DE102018222326A1 - Collector mirror assembly for an EUV light source - Google Patents
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Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Kollektorspiegelanordnung für eine EUV - Lichtquelle mit einem Kollektorspiegel (10) mit einer Reflexionsoberfläche (26) und einer Öffnung (11) in der Reflexionsoberfläche, durch welche ein rohrförmiges Element (30) geführt ist, das einen zur Führung eines Gasstroms ausgebildeten Strömungskanal aufweist und diesen ringförmig begrenzt, wobei das rohrförmige Element so ausgebildet ist, dass mindestens ein Durchgang (31) von der zur Reflexionsoberfläche gerichteten Außenseite (27) des rohrförmigen Elements zum Strömungskanal gebildet ist, durch den Gas von der Reflexionsoberfläche zum Strömungskanal fließen kann. Außerdem betrifft die Erfindung eine EUV - Lichtquelleneinheit und eine EUV - Projektionsbelichtungsanlage mit einer entsprechenden Kollektorspiegelanordnung. The present invention relates to a collector mirror assembly for an EUV light source comprising a collector mirror (10) having a reflection surface (26) and an opening (11) in the reflection surface through which a tubular member (30) is passed, one for guiding a gas flow formed and this annularly bounded, wherein the tubular member is formed so that at least one passage (31) from the reflection surface facing outside (27) of the tubular member to the flow channel is formed, can flow through the gas from the reflection surface to the flow channel , Moreover, the invention relates to an EUV light source unit and an EUV projection exposure apparatus with a corresponding collector mirror arrangement.
Description
HINTERGRUND DER ERFINDUNGBACKGROUND OF THE INVENTION
GEBIET DER ERFINDUNGFIELD OF THE INVENTION
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Kollektorspiegelanordnung für eine EUV - Lichtquelleneinheit sowie eine entsprechende EUV - Lichtquelleneinheit und eine EUV - Projektionsbelichtungsanlage für die mikrolithographische Herstellung von mikrostrukturierten und nanostrukturierten Bauteilen der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik.The invention relates to a collector mirror arrangement for an EUV light source unit and to a corresponding EUV light source unit and to an EUV projection exposure apparatus for the microlithographic production of microstructured and nanostructured components in microelectronics and microsystem technology.
STAND DER TECHNIKSTATE OF THE ART
Für die Herstellung von mikrostrukturierten und nanostrukturierten Bauteilen der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik werden bei mikrolithographischen Verfahren Projektionsbelichtungsanlagen eingesetzt, die mit Licht bzw. elektromagnetischer Strahlung mit Wellenlängen im Bereich des extrem ultravioletten Lichts (EUV - Licht) betrieben werden, um eine Auflösung von abzubildenden Strukturen im Nanometerbereich zu ermöglichen. Entsprechend sind im Stand der Technik EUV - Lichtquellen bzw. EUV - Lichtquelleneinheiten bekannt, mit denen EUV - Licht erzeugt werden kann. Hierzu werden beispielsweise Anordnungen eingesetzt, bei denen ein Brennstoff mittels eines Infrarotstrahls zu einem Plasma angeregt wird, welches das gewünschte EUV - Licht ausstrahlt. Das so erzeugte EUV - Licht wird mit einem Kollektorspiegel in einen Zwischenfokus fokussiert, um dann in einem Beleuchtungssystem einer Projektionsbelichtungsanlage für die Beleuchtung eines Retikels weiter aufbereitet zu werden.For the production of microstructured and nanostructured components of microelectronics and microsystems technology, microlithographic processes use projection exposure apparatuses which are operated with light or electromagnetic radiation with wavelengths in the range of extreme ultraviolet light (EUV light) in order to resolve nanoscale structures to be imaged to enable. Accordingly, in the prior art, EUV light sources or EUV light source units are known, with which EUV light can be generated. For this purpose, for example, arrangements are used in which a fuel is excited by means of an infrared beam to form a plasma which emits the desired EUV light. The EUV light produced in this way is focused with a collector mirror into an intermediate focus, in order to be further processed in a lighting system of a projection exposure apparatus for the illumination of a reticle.
