DE102012019121A1 - Verfahren zur Variation des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops - Google Patents

Verfahren zur Variation des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops Download PDF

Info

Publication number
DE102012019121A1
DE102012019121A1 DE201210019121 DE102012019121A DE102012019121A1 DE 102012019121 A1 DE102012019121 A1 DE 102012019121A1 DE 201210019121 DE201210019121 DE 201210019121 DE 102012019121 A DE102012019121 A DE 102012019121A DE 102012019121 A1 DE102012019121 A1 DE 102012019121A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
scan field
size
line
scanned
varying
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE201210019121
Other languages
English (en)
Inventor
Daniel Schwedt
Tiemo Anhut
Tobias Kaufhold
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Microscopy GmbH filed Critical Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority to DE201210019121 priority Critical patent/DE102012019121A1/de
Priority to US14/348,564 priority patent/US9594237B2/en
Priority to JP2014532272A priority patent/JP6223982B2/ja
Priority to PCT/EP2012/004020 priority patent/WO2013045078A1/de
Publication of DE102012019121A1 publication Critical patent/DE102012019121A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops, mit einer Anzahl S1–SN, N größer 1, in einer Linie angeordneter Beleuchtungsspots die zueinander im Objektivfokus einen Abstand d aufweisen und bei und durch Abrasterung der Probe, wobei eine bildpunktweise Detektion der rasterförmig beleuchteten Bildpunkte erfolgt, wobei eine Abrasterung der Probe durch S1–SN in einer ersten Richtung x zeilenweise erfolgt, wobei in K = 1/d Schritten eines ersten Schrittabstandes k in einer zweiten Richtung schrittweise weitere Zeilen abgetastet werden wodurch einzelnen Spots zugeordnete und zumindest teilweise detektierte Rastergebiete erzeugt werden dadurch gekennzeichnet, dass vorzugsweise unter Beibehaltung der Gesamtanzahl der abgerasterten Bildpunkte das Scanfeld vergrößert wird, indem mit einem zweiten Schrittabstand L kleiner k eine Abrasterung in der zweiten Richtung zeilenweise erfolgt und mindestens für einen Beleuchtungsspot eine zumindest teilweise Wiederholung der Abrasterung seines Rastergebiets, um den Abstand N mal d in der zweiten Richtung versetzt, erfolgt und/oder das Scanfeld verkleinert wird, indem mit einem dritten Schrittabstand p größer k eine Abrasterung in der zweiten Richtung zeilenweise erfolgt und für mindestens einen Beleuchtungsspot eine Abschaltung der Beleuchtung und/oder Abschaltung (Abschwächung) detektierter Bildpunkte zumindest eines Teils seines Rastergebiets erfolgt.

