DE102007022852A1 - Differenzdruck-Sensoranordnung und entsprechendes Herstellungsverfahren - Google Patents
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Abstract
Die vorliegende Erfindung schafft eine Differenzdruck-Sensoranordnung und ein entsprechendes Herstellungsverfahren. Die Differenzdruck-Sensoranordnung umfasst: einen Differenzdruck-Sensorchip (1), welcher einen ersten Druckbeaufschlagungsbereich (B) zum Beaufschlagen des Differenzdruck-Sensorchips (1) mit einem ersten Druck (P1) als zu erfassendem Druck und einen zweiten Druckbeaufschlagungsbereich (D) zum Beaufschlagen des Differenzdruck-Sensorchips (1) mit einem zweiten Druck (P2) als Referenzdruck aufweist; ein Gehäuse (13), welches den Differenzdruck-Sensorchip (1) teilweise umgibt; wobei das Gehäuse (13) eine Durchgangsöffnung (17) aufweist, durch welche der erste Druckbeaufschlagungsbereich (B) nach außen freigelegt ist; und wobei das Gehäuse (13) eine Eingangsöffnung (17a; 17b) aufweist, durch welche der zweite Druckbeaufschlagungsbereich (D) nach außen freigelegt ist.
Description
- STAND DER TECHNIK
- Die vorliegende Erfindung betrifft eine Differenzdruck-Sensoranordnung und ein entsprechendes Herstellungsverfahren.
- Obwohl auf beliebige Halbleiterchipanordnungen anwendbar, werden die vorliegende Erfindung sowie die ihr zugrundeliegende Problematik in bezug auf eine mikromechanische Silizium-Halbleiterchipanordnung mit einem integrierten Differenzdrucksensor erläutert.
- Die
DE 10 2004 051 468 A1 offenbart ein Verfahren zum Montieren von Halbleiterchips, welches folgende Schritte aufweist: - – Bereitstellen eines Halbleiterchips mit einer Oberfläche, die einen Membranbereich und einen Peripheriebereich aufweist, wobei der Peripheriebereich einen Montagebereich aufweist, und wobei unter dem Membranbereich eine Kaverne liegt, die sich bis in den Montagebereich erstreckt und dort in einer Öffnung mündet;
- – Vorsehen eines Substrats, welches eine Oberfläche mit einer Aussparung aufweist;
- – Montieren des Montagebereich des Halbleiterchips in Flip-Chip-Technik auf die Oberfläche des Substrats derart, dass eine Kante der Aussparung zwischen dem Montagebereich und dem Membranbereich liegt und die Öffnung zum Substrat gerichtet ist;
- – Unterfüllen des Montagebereichs mit einer Unterfüllung, wobei die Kante der Aussparung als Abrissbereich für die Unterfüllung dient, sodass keine Unterfüllung in den Membranbereich gelangt; und
- – Vorsehen einer Durchgangsöffnung durch das Substrat zur Öffnung der Kaverne.
- Die
DE 10 2005 038 443 A1 offenbart eine Sensoranordnung mit einem Substrat und mit einem Gehäuse, wobei das Gehäuse das Substrat in einem ersten Substratbereich im Wesentlichen vollständig umgibt und wobei das Gehäuse in einem zweiten Substratbereich zumindest teilweise mit einer Öff nung vorgesehen ist. Im Bereich der Öffnung ist der zweite Substratbereich aus dem Gehäuse ragend vorgesehen. Weiterhin ist dieser Druckschrift entnehmbar, dass das Gehäuse den zweiten Substratbereich zumindest in einer Hauptebene des Substrats beabstandet zumindest teilweise umgibt, sodass dadurch eine Durchgangsöffnung gebildet ist, in die der zweite Substratbereich einseitig hineinragt. - Allgemein sind heutzutage mikromechanische Silizium-Drucksensoren mit piezoresistiven Wandlerelementen weit verbreitet. Zur Herstellung einer Membran wird eine Kaverne in einen Siliziumchip eingebracht, beispielsweise durch anisotropes Ätzen. Eine Glasplatte, die auf die Waferrückseite anodisch gebondet wird, dient dabei der Reduzierung des mechanischen Stresses, der durch Lot oder Kleber hervorgerufen wird. Der Sensorchip wird üblicherweise in ein Metallgehäuse, z. B. TO8, eingelötet, und mit einer Metallkappe hermetisch dicht verschweißt. Ein alternatives Montageverfahren besteht darin, den Sensorchip auf eine Keramik oder in ein Premould-Gehäuse zu kleben, und zum Schutz gegen Umwelteinflüsse mit einem Gel zu passivieren.
