DE102019104084B4 - Process for influencing the inductance and/or capacitance of an electronic circuit - Google Patents
Process for influencing the inductance and/or capacitance of an electronic circuit Download PDFInfo
- Publication number
- DE102019104084B4 DE102019104084B4 DE102019104084.1A DE102019104084A DE102019104084B4 DE 102019104084 B4 DE102019104084 B4 DE 102019104084B4 DE 102019104084 A DE102019104084 A DE 102019104084A DE 102019104084 B4 DE102019104084 B4 DE 102019104084B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- substance
- capacitance
- inductance
- procedure
- influencing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0216—Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
- H05K1/023—Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference using auxiliary mounted passive components or auxiliary substances
- H05K1/0231—Capacitors or dielectric substances
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0216—Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
- H05K1/023—Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference using auxiliary mounted passive components or auxiliary substances
- H05K1/0233—Filters, inductors or a magnetic substance
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F1/00—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties
- H01F1/01—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials
- H01F1/03—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity
- H01F1/12—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity of soft-magnetic materials
- H01F1/34—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity of soft-magnetic materials non-metallic substances, e.g. ferrites
- H01F1/36—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity of soft-magnetic materials non-metallic substances, e.g. ferrites in the form of particles
- H01F1/37—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity of soft-magnetic materials non-metallic substances, e.g. ferrites in the form of particles in a bonding agent
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0237—High frequency adaptations
- H05K1/025—Impedance arrangements, e.g. impedance matching, reduction of parasitic impedance
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/08—Magnetic details
- H05K2201/083—Magnetic materials
- H05K2201/086—Magnetic materials for inductive purposes, e.g. printed inductor with ferrite core
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/01—Tools for processing; Objects used during processing
- H05K2203/0104—Tools for processing; Objects used during processing for patterning or coating
- H05K2203/0126—Dispenser, e.g. for solder paste, for supplying conductive paste for screen printing or for filling holes
Abstract
Verfahren zur Beeinflussung der Induktivität und/oder Kapazität einer elektronischen Schaltung, welche Bauelemente aufweist, die über Leiterbahnen miteinander verbunden sind, bis ein gewünschter Wert einer Induktivität und/oder Kapazität erreicht ist, dadurch gekennzeichnet, dass zur Erzielung dieses Wertes auf einen Bereich der Leiterbahn eine kapazitiv wirkende Substanz und/oder eine induktiv wirkende Substanz aufgebracht wird/werden.Method for influencing the inductance and/or capacitance of an electronic circuit which has components which are connected to one another via conductor tracks until a desired value of an inductance and/or capacitance is reached, characterized in that to achieve this value an area of the conductor track a capacitively acting substance and/or an inductively acting substance is/are applied.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Beeinflussung der Induktivität und/oder Kapazität einer elektronischen Schaltung, welche Bauelemente aufweist, die über Leiterbahnen miteinander verbunden sind, bis ein gewünschter Wert einer Induktivität und/oder Kapazität erreicht ist,The invention relates to a method for influencing the inductance and/or capacitance of an electronic circuit which has components which are connected to one another via conductor tracks until a desired inductance and/or capacitance value is reached.
Stand der TechnikState of the art
Elektronische Schaltungen werden heute meist in vollautomatischen Verfahren hergestellt. Dabei werden auf Leiterplatten benötigte Bauelemente (beispielsweise Dioden, Transistoren, Kondensatoren, Widerstände od.dgl.) aufgebracht und über Leiterbahnen verbunden.Today, electronic circuits are usually manufactured using fully automatic processes. The required components (e.g. diodes, transistors, capacitors, resistors or the like) are placed on printed circuit boards and connected via conductor tracks.