Description

  • Stand der Technik
  • Bei konventionellen Laser-Scanning Mikroskopen (LSM) wird ein zweidimensionales Bild der Probe aufgenommen, indem ein Beleuchtungsstrahl punktweise über die Probe geführt wird. Die Ablenkung des Strahls erfolgt üblicherweise mittels beweglichen Scanspiegeln. Hierzu wird beispielhaft auf J. Pawley, „Handbook of biological confocal microscopy" verwiesen.
  • Je nach gewünschter Bildgröße, Auflösung und Abtastung kann die Pixelanzahl des Bildes eingestellt werden. Ein häufiges Bildformat ist z. B. 512×512 Pixel.
  • Die Größe des abgescannten Probenbereiches kann bei unveränderter Pixelzahl geändert werden, indem der maximale Scan-Winkel der Scannerspiegel geändert wird. Diese Veränderung des Abbildungsmaßstabes ist praktisch stufenlos möglich und wird als Zoom bezeichnet.
  • Bei LSM mit Multispotanregung wird die Probe mit mehreren Strahlen gleichzeitig abgescannt. Dadurch kann eine Probe gegenüber der Aufnahme mit Einzelpunktanregung schneller abgescannt werden.
  • In 6 ist beispielhaft eine Anordnung zur Multispotbestrahlung dargestellt.
  • Folgende Bezugszeichen werden mit folgender Bedeutung verwendet:
  • F:
    Faser
    KO:
    Faserkollimatorlinse
    Hft.
    Hauptfarbteiler des Mikroskops
    LA1 ... n>:
    Linsenarray aus n Einzellinsen
    L:
    Multispotlinse
    SC:
    Scanner
    SCO:
    Scanobjektiv
    ZB:
    Zwischenbild
    O:
    Mikroskopobjektiv
    DE:
    Detektionsstrahlengang
    PHO:
    Pinholeobjektiv
    PH:
    Einzelpinhole
    ZB1, ZB2:
    Zwischenbildebenen
    DE1 ... n:
    Detektorenarray aus n Einzeldetektoren
    PHA:
    Pinholearray
    MLAPH:
    Pinhole-Mikrolinsenarray
  • Im Teil 6a) die Beleuchtungsrichtung in Richtung der Probe, im Teil 6b) die Detektionsrichtung des Detektierten Probenlichtes und im Teil 6c) ist der Strahlengang vor dem Detektor dargestellt.
  • Das Beleuchtungslicht tritt aus einer Faser F divergent aus und gelangt, über einem Kollimator KO kollimiert, vom Hauptfarbteiler HFT des Mikroskops in Richtung der Probe reflektiert, auf ein Linsenarray LA.
  • Die in einem Zwischenbild ZB1 vom LA erzeugten Beleuchtungsspots werden über die Multispotlinse L kollimiert und zur optischen Achse hin gebrochen und treffen sich bei telezentrischer Beleuchtung im rückwärtigen Brennpunkt von L in der der Scanner SC abgeordnet ist.
  • Die im Zwischenbild ZB2 nach den Scanobjektiv SCO erzeugten Foki werden weiter über das nicht dargestellte Mikroskopobjektiv O auf die Probe abgebildet, wodurch durch den mindestens eindimensionalen Scanner die Beleuchtungspunkte auf der Probe bewegt werden.
  • Das von der Probe kommende Licht gelangt über dieselben Elemente in Richtung der Detektion DE über ein Pinholeobjektiv und ein Pinhole zu Einzeldetektoren DE1–Den.
  • Die nach dem Durchgang durch LA kollimierten Einzelstrahlen werden von dem Pinholeobjektiv in der Ebene eines Pinholes gebündelt, es ist also hier nur ein einziges Pinhole erforderlich.
  • In der doppelten Brennweite des PHO liegen den einzelnen beleuchteten Probenpunkten entsprechende Detektoren DE1 ... n zur Detektion der auf der Probe erzeugten Fluoreszenzverteilung.
  • Anstelle des Einzelpinholes PH kann auch in der Detektion durch ein hier nicht dargestelltes Array von Einzellinsen auf ein Pinholearray fokussiert werden dem wiederum ein Detektorenarray DE1 ... n nachgeordnet ist.
  • Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang am HFT können auch vertauscht sein, so dass das Beleuchtungslicht durch den HFT transmittiert in Richtung der Probe gelangt und der HFT das Probenlicht in Richtung der Detektion ausspiegelt.
  • Die Spots sind in der Regel so angeordnet, dass jeder Spot einen Teilbereich des Bildes abscannt, wobei der Abstand der Spots in der Probenebene fest vorgegeben ist. In Bild 1 ist beispielhaft ein Feld von 32×32 Pixeln dargestellt, das von 4 Spots abgescannt wurde. Jeder Spot scannt ein Viertel des Bildfeldes ab und die 4 Teilbilder werden zu einem Gesamtbild zusammengesetzt. Bei vorgegebener Zeilenanzahl des Bildes ergibt sich der geometrische Abstand der Zeilen in der Probenebene aus der Bedingung, dass die Teilbilder benachbarter Spots nach Abschluss des Scanvorgangs direkt aneinander anschließen müssen. Das Feld, bei dem jeder Spot ein gleich großes Teilfeld überstreicht, so dass das gesamte Feld aus N Teilfeldern (bei N Spots) zusammengesetzt wird, wird als Feld der maximalen Vergrößerung bezeichnet.