- Aus der
WO 02/02458 A1 - VORTEILE DER ERFINDUNG
- Die der vorliegenden Erfindung zugrundeliegende Idee besteht darin, einen Differenzdruck-Sensorchip mit einem überhängenden Sensorbereich in Open-Cavity-Mould-Technik aufzubauen und einen zweiten Druckanschluss für die Beaufschlagung mit dem Referenzdruck im Gehäuse vorzusehen. Die erfindungsgemäße Differenzdruck-Sensoranordnung ist medienresistent und auch für partikelhaltige und ätzende Medien tauglich.
- Die erfindungsgemäße Differenzdruck-Sensoranordnung nach Anspruch 1 und das entsprechende Herstellungsverfahren nach Anspruch 11 weisen gegenüber den bekannten Lösungsansätzen den Vorteil auf, dass ein einfacher kostengünstiger und Umgebungseinfluss-unempfindlicher Aufbau ermöglicht wird. Es ergeben sich Vorteile hinsichtlich geringer Verpackungskosten beim Einmoulden. Gegenüber einem Absolutdruck-Sensor ohne zweiten Druckanschluss werden bis auf einen zusätzlichen Silizium-Trennschritt zum Öffnen einer zweiten Druckzugangsöffnung keine weiteren Prozessschritte benötigt. Der Ätzschritt zum Öffnen der zweiten Druckzugangsöffnung muss nicht durch den gesamten Wafer erfolgen, sondern nur durch die Dicke der Membran. Dies spart Prozesszeit. Das potentielle Verstopfen des Verbindungskanals vom Membranhohlraum zur zweiten Druckzugangsöffnung durch Partikel im Medium kann durch ein großflächiges feinmaschiges Filtersieb bzw. Gitter verhindert werden.
- Der erfindungsgemäße Aufbau ist medienresistent, da die elektrischen Anschlüsse (typischerweise aus Aluminium hergestellt) durch die Mouldmasse geschützt sind. Es gibt nur Oberflächen aus Silizium oder Siliziumnitrid (Passivierung), an die das Druckmedium gelangen kann. Silizium oder Siliziumnitrid sind besonders medienresistent und damit der gesamte Sensor. Es ist kein Gel zur Passivierung der elektrischen Chipanschlüsse (Bond-Pads) nötig. Ein besonderer Vorteil ist deshalb eine sehr geringe Querempfindlichkeit zur Beschleunigung und die Einsetzbarkeit bei höheren Drücken. Bei gelgeschützten Sensoren würde die Struktur des Gels zerstört bei plötzlichen Druckabfällen, durch Gasbläschen die dabei im Gel entstehen (ähnlich Taucherkrankheit). Eine einkristalline Siliziummembran kann hergestellt werden. Ein besonderer Vorteil davon ist die hohe mechanische Festigkeit bzw. der hohe K-Faktor von darin dotierten Piezo-Widerständen. Vorhandene Herstellungsprozesse von Drucksensoren können größtenteils beibehalten werden. Eine gute Stressentkopplung von der Sensormembran ist durch den überhängenden Chip möglich. Durch die räumliche Entfernung des Montagebereichs vom Membranbereich wird mechanischer Stress abgebaut. Das elektrische Vormessen im Waferverbund ist möglich und ein Bandenabgleich ist nach der Montage möglich. Die Geometrie des Membranbereichs kann beliebig gestaltet werden, vorzugsweise jedoch quadratisch, rechteckig oder runde.
- In den Unteransprüchen finden sich vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des jeweiligen Gegenstandes der Erfindung.
- ZEICHNUNGEN
- Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert.
- Es illustrieren:
-
1a , b schematische Schnittdarstellungen eines Teils des Herstellungablaufs einer mikromechanischen Silizium-Halbleiterchipanordnung mit einem integrierten Differenzdrucksensor, welche bei der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung verwendbar ist; -
2a , b schematische Schnittdarstellungen einer ersten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung; -
3 eine schematische Schnittdarstellung einer zweiten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung; -
4 eine schematische Schnittdarstellung einer dritten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung; -
5 eine schematische Schnittdarstellung einer vierten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung; und -
6 eine schematische Schnittdarstellung einer fünften Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung. - BESCHREIBUNG DER AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
- In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche Komponenten.
