 aus
Gründen
der besseren Obersicht nicht dargestellt. Diese Steuerschaltung
schaltet die Relais 20 bis 24 und 60 abhängig von
der zu testenden Anschlusseinheit 12 bis 16 in Übereinstimmung mit
den Ausführungen
zu der 2.
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2 zeigt
Verfahrensschritte während
des Tests einer Anschlusseinheit, z.B. der Anschlusseinheit 12,
mit Hilfe des Testsystems 10. Das Verfahren beginnt in
einem Verfahrensschritt 100 mit dem Aufstellen des Testsystems 10.
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In einem folgenden Verfahrensschritt 102 wird
ein Prüfauftrag
erzeugt, beispielsweise automatisch oder manuell. Der Prüfauftrag
wird beispielsweise von der zentralen Prüfeinrichtung 52 oder
von einer anderen Einheit erzeugt. Aufgrund des Prüfauftrages
werden in einem Verfahrensschritt 104 das Relais 20 umgeschaltet
und das Relais 60 geschaltet. Damit ist die Leitungsseite
der Anschlusseinheit 12 unbeschaltet und die zentrale Prüfeinrichtung
ist sowohl mit der Anschlussleitung 30 als auch mit der Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 verbunden.
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Gleichzeitig oder in beliebiger Reihenfolge nacheinander
werden dann Verfahrensschritte 106 bis 108 ausgeführt. Im
Verfahrensschritt 106 wird mit Hilfe der zentralen Prüfeinrichtung 52 die
Anschlussleitung 30 vermessen. Dabei werden elektrische
Parameter bestimmt, z.B. ein Nebenschlusswiderstand, eine Weckerkapazität oder eine
Fremdspannung.
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Gleichzeitig wird in einem Verfahrensschritt 108 die
Prüfung
der Teilnehmer-Anschlusseinheit 12 mit Hilfe des Selbsttests
veranlasst, beispielsweise unter Einbeziehung der zentralen Steuereinheit 68 über die
Kommunikationsschnittstelle 70. Bei diesem Selbsttest werden
sämtliche
Funktionen der Anschlusseinheit 12 überprüft. Am Ende des Selbsttests
wird ein Testergebnisdatum über
die Kommunikationsschnittstelle 70 und die zentrale Steuereinheit 68 zur
Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 gesendet
und dort gespeichert, siehe Verfahrensschritt 110. Auf
Grund der Abtrennung der Anschlussleitung 30 lässt sich
der Selbsttest ungestört
durchführen.
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Nach der Ausführung der Verfahrensschritte 106 bis 110 folgt
ein Verfahrensschritt 112. Im Verfahrensschritt 112 erzeugt
die zentrale Prüfeinrichtung 52 einen
Schleifenschluss. Die Schleifenschlusserfassungseinheit der PrüfungseinrichtungsAnschlusseinheit 66 erfasst
diesen Schleifenschluss und prüft in
einem Verfahrensschritt 114, ob das Testergebnisdatum ein
positives Testergebnis wiedergibt. Ist dies der Fall, so folgt unmittelbar
nach dem Verfahrensschritt 114 ein Verfahrensschritt 116.
Im Verfahrensschritt 116 wird die durch den Schleifenschluss
signalisierte Belegung in der Anschlusseinheit 66 protokollgemäß bearbeitet.
Demzufolge erzeugt die, Anschlusseinheit 66 einen Wählton auf
den Verbindungen 64a, 64b. Der Wählton wird
in der zentralen Prüfeinrichtung 52 erfasst
und als Wählton
der Anschlusseinheit 12 angesehen.
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Bei einem anderen Ausführungsbeispiel
wird die Belegung an die zentrale Steuereinheit 68 weitergeleitet.
Die zentrale Steuereinheit 68 reserviert einen Zeitschlitz
und bestätigt
die Reservierung mit einer Rückmeldung
an die Anschlusseinheit 66. Erst nach dem Eintreffen der
Rückmeldung
wird der Wählton
erzeugt. An Hand der Wähltonreaktionszeit, d.h.
der Zeit vom Schleifenschluss bis zum Erfassen des Wähltones
in der zentralen Prüfeinrichtung 52, wird
auch die vermittlungstechnische Auslastung der Vermittlungsstelle
erfasst. Durch diese Vorgehen lassen sich bspw. auch softwaretechnische
Teilnehmersperren im Test nachbilden.
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Wird dagegen im Verfahrensschritt 114 festgestellt,
dass das gespeicherte Testergebnisdatum ein negatives Testergebnis
wiedergibt, so erzeugt die Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 keinen
Wählton,
siehe Verfahrensschritt 118. Die zentrale Prüfeinrichtung 52 erfasst
das Fehlen des Wähltones
und wertet es als Fehler der Teilnehmer-Anschlusseinheit 12,
d.h. der zu testenden Anschlusseinheit.
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Weitere Verfahrensschritte 120 sind
in 2 durch Punkte dargestellt.
Während
dieser Verfahrensschritte werden weitere Funktionen mit Hilfe der zentralen
Prüfeinrichtung 52 geprüft. Beispielsweise wird
eine Rufnummer gewählt.
Die Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 gibt
die Verbindungsaufbauanforderung nur bei einem positiven Testergebnis an
die zentrale Steuereinheit 68 weiter. Bei einem negativen
Testergebnis wird keine Verbindungsaufbauanforderung weitergegeben,
so dass auch kein Verbindungsaufbau von der zentralen Prüfein richtung 52 zu
einem anderen Teilnehmer des Telekommunikationsnetzes durchgeführt wird.
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Nach der Ausführung aller in der zentralen Prüfeinrichtung 52 vorgesehenen
Testschritte wird das Testverfahren in einem Verfahrensschritt 122 beendet.
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Bei einem anderen Ausführungsbeispiel
werden an Stelle nur eines Testergebnisdatums mehrere Testergebnisdaten
für verschiedene
Testfunktionen in der Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 vermerkt.
Damit kann die Funktion der zu testenden Teilnehmer-Anschlusseinheit 12 detaillierter
durch die Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 nachgebildet werden.
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Durch die Verwendung des Testsystems 10 lässt sich
die Zuverlässigkeit
der Tests über
den von der zentralen Prüfeinrichtung 52 angebotenen
Testumfang hinaus erhöhen,
weil das Testergebnisdatum beispielsweise auch von Testfunktionen
abhängen kann,
die mit Hilfe der zentralen Prüfeinrichtung 52 nicht
geprüft
werden können.
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Bei der Erfindung wird also die Anschlussleitungsprüfung über anschlussindividuelle
Relais zur Anschaltung der zentralen Prüfeinrichtung durchgeführt. Die
Prüfung
der Anschlusseinheiten wird über den
Selbsttest der Anschlusseinheiten durchgeführt. Das Testergebnis wird
der zentralen Prüfeinrichtung indirekt über den
sogenannten Ingoing-Anschluss 54a, 54b signalisiert.
Die Prüfeinrichtungs-Anschlusseinheit 66 dient
damit als Ergebnisschnittstelle für das Testergebnisdatum.