Nur beispielsweise wird auf die sogenannte Micro-Strip-Technologie verwiesen, in welcher Filter, Biasing oder ähnliche Schaltungen hergestellt werden. Zur Berechnung der gewünschten Schaltung kann hier auf einen Feldsimulator, wie ADS (Advanced design system) oder CST, zurückgegriffen werden. Die Qualität der Simulation ist vor allem abhängig von den Streuparameter- Modellen. Diese Streuparameter-Modelle werden von den Herstellern der einzelnen Bauelemente zur Verfügung gestellt. Für kundenspezifische Bauteile müssen diese Streuparameter jedoch über eine von einem Dienstleister oder eine eigene Expertise erstellt werden. Nur beispielsweise werden Multimedia Dosen Rohlinge mit Hilfe eines Wafer Probers oder Netzwerkanalysators mit passendem Nadelbett-Adapter auf die Streuparameter des Rohlings hin vermessen. Anschließend wird im Feldsimulator der Schaltplan für die gewünschte Baugruppe erstellt und simuliert. Alle möglichen Induktivitäten und Kondensatoren können nun in der Micro-Strip-Technologie erzeugt werden. Danach durchläuft die Baugruppe den Standard-Produktionsverlauf.Reference is only made to the so-called micro-strip technology, in which filters, biasing or similar circuits are produced, as an example only. A field simulator such as ADS (Advanced Design System) or CST can be used to calculate the desired circuit. The quality of the simulation mainly depends on the scattering parameter models. These scattering parameter models are provided by the manufacturers of the individual components. For customer-specific components, however, these scattering parameters must be created by a service provider or your own expertise. For example, multimedia can blanks are measured with the help of a wafer prober or network analyzer with a suitable needle bed adapter for the scattering parameters of the blank. The circuit diagram for the required assembly is then created and simulated in the field simulator. All sorts of inductances and capacitors can now be created using micro-strip technology. The assembly then goes through the standard production flow.
Zu einer notwendigen Kalibrierung kontaktiert jetzt beispielsweise ein Nadelbettadapter die fertige Baugruppe. Über eine intelligente Auswerte-Software kann festgestellt werden, welche komplexen Impedanzen (Micro-Strip-Induktivitäten und/oder Kondensatoren) verändert werden müssten, um einen gewünschten Wellenwiderstand, an der definierten Messposition, zu erreichen. Änderungen von Induktivitäten oder Kapazitäten erfolgen heute durch Abtragen von Teilen einer Leiterbahn und/oder eines Bauelementes. Dies ist aber sehr ungenau und kann auch nicht wieder rückgängig gemacht werden, wenn über das gewünschte Ziel hinausgeschossen wurde.A needle bed adapter, for example, now contacts the finished assembly for a necessary calibration. Intelligent evaluation software can be used to determine which complex impedances (micro-strip inductances and/or capacitors) would have to be changed in order to achieve a desired characteristic impedance at the defined measurement position. Inductivities or capacitances are changed today by removing parts of a conductor track and/or a component. However, this is very imprecise and cannot be undone if the desired target has been overshot.
Die
Die
Die
Aufgabetask
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren der oben genannten Art zu entwickeln, mit dem auf einfache Art und Weise und kostengünstig Induktivitäten und Kapazitäten beeinflusst werden können und zwar in beide Richtungen.The object of the present invention is to develop a method of the type mentioned above, with which inductances and capacitances can be influenced in a simple manner and at low cost, specifically in both directions.
Lösung der Aufgabesolution of the task
Zur Lösung der Aufgabe führt, dass zur Erzielung dieses Wertes auf einen Bereich der Leiterbahn oder eines Bauelements eine kapazitiv wirkende Substanz und/oder eine induktiv wirkende Substanz aufgebracht wird/werden.In order to achieve this value, a capacitively acting substance and/or an inductively acting substance is/are applied to a region of the conductor track or a component.
Durch dieses Auftragen ist eine sehr flexible Beeinflussung der Induktivitäten und/oder der Kapazität einer Baugruppe möglich. Dies geschieht so lange, bis tatsächlich der gewünschte Wert erreicht ist. Natürlich kann im einzelnen Fall auch eine Kombination mit dem Abtragen nach dem Stand der Technik notwendig werden. Sind zum Beispiel die Induktivitäten zu hoch, so kann nach wie vor ein Abtragen von zum Beispiel einem Teil einer Leiterbahn erfolgen. Ist dieser Abtrag zu hoch, kann mit Hilfe des erfindungsgemäßen Auftragens wieder nachgebessert werden, bis der gewünschte Wert erreicht ist.This application allows a very flexible influencing of the inductivities and/or the capacitance of an assembly. This happens until the desired value is actually reached. In individual cases, of course, a combination with removal using the prior art may also be necessary. For example, if the inductances are too high, part of a conductor track can still be removed, for example. If this removal is too high, the application according to the invention can be used to improve it again until the desired value is reached.