  • Wird nun versucht auf herkömmliche Weise durch Änderung des maximalen Scanwinkels zu zoomen, verändert sich zwar die Feldgröße in Richtung der schnellen Scanachse, aber der Abstand der Spots bleibt unverändert, so dass ein gleichmäßiges Abscannen des Feldes, bei dem die Teilbilder aller Spots gleichgroß sind und einander anstoßen, nur bei bestimmten Feldgrößen möglich ist. Besonders problematisch ist ein Zoom, wenn die Pixelzahl des Bildes (z. B. 512×512 Pixel) vorgegeben ist.
  • US 7385165 B2 beschreibt eine Technik, die ein Zoomen nur in wenigen, sehr groben Stufen erlaubt.
  • Es werden Felder abgescannt, deren Größe ein ganzzahliges Vielfaches der Feldgröße bei maximaler Vergrößerung ist, wobei sich zudem das ganzzahlige Vielfache als Potenz LK zweier natürlicher Zahlen, mit L > 1, darstellen lässt. Wird das abgescannte Feld um das LK-fache vergrößert, verringert sich die Zahl der Zeilen pro Spot und Teilbild ebenfalls um das LK-fache. Das wirkt auf die Anzahl von wählbaren Zoomstufen sehr stark einschränkend. Mit den Randbedingungen, dass die Spots einen minimalen Abstand nicht unterschreiten können, damit deren erzeugte Fluoreszenzsignale auf dem Detektor nicht ineinander übersprechen und dass jedes Mikroskop nur ein maximales Feld zu übertragen vermag, ergeben sich für L = 2 gerade mal 5 verfügbare Zoomstufen mit den Faktoren 1, 2, 4, 8, 16 gegenüber der maximalen Vergrößerung. Bei L > 2 wird die Einschränkung des in US 738565B2 beschriebenen Verfahrens noch offensichtlicher. Zudem ist gemäß dieser Methode ausgehend von der sogenannten „maximalen Vergrößerung” nur ein Wechsel zu kleineren Vergrößerungen möglich.
  • In US 6028306 wird ein Lichtarray in kleinen Regionen um die Scanspots eines Lichtarrays herum bewegt. Dies erschwert eine Zoomfunktion die über die Scanner realisiert werden soll.
  • Aufgabe der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung soll es ermöglichen, die möglichen Zoomstufen bei vorgegebener Pixelauflösung feiner abzustufen. Bei typischen Pixelrastern (z. B. 512×512 Pixel) soll ein nahezu stetiges Zoomen möglich sein.
  • Außerdem ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Zoomen sowohl zu größeren, als auch zu kleineren Feldern zu ermöglichen.
  • Erfinderische Lösung
  • Im Folgenden werden folgende Begriffe näher definiert um eine eindeutige Verwendung zu ermöglichen:
    Spots bzw. Lichtspots S1–SN: Sind Beleuchtungspunkte auf der Probe die von N fokussierten Laserstrahlen bzw. einem in N Teile aufgeteilten Laserstrahl gleichzeitig erzeugt werden.
    Spotabstand d: Abstand zwischen den benachbarten Beleuchtungsspots auf der Probe.
    Pixel oder Bildpixel: P1-M, P1-M1: Sind von der Detektionseinheit einem Bildpunkt zugeordnete Detektionswerte.
    Sie werden rasterartig aufgezeichnet, d. h. bei kontinuierlicher Scanbewegung erfolgt eine getaktete Detektion, so dass rasterförmig Werte detektiert werden, die einem punktartigen Probenbereich entsprechen.
    Der Pixelabstand: Ist in der Regel der Abstand der Mitten zweier detektierter Pixel.
    Das Scanfeld F entspricht einem aufzuzeichnenden Bild einer Probe, das optisch durch die Scannerbewegung überstrichen wird.
    Das Scanfeld oder Bildfeld ist durch die verwendete Mikroskopoptik in seiner Ausdehnung begrenzt.
    Rastergebiet: Ist ein Teilgebiet des Scanfeldes, das durch einen der Beleuchtungsspots abgerastert wird, wobei die abgerasterten Bildpunkte detektiert und abgespeichert werden können.
  • Die beschriebene Lösung beschreibt eine Methode, die es bei einem Multispot-LSM ermöglicht, bei vorgegebenen Scanfeldgrößen eine fein abgestufte Zoomfunktion zu ermöglichen.
  • Die Erfindung wird nachstehend anhand der schematischen Darstellungen näher erläutert.
  • Die erfinderische Lösung erfolgt mit einem Multispot-LSM mit N Spots, S1 bis SN. Die Spots liegen beispielsweise in Y-Richtung und haben voneinander vorzugsweise den gleichen Abstand d. Der schnelle Scan über die Probe erfolgt beispielsweise in X-Richtung.
  • Es sei ein Scanfeld F wie in 1 vorgegeben, das eine vorgegebene Anzahl von Pixeln enthalten soll, beispielsweise 32×32 = 1024 in 1.