Bei der Erzeugung des Plasmas können jedoch Kontaminationen auf die Reflexionsoberfläche des Kollektorspiegels gelangen und dort abgeschieden werden, sodass die Wirkungsweise des Kollektorspiegels beeinträchtigt werden kann. Entsprechend wird nach dem Stand der Technik bereits versucht durch die Einstellung einer geeigneten Gasströmung im Bereich der Reflexionsoberfläche des Kollektorspiegels, beispielsweise einer Wasserstoffgasströmung, eine Abscheidung von Kontaminationen auf der Reflexionsoberfläche des Kollektorspiegels zu verhindern. When the plasma is generated, however, contaminants can reach the reflection surface of the collector mirror and be deposited there, so that the mode of operation of the collector mirror can be impaired. Accordingly, the prior art already attempts to prevent the deposition of contaminants on the reflection surface of the collector mirror by setting a suitable gas flow in the region of the reflection surface of the collector mirror, for example a hydrogen gas flow.
Hierzu wird üblicherweise ein zentraler Gasstrom durch eine zentrale Öffnung des Kollektorspiegels geleitet, der von der Reflexionsoberfläche des Kollektorspiegels weg gerichtet ist. Zusätzlich wird eine laterale Gasströmung von dem Rand des Kollektorspiegels in Richtung der Mitte des Kollektorspiegels geführt, um eine laminare Gasströmung entlang der Reflexionsoberfläche des Kollektorspiegels einzustellen.For this purpose, a central gas flow is usually passed through a central opening of the collector mirror, which is directed away from the reflection surface of the collector mirror. In addition, a lateral gas flow from the edge of the collector mirror is directed towards the center of the collector mirror to set a laminar gas flow along the reflection surface of the collector mirror.
In den Bereich des zentralen Gasstroms und des laminaren Gasstroms vom Rand sind Wolfram-Filamente platziert, welche den zugeführten Wasserstoff spalten. Der atomare Wasserstoff sorgt für eine reinigende Wirkung auf der Reflexionsoberfläche durch Bildung von Stanan in Verbindung mit Zinn.In the region of the central gas flow and the laminar gas flow from the edge tungsten filaments are placed, which split the supplied hydrogen. The atomic hydrogen provides a cleansing effect on the reflective surface by forming Stanan in conjunction with tin.
Allerdings kann es beim Zusammentreffen des zentralen Gasstroms bzw. eines Anteils des zentralen Gasstroms, der radial nach außen abfließt, mit dem laminarer Gasstrom von dem Rand des Kollektorspiegels, der in Richtung des Zentrums des Kollektorspiegels fließt, zu Verwirbelungen kommen, die einen Transport von Kontaminationen in Richtung der Reflexionsoberfläche verursachen können, sodass sich bereits entfernte Kontaminationen in dieser Verwirbelungszone, wo die Spülgasströme aufeinandertreffen, wieder auf der Oberfläche absetzen können.However, when the central gas flow or a portion of the central gas flow, which flows radially outwards, with the laminar gas flow from the edge of the collector mirror, which flows in the direction of the center of the collector mirror, turbulences can occur, which entail a transport of contaminations can cause in the direction of the reflection surface, so that even remote contaminants in this Verwirbelungszone where the purge gas streams meet again can settle on the surface.
