DE102008010446A1 - Verfahren und optische Sensoranordnung zum Erfassen einer Messgröße eines Mediums, insbesondere zur Trübungsmessung - Google Patents

Verfahren und optische Sensoranordnung zum Erfassen einer Messgröße eines Mediums, insbesondere zur Trübungsmessung Download PDF

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Abstract

Ein Verfahren zur Bestimmung einer Messgröße eines Mediums (M), insbesondere zur Trübungsmessung in einem flüssigen oder gasförmigen Medium, mittels einer optischen Sensoranordnung (MS) umfasst die Schritte: (i) Erzeugen eines Sendersignals mit einer vorgegebenen Sendersignalstärke mittels mindestens eines optischen Senders, wobei das Sendersignal durch Wechselwirkung mit dem Medium (M) in Abhängigkeit von der Messgröße gewandelt wird; (ii) Erzeugen eines Empfängersignals mittels mindestens eines dem Sender zugeordneten Empfängers aus dem gewandelten Sendersignal; (iii) Bilden eines Messsignals durch Integration des Empfängersignals über eine vorgegebene Integrationszeit.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer Messgröße eines Mediums, insbesondere zur Trübungsmessung in einem flüssigen oder gasförmigen Medium, mittels einer optischen Sensoranordnung.
  • Die Erfindung betrifft weiterhin eine optische Sensoranordnung zu Bestimmung einer Messgröße eines Mediums, insbesondere zur Trübungsmessung in einem flüssigen oder gasförmigen Medium.
  • Eine solche optische Sensoranordnung kann eine Vorrichtung zur Trübungsmessung bei gasförmigen oder flüssigen Messmedien umfassen. Im folgenden wird die Erfindung anhand einer Trübungsmessung erläutert. Es versteht sich aber, dass das erfindungsgemäße Grundprinzip auch bei anderen optischen Messverfahren in der analytischen Chemie eingesetzt werden kann, bei denen sich durch den Einfluss des Messmediums erfassbare Veränderungen eines Sendersignals ergeben.
  • Trübung entsteht in Gasen oder Flüssigkeiten durch die Anwesenheit disperser Stoffe. Die Trübung kann durch die Wechselwirkung zwischen elektromagnetischer Strahlung mit dem Messmedium bestimmt werden, zum Beispiel entweder durch Messung der Schwächung der Intensität einer durch das Medium durchgehenden Strahlung (Turbidimetrie) oder durch Messung der Intensität des an den dispersen Teilchen gestreuten Lichts (Nephelometrie). Bei der Nephelometrie wird das Streulicht in einem Winkel, beispielsweise 90°, zu einem von einem optischen Sender ausgestrahlten Messlichtstrahl bestimmt.
  • Unter „Licht” wird hier und im folgenden nicht nur elektromagnetische Strahlung des sichtbaren Spektralbereichs, sondern elektromagnetische Strahlung jedweder Wellenlänge, insbesondere im infraroten Wellenlängenbereich verstanden.
  • Es ist in diesem Zusammenhang bekannt, als optische Sender und als optische Empfänger Dioden einzusetzen. Dabei wird als optischer Sender eine Leuchtdiode zur Erzeugung eines in einem geeigneten Wellenlängenbereich liegenden Messlichts (z. B. Infrarotstrahlung zwischen 800 und 900 nm) verwendet. Die Intensität des von der Leuchtdiode emittierten Lichts entspricht der Sendersignalstärke. Als Empfänger kann entsprechend eine Photodiode eingesetzt werden, die aus dem empfangenen Streulicht ein Empfängersignal, beispielsweise einen Photostrom oder eine Photospannung, erzeugt. Die Empfängersignalstärke, hier die Photostromstärke bzw. die Größe der Photospannung, hängt von der Intensität der auf die Empfängerdiode auftreffenden Lichtintensität, also von der Lichtstärke des Streulichts ab. Diese korreliert wiederum unmittelbar mit der Teilchengröße und der Konzentration der dispersen Stoffe, also der Trübung des Messmediums.
  • Aus EP 596 231 A1 ist ein Verfahren zur Trübungsmessung bekannt, das auf dem zuvor beschriebenen Prinzip der Streulichtmessung beruht. Dabei wird ein Trübungssensor mit mehreren Empfangsdioden verwendet, wobei zur Verbesserung der Sensordynamik die Empfängersignale mittels nachgeschalteter Verstärker verstärkt werden. Durch Vorsehen mehrerer unterschiedlicher Verstärkungsgrade je nach Stärke des Ausgangssignals kann eine bessere Auflösung bei einer anschließenden Digitalisierung der verstärkten analogen Empfängersignale erreicht werden.
  • Mit dem in EP 596 231 A1 beschriebenen Verfahren kann zwar die Auflösung im Bereich schwacher Signale verbessert werden. Allerdings ist die Verstärkerelektronik sehr kompliziert und anfällig für Defekte. Zusätzlich treten beim Zu- bzw. Abschalten einer Verstärkerstufe unstetige Übergänge in der Signalstärke auf.
  • Es ist daher eine Aufgabe der Erfindung, die Nachteile des Standes der Technik zu überwinden.
  • Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 gelöst.
  • Dieses Verfahren zur Bestimmung einer Messgröße eines Mediums, insbesondere zur Trübungsmessung in einem flüssigen oder gasförmigen Medium, mittels einer optischen Sensoranordnung umfasst die Schritte:
    • (i) Erzeugen eines Sendersignals mit einer vorgegebenen Sendersignalstärke mittels mindestens eines optischen Senders, wobei das Sendersignal durch Wechselwirkung mit dem Medium in Abhängigkeit von der Messgröße gewandelt wird;
    • (ii) Erzeugen eines Empfängersignals mittels mindestens eines dem Sender zugeordneten Empfängers aus dem gewandelten Sendersignal;
    • (iii) Bilden eines Messsignals durch Integration des Empfängersignals über eine vorgegebene Integrationszeit.