  • Wird nun der (durch die Mikroskopanordnung) vorgegebene Spotabstand d auf der Probe in k (ganzzahlige) gleiche Teile unterteilt, und der Scan in X und Y erfolgt in diesem Raster, das heißt in Schritten 1 bis k, so ist nach k Zeilen in Y Richtungen Bereich bis zu einem Punkt PM in Y Richtung von M = N × k Zeilen abgescannt. Werden auch in X-Richtung M1 Punkte bis zu einem Punkt Pm1 gescannt, so ergibt sich ein gescannter Bereich von M×m1 Pixeln. Jeder Einzelspot hat einen Bereich von m1×K Pixeln gescannt und die Zusammensetzung der N Einzelbilder ergibt das gesamte Feld von M×m1 Pixeln.
  • Soll nun das abgescannte Feld F2 bei gleicher Pixelanzahl M×m1 wie in 3 vergrößert werden, so kann das geschehen, indem der Spot-Abstand (ganzzahlig) in L Teile unterteilt wird, wobei nun L < K und L >= 1 ist.
  • Nach L Zeilen ist ein Bereich von N (Spotanzahl) × L (Unterteilung Spotabstand) Zeilen abgescannt.
  • Bis zur Zeile M fehlen dann noch (K – L) × N Zeilen.
  • Diese Zeilen werden vorteilhaft gescannt, indem der Zeilenscan um L × (N – 1) + 1 Zeilen versetzt weitergeführt wird (3). Diese Vorgehensweise wird so oft wiederholt, bis alle M Zeilen abgescannt wurden. Dabei kann es sein, dass beim letzten Bereich nicht mehr alle Spots benötigt werden. Dies kann durch Abschaltung in der Beleuchtung oder detektionsseitig anhand des detektierten Punktrasters korrigiert werden.
  • Im Ergebnis dieser Vorgehensweise ergibt sich ein Bild mit wiederum M×m1 Pixeln, das aber vorteilhaft um den Faktor K/L größer ist.
  • Ebenso kann das abgescannte Feld bei gleicher Pixelanzahl M×m1 verkleinert werden, indem der Spot-Abstand in P (ganzzahlig) Teile unterteilt wird, wobei P > K ist. (2). Nach P Zeilen wäre bereits ein Bereich abgescannt, der um (P – K) × N Zeilen größer ist als der gewünschte Bereich von M Zeilen. Deshalb werden wie oben erwähnt nicht alle Daten aller Spots für die Bilddarstellung verwendet.
  • Im Ergebnis dieser Vorgehensweise ergibt sich ein Bild mit M×m1 Pixeln, das um den Faktor P/K kleiner ist.
  • Wenn n Laserspots im Scanfeld entlang der langsamen Scanachse in der Probenebene jeweils im Abstand d zueinander angeordnet sind und
    sich der Abstand der gescannten Zeilen in der Probenebene zu a = d/K mit K ∈ N ergibt,
    erfolgt die Variation der Größe des Scanfeldes vorteilhaft durch Variation von K und nach dem Scannen von K Zeilen erfolgt erfindungsgemäß ein vertikaler Sprung derart, dass die gescannten Teilbilder aneinander anschließen, vorzugsweise durch einen Sprung um (n – 1) × K + 1 Zeilen in Scanrichtung oder (n + 1) × K – 1 Zeilen gegen Scanrichtung, bis mindestens Y Zeilen gescannt wurden.
  • Die erfinderische Lösung soll auch an einem Beispiel erläutert werden:
    Bild 1 zeigt ein Scanfeld F von 32×32 Pixeln, das hier mit 4 Spots S1–S4 abgescannt wurde. Die Pixel jedes Spots wurden wegen der Anschaulichkeit als zueinander jeweils unterschiedlich gefüllte Kreise (dunkel und hell) dargestellt.
  • Die Scanbewegung zwischen den Anfangspunkten P1–PM der horizontalen Scanbewegung ist schematisch in 4 durch Bewegungslinien dargestellt. Der Scan erfolgt in 1 beispielsweise so, dass der Abstand zwischen zwei benachbarten Pixeln ein Achtel des Spotabstandes beträgt. So ist nach 8 Zeilenscans das gesamte Bildfeld abgescannt. Jeder Spot hat ein Feld von 8×32 Pixeln abgescannt und das gesamte Feld wird aus den 4 Rastergebieten zusammengesetzt, so dass eine Aufnahme des Bildfeldes F mit 1024 Pixeln Auflösung erfolgt.
  • In 1a ist ausschnittsweise der linke Teil von 1 vergrößert dargestellt.
  • Die jeweiligen Anfangspunkte des Spots S1 in Y bei Verschiebung der X Zeile in vertikaler Richtung sind P1–Pk, in einem Abstand d/k zueinander.
  • Analog haben die Spots S2–S4 die Anfangspunkte P2–P2k, P3–P3k, P4–P4k jeweils im Abstand d/k zueinander.
  • Im Bild 3 ist dargestellt, wie ein gegenüber F in 1 größeres Feld F2 ebenfalls mit 32×32 Pixeln abgescannt werden kann. Der Pixelabstand beträgt hier z. B. ein Fünftel des Spotabstandes. Nach 5 Zeilenscans sind also von S1–S4 20 Zeilen abgescannt. Nun muss für S1–S3 ein Sprung in Y-Richtung um 15 Pixel in die Anfangspositionen der Zeilen S1.1, S2.1, S3.1 erfolgen. Anschließend werden die restlichen Zeilen gescannt. Dazu sind noch einmal 5 Zeilenscans notwendig, wobei nicht die Daten aller Einzelspots zur Darstellung des Feldes benötigt werden. Vom ersten und zweiten Spot werden alle Zeilen benötigt, vom dritten Spot nur die ersten beiden Zeilen und die Daten des letzten Spots werden gar nicht benötigt. Aus der Zusammensetzung der Einzelfelder ergibt sich wieder das gesamte Feld. Das Feld ist 1,6 mal so groß wie das in Bild 1 dargestellte.