Ein herkömmliches System und Verfahren zum Entfernen von Kontaminationen gleichzeitig mit dem Erzeugen von EUV-Licht ist beispielsweise aus der Druckschrift
OFFENBARUNG DER ERFINDUNGDISCLOSURE OF THE INVENTION
AUFGABE DER ERFINDUNGOBJECT OF THE INVENTION
Es ist deshalb Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine Kollektorspiegelanordnung für eine EUV - Lichtquelle sowie eine EUV - Lichtquelleneinheit und eine EUV - Projektionsbelichtungsanlage bereitzustellen, bei denen die Problematik der Kontamination des Kollektorspiegels, mit dem das in einem Plasma erzeugte EUV - Licht gesammelt wird, vermieden oder zumindest verringert wird. Gleichzeitig soll die Lösung einfach verwirklicht werden können und einfach durchführbar sein, wobei die EUV - Lichtquelle nicht beeinträchtigt werden soll, sondern eine hohe Ausbeute für das erzeugte EUV - Licht sichergestellt werden soll.It is therefore an object of the present invention to provide a collector mirror arrangement for an EUV light source as well as an EUV light source unit and an EUV projection exposure apparatus, in which the problem of contamination of the collector mirror, with which the EUV light generated in a plasma is collected, is avoided or avoided at least reduced. At the same time, the solution should be easy to implement and easy to carry out without affecting the EUV light source, but ensuring a high yield for the generated EUV light.
TECHNISCHE LÖSUNGTECHNICAL SOLUTION
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Kollektorspiegelanordnung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie einer EUV - Lichtquelleneinheit mit den Merkmalen des Anspruchs 13 sowie einer EUV - Projektionsbelichtungsanlage mit den Merkmalen des Anspruchs 14. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.This object is achieved by a collector mirror arrangement having the features of
Mit der vorliegenden Erfindung wird eine gegenüber dem Stand der Technik veränderte und verbesserte Gasführung zum Schutz des Kollektorspiegels vor Kontaminationen vorgeschlagen. Hierzu wird bei einer Kollektorspiegelanordnung mit einem Kollektorspiegel, der in seiner Reflexionsoberfläche eine zentrale Öffnung für einen zentralen Gasstrom aufweist, ein rohrförmiges Element in der zentralen Öffnung zur Führung des Gasstroms angeordnet, welches so ausgebildet ist, dass mindestens ein Durchgang von der zur Reflexionsoberfläche gerichteten Außenseite des rohrförmigen Elements zum Strömungskanal des rohrförmigen Elements, durch den der zentrale Gasstrom geleitet wird, gegeben ist. Damit wird ermöglicht, dass eine laterale Gasströmung, die von dem Rand des Kollektorspiegels laminar entlang der Reflexionsoberfläche in Richtung des Zentrums des Kollektorspiegels geleitet wird, über das rohrförmige Element sicher abgeleitet werden kann, ohne dass sich Verwirbelungen oder dergleichen bilden, die eine Abscheidung von Kontaminationen auf die Reflexionsoberfläche des Kollektorspiegels verursachen könnten.With the present invention, a modified and improved compared to the prior art gas guide for protecting the collector mirror from contamination is proposed. For this purpose, in a collector mirror assembly having a collector mirror, which has in its reflection surface a central opening for a central gas flow, a tubular element in the central Opening arranged to guide the gas flow, which is formed so that at least one passage from the surface facing the reflection surface of the tubular member is given to the flow channel of the tubular member through which the central gas flow is passed. This allows a lateral gas flow, which is conducted from the edge of the collector mirror laminar along the reflection surface towards the center of the collector mirror, can be safely derived via the tubular member without causing turbulence or the like, the deposition of contaminants could cause on the reflection surface of the collector mirror.