  • Eine optische Sensoranordnung zur Durchführung dieses Verfahrens weist als Mittel für die Integration des Empfängersignals, somit für die Bildung des Messsignals, eine Integratorschaltung auf. Zur Vorgabe der Integrationszeit oder der Sendersignalstärke ist eine Kontroll- und Steuereinheit vorgesehen.
  • Unter dem Erzeugen eines Sendersignals bzw. Empfängersignals soll hier und im Folgenden neben dem aktiven Zuschalten eines Senders bzw. Empfängers auch das fortgesetzte Einstrahlen eines Sendersignals durch einen bereits zugeschalteten Sender bzw. das fortgesetzte Umwandeln des gewandelten Sendersignals durch den Empfänger verstanden werden.
  • Die Verwendung einer Integratorschaltung zur Integration des Empfängersignals erlaubt die Erfassung eines großen Signalbereichs der Trübungsmessung, während gleichzeitig Unstetigkeiten vermieden werden, da auf die Zuschaltung verschiedener Verstärkerstufen verzichtet werden kann. Ein zusätzlicher Vorteil der Integratorschaltung gegenüber der aus dem Stand der Technik bekannten Verstärkerelektronik besteht in der einfacheren Bauweise, die insbesondere zu einer verringerten Defektanfälligkeit der Sensoranordnung führt.
  • Aus dem durch Integration gebildeten Messsignal kann die Messgröße, beispielsweise die Teilchengröße oder Konzentration des dispersen Stoffs bzw. die Trübung des Mediums ermittelt werden.
  • Die Sendersignalstärke und die Integrationszeit werden derart vorgegeben, dass die Vorgabe während der Durchführung der Verfahrensschritte (i)–(iii), zumindest aber während der Durchführung des Verfahrensschritts (iii), unverändert bleibt, d. h. Sendersignalstärke und Integrationszeit werden für eine Messung, welche die Verfahrensschritte (i)–(iii) umfasst, fest vorgegeben und während der Messung nicht verändert oder angepasst.
  • In einer Ausgestaltung des Verfahrens wird die Integrationszeit und/oder die Sendersignalstärke in Abhängigkeit von der Messsignalstärke vorgegeben. Auf diese Weise kann die Messsignalstärke beispielsweise an den Eingangsbereich von für die Signalwandlung benötigten Komponenten angepasst werden, insbesondere derart, dass ein Sättigungswert dieser Komponenten nicht überschritten wird. Zusätzlich kann die Integrationszeit oder die Signalstärke des Sendersignals gleichzeitig derart gewählt werden, dass ein optimales Signal/Rausch-Verhältnis erhalten wird. Die Vorgabe einer Sendersignalstärke und/oder Integrationszeit erfolgt bevorzugt in einem iterativen Verfahren. Dabei kann die Signalstärke des in Schritt (iii) gebildeten Messsignals mit einem oder mehreren vorgegebenen Schwellenwerten verglichen werden und anhand der Schwellenwertüber- bzw. Schwellenwertunterschreitung eine neue Sendersignalstärke und/oder eine neue Integrationszeit vorgegeben werden. Mit der neuen Sendersignalstärke und/oder der neuen Integrationszeit wird dann die Messung, also die Verfahrensschritte (i)–(iii), wiederholt.
  • In einer Ausgestaltung des Verfahrens umfasst die optische Sensoranordnung mindestens eine Komponente zur Signalwandlung und/oder zur Signalübertragung, welche bezüglich des aufintegrierten Empfängersignals, also des Messsignals, einen oberen Sättigungswert aufweist, wobei die Integrationszeit und/oder die Signalstärke des Sendersignals so vorgegeben wird, dass die Messsignalstärke, den Sättigungswert der Komponente zur Signalwandlung und/oder zur Signalübertragung nicht übersteigt. Die Komponente zur Signalwandlung und/oder zur Signalübertragung kann in einer Weiterbildung dieser Ausgestaltung einen Analog/Digital-Wandler umfassen. In diesem Fall kann die Messsignalstärke so an den Eingangsbereich des Analog/Digital-Wandlers angepasst werden, dass ein Überschreiten des maximalen Eingangspegels des Analog/Digital-Wandlers verhindert wird, der Sättigungswert des Analog/Digital-Wandlers also nicht überschritten wird.
  • In einer bevorzugten Ausgestaltung des Verfahrens wird die optische Sensoranordnung zur Trübungsmessung verwendet.
  • In einer Ausgestaltung des Verfahrens wird die Integrationszeit aus einer Reihe diskreter Werte ausgewählt.
  • In einer weiteren Ausgestaltung umfasst das Verfahren die weiteren Schritte:
    • (iv) Vergleichen der Messsignalstärke mit einem ersten Schwellenwert;
    • (v) bei Überschreiten des ersten Schwellenwerts Verringern der vorgegebenen Integrationszeit und/oder der vorgegebenen Sendersignalstärke und Wiederholung der Schritte (i) bis (iii).
  • Der erste Schwellenwert gibt eine Obergrenze für die Messsignalstärke vor, wobei diese Obergrenze bevorzugt so gewählt werden kann, dass ein Überschreiten des Eingangspegels der Komponente zur Signalübertragung und/oder Signalwandlung, insbesondere des Analog/Digital-Wandlers, sicher vermieden wird.
  • Wird in Verfahrensschritt (iv) ein Unterschreiten des ersten Schwellenwerts durch die Messsignalstärke festgestellt, ist also die Messsignalstärke kleiner als der erste Schwellenwert, so kann das Verfahren beendet und das Messsignal bezüglich der zu bestimmenden Messgröße ausgewertet werden. Wird dage gen in Verfahrensschritt (iv) ein Überschreiten des Schwellenwerts durch die Messsignalstärke festgestellt, ist also die Messsignalstärke größer als der Schwellenwert, wird eine neue, niedrigere Integrationszeit und/oder eine neue, niedrigere Sendersignalstärke vorgegeben und erneut bei Durchführung des Verfahrensschritts (iii) ein neues, entsprechend der kürzeren Integrationszeit und/oder der niedrigeren Sendersignalstärke schwächeres Messsignal gebildet. Insbesondere kann das Überschreiten des Schwellenwerts bereits während der Integration festgestellt werden. Die Integration wird dann bei Erreichen des Schwellenwerts abgebrochen und wie beschrieben eine neue, verringerte Integrationszeit vorgegeben.
  • Die Signalstärke des neu gebildeten Messsignals wird erneut mit dem ersten Schwellenwert verglichen. Unterschreitet die Messsignalstärke des neu gebildeten Messsignals den ersten Schwellenwert kann das Verfahren beendet und das Messsignal bezüglich der zu bestimmenden Messgröße ausgewertet werden. Überschreitet die neue Messsignalstärke weiterhin den ersten Schwellenwert, kann die vorgegebene Integrationszeit und/oder die vorgegebene Sendersignalstärke erneut verringert und die Verfahrensschritte (i) bis (iii) erneut durchlaufen werden. Dies wird so oft wiederholt, bis die Messsignalstärke den ersten Schwellenwert unterschreitet.
  • In einer Weiterbildung dieser Verfahrensausgestaltung wird in Schritt (v) die vorgegebene Integrationszeit halbiert.
  • In einer weiteren Ausgestaltung umfasst das Verfahren die weiteren Schritte:
    • (vi) Vergleichen der Messsignalstärke mit einem zweiten Schwellenwert;
    • (vii) bei Unterschreiten des zweiten Schwellenwerts Erhöhen der vorgegebenen Integrationszeit und/oder der vorgegebenen Sendersignalstärke und Wiederholung der Schritte (i) bis (iii).
  • Der zweite Schwellenwert gibt eine Untergrenze für die Signalstärke des Messsignals vor. Diese wird bevorzugt so gewählt, dass der Einfluss des Eigenrauschens des Systems noch toleriert werden kann.
  • Vorteilhafterweise wird der erste und der zweite Schwellenwert so gewählt, dass der erste Schwellenwert nahe am Sättigungswert des Analog/Digital-Wandlers liegt, insbesondere oberhalb von 85%, bevorzugt oberhalb von 90%, besonders bevorzugt oberhalb von 95%, aber stets unterhalb des Sättigungswerts. Der zweite Schwellenwert wird vorteilhafterweise so festgelegt, dass das vom ersten und zweiten Schwellenwert eingeschlossene Intervall der Hälfte, bevorzugt einem Drittel, besonders bevorzugt einem Viertel, besonders bevorzugt einem Achtel des Messumfangs des Analog/Digital-Wandlers entspricht. Je näher der zweite Schwellenwert am Sättigungswert des Analog/Digital-Wandlers gewählt wird, desto geringer ist der Einfluss des Eigenrauschens des Systems.
  • Wird in Verfahrensschritt (vi) ein Überschreiten des zweiten Schwellenwerts durch die Messsignalstärke festgestellt, ist also die Messsignalstärke größer als der zweite Schwellenwert, kann das Verfahren beendet und das Messsignal bezüglich der zu bestimmenden Messgröße ausgewertet werden. Wird in Verfahrensschritt (vi) ein Unterschreiten des zweiten Schwellenwerts durch die Messsignalstärke festgestellt, ist also die Messsignalstärke kleiner als der zweite Schwellenwert, wird eine neue, längere Integrationszeit und/oder eine neue, höhere Sendersignalstärke vorgegeben, und erneut im Verfahrensschritt (iii) ein neues, entsprechend der längeren Integrationszeit und/oder der höheren Sendersignalstärke stärkeres Messsignal durch Integration gebildet.
  • Die Signalstärke des neu gebildeten Messsignals wird erneut mit dem zweiten Schwellenwert verglichen. Überschreitet die neue, entsprechend höhere Messsignalstärke den zweiten Schwellenwert, kann das Verfahren beendet und das Messsignal bezüglich der zu bestimmenden Messgröße ausgewertet werden. Unterschreitet die neue, höhere Messsignalstärke dagegen weiterhin den zwei ten Schwellenwert, kann die Integrationszeit und/oder die Sendersignalstärke erneut erhöht und die Verfahrensschritte (i) bis (iii) erneut durchlaufen werden. Dies wird so oft wiederholt, bis die Messsignalstärke den zweiten Schwellenwert überschreitet.
  • In einer Weiterbildung des Verfahrens können zusätzlich Verfahrensschritte (iv) und (v) durchgeführt werden. Dies stellt sicher, dass die in Schritt (vii) erhöhte Integrationszeit und/oder Sendersignalstärke nicht dazu führt, dass die Messsignalstärke so groß wird, dass der Sättigungswert des Analog/Digital-Wandlers überschritten wird.
  • Bei dem hier beschriebenen Verfahren und seinen Varianten wird davon ausgegangen, dass die zu bestimmende Messgröße während der Durchführung aller Verfahrensschritte im wesentlichen konstant bleibt.
  • In einer Weiterbildung wird das Empfängersignal bezüglich der Integrationszeit und/oder der Lichtintensität normiert. Diese Maßnahme dient dazu, mit unterschiedlichen Integrationszeiten gebildete Messsignale untereinander vergleichbar zu machen. Entsprechend erlaubt die Normierung bezüglich der Lichtintensität den Vergleich zwischen Empfängersignalen, die bei unterschiedlichen Sendersignalstärken erzeugt wurden.
  • In einer Weiterbildung erfolgt die Normierung bezüglich der Integrationszeit durch Division des Messsignals durch die Integrationszeit.
  • In einer weiteren Ausgestaltung des Verfahrens wird die Normierung mittels einer Normierungseinheit durchgeführt, welche Softwaremittel und/oder mindestens eine zusätzliche Monitor-Diode umfasst, welche mit der gleichen Integrationszeit betrieben wird wie der Empfänger.
  • In einer Ausgestaltung des Verfahrens wird als Sender mindestens eine Leuchtdiode und als Empfänger mindestens eine Photodiode vorgesehen, wo bei die Photodiode Licht der Leuchtdiode empfängt und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder einen Photostrom erzeugt. Im Falle einer Trübungsmessung wird, je nachdem ob es sich um eine nephelometrische oder turbidimetrische Messung handelt, vom Empfänger entweder das durch die dispersen Teilchen gestreute Licht der Leuchtdiode oder das durch das Medium hindurch getretene abgeschwächte Licht der Leuchtdiode von der Photodiode empfangen. Entsprechend sendet die Leuchtdiode als Sendersignal Licht einer ersten Intensität aus. Das Streulicht bzw. das durch das Medium abgeschwächte Licht trifft mit einer zweiten Intensität auf die Photodiode, wobei die zweite Intensität schwächer ist als die erste Intensität. Um den aufintegrierten Photostrom bzw. die aufintegrierte Photospannung an den Eingangsbereich der Komponente zur Signalwandlung und/oder Signalübertragung anzupassen, beispielsweise an einen Analog/Digital-Wandler, kann in diesem Fall entweder die Integrationszeit oder die Intensität des von der Leuchtdiode emittierten Lichts variiert werden. Die Lichtintensität des von einer Leuchtdiode emittierten Lichts lässt sich beispielsweise durch Filter, aber auch durch Variation der Eingangsspannung bzw. des Betriebsstroms der Leuchtdiode variieren.
  • In einer Weiterbildung dieser Ausgestaltung werden als Sender eine erste und eine zweite Leuchtdiode und als Empfänger eine erste und eine zweite Photodiode vorgesehen,
    wobei das von der ersten Leuchtdiode emittierte Licht von der ersten Photodiode empfangen und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder ein -strom erzeugt wird,
    wobei das von der ersten Leuchtdiode emittierte Licht von der zweiten Photodiode empfangen und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder ein -strom erzeugt wird,
    wobei das von der zweiten Leuchtdiode emittierte Licht von der ersten Photodiode empfangen und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder ein -strom erzeugt wird und
    wobei das von der zweiten Leuchtdiode emittierte Licht von der zweiten Photodiode empfangen und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder ein -strom erzeugt wird. Dieses Verfahren ist auch als Vierstrahl-Wechsellicht-Verfahren bekannt. Dieses Verfahren hat den zusätzlichen Vorteil, dass sich apparative Störungen, wie Schwankungen der von den Leuchtdioden emittierten Lichtintensität, z. B. aufgrund von Verschmutzung der Leuchtdioden, eliminieren lassen.
  • Das mittels der zwei Leuchtdioden abwechselnd erzeugte Wechsellicht W wird dabei nach folgender Formel berechnet:
    Figure 00100001
    wobei I1_1 der von der ersten Photodiode bei Empfang des von der ersten Leuchtdiode emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist,
    wobei I2_1 der von der zweiten Photodiode bei Empfang des von der ersten Leuchtdiode emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist,
    wobei I1_2 der von der ersten Photodiode bei Empfang des von der zweiten Leuchtdiode emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist,
    wobei 12_2 der von der zweiten Photodiode bei Empfang des von der zweiten Leuchtdiode emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist.
  • Die Erfindung wird nun an Hand der Zeichnung näher beschrieben und erläutert.
  • In der Zeichnung zeigen:
  • 1 eine optische Sensoranordnung mit einer Leuchtdiode, einer Photodiode, einer Integrationsschaltung und einem Analog/Digital-Wandler;
  • 2 den zeitlichen Spannungsverlauf einer Integrationsschaltung nach dem Einschalten einer Photodiode als Funktion der Integrationszeit;
  • 3 eine optische Sensoranordnung mit einer Leuchtdiode, einer Photodiode, einer Integrationsschaltung, einer Normierungseinheit, einer Steuereinheit und einem Analog/Digital-Wandler;
  • 4 eine optische Sensoranordnung mit zwei Leuchtdioden und zwei Photodioden;
  • 5 vier Messdiagramme, die die von einer Sensoranordnung gemäß
  • 4 gebildeten Messsignale als Funktion des Feststoffgehalts in einer Suspension aus Klärschlamm und Wasser wiedergeben; und
  • 6 zwei Messdiagramme, welche das Vierstrahl-Wechsellicht zu den in der 5 dargestellten Messdiagrammen zeigen.
  • In der 1 ist eine optische Sensoranordnung MS mit einer Leuchtdiode E1 und einer Photodiode D1, einer Integrationsschaltung I, einem Analog/Digital-Wandler AD und einer Steuereinheit SE abgebildet. Die Leuchtdiode E1 emittiert Licht in ein flüssiges oder gasförmiges getrübtes Medium M. Die Photodiode D1 ist gegenüber der Leuchtdiode E1 so positioniert, dass sie im Medium M durch disperse Feststoff-Teilchen F gestreutes Licht empfängt. Die Photodiode D1 erzeugt aus dem empfangenen Licht einen Photostrom, welcher auch als Photospannung abgreifbar ist. Der Photostrom wird über eine Integrationsschaltung I mit einem Kondensator aufintegriert. Die am Kondensator anliegende Spannung wird dabei mittels eines Analog/Digital-Wandlers AD in ein digitales Signal umgewandelt. Mit dem Analog/Digital-Wandler AD ist eine Steuereinheit SE verbunden, die das digitalisierte Messsignal ausgibt oder weiterleitet. Da die von der Photodiode D1 empfangene Lichtintensität und damit der von ihr ausgegebene Photostrom und entsprechend das mittels Integration gebildete Messsignal von der Trübung des Messmediums M abhängt, kann aus dem Messsignal die zu ermittelnde Trübungs-Messgröße, beispielsweise die Kon zentration und Teilchengröße der im Medium M dispergierten Feststoff-Teilchen F bestimmt werden.
  • 2 zeigt den zeitlichen Verlauf des im Aufbau nach 1 nach dem Einschalten der Photodiode D1 ausgegebenen Signals. Auf der y-Achse ist hier die Ausgabe des Analog/Digital-Wandlers AD in Intensitätsstufen, so genannten „Counts”, dargestellt. Auf der x-Achse ist die Integrationszeit aufgetragen. Der Punkt P1 der dargestellten Funktion markiert dabei den Zeitpunkt t1, zu dem die Leuchtdiode E1 eingeschaltet wird und zu dem entsprechend die Photodiode D1 beginnt, ein Lichtsignal zu empfangen. Mit zunehmender Integrationszeit steigen die Counts des Analog/Digitals-Wandlers AD linear an. Zum Zeitpunkt t2 hat der Analog/Digital-Wandler AD seinen Sättigungs-Wert, die maximale Countzahl P2, erreicht. Wenn die Integrationszeit größer gewählt wird als das dem Punkt P2 entsprechende Zeitintervall, wird von der Photodiode D1 zwar weiterhin ein Signal ausgegeben, dieses Signal kann jedoch nicht mehr vom Analog/Digital-Wandler AD erfasst werden, da die Messsignalstärke seinen Sättigungswert überschreitet.
  • Dies wird bei einem Aufbau gemäß 3 vermieden. Hier ist eine ähnliche optische Sensoranordnung wie in 1 gezeigt, die zusätzlich noch eine Steuereinheit SE und eine Normierungseinheit N aufweist.
  • Die Steuereinheit SE überwacht das durch Integration des Photostroms bzw. der Photospannung gebildete Messsignal und vergleicht die Messsignalstärke mit einem vorgegebenen oberen Schwellenwert, der unterhalb des Sättigungswerts des Analog/Digital-Wandlers AD liegt. Zur Illustration sei beispielhaft angenommen, dass für die Digitalisierung ein 24 Bit Analog/Digital-Wandler zur Verfügung steht. Für den positiven Photostrom- bzw. Spannungsbereich stehen somit ca. 8 Millionen Counts zur Verfügung. In diesem Fall wird der obere Schwellenwert beispielsweise bei ca. 7 Millionen Counts festgelegt. Zur Anpassung des integrierten Signals an den Eingangsbereich des Analog/Digital- Wandlers regelt die Steuereinheit SE die Integrationszeit bei Erreichen bzw. Überschreiten des oberen Schwellenwerts herunter.
  • Dies kann beispielsweise iterativ in folgender Weise erfolgen: Wird beim Vergleich der Messsignalstärke mit dem oberen Schwellenwert festgestellt, dass die Messsignalstärke den oberen Schwellenwert unterschreitet, kann das Verfahren beendet und das Messsignal bezüglich der zu bestimmenden Messgröße ausgewertet werden. Überschreitet dagegen die Signalstärke des mit der vorgegebenen Integrationszeit gebildeten Messsignals den oberen Schwellenwert oder wird gar der Sättigungswert des Analog/Digital-Wandlers AD überschritten, wird eine neue, kürzere Integrationszeit vorgegeben und das Photodiodensignal erneut aufintegriert um ein neues Messsignal zu bilden. Dieses neue Messsignal weist entsprechend der kürzeren Integrationszeit eine niedrigere Signalstärke auf. Alternativ kann auch vorgesehen sein, die Messsignal noch während der Integration über die vorgegebene Integrationszeit zu überwachen. Überschreitet die Messsignalstärke noch vor Ende der vorgegebenen Integrationszeit den Schwellenwert, wird die Integration abgebrochen, eine neue, kürzere Integrationszeit vorgegeben und das Photodiodensignal erneut aufintegriert, um ein entsprechend schwächeres, neues Messsignal zu bilden.
  • Die neue, niedrigere Messsignalstärke wird erneut mit dem oberen Schwellenwert verglichen. Überschreitet sie den Schwellenwert nicht, kann das Verfahren beendet werden. Aus dem neuen Messsignal wird dann die zu bestimmende Messgröße ermittelt.
  • Überschreitet die neue, niedrigere Messsignalstärke den Schwellenwert nach wie vor, wird eine neue, noch kürzere Integrationszeit vorgegeben und erneut ein Messsignal durch Integration des Photodiodensignals gebildet. Wiederum kann alternativ die Integration bei Überschreiten des Schwellenwerts bereits vor Ablauf der vorgegebenen Integrationszeit abgebrochen werden. Diese Schritte werden so oft wiederholt, bis die Messsignalstärke den Schwellenwert nicht mehr überschreitet.
  • Um auch bei einer starken Abschwächung der Sendersignalstärke durch die Wechselwirkung mit einem stark getrübten Medium ein Messsignal zu gewährleisten, das nur in geringem Maße von dem Eigenrauschen des Systems beeinflusst ist, kann zusätzlich oder alternativ ein zweiter, unterer Schwellenwert festgelegt werden. Bei dem oben genannten Beispiel eines 24 Bit Analog/Digital-Wandlers kann der untere Schwellenwert beispielsweise bei 4 Millionen Counts festgelegt werden. Das durch Integration des Photodiodensignals über die vorgegebene Integrationszeit gebildete Messsignal wird mit diesem unteren Schwellenwert verglichen.