  • Dabei ist es vorteilhaft, wenn sich die Einzelspots einzeln abschalten lassen. Dadurch wird es möglich, eine unnötige Belichtung dieser Objektbereiche zu vermeiden.
  • In Bild 2 ist dargestellt, wie erfindungsgemäß ein gegenüber F kleineres Feld F1 ebenso mit 32×32 Pixeln abgescannt werden kann. Der Pixelabstand beträgt hier ein Zehntel des Spotabstandes. Nach 10 Zeilenscans sind 40 Zeilen abgescannt, also schon 8 mehr als benötigt. Die Teilbereiche werden wieder zum Gesamtbereich zusammengesetzt, wobei vom vierten Einzelspot nur die ersten beiden Zeilen benötigt werden. Ab der dritten Zeile kann der vierte Einzelspot abgeschaltet werden. Die erreichte Feldgröße ist um den Faktor 0.8 kleiner als das Feld in Bild 1.
  • Je nach Feldgröße und Spotanzahl lässt sich auf die beschriebene Weise vorteilhaft eine unterschiedlich feine Abstufung der Feldgrößen und damit der Vergrößerung erreichen.
  • In Tabelle 5 ist die Abstufung der Feldgrößen am Beispiel von 512×512 Pixeln und 4 Einzelspots dargestellt.
  • Wählt man den Pixelabstand als 1/128 des Spotabstandes, so ist nach 128 Zeilenscans das gesamte Feld abgescannt. Jeder Einzelspot hat einen Teilbereich von 128×512 Pixeln abgescannt. Auf diese Feldgröße wurden alle anderen Feldgrößen bezogen. Sie beträgt also 100%. Der Scan des gesamten Feldes konnte durch einen abgeschlossenen Scan aller 4 Einzelspots erfolgen.
  • In der Tabelle ist für einige mögliche Zeilenabstände dargestellt, wie viele Scanbereiche notwendig sind, um das gesamte Feld mit 512×512 Pixeln abzuscannen. In der dritten Zeile ist dargestellt, wie sich die Feldgröße relativ verändert.
  • Im Bereich sehr kleiner Felder erfolgt der Scan nur noch mit 3 oder 2 Einzelspots. Ab 512 Zeilen-Bereichen erfolgt nur noch ein Einzelspotscan.
  • Im üblichen Zoombereich ergibt sich eine fast steige Unterteilung der Vergrößerungsstufen, also ein praktisch kontinuierlicher Zoom.
  • Dies kann vorteilhaft zur Erhöhung der Flexibilität auch noch durch Variation eines optischen Zooms im Beleuchtungsstrahlengang des LSM oder durch (einstellbare oder auswechselbar gestaltete) Veränderung der Spotabstände des Beleuchtungsrasters ergänzt werden.
  • Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung ist in 7 dargestellt.
  • Die Darstellung beruht auf der 3 und der zugehörigen Beschreibung (F2 grösser F). Allerdings ist hier ein durch > Linien eingegrenzter Überlappungsbereich OL von (beispielhaft) zwei Zeilen vorgesehen der sowohl vom vierten Spot (S4) als auch anschließend vom ersten Spot (S1.1) abgetastet wird. Vorteilhaft aber nicht notwendig besteht der Überlappungsbereich aus einer ganzzahligen Anzahl von Zeilen.
  • Um eine unnötig hohe Probenbelastung im Bereich OL zu vermeiden wird im Überlappungsbereich durch geeignete Mittel wie beispielsweise einem AOTF die Beleuchtungsintensität der betreffenden Punkte herabgesetzt, zweckmäßig beispielsweise auf jeweils 50%, um die Gesamt-Probenbelastung konstant zu halten.
  • Wie dargestellt besteht hier der Scanbereich S3.1 im Gegensatz zur 3 aus vier Zeilen so dass die Gesamtzahl der pro Bild abgetasteten Pixel vorteilhaft konstant ist, hier wiederum 1034 Bildpunkte.
  • Der Zweck des dargestellten Überlappungsbereiches OL besteht darin, eine perfekte Bildüberdeckung der von den einzelnen Spots (hier S1–S4) abgetasteten Bereiche zu einem Gesamtbild zu gewährleisten.
  • Im Überlappungsbereich OL erfolgt zu diesem Zweck beispielsweise für die beteiligten beiden Spots eine Strukturanalyse der aufgenommenen Probenmerkmale (wie Kontrastkanten) und mit den bekannten Mitteln der Bildbearbeitung und Korrelationsanalyse eine genaue Zusammensetzung der von den einzelnen Spots aufgenommenen Bildteile zu einem „nahtlosen” Gesamtbild.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • US 7385165 B2 [0018]
    • US 738565 B2 [0019]
    • US 6028306 [0020]
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • J. Pawley, „Handbook of biological confocal microscopy” [0001]