Entsprechend kann der Durchgang mindestens eine Eintrittsöffnung an der Außenseite des rohrförmigen Elements und mindestens eine Austrittsöffnung am Strömungskanal des rohrförmigen Elements aufweisen, sodass die laminare Gasströmung, die von dem Rand des Kollektorspiegels in Richtung der Mitte des Kollektorspiegels entlang der Reflexionsoberfläche strömt, durch die Eintrittsöffnung in den Durchgang gelangen kann und durch die Austrittsöffnung in den Strömungskanal mit dem zentralen Gasstrom austreten kann. Hierbei können die Eintrittsöffnung und die Austrittsöffnung in axialer Richtung des Strömungskanals versetzt zueinander angeordnet sein, wobei die Eintrittsöffnung weiter entfernt von dem von der Reflexionsoberfläche wegweisenden Ende des rohrförmig Elements angeordnet sein kann als die Austrittsöffnung, um so eine Sogwirkung durch das durch den Strömungskanal des rohrförmig Elements strömende Gas zu bewirken.Accordingly, the passage may have at least one inlet opening on the outside of the tubular element and at least one outlet opening on the flow channel of the tubular element, so that the laminar gas flow flowing from the edge of the collector mirror towards the center of the collector mirror along the reflection surface, through the inlet opening in can pass through and exit through the outlet opening in the flow channel with the central gas flow. In this case, the inlet opening and the outlet opening in the axial direction of the flow channel can be arranged offset to one another, wherein the inlet opening can be arranged further away from the direction away from the reflection surface end of the tubular element as the outlet opening, so as a suction effect through the through the flow channel of the tubular Elements to cause flowing gas.
Die Eintrittsöffnung in den Durchgang kann unmittelbar im Bereich des Stoßes, an dem die Reflexionsoberfläche des Kollektorspiegels an die Außenseite des rohrförmig Elements angrenzt, angeordnet sein bzw. sich in einer Richtung, die der Reflexionsrichtung entspricht, von der Reflexionsoberfläche erstrecken. Dadurch kann die laminare Gasströmung unmittelbar entlang der Reflexionsoberfläche stabilisiert werden und bei der Ausbildung eines Sogs durch den Durchgang kann entsprechend ein stabiler laminarer Gasstrom über die gesamte Reflexionsoberfläche eingestellt werden.The entrance opening into the passage may be located directly in the region of the impact at which the reflection surface of the collector mirror adjoins the outside of the tubular element or extend in a direction corresponding to the reflection direction of the reflection surface. Thereby, the laminar gas flow can be stabilized immediately along the reflection surface, and when a suction is formed through the passage, a stable laminar gas flow can be adjusted correspondingly over the entire reflection surface.
Der Durchgang kann in einer Doppelwandstruktur des rohrförmigen Elements ausgebildet sein, die durch eine Begrenzungswand des Strömungskanals und der Außenseite des rohrförmig Elements gebildet sein.The passage may be formed in a double wall structure of the tubular member formed by a boundary wall of the flow passage and the outside of the tubular member.
Das rohrförmige Element kann weiterhin eine seitliche Abgabeöffnung für das im Strömungskanal geführte Gas aufweisen, wobei die seitliche Abgabeöffnung in der vom Strömungskanal abgewandten Außenseite des rohrförmig Elements angeordnet sein kann. Die seitliche Abgabeöffnung kann beabstandet von der Reflexionsoberfläche des Kollektorspiegels in Richtung des von dem von der Reflexionsoberfläche wegweisenden Endes des rohrförmigen Elements angeordnet sein, sodass beabstandet zur Reflexionsoberfläche eine seitliche, von der Reflexionsoberfläche weg gerichtete Gasströmung eingestellt werden kann.The tubular element can furthermore have a lateral discharge opening for the gas guided in the flow channel, wherein the lateral discharge opening can be arranged in the outside of the tubular element facing away from the flow channel. The lateral discharge opening may be spaced from the reflecting surface of the collector mirror in the direction of the end of the tubular member facing away from the reflecting surface so that a lateral gas flow directed away from the reflecting surface can be adjusted at a distance from the reflecting surface.
Insbesondere kann die seitliche Abgabeöffnung näher zu dem von der Reflexionsoberfläche wegweisenden Ende des rohrförmigen Elements angeordnet sein, als die Austrittsöffnung des Durchgangs in den Strömungskanal.In particular, the lateral discharge opening may be located closer to the end of the tubular element facing away from the reflection surface than the exit opening of the passage into the flow channel.