-
1a , b zeigen schematische Schnittdarstellungen eines Teils des Herstellungablaufs einer mikromechanischen Silizium-Halbleiterchipanordnung mit einem integrierten Differenzdrucksensor, welche bei der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung verwendbar ist. - In
1a , b bezeichnet Bezugszeichen1 einen Silizium-Halbleiterchip mit einem Auswerteschaltungsbereich A, einem Messdruckzugangsbereich bzw. -beaufschlagungsbereich B, einem Verbindungskanalbereich C und einem Referenzruckzugangsbereich bzw. -beaufschlagungsbereich D. - Beispielsweise gemäß dem Verfahren der
WO 02/02458 A1 5 , unter der ein Membranhohlraum2 , ein Verbindungskanal3 sowie ein Referenzdruckzugangsraum4 hergestellt worden sind. An der Oberseite der Membran5 vorgesehen sind piezoresistive Widerstände6 , deren elektrisches Verhalten bei Verformung der Membran5 zur Erfassung des anliegenden Messdrucks verwendet wird, wobei durch den Referenzdruck ein entsprechender Gegendruck erzeugt wird. Bezugszeichen8 bezeichnet eine optionale integrierte Auswerteschaltung. Oberhalb der Membran ist eine Chip-Passivierung7 , beispielsweise aus Siliziumnitrid, vorgesehen. - Zur Herstellung einer zweiten Druckzugangsöffnung wird eine Photomaske
9 mit Maskenöffnungen9a oberhalb der Chip-Passivierungsschicht7 vorgesehen. Anschließend erfolgt ein Trench-Ätzschritt zur Bildung von einem (Bezugszeichen10a in2 bis6 ) oder mehreren Durchgängen10 (beispielsweise gitterförmig), welche das Anlegen eines externen Referenzdrucks an den Referenzdruckzugangsraum4 ermöglichen. - Die Funktionsweise eines derartigen Differenzdruck-Sensorchips
1 besteht also darin, einen zu messenden Druck im Bereich der Membran5 mit den piezoresistiven Widerständen6 anzulegen und gleichzeitig einen Referenzdruck im Bereich der Öffnung(en)10a bzw.10 anzulegen. Um mögliche Stresseinkopplungen des Verbindungskanals in die piezoresistiven Elemente6 zu vermeiden, ist es vorteilhaft, den Verbindungskanal3 in geeigneter Entfernung von den piezoresistiven Elementen6 vorzusehen (vgl.2b )). Wird die Membran5 im Bereich des zweiten Druckanschlussbereichs4 nicht vollständig entfernt, sondern ein Gitter erzeugt, kann verhindert werden, dass Partikel eindringen. Werden in diesem Gitter sehr viele, sehr kleine Zugangsöffnungen großflächig eingebracht, kann auch ein Zusetzen des Gitters abgeschwächt werden, ähnlich wie dies bei einer Gel-Passivierung geschieht. -
2a , b zeigen schematische Schnittdarstellungen einer ersten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung. - Gemäß
2a erfolgt die Montage des Sensorchips1 durch Vorsehen einer Kleberschicht15 auf einem Montagebereich11a von einem Leadframe mit Anschlussbereichen11 und dem Montagebereich11a . Im Anschluss daran wird eine elektrische Verbindung zwischen einem Bond-Pad21 des Differenzdruck-Sensorchips1 und einem Anschlussbereich11 des Leadframes mittels eines Bond-Drahtes20 erstellt. Anschließend wird der Differenzdruck-Sensorchip1 mit einer Spritzgussmasse bzw. Mouldmasse umspritzt, wobei durch entsprechende Stempel bzw. Platzhalter eine Durchgangsöffnung17 im Messdruckzugangsbereich B und eine Eingangsöffnung17a im Referenzdruckzugangsbereich D freigehalten werden. Nach dem Umspritzen und Aushärten der Mouldmasse wird zweckmäßigerweise ein Partikelfilter19 oberhalb der Eingangsöffnung17a zum Schutz des zweiten Druckanschlusses10a auf dem Gehäuse beispielsweise durch Verkleben vorgesehen. - Wie in