Claims (12)

  1. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes eines multifokalen Laserscanmikroskops, das mit X Spalten und Y Zeilen abgerastert wird, dadurch gekennzeichnet, dass n Laserspots im Scanfeld entlang der langsamen Scanachse in der Probenebene jeweils im Abstand d zueinander angeordnet sind, sich der Abstand der gescannten Zeilen in der Probenebene zu a = d/K mit K ∈ N ergibt, wobei die Variation der Größe des Scanfeldes durch Variation von K erfolgt und nach dem Scannen von K Zeilen ein vertikaler Sprung erfolgt, beispielsweise durch einen Sprung um (n – 1) × K + 1 Zeilen in Scanrichtung oder (n + 1) × K – 1 Zeilen gegen Scanrichtung, bis mindestens Y Zeilen gescannt wurden.
  2. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops, vorzugsweise nach Anspruch 1, mit einer Anzahl S1–SN, N größer 1, in einer Linie angeordneter Beleuchtungsspots die zueinander im Objektivfokus einen Abstand d aufweisen und bei und durch Abrasterung der Probe, wobei eine bildpunktweise Detektion der rasterförmig beleuchteten Bildpunkte erfolgt, wobei eine Abrasterung der Probe durch S1–SN in einer ersten Richtung x zeilenweise erfolgt, wobei in K = 1/d Schritten eines ersten Schrittabstandes k in einer zweiten Richtung schrittweise weitere Zeilen abgetastet werden wodurch einzelnen Spots zugeordnete und zumindest teilweise detektierte Rastergebiete erzeugt werden dadurch gekennzeichnet, dass vorzugsweise unter Beibehaltung der Gesamtanzahl der abgerasterten Bildpunkte das Scanfeld vergrößert wird indem mit einem zweiten Schrittabstand L kleiner k eine Abrasterung in der zweiten Richtung zeilenweise erfolgt und mindestens für einen Beleuchtungsspot eine zumindest teilweise Wiederholung der Abrasterung seines Rastergebiets, um den Abstand N mal d in der zweiten Richtung versetzt, erfolgt und/oder das Scanfeld verkleinert wird, indem mit einem dritten Schrittabstand p größer k eine Abrasterung in der zweiten Richtung zeilenweise erfolgt und für mindestens einen Beleuchtungsspot eine Abschaltung der Beleuchtung und/oder Abschaltung (Abschwächung) detektierter Bildpunkte zumindest eines Teils seines Rastergebiets erfolgt.
  3. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Vergrößerung des Scanfeldes erfolgt durch Wahl von K < Y/N.
  4. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Verkleinerung des Scanfeldes erfolgt durch Wahl von K > Y/N.
  5. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Einzelabschaltung oder Modulation einzelner Spots erfolgt, vorzugsweise durch optische Schalter wie AOM, EOM, oder AOD) oder durch Scanner.
  6. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Abschaltung kann an verschiedenen Orten des Mikroskops erfolgt, vorteilhaft bereits in der Multispot-Generierung.
  7. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine Variation der Spot-Abstände erfolgt, z. B. durch optischen Zoom oder einen Eingriff in Spoterzeugung.
  8. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die Spotanzahl variiert wird.
  9. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die gescannten Teilbilder aneinander anschließen.
  10. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die gescannten Teilbilder einen Überlappungsbereich aufweisen, der vorzugsweise einer ganzzahligen Zeilenanzahl entspricht.
  11. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach Anspruch 10, wobei im Überlappungsbereich zumindest für einen Teil der beleuchteten Bildpunkte die Intensität der Beleuchtung herabgesetzt wird.
  12. Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes nach Anspruch 10 oder 11, wobei im Überlappungsbereich durch Bildanalyse eine Überdeckung der von unterschiedlichen Laserspots beleuchteten Bildinformation erfolgt.
DE201210019121 2011-09-29 2012-09-21 Verfahren zur Variation des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops Pending DE102012019121A1 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE201210019121 DE102012019121A1 (de) 2011-09-29 2012-09-21 Verfahren zur Variation des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops
US14/348,564 US9594237B2 (en) 2011-09-29 2012-09-26 Method for varying the scanning field of a laser scanning microscope
JP2014532272A JP6223982B2 (ja) 2011-09-29 2012-09-26 レーザ走査顕微鏡の走査フィールドを変化させる方法
PCT/EP2012/004020 WO2013045078A1 (de) 2011-09-29 2012-09-26 Verfahren zur variation des scanfeldes eines laser-scanning-mikroskops