Die seitliche Abgabeöffnung kann durch einen Verbindungskanal mit dem Strömungskanal des rohrförmigen Elements, der den zentralen Gasstrom leitet, verbunden sein, sodass Gas des zentralen Gasstroms direkt über die seitliche Abgabeöffnung abgegeben werden kann. Darüber hinaus ist es jedoch auch möglich die seitliche Abgabeöffnung mittels einer separaten Zuführleitung für das im Strömungskanal geführte Gas zu speisen, wobei das Gas an einer entfernten Stelle in die Zuführleitung eingespeist werden kann.The lateral discharge port may be connected by a connecting channel to the flow channel of the tubular element directing the central gas flow so that gas from the central gas flow can be delivered directly via the lateral discharge port. In addition, however, it is also possible to feed the lateral discharge opening by means of a separate supply line for the guided gas in the flow channel, wherein the gas can be fed at a remote location in the feed line.
Der Zugang vom Strömungskanal zum Verbindungskanal kann in dem rohrförmig Element so ausgebildet sein, dass er näher an dem von der Reflexionsoberfläche wegweisenden Ende des rohrförmigen Elements angeordnet ist als die Austrittsöffnung des Durchgangs in den Strömungskanal.The access from the flow channel to the connection channel may be formed in the tubular element so that it is located closer to the end of the tubular element facing away from the reflection surface than the exit opening of the passage into the flow channel.
Das rohrförmig Element kann als Vierkantrohr bzw. Mehrkantrohr oder als Rundrohr mit einer zylindrischen Grundform ausgebildet sein. Entsprechend können die an der Begrenzungswand des Strömungskanals bzw. an der Außenseite des rohrförmigen Elements angeordneten Zugänge bzw. Öffnungen, wie die Eintrittsöffnung und/oder die Austrittsöffnung des Durchgangs bzw. die seitliche Abgabeöffnung so ausgebildet sein, dass die entsprechende Öffnung oder der entsprechende Zugang ringförmig ausgebildet ist. Alternativ können auch mehrere Zugänge, Eintrittsöffnungen, Austrittsöffnungen oder seitliche Abgabeöffnungen jeweils nebeneinander um das rohrförmig Element herum angeordnet sein.The tubular element may be formed as a square tube or polygonal tube or as a round tube with a cylindrical basic shape. Correspondingly, the openings or openings arranged on the boundary wall of the flow channel or on the outside of the tubular element, such as the inlet opening and / or the outlet opening of the passage or the lateral discharge opening, can be designed such that the corresponding opening or the corresponding access is annular is trained. Alternatively, a plurality of access points, inlet openings, outlet openings or lateral discharge openings can each be arranged next to one another around the tubular element.
Die seitliche Abgabeöffnung kann an sich so ausgebildet sein, dass das aus der seitlichen Abgabeöffnung abgegebene Gas in eine Richtung weg von der Reflexionsoberfläche strömt. Zusätzlich oder alternativ kann mindestens ein Führungselement in oder an der seitlichen Abgabeöffnung angeordnet sein, welches den Gasstrom in eine Richtung weg von der Reflexionsoberfläche leitet. Auf diese Weise kann sichergestellt werden, dass möglichst keine Gasteilströmung in Richtung Reflexionsoberfläche geführt wird, die Kontaminationen auf die Reflexionsoberfläche des Kollektorspiegels leiten könnte.As such, the lateral discharge port may be formed such that the gas discharged from the side discharge port flows in a direction away from the reflection surface. Additionally or alternatively, at least one guide member may be disposed in or on the side discharge opening directing the gas flow in a direction away from the reflection surface. In this way it can be ensured that as far as possible no partial gas flow in the direction of the reflection surface which could conduct contaminants to the reflection surface of the collector mirror.
Anstatt einem Führungselement zur Vermeidung einer Gasteilströmung in Richtung auf die Reflexionsoberfläche können mehrere Wolfram-Filamente in der seitlichen Abgabeöffnung angeordnet sein, welche den zugeführten Wasserstoff in atomaren Wasserstoff spalten. Dieser wird durch die Gasteilströmung in Richtung der Reflexionsoberfläche auf die Reflexionsoberfläche transportiert. Dies erhöht den Anteil an atomaren Wasserstoff in der Gasströmung entlang der Reflexionsoberfläche, welcher durch Rekombinationseffekte über die Weglänge, startend von der Gaszuführung vom Rand, typischerweise reduziert wird. Dies erhöht die Reinigungswirkung auf der Reflexionsoberfläche.Instead of a guide element for avoiding a partial gas flow in the direction of the reflection surface, a plurality of tungsten filaments may be arranged in the lateral discharge opening, which split the supplied hydrogen into atomic hydrogen. This is transported by the gas flow in the direction of the reflection surface on the reflection surface. This increases the level of atomic hydrogen in the gas flow along the reflection surface, which is typically reduced by recombination effects over the path length starting from the gas feed from the edge. This increases the cleaning effect on the reflection surface.
Insbesondere wird gemäß der vorliegenden Erfindung auch darauf verzichtet, einen seitlichen Gasstrom von der zentralen Öffnung in Richtung des Randes des Kollektorspiegels zu leiten, um Verwirbelungen mit dem laminarer Gasstrom vom Rand des Kollektorspiegels in Richtung der Mitte des Kollektorspiegels zu vermeiden.In particular, according to the present invention, refraining from directing a lateral gas flow from the central opening towards the edge of the collector mirror in order to avoid turbulence with the laminar gas flow from the edge of the collector mirror in the direction of the center of the collector mirror.
Figurenlistelist of figures
Die beigefügten Zeichnungen zeigen in rein schematischer Weise in
-
1 eine Darstellung einer EUV - Projektionsbelichtungsanlage, -
2 eine Darstellung einer EUV - Lichtquelle, wie sie in der EUV - Projektionsbelichtungsanlage der1 verwendet werden kann und in welcher die vorliegende Erfindung verwirklicht werden kann, -
3 eine Darstellung eines Teils eines Kollektorspiegels gemäß dem Stand der Technik, -
4 eine Darstellung eines Teils einer ersten Ausführungsform einer erfindungsgemä-ßen Kollektorspiegelanordnung, -
5 eine Darstellung eines Teils einer zweiten Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Kollektorspiegelanordnung und in -
6 eine Darstellung eines Teils einer dritten Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Kollektorspiegelanordnung.
-
1 a representation of an EUV projection exposure apparatus, -
2 a representation of an EUV light source, as used in the EUV projection exposure apparatus of the1 can be used and in which the present invention can be realized, -
3 a representation of a part of a collector mirror according to the prior art, -
4 1 is a representation of a part of a first embodiment of a collector mirror arrangement according to the invention; -
5 an illustration of a part of a second embodiment of a collector mirror assembly according to the invention and in -
6 an illustration of a part of a third embodiment of a collector mirror assembly according to the invention.
AUSFÜHRUNGSBEISPIELEEMBODIMENTS
Weitere Vorteile, Kennzeichen und Merkmale der vorliegenden Erfindung werden bei der nachfolgenden detaillierten Beschreibung der Ausführungsbeispiele ersichtlich. Allerdings ist die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt.Further advantages, characteristics and features of the present invention will become apparent from the following detailed description of the embodiments. However, the invention is not limited to these embodiments.
In der
Die
Das Plasma
Um zu vermeiden, dass Brennstoff bzw. Stoffe aus dem Plasma
Dies ist im Detail in der
Bei bekannten EUV - Lichtquelleneinheiten, wie in einem Beispiel in der
Darüber hinaus kann an dem Rohrelement
In der
Um dies zu verhindern wird gemäß der Erfindung vorgeschlagen, ein Rohrelement
Es sei noch vermerkt, dass die Austrittsöffnung
Die
Bei der Ausführungsform der
Die
Obwohl die vorliegende Erfindung anhand der Ausführungsbeispiele detailliert beschrieben worden ist, ist für den Fachmann selbstverständlich, dass die Erfindung nicht auf diese Ausführungsbeispiele beschränkt ist, sondern dass vielmehr Abwandlungen in der Weise möglich sind, dass einzelne Merkmale weggelassen oder andersartige Kombinationen von Merkmalen verwirklicht werden können, ohne dass der Schutzbereich der beigefügten Ansprüche verlassen wird. Insbesondere schließt die vorliegende Offenbarung sämtliche Kombinationen der in den verschiedenen Ausführungsbeispielen gezeigten Einzelmerkmale mit ein, sodass einzelne Merkmale, die nur in Zusammenhang mit einem Ausführungsbeispiel beschrieben sind, auch bei anderen Ausführungsbeispielen oder nicht explizit dargestellten Kombinationen von Einzelmerkmalen eingesetzt werden können.Although the present invention has been described in detail with reference to the embodiments, it will be understood by those skilled in the art that the invention is not limited to these embodiments, but rather modifications are possible in the manner that individual features omitted or other combinations of features can be realized without departing from the scope of the appended claims. In particular, the present disclosure includes all combinations of the individual features shown in the various embodiments, so that individual features that are described only in connection with an embodiment can also be used in other embodiments or combinations of individual features not explicitly shown.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 11
- EUV - ProjektionsbelichtungsanlageEUV - projection exposure system
- 22
- EUV - LichtquelleneinheitEUV - light source unit
- 33
- Beleuchtungssystemlighting system
- 44
- Projektionsobjektivprojection lens
- 55
- Retikelreticle
- 66
- Waferwafer
- 1010
- Kollektorspiegelcollector mirror
- 1111
- zentrale Öffnungcentral opening
- 1212
- zentraler Gasstromcentral gas flow
- 1313
- lateraler Gasstromlateral gas flow
- 1414
- IR - StrahlIR beam
- 1515
- Plasmaplasma
- 1616
- EUV - StrahlEUV - beam
- 1717
- Zwischenfokusintermediate focus
- 1818
- Zuführkanal für lateralen GasstromSupply channel for lateral gas flow
- 181181
- Wolfram-Filamente im ZuführkanalTungsten filaments in the feed channel
- 1919
- laminare Gasströmung entlang der Reflexionsoberflächelaminar gas flow along the reflection surface
- 2020
- Rohrelementtube element
- 2121
- NebengasstromIn addition to gas flow
- 2222
- Öffnung für radial auswärts gerichtete laminare GasströmungOpening for radially outward laminar gas flow
- 221221
- Wolfram-Filamente in der ÖffnungTungsten filaments in the opening
- 2323
- seitliche Abgabeöffnunglateral discharge opening
- 2424
- Stagnationszonestagnation zone
- 2525
- Symmetrielinieline of symmetry
- 2626
- Reflexionsoberflächereflection surface
- 2727
- Außenseite des RohrelementsOutside of the tubular element
- 3030
- Rohrelementtube element
- 3131
- Durchgangpassage
- 3232
- Eintrittsöffnunginlet opening
- 3333
- Austrittsöffnungoutlet opening
- 3434
- seitliche Abgabeöffnunglateral discharge opening
- 3535
- Zuführleitung für Gas zur seitlichen AbgabeöffnungSupply line for gas for lateral discharge opening
- 3636
- Filamentfilament
- 3737
- Verbindungskanalconnecting channel
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- US 9888554 B2 [0007]US 9888554 B2 [0007]
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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2018
- 2018-12-19 DE DE102018222326.2A patent/DE102018222326A1/en not_active Ceased
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