2b dargestellt, verläuft der Verbindungskanalbereich C zum Rande des Messdruckzugangsbereich B hin, um eine geeignete Stressentkopplung zu bewirken. Bezugszeichen P1 in2a bezeichnet den anzulegenden zu messenden Druck, wohingegen Bezugszeichen P2 den im Bereich D anzulegenden Referenzdruck bezeichnet. -
3 zeigen eine schematische Schnittdarstellung einer zweiten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung. - Bei der zweiten Ausführungsform gemäß
3 ist eine Auswerteschaltung in einem separaten Auswertechip1a vorgesehen, welche mittels der Klebeschicht15 in einem weiteren Montagebereich11b des Leadframes vorgesehen ist. Der Auswertechip1a ist durch eine erste Bondverbindung20a mit dem Differenzdruck-Sensorchip1 verbunden und durch einen zweiten Bonddraht20b mit einem Anschlussbereich11 des Leadframes. - Der Auswertechip
1a wird gemeinsam mit dem Differenzdruck-Sensorchip1 auf das Leadframe geklebt, ist aber im Gegensatz zum Differenzdruck-Sensorchip1 vollständig von der Mouldmasse des Gehäuses13 umgeben. -
4 zeigen eine schematische Schnittdarstellung einer dritten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung. - Bei der dritten Ausführungsform gemäß
4 wird zusätzlich zur zweiten Ausführungsform gemäß3 ein Druckanschlussstutzen30 oberhalb der Eingangsöffnung17a mittels eines O-Ringes32 angedichtet. Alternativermaßen könnte der Druckanschlussstutzen30 auch aufgeklebt bzw. aufgelötet werden. -
5 zeigen eine schematische Schnittdarstellung einer vierten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung. - Bei der vierten Ausführungsform gemäß
5 sind eine erste und zweite Druckanschlussplatte40 bzw.42 oberhalb und unterhalb des Gehäuses13 vorgesehen und damit über eine jeweilige Kunststoffdichtung36 ,38 mit entsprechenden Öffnungen dichtend verbunden. Integriert in die erste Druckanschlussplatte40 sind Druckanschlussstutzen33 ,35 entsprechend Druckzugängen zur Durchgangsöffnung17 bzw. Eingangsöffnung17a . - Die zweite Druckanschlussplatte
42 hat einen integrierten Druckanschlussstutzen37 entsprechend dem Druckauslass der Durchgangsöffnung17 . Selbstverständlich kann der Druckanschluss des zu messenden Drucks P1 auch an der Unterseite erfolgen. Nicht gezeigt sind eine mögliche Verschraubung oder Klemmung zum dichtenden Verbinden der Druckanschlussplatten40 ,42 mit dem Gehäuse13 . -
6 zeigen eine schematische Schnittdarstellung einer fünften Ausführungsform der erfindungsgemäßen Differenzdruck-Sensoranordnung. - Bei der in
6 gezeigten fünften Ausführungsform ist die Eingangsöffnung17b zum Anlegen des Referenzdrucks P2 schräg im Gehäuse13 gebildet. Mit anderen Worten weist sie eine Erstreckung im Gehäuse13 auf, die bezüglich einer Normalen zur Chipoberfläche des Differenzdruck-Sensorchips1 im zweiten Druckbeaufschlagungsbereich D schräg gerichtet ist. Durch eine derartige Anordnung ist es möglich, den Abstand für die Abdichtung zwischen ersten und zweiten Druckzugang zu vergrößern. Dies erleichtert die Abdichtung der beiden Druckzugänge an beispielsweise die Druckanschlussstutzen oder separate Druckleitungen. - Obwohl die vorliegende Erfindung vorstehend anhand bevorzugter Ausführungsbeispiele erläutert worden ist, ist sie nicht darauf beschränkt, sondern auch in anderer Weise ausführbar.
- In den obigen Beispielen wurden nur piezoresistive Sensorstrukturen betrachtet. Die Erfindung ist jedoch auch für kapazitive oder sonstige Sensorstrukturen geeignet, bei denen Differenzdruck-Messmembranen verwendet werden.
- ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
-
- - DE 102004051468 A1 [0003]
- - DE 102005038443 A1 [0004]
- - WO 02/02458 A1 [0006, 0022]
Claims (11)
- Differenzdruck-Sensoranordnung mit: einem Differenzdruck-Sensorchip (
1 ), welcher einen ersten Druckbeaufschlagungsbereich (B) zum Beaufschlagen des Differenzdruck-Sensorchips (1 ) mit einem ersten Druck (P1) als zu erfassendem Druck und einen zweiten Druckbeaufschlagungsbereich (D) zum Beaufschlagen des Differenzdruck-Sensorchips (1 ) mit einem zweiten Druck (P2) als Referenzdruck aufweist; einem Gehäuse (13 ), welches den Differenzdruck-Sensorchip (1 ) teilweise umgibt; wobei das Gehäuse (13 ) eine Durchgangsöffnung (17 ) aufweist, durch welche der erste Druckbeaufschlagungsbereich (B) nach außen freigelegt ist; und wobei das Gehäuse (13 ) eine Eingangsöffnung (17a ;17b ) aufweist, durch welche der zweite Druckbeaufschlagungsbereich (D) nach außen freigelegt ist. - Differenzdruck-Sensoranordnung nach Anspruch 1, wobei der erste Druckbeaufschlagungsbereich (B) einseitig in die Durchgangsöffnung (
17 ) hineinragt. - Differenzdruck-Sensoranordnung nach Anspruch 1 oder 2, wobei das Gehäuse (
13 ) aus einer Spritzgussmasse gebildet ist. - Differenzdruck-Sensoranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei oberhalb der Eingangsöffnung (
17a ;17b ) auf dem Gehäuse (13 ) ein Filter (19 ) angebracht ist. - Differenzdruck-Sensoranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei ein Auswertechip (
1a ), der elektrisch mit dem Differenzdruck-Sensorchip (1 ) verbunden ist, von dem Gehäuse (13 ) zumindest teilweise umgeben ist. - Differenzdruck-Sensoranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Differenzdruck-Sensorchip (
1 ) auf einem Leadframe (11 ,11a ;11 ,11a ,11b ) angebracht ist. - Differenzdruck-Sensoranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei oberhalb der Eingangsöffnung (
17a ;17b ) auf dem Gehäuse (13 ) ein Druckanschlussstutzen (30 ) dichtend angebracht ist. - Differenzdruck-Sensoranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei oberhalb der Eingangsöffnung (
17a ;17b ) und oberhalb der Durchgangsöffnung (17 ) auf dem Gehäuse (13 ) eine erste Druckanschlussplatte (40 ) mit einem entsprechenden ersten und zweiten integrierten Druckanschlussstutzen (33 ,35 ) dichtend angebracht ist. - Differenzdruck-Sensoranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei unterhalb der Durchgangsöffnung (
17 ) auf dem Gehäuse (13 ) eine zweite Druckanschlussplatte (40 ) mit einem entsprechenden dritten integrierten Druckanschlussstutzen (37 ) dichtend angebracht ist. - Differenzdruck-Sensoranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Eingangsöffnung (
17a ;17b ) eine Erstreckung im Gehäuse (13 ) aufweist, die bezüglich einer Normalen zur Chipoberfläche im zweiten Druckbeaufschlagungsbereich (D) schräg gerichtet ist. - Verfahren zum Herstellen einer Differenzdruck-Sensoranordnung nach Anspruch 3, wobei das Gehäuse (
13 ) durch Umspritzen des Differenzdruck-Sensorchips (1 ) mit der Spritzgussmasse hergestellt wird und wobei die Eingangsöffnung (17a ;17b ) und die Durchgangsöffnung (17 ) durch entsprechende Platzhalter beim Umspritzen gebildet werden.