Als Substanzen sollen alle Substanzen infrage kommen, welche eine Induktivität bzw. eine Kapazität beeinflussen können. Für die Beeinflussung der Induktivitäten sind alle Materialien geeignet, deren relative Permeabilität von 1 abweicht (Diamagnetismus µr < 1, Paramagnetismus µr > 1, Ferromagnetismus µr >> 1). Die Beeinflussung der Kapazität kann durch ein dielektrisches Material (εr weicht von 1 ab), beispielsweise Glas, stattfinden.All substances which can influence an inductance or a capacitance should be considered as substances. All materials whose relative permeability deviates from 1 (diamagnetism µ r < 1, paramagnetism µ r > 1, Fer romagnetism µ r >> 1). The capacitance can be influenced by a dielectric material (ε r deviates from 1), for example glass.
Zum Aufnehmen der Substanz bietet sich vor allem ein adhäsiver Träger an, beispielsweise ein Kleber. In diesem Kleber ist dann die entsprechende Substanz dispergiert.An adhesive carrier, for example an adhesive, is particularly suitable for taking up the substance. The corresponding substance is then dispersed in this adhesive.
Zunächst muss die Stelle gefunden werden, bei der die größte Wirksamkeit vorhanden ist. Das kann zum Beispiel über einen sogenannten „Zauberstab“ erfolgen. Hierbei handelt es sich um ein kleines Metallstück, welches als Test-Kapazität an verschiedenen Stellen mit der Leiterbahn in Kontakt gebracht wird. Über ein iteratives Verfahren können mehrere Stellen gefunden und optimiert werden.The first thing to do is to find the spot that is most effective. This can be done, for example, using a so-called “magic wand”. This is a small piece of metal that is brought into contact with the conductor track at various points as a test capacitance. Several points can be found and optimized using an iterative process.
Sind die Korrekturpunkte gefunden, wird die jeweilige Substanz in der notwendigen Menge aufgebracht.Once the correction points have been found, the respective substance is applied in the required quantity.
Sowohl das Auffinden der aktiven Stellen, als auch das Aufbringen der Substanz erfolgt typischerweise mittels eines Roboterarms. Das Aufbringen der Substanz erfolgt wie bei einem Dispenser.Both the finding of the active sites and the application of the substance are typically carried out using a robotic arm. The substance is applied in the same way as with a dispenser.
Vor allem bei Bauteilen, welche nicht in der Micro-Strip-Technologie realisiert werden, können im Design selbst entscheidende Polstellen vorgesehen werden, die dann beträufelt werden. Als Beispiel soll hier auf eine bedrahtete Luftspule hingewiesen werden, die selbst nicht durch einen erfindungsgemäßen Auftrag beeinflusst werden kann. Dieser Luftspule wird dann zum Beispiel eine PCB-Luftspule zugeordnet, die mit der erfindungsgemäßen Substanz zur Beeinflussung der Induktivität versehen werden kann. Das kann natürlich für die Beeinflussung einer Kapazität in gleicher Weise erfolgen.Particularly in the case of components that are not realized using micro-strip technology, decisive pole points can be provided in the design, which are then drizzled. As an example, reference should be made here to a wired air-core coil, which itself cannot be influenced by an order according to the invention. A PCB air coil, for example, is then assigned to this air coil, which can be provided with the substance according to the invention for influencing the inductance. This can of course be done in the same way for influencing a capacitance.
Claims (9)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102019104084.1A DE102019104084B4 (en) | 2019-02-19 | 2019-02-19 | Process for influencing the inductance and/or capacitance of an electronic circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102019104084.1A DE102019104084B4 (en) | 2019-02-19 | 2019-02-19 | Process for influencing the inductance and/or capacitance of an electronic circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102019104084A1 DE102019104084A1 (en) | 2020-08-20 |
DE102019104084B4 true DE102019104084B4 (en) | 2022-03-31 |
Family
ID=71843705
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102019104084.1A Active DE102019104084B4 (en) | 2019-02-19 | 2019-02-19 | Process for influencing the inductance and/or capacitance of an electronic circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102019104084B4 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3933638A1 (en) | 2020-06-29 | 2022-01-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Consensus method for a distributed database |
EP4224178A1 (en) * | 2022-02-03 | 2023-08-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Calibration of an electronic module during a manufacturing process |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20040211590A1 (en) | 2003-04-25 | 2004-10-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Multilayer printed wiring board and integrated circuit using the same |
US20060159899A1 (en) | 2005-01-14 | 2006-07-20 | Chuck Edwards | Optimized multi-layer printing of electronics and displays |
US20060176350A1 (en) | 2005-01-14 | 2006-08-10 | Howarth James J | Replacement of passive electrical components |
US20080052904A1 (en) | 2004-07-28 | 2008-03-06 | Reinhard Schneider | Method Of Manufacturing An Electronic Circuit Assembly |
US20100090781A1 (en) | 2005-09-30 | 2010-04-15 | Kenichi Yamamoto | Sheet-like composite electronic component and method for manufacturing same |
-
2019
- 2019-02-19 DE DE102019104084.1A patent/DE102019104084B4/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20040211590A1 (en) | 2003-04-25 | 2004-10-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Multilayer printed wiring board and integrated circuit using the same |
US20080052904A1 (en) | 2004-07-28 | 2008-03-06 | Reinhard Schneider | Method Of Manufacturing An Electronic Circuit Assembly |
US20060159899A1 (en) | 2005-01-14 | 2006-07-20 | Chuck Edwards | Optimized multi-layer printing of electronics and displays |
US20060176350A1 (en) | 2005-01-14 | 2006-08-10 | Howarth James J | Replacement of passive electrical components |
US20100090781A1 (en) | 2005-09-30 | 2010-04-15 | Kenichi Yamamoto | Sheet-like composite electronic component and method for manufacturing same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102019104084A1 (en) | 2020-08-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2608430C3 (en) | Holder for programmable probes for connection to a component being tested | |
EP2569827B1 (en) | Supporting rail bus system | |
DE19516809C1 (en) | Capacitive liq. level sensor based on cores of flexible ribbon cable for e.g. milk tank | |
EP3126851B1 (en) | Contact interposer, electrical testing device and manufacturing method for a contact interposer | |
DE102019104084B4 (en) | Process for influencing the inductance and/or capacitance of an electronic circuit | |
DE102012020477A1 (en) | Printed circuit and electronic device with the printed circuit | |
DE102016107970A1 (en) | Coupling element for a capacitive level gauge | |
EP3513201B1 (en) | Contact pin, in particular spring contact pin | |
DE10060585A1 (en) | Device and method for examining a semiconductor integrated circuit | |
DE10155393A1 (en) | Planar polymer capacitor | |
DE102013201704A1 (en) | Capacitive sensor arrangement and capacitive measuring method with compensation of parasitic capacitances | |
DE2633175A1 (en) | Mass produced printed or integrated circuit test aid - using printed connectors on the substrate common to several circuits with automatic testing before separation | |
DE3910750A1 (en) | Connecting device for an electronic component | |
WO1991002986A1 (en) | Device for the operational electrical testing of wired areas, especially printed circuit boards | |
DE102013214478A1 (en) | Multiple circuit board benefit and method of making the same | |
DE102006056562A1 (en) | Prepaid card and procedure for making an electronic payment | |
DE102011118932A1 (en) | Device with an integrated circuit | |
DE102011108078A1 (en) | Printed circuit board has test field that is electrically connected to one of terminals of the passive component | |
EP3265834A1 (en) | Electric contact device | |
WO2018108500A1 (en) | Mechatronic component having a circuit board and method for producing said mechatronic component | |
DE10204453A1 (en) | Inductive displacement sensor has longitudinally movable casing around coil body containing high permeability material, and electrical connections on one end of body | |
DE102020119985A1 (en) | Position sensor for determining the position of a valve stem of a control valve | |
WO2003065056A1 (en) | Test adapter system for connecting test needles of a test adapter to a control device | |
DE102010056364B4 (en) | Circuit board, assembly and method for producing an assembly with a circuit board and unit | |
DE3908902A1 (en) | Device for suppressing line-conducted noise signals in an electronic module |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final |