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011114755.5 2011-09-29
DE102011114755 2011-09-29
DE201210019121 DE102012019121A1 (de) 2011-09-29 2012-09-21 Verfahren zur Variation des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102012019121A1 true DE102012019121A1 (de) 2013-04-04

Family

ID=46970215

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE201210019121 Pending DE102012019121A1 (de) 2011-09-29 2012-09-21 Verfahren zur Variation des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9594237B2 (de)
JP (1) JP6223982B2 (de)
DE (1) DE102012019121A1 (de)
WO (1) WO2013045078A1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013021482A1 (de) * 2013-12-17 2015-06-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Scanning-Mikroskopie und Scanning-Mikroskop
DE102017125688A1 (de) * 2017-11-03 2019-05-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe
DE102018123381A1 (de) * 2018-09-24 2020-03-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6596001B2 (ja) * 2013-12-24 2019-10-23 ティシュヴィジョン、インコーポレーテッド 多焦点多光子イメージングシステム及び方法
DE102014005880A1 (de) * 2014-04-17 2015-11-05 Carl Zeiss Ag Lichtrastermikroskop mit vereinfachter Optik, insbesondere mit veränderlicher Pupillenlage
EP3268715A1 (de) 2015-03-11 2018-01-17 Timothy Ragan System und verfahren zur seriellen färbung und bildgebung
EP3538941A4 (de) 2016-11-10 2020-06-17 The Trustees of Columbia University in the City of New York Schnelles hochauflösendes bildgebungsverfahren für grosse proben
WO2018089865A1 (en) * 2016-11-12 2018-05-17 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Microscopy devices, methods and systems
US11231570B2 (en) * 2018-04-30 2022-01-25 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Highly inclined swept tile (HIST) imaging apparatus, methods, and applications
DE102019132384A1 (de) * 2019-11-28 2021-06-02 Carl Zeiss Meditec Ag Verfahren zum Erstellen eines hochaufgelösten Bildes, Datenverarbeitungssystem und optisches Beobachtungsgerät
DE102020107519A1 (de) 2020-03-18 2021-09-23 Carl Zeiss Meditec Ag Vorrichtung und Verfahren zum Klassifizieren eines Gehirngewebeareals, Computerprogramm, nichtflüchtiges computerlesbares Speichermedium und Datenverarbeitungsvorrichtung

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US738565A (en) 1903-02-24 1903-09-08 William A Mcguire Wrench.
US6028306A (en) 1997-05-14 2000-02-22 Olympus Optical Co., Ltd. Scanning microscope
US7385165B2 (en) 2005-12-07 2008-06-10 Nikon Corporation Multibeam type scanning microscope