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DE (1) | DE102007022852A1 (de) |
WO (1) | WO2008138666A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009026676A1 (de) | 2009-06-03 | 2010-12-09 | Robert Bosch Gmbh | Drucksensoranordnung und entsprechendes Herstellungsverfahren |
CN102770791A (zh) * | 2010-02-10 | 2012-11-07 | 奥兰若技术有限公司 | 长度减小的光电设备 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8124953B2 (en) | 2009-03-12 | 2012-02-28 | Infineon Technologies Ag | Sensor device having a porous structure element |
DE102010042438B4 (de) * | 2010-01-27 | 2013-09-26 | Robert Bosch Gmbh | Sensoranordnung |
US8618620B2 (en) * | 2010-07-13 | 2013-12-31 | Infineon Technologies Ag | Pressure sensor package systems and methods |
JP5333529B2 (ja) * | 2011-07-05 | 2013-11-06 | 株式会社デンソー | モールドパッケージの製造方法 |
US8466523B2 (en) * | 2011-10-07 | 2013-06-18 | Continental Automotive Systems, Inc. | Differential pressure sensor device |
CN102661829A (zh) * | 2012-04-28 | 2012-09-12 | 无锡永阳电子科技有限公司 | So8塑料封装传感器 |
DE102012010842A1 (de) * | 2012-05-31 | 2013-12-05 | Hella Kgaa Hueck & Co. | Sensor mit von einem Substrat umhüllten Sensorelement |
JP6214433B2 (ja) | 2013-10-04 | 2017-10-18 | 株式会社フジクラ | 半導体圧力センサ |
JP6156233B2 (ja) * | 2014-04-01 | 2017-07-05 | 株式会社デンソー | 圧力センサ |
US9663350B2 (en) * | 2014-12-12 | 2017-05-30 | Nxp Usa, Inc. | Stress isolated differential pressure sensor |
KR101740014B1 (ko) * | 2015-06-15 | 2017-05-26 | 주식회사 아이티엠반도체 | 압력센서장치 및 그 제조방법 |
IT201600121210A1 (it) * | 2016-11-30 | 2018-05-30 | St Microelectronics Srl | Modulo di trasduzione multi-dispositivo, apparecchiatura elettronica includente il modulo di trasduzione e metodo di fabbricazione del modulo di trasduzione |
JP6837349B2 (ja) * | 2017-02-16 | 2021-03-03 | セイコーインスツル株式会社 | 圧力変化測定装置、高度測定装置、及び圧力変化測定方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002002458A1 (de) | 2000-07-05 | 2002-01-10 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur herstellung eines halbleiterbauelements sowie ein nach dem verfahren hergestelltes halbleiterbauelement |
DE102004051468A1 (de) | 2004-10-22 | 2006-04-27 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Montieren von Halbleiterchips und entsprechende Halbleiterchipanordnung |
DE102005038443A1 (de) | 2005-08-16 | 2007-02-22 | Robert Bosch Gmbh | Sensoranordnung mit einem Substrat und mit einem Gehäuse und Verfahren zur Herstellung einer Sensoranordnung |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19709846C1 (de) * | 1997-02-28 | 1998-04-02 | Siemens Ag | Druckdifferenz-Meßumformer |
-
2007
- 2007-05-15 DE DE102007022852A patent/DE102007022852A1/de not_active Withdrawn
-
2008
- 2008-03-19 CN CN200880016022A patent/CN101680812A/zh active Pending
- 2008-03-19 EP EP08718039A patent/EP2150788A1/de not_active Withdrawn
- 2008-03-19 WO PCT/EP2008/053318 patent/WO2008138666A1/de active Application Filing
- 2008-03-19 US US12/598,261 patent/US20100133631A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002002458A1 (de) | 2000-07-05 | 2002-01-10 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur herstellung eines halbleiterbauelements sowie ein nach dem verfahren hergestelltes halbleiterbauelement |
DE102004051468A1 (de) | 2004-10-22 | 2006-04-27 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Montieren von Halbleiterchips und entsprechende Halbleiterchipanordnung |
DE102005038443A1 (de) | 2005-08-16 | 2007-02-22 | Robert Bosch Gmbh | Sensoranordnung mit einem Substrat und mit einem Gehäuse und Verfahren zur Herstellung einer Sensoranordnung |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009026676A1 (de) | 2009-06-03 | 2010-12-09 | Robert Bosch Gmbh | Drucksensoranordnung und entsprechendes Herstellungsverfahren |
CN102770791A (zh) * | 2010-02-10 | 2012-11-07 | 奥兰若技术有限公司 | 长度减小的光电设备 |
US9488784B2 (en) | 2010-02-10 | 2016-11-08 | Oclaro Technology Limited | Reduced length optoelectronic devices |
CN107121730A (zh) * | 2010-02-10 | 2017-09-01 | 奥兰若技术有限公司 | 具有壳体及芯片组件的光电设备、光电模块及装配方法 |
Also Published As
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