  • Überschreitet die Messsignalstärke den unteren Schwellenwert, kann das Verfahren beendet und das Messsignal bezüglich der zu bestimmenden Messgröße ausgewertet werden. Unterschreitet die Messsignalstärke dagegen den unteren Schwellenwert, wird eine neue, längere Integrationszeit vorgegeben, und erneut eine Integration des Empfängersignals zur Bildung eines Messsignals durchgeführt. Überschreitet die neue, entsprechend höhere Messsignalstärke den unteren Schwellenwert, so kann das Verfahren beendet und aus dem Messsignal die zu bestimmende Messgröße ermittelt werden. Unterschreitet das neue Messsignal nach wie vor den unteren Schwellenwert, so wird eine neue, noch längere Integrationszeit vorgegeben und erneut ein Messsignal gebildet. Diese Schritte werden so oft wiederholt, bis die Messsignalstärke den unteren Schwellenwert nicht mehr unterschreitet. Dann wird das Verfahren beendet und aus dem Messsignal die zu bestimmende Messgröße ermittelt.
  • Um zu vermeiden, dass die Vorgabe längerer Integrationszeiten dazu führt, dass die neue, höhere Messsignalstärke den Sättigungswert des Analog/Digital-Wandlers AD überschreitet, kann bei jeder Vorgabe einer neuen, längeren Integrationszeit das Messsignal zusätzlich auch auf die Überschreitung des ersten oberen Schwellenwerts geprüft und die vorgegebene Integrationszeit bei Schwellenwertüberschreitung wieder herabgesetzt werden.
  • Die integrierte und digitalisierte Photospannung bzw. der Photostrom wird bezüglich der Integrationszeit nach der Formel Z/IZ (1)mittels einer Normierungseinheit N normiert,
    wobei Z der Zählerstand am Ausgang des Analog/Digital-Wandlers AD, und IZ die Integrationszeit ist. Diese einfache Art der Normierung ist möglich, wenn wie in 2 ein linearer Zusammenhang zwischen der Integrationszeit IZ und der Zählerausgabe in Counts des Analog/Digital-Wandlers AD besteht, wenn also gilt: C = m·IZ + d, mit d = const., (2)wobei C der Ausgabe des Analog/Digital-Wandlers AD in Counts entspricht und m, und d Konstanten sind. Idealerweise nimmt d den Wert Null an.
  • Die Normierungseinheit N kann Softwaremittel umfassen. Hierzu kann sie mit der Steuereinheit SE kommunizieren. Alternativ kann aber auch eine zusätzliche Photodiode als Monitor-Diode (nicht dargestellt) vorgesehen sein, die ebenfalls Licht von der Leuchtdiode E1 empfängt. Entsprechend empfängt die Monitor-Diode Licht über die gleiche Integrationszeit wie die Photodiode D1 und kann somit zur Normierung und gleichzeitig zur Überwachung der Steuereinheit herangezogen werden.
  • Alternativ oder zusätzlich zur Änderung der Integrationszeit kann zur Anpassung des Messsignals an den Eingangsbereich des Analog/Digital-Wandlers AD auch vorgesehen sein, die Eingangsspannung bzw. den Betriebsstrom der Leuchtdiode E1 und somit die Senderleistung, also die Intensität des von der Leuchtdiode E1 emittierten Lichts, zu variieren. Eine Variation der Lichtintensität der Leuchtdiode E1 kann ebenfalls durch die Steuereinheit SE durchgeführt werden. Die Lichtintensität des von einer Leuchtdiode emittierten Lichts lässt sich beispielsweise durch Filter, aber auch durch Variation der Eingangsspannung bzw. des Betriebsstroms der Leuchtdiode E1 variieren.
  • Die Anpassung der Lichtintensität der Leuchtdiode E1 an den Eingangsbereich des Analog/Digital-Wandlers AD kann analog zum zuvor beschriebenen iterativen Verfahren zu Anpassung der Integrationszeit anhand vorgegebener Schwellenwerte durchgeführt werden.
  • Im Falle einer Variation der Lichtintensität erfolgt entsprechend eine Normierung des Messsignals bezüglich der Lichtintensität bzw. des Betriebsstroms der Leuchtdiode E1. Die Normierung erfolgt in diesem Fall ebenfalls über die Normierungseinheit N.
  • Im folgenden werden beispielhafte Messungen der Trübung einer Suspension aus ausgefaultem Klärschlamm und Wasser gezeigt. 4 gibt schematisch die hierzu verwendete Sensoranordnung mit zwei Photodioden D1 und D2 und zwei Leuchtdioden E1 und E2 wieder. Diese Anordnung erlaubt die Durchführung des Vierstrahl-Wechsellicht-Verfahrens, welches beispielsweise aus US 5,140,168 bekannt ist.
  • Die Leuchtdioden E1 und E2 werden für die Messung abwechselnd ein- und ausgeschaltet. Das dabei durch Streuung im Medium M zu den beiden Photodioden D1 und D2 gestreute Licht wird gemessen. Die Bezifferung der Lichtwege 1_1, 2_1, 1_2 und 2_2 geben jeweils den Lichtemitter, also die Leuchtdiode, und den Lichtempfänger, die Photodiode, an. Die erste Ziffer steht für den Lichtempfänger, während die zweite Ziffer den Lichtemitter bezeichnet.
  • In der 5 sind in vier Messdiagrammen die zu den vier Lichtwegen 1_1, 2_2, 2_1, und 1_2 gehörenden Messsignale einer Messreihe abgebildet, bei der eine Suspension aus Wasser und Klärschlamm zunehmend verdünnt wurde. Die in Abhängigkeit vom Feststoffgehalt (TS-Gehalt) aufgetragenen Messsignale entsprechen dem Zählerstand am Ausgang des Analog/Digital-Wandlers AD. Die Integrationszeiten sind wegen der hohen Signaldynamik des optischen Messsensors MS angepasst worden, um das Messsignal unterhalb des Sättigungs- Werts des Analog/Digital-Wandlers AD zu halten. Das erste Messdiagramm 1_1 zeigt den Zählerstand am Analog/Digital-Wandler AD für den Fall, dass die Leuchtdiode E1 Licht emittiert, das von der Photodiode D1 empfangen wird. Das zweite Messdiagramm 2_2 zeigt den Zählerstand am Analog/Digital-Wandler AD für den Fall, dass die Leuchtdiode E2 Licht emittiert, das von der Photodiode D2 empfangen wird. Das dritte Messdiagramm 2_1 zeigt den Zählerstand am Analog/Digital-Wandler AD für den Fall, dass die Leuchtdiode E1 Licht emittiert, das von der Photodiode D2 empfangen wird. Schließlich zeigt das vierte Messdiagramm 1_2 den Zählerstand am A/D-Wandler AD für den Fall, dass die Leuchtdiode E2 Licht emittiert, das von der Photodiode D1 empfangen wird.
  • Die Messreihe wurde bei einem hohen Feststoffgehalt von mehr als 45 g/l mit einer ersten Integrationszeit T1 von 2880 μs gestartet, die Suspension wurde danach mit Wasser zunehmend verdünnt. Bei höherer Verdünnung der Suspension, was einer niedrigeren Feststoffkonzentration entspricht, kann man ein Ansteigen der Sensorsignale beobachten. Ab einem Feststoffgehalt von etwa 10,7 g/l und zunehmender Verdünnung wird die vorgegebene Integrationszeit auf eine zweite Integrationszeit T2 von 1022 μs verringert, da sonst die Signalstärke den Sättigungswert des Analog/Digital-Wandlers AD überschreitet. Bei einem Feststoff-Gehalt von weniger als 2,8 g/l und zunehmender Verdünnung wird eine noch geringere Integrationszeit T3 von 681 μs vorgegeben um zu gewährleisten, dass die Messsignalstärke den Sättigungswert des Analog/Digitalwandlers AD nicht überschreitet.
  • Zur Auswertung der in 5 dargestellten Signale wird das Vierstrahl-Wechsellicht W nach der folgenden Formel bestimmt:
    Figure 00170001
    wobei I1_1 der von der ersten Photodiode D1 bei Empfang des von der ersten Leuchtdiode E1 emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist,
    wobei I2_1, der von der zweiten Photodiode D2 bei Empfang des von der ersten Leuchtdiode E1 emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist,
    wobei I1_2 der von der ersten Photodiode D1 bei Empfang des von der zweiten Leuchtdiode E2 emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist und
    wobei I2_2 der von der zweiten Photodiode D2 bei Empfang des von der zweiten Leuchtdiode E2 emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist. Dabei ist der Photostrom I jeweils in Counts des Analog/Digital-Wandlers angegeben. Das so berechnete Vierstrahl-Wechsellicht der in 5 gezeigten Messwerte ist in 6 als Funktion des Feststoff-Gehalts (TS-Gehalt) dargestellt. Dabei ist der Bereich sehr geringer Trübung, entsprechend sehr geringem TS-Gehalt, separat vergrößert dargestellt.
  • Bei einem linearen Zusammenhang zwischen der Integrationszeit und der Anzahl der Counts am Analog/Digital-Wandler mit d = 0 (vgl. Glg. (2)) wird das Wechsellicht, in diesem Fall ein Vierstrahlwechsellicht, durch die Quotientenbildung unabhängig von der Integrationszeit IZ, so dass nicht einmal eine Normierung der einzelnen Messwerte erforderlich ist, um die Messbereiche, die mit unterschiedlichen Integrationszeiten gemessen wurden, untereinander zu vergleichen, da gilt:
    Figure 00180001
  • Es sind daher auch ohne Normierung zwischen den einzelnen, mit unterschiedlichen Integrationszeiten gebildeten Messsignalen keine unstetigen Übergänge festzustellen.
  • Die Erfindung ist besonders gut geeignet zur Messung des Feststoffgehaltes in einer Suspension aus Wasser und Klärschlamm, jedoch nicht auf diesen Be reich im Umweltsektor beschränkt. Die Erfindung lässt sich überall dort vorteilhaft einsetzen, wo die Sensordynamik so groß ist, dass die detektierten Eingangssignale für einen Analog/Digital-Wandler dessen Sättigungswert übersteigen. Das kann allgemein in der Messtechnik oder in der Prozessleittechnik der Fall sein. In allen diesen technischen Gebieten kann die Erfindung vorteilhaft eingesetzt werden.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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  • Zitierte Patentliteratur
    • - EP 596231 A1 [0007, 0008]
    • - US 5140168 [0063]

Claims (20)

  1. Verfahren zur Bestimmung einer Messgröße eines Mediums (M), insbesondere zur Trübungsmessung in einem flüssigen oder gasförmigen Medium, mittels einer optischen Sensoranordnung (MS), mit den Schritten: (i) Erzeugen eines Sendersignals mit einer vorgegebenen Sendersignalstärke mittels mindestens eines optischen Senders, wobei das Sendersignal durch Wechselwirkung mit dem Medium (M) in Abhängigkeit von der Messgröße gewandelt wird; (ii) Erzeugen eines Empfängersignals mittels mindestens eines dem Sender zugeordneten Empfängers aus dem gewandelten Sendersignal; (iii) Bilden eines Messsignals durch Integration des Empfängersignals über eine vorgegebene Integrationszeit.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Messsignal eine mit der Integrationszeit und der Messgröße korrelierte Messsignalstärke aufweist, und wobei die Integrationszeit und/oder die Sendersignalstärke in Abhängigkeit von der Messsignalstärke vorgegeben wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, wobei die optische Sensoranordnung (MS) mindestens eine Komponente zur Signalwandlung und/oder zur Signalübertragung umfasst, welche bezüglich des Messsignals einen oberen Sättigungswert aufweist, wobei die Integrationszeit und/oder die Sendersignalstärke so vorgegeben wird, dass die Messsignalstärke den Sättigungswert der Komponente zur Signalwandlung und/oder zur Signalübertragung nicht übersteigt.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, wobei die Komponente zur Signalwandlung und/oder zur Signalübertragung einen Analog/Digital-Wandler (AD) umfasst.
  5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei die Integrationszeit aus einer Reihe diskreter Werte ausgewählt wird.
  6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, mit den weiteren Schritten: (iv) Vergleichen der Messsignalstärke mit einem ersten Schwellenwert; (v) bei Überschreiten des ersten Schwellenwerts Verringern der vorgegebenen Integrationszeit und/oder der vorgegebenen Sendersignalstärke und Wiederholung der Schritte (i) bis (iii).
  7. Verfahren nach Anspruch 6, wobei in Schritt (v) die Integrationszeit halbiert wird.
  8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, mit den weiteren Schritten: (vi) Vergleichen der Messsignalstärke mit einem zweiten Schwellenwert; (vii) bei Unterschreiten des zweiten Schwellenwerts Erhöhen der vorgegebenen Integrationszeit und/oder der vorgegebenen Sendersignalstärke und Wiederholung der Schritte (i) bis (iii).
  9. Verfahren nach Anspruch 8, wobei in Schritt (vii) die Integrationszeit verdoppelt wird.
  10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei das Messsignal bezüglich der Integrationszeit und/oder der Sendersignalstärke normiert wird.
  11. Verfahren nach Anspruch 10, wobei die Normierung bezüglich der Integrationszeit durch Division der Messsignalstärke durch die Integrationszeit erfolgt.
  12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, wobei die Normierung mittels einer Normierungseinheit (N) durchgeführt wird, welche Softwaremittel und/oder mindestens eine zusätzliche Monitor-Diode umfasst, die mit der gleichen Integrationszeit betrieben wird wie der Empfänger.
  13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, wobei als Sender mindestens eine Leuchtdiode (E1) und als Empfänger mindestens eine Photodiode (D1) vorgesehen werden, wobei die Photodiode (D1) Licht der Leuchtdiode empfängt und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder einen Photostrom erzeugt.
  14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, wobei als Sender eine erste und eine zweite Leuchtdiode (E1, E2) und als Empfänger eine erste und eine zweite Photodiode (D1, D2) vorgesehen werden, wobei das von der ersten Leuchtdiode (E1) emittierte Licht von der ersten Photodiode (D1) empfangen und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder ein -strom erzeugt wird, wobei das von der ersten Leuchtdiode (E1) emittierte Licht von der zweiten Photodiode (D2) empfangen und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder ein -strom erzeugt wird, wobei das von der zweiten Leuchtdiode (E2) emittierte Licht von der ersten Photodiode (D1) empfangen und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder ein -strom erzeugt wird, wobei das von der zweiten Leuchtdiode (E2) emittierte Licht von der zweiten Photodiode (D2) empfangen und daraus als Empfängersignal eine Photospannung oder ein -strom erzeugt wird.
  15. Verfahren nach Anspruch 14, wobei das mittels der zwei Leuchtdioden (E1, E2) abwechselnd erzeugte Wechsellicht W nach folgender Formel berechnet wird:
    Figure 00220001
    wobei I1_1 der von der ersten Photodiode (D1) bei Empfang des von der ersten Leuchtdiode (E1) emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist, wobei I2_1 der von der zweiten Photodiode (D2) bei Empfang des von der ersten Leuchtdiode (E1) emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist, wobei I1_2 der von der ersten Photodiode (1) bei Empfang des von der zweiten Leuchtdiode (E2) emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist, wobei I2_2 der von der zweiten Photodiode (D2) bei Empfang des von der zweiten Leuchtdiode (E2) emittierten Lichtes erzeugte Photostrom ist.
  16. Optische Sensoranordnung (MS) zur Bestimmung einer Messgröße eines Mediums (M), insbesondere zur Trübungsmessung in einem flüssigen oder gasförmigen Medium, mit mindestens einem optischen Sender zur Erzeugung eines Sendersignals mit einer vorgegebenen Sendersignalstärke und mindestens einem dem Sender zugeordneten Empfänger zur Erzeugung eines Empfängersignals aus dem durch Wechselwirkung mit dem Medium (M) in Abhängigkeit von der Messgröße gewandelten Sendersignal, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensoranordnung (MS) eine Integratorschaltung (I) zur Integration des Empfängersignals über eine vorgegebene Integrationszeit zur Bildung eines Messsignals umfasst, wobei die Integrationszeit und/oder die Signalstärke des Sendersignals mittels einer Kontroll- und Steuereinheit (SE) vorgebbar ist.
  17. Optische Sensoranordnung (MS) nach Anspruch 16, wobei die Sensoranordnung (MS) weiterhin mindestens eine Komponente zur Signalwandlung und/oder zur Signalübertragung umfasst, welche bezüglich des Messsignals einen oberen Sättigungswert aufweist, und wobei die Integrationszeit und/oder Sendersignalstärke derart mittels der Kontroll- und Steuereinheit vorgebbar ist, dass die Messsignalstärke den Sättigungswert der Komponente zur Signalwandlung und/oder zur Signalübertragung nicht übersteigt.
  18. Optische Sensoranordnung (MS) nach Anspruch 17, wobei die mindestens eine Komponente zur Signalwandlung und/oder Signalübertragung einen Analog/Digital-Wandler (AD) umfasst.
  19. Optische Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 16 bis 18, wobei die Sensoranordnung weiterhin eine Normierungseinheit (N) umfasst, mittels derer das Messsignal bezüglich der Integrationszeit und/oder der Sendersignalstärke des Sendersignals normierbar ist.
  20. Optische Sensoranordnung nach Anspruch 19, wobei die Normierungseinheit (N) Softwaremittel und/oder mindestens eine zusätzliche Monitor-Diode zur Überwachung des Empfängers und/oder zur Ermittlung der Integrationszeit umfasst.
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