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3542973A1 (de) * 1985-12-05 1987-06-11 Bosch Gmbh Robert Abgleichsverfahren zur automatischen strahlausrichtung in fernsehaufnahmeroehren
JP3694956B2 (ja) 1996-01-09 2005-09-14 株式会社ニコン 光走査型顕微鏡
JPH09281405A (ja) * 1996-04-17 1997-10-31 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡システム
JP2005164815A (ja) 2003-12-01 2005-06-23 Olympus Corp 光学装置
JP5006062B2 (ja) 2007-02-05 2012-08-22 オリンパス株式会社 バーチャルスライド作成装置、バーチャルスライド作成方法およびバーチャルスライド作成プログラム
US8692214B2 (en) * 2009-08-12 2014-04-08 Hermes Microvision, Inc. Charged particle beam inspection method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US738565A (en) 1903-02-24 1903-09-08 William A Mcguire Wrench.
US6028306A (en) 1997-05-14 2000-02-22 Olympus Optical Co., Ltd. Scanning microscope
US7385165B2 (en) 2005-12-07 2008-06-10 Nikon Corporation Multibeam type scanning microscope

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
J. Pawley, "Handbook of biological confocal microscopy"

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013021482A1 (de) * 2013-12-17 2015-06-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Scanning-Mikroskopie und Scanning-Mikroskop
DE102017125688A1 (de) * 2017-11-03 2019-05-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe
WO2019086680A1 (de) 2017-11-03 2019-05-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und vorrichtung zum abrastern einer probe
US11747604B2 (en) 2017-11-03 2023-09-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and device for scanning a sample
DE102018123381A1 (de) * 2018-09-24 2020-03-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe

Also Published As

Publication number Publication date
US20140232848A1 (en) 2014-08-21
JP2014530381A (ja) 2014-11-17
US9594237B2 (en) 2017-03-14
JP6223982B2 (ja) 2017-11-01
WO2013045078A1 (de) 2013-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102012019121A1 (de) Verfahren zur Variation des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops
DE102010060121C5 (de) SPIM-Mikroskop mit sequenziellem Lightsheet
EP2718762B1 (de) Hochauflösende lumineszenzmikroskopie
DE10063276C2 (de) Scanmikroskop
DE102004053730B4 (de) Verfahren und Anordnung zur Unterdrückung von Falschlicht
DE102013022538B3 (de) Verfahren zum Erstellen eines Mikroskopbildes und Mikroskopievorrichtung
WO2015039806A1 (de) Laserscanningmikroskop und verfahren zur korrektur von abbildungsfehlern insbesondere in der hochauflösenden scanning-mikroskopie
EP0943950A1 (de) Verfahren zum Rastern bei der konfokalen Mikroskopie und konfokales Mikroskop
DE102007015063A1 (de) Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
EP3304165B1 (de) Anordnung und verfahren zur strahlformung und zur lichtblattmikroskopie
DE102011051042A1 (de) Abtastmikroskop und Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung eines Objektes
WO2020001938A1 (de) Verfahren zum erzeugen eines übersichtsbilds unter verwendung eines hochaperturigen objektivs
EP3283917B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum untersuchen einer probe
WO2015114093A2 (de) Beleuchtungseinrichtung insbesondere zur fourier-ptychographie
WO2009043545A1 (de) Verfahren und anordnung zur optischen erfassung einer beleuchteten probe
EP1617260B1 (de) Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
DE102020213714A1 (de) Mikroskop und Verfahren zur Lichtfeldmikroskopie mit Lichtblattanregung sowie zur konfokalen Mikroskopie
DE102013004963A1 (de) Mikroskop mit strukturierter Beleuchtung
WO2017174792A1 (de) Verfahren und mikroskop zum untersuchen einer probe
DE102012019464A1 (de) Konfokales Auflicht-Rastermikroskop zur Multifleck-Abtastung
DE102017105719A1 (de) Multi-Pinhole-Lichtrastermikroskop und -mikroskopieverfahren
EP1209504B1 (de) Verfahren und eine Anordnung zur Abtastung mikroskopischer Objekte mit einer Scaneinrichtung
LU93225B1 (de) Verfahren zur Erzeugung von Vorschaubildern mit einem Schiefeebenenmikroskop sowie Schiefeebenemikroskop und Bilderzeugungsvorrichtung für ein Schiefeebenemikroskop
DE10261155B4 (de) Verfahren zur Detektion eines Objekts mit einem konfokalen Rastermikroskop und konfokales Rastermikroskop zur Detektion eines Objekts
DE102023101782B3 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen eines zusammengesetzten Bildes einer Probe

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication