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Die
Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von Solarzellen,
bei dem eine Oberfläche
eines Solarzellensubstrates durch lokales Ätzen mit einer Ätzlösung strukturiert
wird.
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Solarzellen
dienen der Umwandlung von Licht in elektrische Energie. Hierzu weist
eine Solarzelle ein Halbleitersubstrat mit Bereichen verschiedener
Polarität
auf. Beispielsweise kann in dem Halbleitersubstrat ein Emitterbereich
mit einer ersten Polarität
aus einem n-Typ-Halbleiter und ein Basisbereich mit einer zweiten
Polarität
aus einem p-Typ-Halbleiter ausgebildet sein. Durch den an der Grenzfläche zwischen
den beiden Bereichen gebildeten pn-Übergang können Ladungsträgerpaare,
die bei der Absorption auftreffenden Lichts gebildet werden, getrennt
werden. Um die derart getrennten Ladungsträger einem externen Stromkreis
zuführen
zu können, sind
der Basis- und der Emitterbereich durch Basis- und Emitterkontakte
elektrisch kontaktiert.
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Das
Strukturieren von Oberflächen
eines Solarzellensubstrates, z.B. das lokale Entfernen von Teilbereichen
an Oberflächen
des Solarzellensubstrates, kann den Wirkungsgrad einer Solarzelle
erheblich steigern. Das Solarzellensubstrat kann hierbei das Halbleitersubstrat
sowie weitere Schichten wie z.B. Dielektrikumschichten oder Metallisierungsschichten
enthalten.
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Es
kann z.B. vorteilhaft sein, das Halbleitersubstrat an seiner Oberfläche mit
V-förmigen Gräben oder
Pyramiden-artigen Strukturen zu versehen, um die Einkopplung von
Licht in das Halbleitersubstrat und damit die Absorption und letztendlich
den Wirkungsgrad der Solarzelle zu steigern.
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Eine
weitere wirkungsgradsteigernde Maßnahme kann das Strukturieren
von auf das Halbleitersubstrat aufgebrachten Schichten sein. Viele
Solarzellen weisen an zumindest einer ihrer Oberflächen eine
Dielektrikumschicht auf. Beispielsweise kann eine Schicht aus Siliciumoxid
(meist SiO2), Siliciumnitrid (z.B. Si3N4) oder eines anderen
Dielektrikums oder Mischungen bzw. Schichtenfolgen davon an der Vorder- und/oder Rückseite
einer Solarzelle abgeschieden sein. Als Verfahren zum Abscheiden
solcher Dielektrikumschichten sind z.B. Aufdampfen, thermisches
Aufwachsen, PECVD (Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition) und
LPCVD (Liquid Phase CVD) im industriellen Maßstab einsetzbar.
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Dielektrikumschichten
können
verschiedenen Zwecken dienen. Häufig
werden sie als Oberflächenpassivierungsschicht
dazu eingesetzt, die Oberfläche
des Halbleitersubstrats zu passivieren, um dort eine Rekombination
von Ladungsträgerpaaren zu
reduzieren und so den Wirkungsgrad der Solarzelle zu steigern. Die
Dielektrikumschicht kann aber auch als Antireflexschicht dienen,
wenn Ihre Schichtdicke entsprechend angepasst ist, um z.B. Reflexionen
eingestrahlten Lichts an der der Sonne zugewandten Seite zu vermeiden
und so ebenfalls den Wirkungsgrad der Solarzelle zu erhöhen. Dielektrikumschichten
können
auch während
des Herstellungsprozesses einer Solarzelle eingesetzt werden, z.B.
um bestimmte Bereiche während
eines Prozessschrittes zu schützen.
Beispielsweise können
Bereiche des Halbleitersubstrates während eines Diffusionsschrittes,
bei dem z.B. in ein p-Typ-Substrat oberflächlich Dotanten eindiffundiert
werden, um eine dünne
n-Typ-Schicht als Emitterschicht zu bilden, lokal vollständig oder
teilweise gegen ein Eindiffundieren von Dotanten geschützt werden,
indem diese Bereiche mit einer Dielektrikumschicht bedeckt werden.
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Bei
den vielfältigen
Anwendungen einer Dielektrikumschicht ist es häufig nötig, eine flächig aufgebrachte
Dielektrikumschicht zu strukturieren. Es kann z.B. nötig sein,
sie lokal zu öffnen,
d.h. ganz oder teilweise lokal zu entfernen, um eine darunter liegende
Schicht oder das darunter liegende Halbleitersubstrat freizulegen.
Zum Beispiel muss bei einer typischen Solarzellenanwendung, bei
der die Rückseite
einer Solarzelle mit einer Dielektrikumschicht oberflächenpassiviert
ist, die Dielektrikumschicht lokal geöffnet werden, um an den geöffneten
Stellen feine Metallkontakte aufbringen zu können, die den unter der Dielektrikumschicht
liegenden Halbleiter direkt elektrisch kontaktieren.
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Die
Strukturgrößen der
zu öffnenden
Bereiche können
dabei sehr klein sein, häufig
im Bereich von 10 μm
bis zu wenigen hundert Mikrometern, so dass ein Entfernen der Dielektrikumschicht
mit herkömmlichen
mechanischen Mitteln wie z.B. Präzisionswafersägen nicht
oder nur mit hohem technischem Aufwand möglich ist. Die Verwendung von Präzisionssägen führt außerdem durch
die beim Sägen
auftretenden mechanischen Belastungen häufig zu einem Brechen der Substrate.
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Herkömmlich werden
Dielektrikumschichten oft mit Hilfe von Lithographieverfahren lokal
geöffnet. Dabei
wird ein photoempfindlicher Lack auf die Dielektrikumschicht aufgebracht,
lokal belichtet und anschließend
werden die belichteten Bereiche des photoempfindlichen Lackes chemisch
entfernt. Nachfolgend kann die Dielektrikumschicht in den Bereichen, die
nicht mehr durch den Photolack geschützt sind, weggeätzt und
somit lokal geöffnet
werden. Auf diese Weise können
heute bereits Strukturen von weit unter einem Mikrometer in Dielektrikumschichten
eingeätzt
werden. Lithographieverfahren sind jedoch teuer und arbeitsaufwendig.
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Alternativ
werden in den letzten Jahren bei der Solarzellenherstellung auch
Laser eingesetzt, um Dielektrikumschichten lokal zu entfernen. Dabei
wird ein hochenergetischer, kohärenter
Laserstrahl auf den zu entfernenden Bereich der Dielektrikumschicht gerichtet.
Die Verwendung dieser so genannten Laserablation bei der Solarzellenherstellung
wird bereits erfolgreich dazu eingesetzt, um sowohl Siliciumnitridschichten
als auch Siliciumoxidschichten lokal zu öffnen. Allerdings sind hierfür teure
und aufwendig zu wartende Hochleistungslaser notwendig. Außerdem kann
bei der Laserablation unter der abgetragenen Schicht liegendes Substratmaterial
stark erhitzt, zum Teil sogar aufgeschmolzen und dadurch in seinen
elektrischen Eigenschaften geschädigt
werden, so dass es in einem nachfolgenden zusätzlichen Ätzschritt selektiv entfernt
werden muss.
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Ein
weiterer derzeit untersuchter Ansatz, um Halbleiteroberflächen oder
Dielektrikumschichten einer Solarzelle lokal zu entfernen, bedient
sich ätzender,
hochviskoser Pasten. Die Pasten werden z.B. mittels Siebdruck oder
mittels Druckluft durch eine Kapillare dosiert auf eine zu ätzende Oberfläche aufgebracht.
Während
einer vorbestimmten Ätzdauer wird
die Paste auf der zu ätzenden
Oberfläche belassen
und ätzt
diese lokal an. Anschließend
muss die Ätzpaste
und deren Rückstände vollständig entfernt werden,
da insbesondere die Rückstände die
Funktionalität
und den Wirkungsgrad der Solarzelle negativ beeinflussen würden. Es
konnten bisher nur hochviskose Pasten mit einer Viskosität von mehr
als 500 mPa·s
verarbeitet werden. Solche Pasten sind verhältnismäßig teuer und aufwendig zu
verarbeiten. Ferner traten erhebliche Schwierigkeiten aufgrund ausgasenden
Lösungsmittels
auf und es konnten nur bedingt reproduzierbare Ergebnisse erzielt
werden.
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Die
oben beschriebenen Verfahren zum lokalen Strukturieren von Solarzellensubstratoberflächen lassen
sich direkt auf ein Halbleitersubstrat wie z.B. einen Siliciumwafer
anwenden, es können
aber auch Dielektrikumschichten oder Metallisierungsschichten auf
dem Halbleitersubstrat strukturiert werden. Die beschriebenen Verfahren
leiden darunter, dass sie arbeitsaufwendig sind und/oder teilweise teure
Gerätschaften
und teures Verbrauchsmaterial benötigen.
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Es
ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Herstellen
einer Solarzelle bereitzustellen, bei dem eine Oberfläche eines
Solarzellensubstrates strukturiert werden kann, ohne dass insbesondere
die oben beschriebenen Probleme auftreten. Insbesondere soll ein
Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle vorgeschlagen werden,
mit dem kleine Strukturen im Bereich weniger hundert Mikrometer
in die Oberfläche
eines Solarzellensubstrates eingebracht werden können unter Verwendung kostengünstiger,
einfach zu handhabender Gerätschaften,
bei geringen Kosten für
Verbrauchsmaterial und bei minimiertem Arbeitsaufwand.
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Diese
Probleme werden durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 gelöst. Das
Verfahren dient zum Herstellen einer Solarzelle unter Verwendung
einer Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
und weist die folgenden Schritte auf: Bereitstellen eines Solarzellensubstrates
mit einem Halbleitersubstrat mit einem darin ausgebildeten pn-Übergang; lokales Aufbringen eines
vorbestimmten Volumens einer Ätzlösung auf eine
Oberfläche
des Solarzellensubstrates mittels der Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung; lokales Ätzen der
Oberfläche
des Solarzellensubstrates durch die aufgebrachte Ätzlösung während einer Ätzdauer; und
Entfernen der Ätzlösung von
der Oberfläche
des Solarzellensubstrats nach der Ätzdauer.
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Einzelheiten
und Merkmale des erfindungsgemäßen Verfahrens
werden nachfolgend erläutert.
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Unter
einer Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
wird nachfolgend eine Vorrichtung verstanden, die dazu ausgebildet
ist, sehr kleine Mengen an Ätzlösung wie
z.B. weniger als 1 μl Ätzlösung dosiert
abzugeben. Eine Ätzlösung sei
dabei eine im Wesentlichen reine, flüssige Säure oder Lauge oder ein Gemisch
aus einer solchen Säure
oder Lauge mit einem Lösungsmittel
wie z.B. Wasser.
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Es
sind verschiedene Mikrodosiervorrichtungen bekannt. Ein konventionelles
System basiert auf einem schnell schaltenden Ventil. Eine Flüssigkeit wird
unter Druck durch das geöffnete
Ventil dosiert. Das dosierte Volumen ergibt sich entsprechend aus den
Schaltzeiten des Ventils und dem Druck auf die Flüssigkeit.
Es können
Volumina von 10 nl bis 10 μl dosiert
werden.
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Eine
weitere Mikrodosiervorrichtung ist als InkJet-System bekannt. Sie
bietet die Möglichkeit, Volumina
im Bereich von wenigen Pikolitern zu dosieren. Die meisten InkJet-Systeme
basieren dabei auf einer verjüngten
Kapillare, die mit einem Piezoelement ummantelt ist. Durch die Kontraktion
des Piezoelements bei Anlegen einer elektrischen Spannung wird in
der Kapillare ein Druck aufgebaut, der eine in der Kapillare befindliche
Flüssigkeit
aus der Kapillare drängt.
Tritt die Flüssigkeit
aus, wird durch den Druckabfall außerhalb der Kapillare ein frei
fliegender Tropfen abgeschnürt.
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Eine
weitere Mikrodosiervorrichtung ist als Volumendosierer bekannt und
basiert z.B. auf einem zuvor mit einer zu dosierenden Flüssigkeit
befüllten Reservoir
definierten Volumens, aus dem dann die Flüssigkeit mittels Druck dosiert
wird. Andere Verfahren zur Volumendosierung arbeiten z.B. mit einer Raupenpumpe
oder mit dem definierten Druck eines Piezoelements.
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Eine
für die
Verwendung bei dem erfindungsgemäßen Verfahren
besonders geeignete Mikrodosiervorrichtung ist in der veröffentlichten
Patentanmeldung
DE
103 37 484 A1 beschrieben. Sie wurde zum Dosieren bzw.
Pipetieren geringster, wählbarer Flüssigkeitsmengen
entwickelt. Sie umfasst einen Polymerschlauch, der als Dosierkapillare
ausgebildet ist und der durch eine Betätigungseinrichtung z.B. in Form
eines von einem Piezoelement getriebenen Stempels zusammengequetscht
werden kann, so dass es zu einem Tropfenabriss am Ende der Kapillare
kommt. Der Polymerschlauch ist mit einem Reservoir für eine zu
dosierende Flüssigkeit
verbunden. Aufgrund ihres einfachen Aufbaus und der widerstandsfähigen Materialien
ihrer Komponenten können
mit einer solchen Mikrodosiervorrichtung auch aggressive Substanzen
wie z.B. hochkonzentrierte Säuren
oder Laugen dosiert werden. Es können
Volumina von wenigen Nanolitern dosiert werden.
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Erfindungsgemäß wird mit
Hilfe der Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
ein vorbestimmtes Volumen an Ätzlösung auf
eine Oberfläche
des Solarzellensubstrats aufgebracht. Bei der aus der
DE 103 37 484 A1 bekannten
Mikrodosiervorrichtung ergibt sich das vorbestimmte Volumen im Wesentlichen
aus der Geometrie des Stempels und des Hubs, mit dem er den Polymerschlauch
zusammenquetscht.
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Das
Solarzellensubstrat kann ein beliebiges Substrat sein, das ein Halbleitersubstrat
aufweist, in dem ein pn-Übergang
ausgebildet ist. Beispielsweise kann das Solarzellensubstrat ein
Siliciumwafer sein. Das Solarzellensubstrat kann lediglich aus dem Halbleitersubstrat
bestehen oder weitere Schichten oder Bestandteile wie zum Beispiel
an einer Oberfläche
des Halbleitersubstrats abgeschiedene Dielektrikumschichten oder
Metallschichten aufweisen.
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Der
in dem Halbleitersubstrat ausgebildete pn-Übergang kann sich im Wesentlichen
ganzflächig über eine
Oberfläche
des Halbleitersubstrates erstrecken und auf beliebige Art und Weise
erzeugt worden sein. Ein bei der industriellen Fertigung gebräuchliches
Verfahren ist, in einen Siliciumwafer mit einer Grunddotierung,
z.B. einen Bor-dotierten p-Typ-Wafer, einen Dotanten wie z.B. Phosphor
oberflächlich einzudiffundieren
und so eine Emitterschicht vom entgegen gesetzten Leitungstyp, z.B.
eine n-Typ-Emitterschicht, zu erzeugen. An der Grenzschicht der
Emitterschicht zum Rest des Wafersubstrates bildet sich dabei ein
pn-Übergang.
Der pn-Übergang
kann aber auch auf jede andere bekannte Weise erzeugt sein, wie
z.B. durch Abscheiden einer zusätzlichen
Emitterschicht auf ein Basissubstrat, Induzieren einer Emitter-Inversionsschicht in
einem Basissubstrat, etc.
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Durch
die aufgebrachte Ätzlösung wird
die Oberfläche
des Solarzellensubstrats während
einer Ätzdauer
lokal geätzt.
Die Ätzdauer
kann dabei so gewählt
sein, dass bei bekannten Randbedingungen wie z.B. Umgebungstemperatur,
Temperatur der Solarzellensubstrats, Art und Konzentration der Ätzlösung, etc.
ein gewünschtes Ätzergebnis
erreicht wird. Nachdem die Ätzdauer
verstrichen ist, werden die Ätzlösung und
etwaige während
des Ätzvorgangs entstandene
Reaktionsprodukte gezielt entfernt.
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Vorteilhafte
Ausführungsformen
des erfindungsgemäßen Verfahrens
ergeben sich aus den Unteransprüchen
und deren nachfolgender detaillierter Beschreibung.
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In
einer Ausführungsform
wird die Ätzlösung von
der Oberfläche
des Solarzellensubstrates durch verdampfen entfernt. Die Ätzlösung kann
verdampft werden, indem das Solarzellensubstrat gezielt geheizt
wird, nachdem die Ätzdauer
verstrichen ist. Beispielsweise kann das Solarzellensubstrat bereits während des Ätzens auf
einer heizbaren Platte gelagert werden oder zumindest nach dem Ätzen mit
einer solchen Heizplatte in Kontakt gebracht werden. Nach Verstreichen
der Ätzdauer
wird das Solarzellensubstrat durch die Heizplatte auf eine Temperatur gebracht,
bei der die Ätzlösung zügig verdampft.
Vorzugsweise wird das Solarzellensubstrat auf eine Temperatur oberhalb
des Siedepunkts der Ätzlösung erhitzt.
Alternativ kann die Ätzlösung verdampft
werden, indem ein heißes
Gas über
die Oberfläche
des Solarzellensubstrates strömen
gelassen wird. Das heiße
Gas kann Luft sein, die mittels einer Art Heißluftfön erhitzt und auf die Oberfläche des
Solarzellensubstrats gerichtet wird. Auch andere Methoden, das Solarzellensubstrat
oder selektiv nur die Ätzlösung zu
erhitzen, bis diese verdampft, können
verwendet werden. Beispielsweise ist ein Heizen unter Einsatz induktiver
Energieeinkopplung ähnlich
einem Mikrowellenherd oder unter Verwendung von Infrarotstrahlung
denkbar.
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Das
gezielte Verdampfen der Ätzlösung von der
Oberfläche
des Solarzellensubstrats hat mehrere Vorteile. Da mit der Mikrodosiervorrichtung
nur sehr geringe Mengen an Ätzlösung auf
die Oberfläche
des Solarzellensubstrats aufgebracht werden, kann das Verdampfen
sehr schnell erfolgen. Der Ätzvorgang kann
somit gezielt zeitlich definiert abgebrochen werden. Es muss kein
zusätzlicher
Spülschritt
vorgesehen werden, um die Ätzlösung und
die Reaktionsprodukte zu entfernen. Es werden keine Verbrauchsmaterialien
benötigt,
um die Ätzlösung und
die Reaktionsprodukte zu entfernen. Es fallen keine flüssigen Abfälle an,
sondern die verdampften Ätzlösungsdämpfe können in
einfacher Weise abgesaugt und gegebenenfalls in einem Wäscher gereinigt
werden. Wenn das Solarzellensubstrat bereits während des Ätzens auf einer Heizplatte
gelagert wird oder wenn indirekte Heizmethoden mittels Induktion
oder Infrarotstrahlung verwendet werden, muss das Solarzellensubstrat
zum Entfernen der Ätzlösung nicht
mehr bewegt werden, wodurch das Risiko eliminiert wird, dass die
lokal aufgebrachte Ätzlösung während eines solchen
Bewegens verfließt
und unerwünschte
Gebiete geätzt
werden.
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Bei
einer weiteren Ausführungsform
wird das Solarzellensubstrat während
der Ätzdauer
auf einer vorbestimmten Temperatur gehalten. Beispielsweise kann
das Solarzellensubstrat z.B. mit Hilfe einer Heizvorrichtung während der Ätzdauer
auf einer gegenüber
der Umgebungstemperatur erhöhten
Temperatur gehalten werden. Da ein Ätzen wie die meisten chemischen
Reaktionen sehr temperaturempfindlich ist und eine Ätzrate in
der Regel mit steigender Temperatur zunimmt, kann der Ätzvorgang
dadurch beeinflusst, d.h. z.B. beschleunigt oder verlangsamt, werden.
Außerdem
kann, wenn bekannt ist, wie die Ätzrate
für eine
bestimmte Ätzlösung von der
Temperatur abhängt,
ein bestimmter Ätzgrad
gezielt gewählt
werden. Beispielsweise kann eine Ätztiefe beeinflusst werden.
Der Ätzvorgang
kann also gesteuert werden. Um schnell zu ätzen wird eine hohe Temperatur
gewählt.
Wenn z.B. bestimmte Bereiche des Solarzellensubstrats nicht angegriffen werden
dürfen,
wird bei geringerer Temperatur langsamer geätzt, so dass der Ätzvorgang
rechtzeitig abgebrochen werden kann. Die Ätzdauer kann in Abhängigkeit
von der vorbestimmten Temperatur gewählt werden. Dabei ist auch
zu beachten, dass die Dauer, während
der die Ätzlösung auf
dem Substrat verbleibt bis sie vollständig verdampft ist, maßgeblich von
der Temperatur des Substrats abhängt.
Je höher die
Substrattemperatur umso schneller verdampft die Ätzlösung. Um das Zusammenspiel
von Ätzrate
und Verweildauer der Ätzlösung auf
dem Substrat bei einer bestimmten Substrattemperatur und für eine bestimmte Ätzlösung genau
zu kennen, bevor das Verfahren tatsächlich bei der Herstellung
von Solarzellen verwendet wird, wird der Fachmann in der Regel Vorabversuche
durchführen.
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Bei
einer weiteren Ausführungsform
weist das Solarzellensubstrat einen Siliciumwafer auf, der an einer
Oberfläche
eine Dielektrikumschicht hat. Die Dielektrikumschicht kann Siliciumoxid
(meist SiO2) und/oder Siliciumnitrid (z.B.
Si3N4) aufweisen.
Die Ätzlösung kann
dann mittels der Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
direkt auf die Dielektrikumschicht aufgebracht werden. Dadurch kann
die Dielektrikumschicht in einfacher Weise lokal geätzt und
somit entfernt werden. Es kann z.B. eine Ätzlösung verwendet werden, die
die Dielektrikumschicht ätzt,
das darunter liegende Siliciumsubstrat aber nicht angreift. An den
freigeätzten
Stellen kann z.B. eine Metallisierung direkt das Substrat kontaktieren.
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In
einer weiteren Ausführungsform
wird die Ätzlösung auf
die Oberfläche
des Solarzellensubstrats so aufgebracht, dass sie zwischen einem
Verlassen der Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
und einem Auftreffen auf der Oberfläche des Solarzellensubstrates
als Tropfen frei fliegt. Dies kann beispielsweise dadurch erreicht
werden, dass die Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
während
des Aufbringens der Ätzlösung ausreichend
von der Oberfläche
des Solarzellensubstrats beabstandet ist und die Ätzlösung mit genügend Druck
ausstößt, dass
sich nach Verlassen der Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
ein Tropfen ausbildet. Dadurch, dass die Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
die Oberfläche
des Solarzellensubstrats nicht berührt, kann einerseits ein verschleißfreier
Betrieb und das reproduzierbare Ausstoßen stets gleich bleibender
Volumina an Ätzlösung gewährleistet
werden, andererseits kann verhindert werden, dass die Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
bereits an der Oberfläche
des Solarzellensubstrats befindliche Ätzlösungsanlagerungen verschmiert.
Des Weiteren werden durch das kontaktlose Aufbringen der Ätzlösung mechanische
Belastungen des Solarzellensubstrats während des Aufbringens vermieden.
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In
einer weiteren Ausführungsform
ist die bei dem Herstellungsverfahren verwendete Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
dazu ausgelegt, dass ein einzelner von ihr abgegebener Tropfen ein
Volumen von weniger als 50 nl, vorzugsweise weniger als 10 nl und
stärker
bevorzugt weniger als 1 nl aufweist. Indem nur sehr kleine Tropfen
auf die Oberfläche
des Solarzellensubstrats aufgebracht werden, können dort sehr kleine Strukturen
durch ätzen
erzeugt werden. Es wurden bereits Strukturen mit Abmessungen von
weniger als 400 μm
reproduzierbar erzeugt. Außerdem
verhindert bei derart kleinen Tropfen die Oberflächenspannung der Ätzlösung, dass
der Tropfen nach dem Auftreffen auf die Oberfläche des Solarzellensubstrats
verfließt.
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In
einer weiteren Ausführungsform
wird mittels der Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
ein Ätzlösungsvolumen
von weniger als 50 nL, vorzugsweise weniger als 10 nL und stärker bevorzugt
weniger als 1 nL auf eine Fläche
der Oberfläche
des Halbleitersubstrates von 1 mm2 abgeschieden.
Zum Beispiel können
auf einer Oberfläche
des Halbleitersubstrates einzelne Ätzlösungstropfen mit einem Durchmesser
von etwa 100 μm
derart eng benachbart aufgebracht werden, dass sich größere Punkte
oder Linien bilden. Durch die geringe Größe der einzelnen Tropfen lassen
sich sehr feine Strukturen an Ätzlösung aufbringen.
Beispielsweise können
Linien mit einer Breite von weniger als 400 μm „gezeichnet" werden. Die geringe
abgeschiedene Menge an Ätzlösung kann
wie oben beschrieben einfach und schnell verdampft und so die Ätzreaktion
unterbrochen werden.
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In
einer weiteren Ausführungsform
wird die Ätzlösung mittels
der Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
punktförmig
und/oder streifenförmig
auf die Oberfläche
des Solarzellensubstrates aufgebracht. Dadurch können definiert punkt- oder
streifenförmige Strukturen
in die Oberfläche
des Solarzellensubstrats geätzt
werden. Beispielsweise können
in eine Dielektrikumschicht an der Oberfläche des Solarzellensubstrats
linienförmige Öffnungen
geätzt
werden. Die derart lokal geöffnete
Dielektrikumschicht kann z.B. als Diffusionsmaske während eines
nachfolgenden Diffusionsprozesses dienen. Alternativ können in
den linienförmigen Öffnungen
in einem nachfolgenden Metallisierungsschritt fingerförmige Metallkontakte angeordnet
werden.
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In
einer weiteren Ausführungsform
wird ein Ätzmittel
verwendet, dass eine Viskosität
von zwischen etwa 1 und 72 mPa·s
aufweist. Mit einem Ätzmittel
mit solch geringer Viskosität
konnten mit Hilfe einer Ätzlösung-Mikrodosiervorrichtung
bereits Strukturen von weniger als 400 μm Breite reproduzierbar erzeugt
werden.
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In
einer weiteren Ausführungsform
weist die Ätzlösung Verunreinigungen
von weniger als 50 ppb (parts per billion) auf. Chemikalien mit
einer solchen Reinheit haben eine sog. VLSI-Qualität, d.h.
sie sind zu Fertigung von Mikroelektronikbauelementen mit Strukturgrößen von
0,8 bis 1,2 μm
geeignet. Unter Verunreinigungen werden dabei Bestandteile verstanden,
die weder Säure
noch Lauge noch Lösungsmittel
sind. Beispielsweise können
sich Spuren von Metallen in der Ätzlösung negativ
auf das Verhalten der fertigen Solarzelle auswirken. Indem eine
hochreine Ätzlösung verwendet
wird kann verhindert werden, dass Verunreinigungen an das Solarzellensubstrat
gelangen. Insbesondere kann verhindert werden, dass in der Ätzlösung enthaltene
Verunreinigungen beim Verdampfen der Ätzlösung, wie es weiter oben beschrieben
wurde, um die Ätzlösung zu
entfernen und den Ätzvorgang
zu unterbrechen, auf dem Solarzellensubstrat verbleiben und dies
schädigen.
Speziell wenn das Verfahren verwendet wird, um eine Dielektrikumschicht
z.B. aus Siliciumoxid oder Siliciumnitrid lokal zu ätzen, löst sich
das Dielektrikum vollständig
in der Ätzlösung und
hat einen ausreichenden Dampfdruck, dass es mitsamt der Ätzlösung einfach
verdampft werden kann. Wenn hochreine Chemikalien für die Ätzlösung verwendet
werden, kann somit die gesamte Ätzlösung samt
der Reaktionsprodukte vollständig
verdampft werden und ein anschließender Reinigungsschritt zum
Entfernen von Rückständen kann
entfallen.
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Je
nachdem, welches Material geätzt
werden soll, können
unterschiedliche Ätzlösungen verwendet
werden. Zum nasschemischen Abtrag von Siliciumoxidschichten oder
Siliciumnitridschichten eignet sich z.B. konzentrierte Flusssäure (HF)
oder für
selektiven Abtrag heiße
reine Phosphorsäure (H3PO4). Zum Ätzen von
Siliciumoberflächen
kann eine Kaliumhydroxidlösung
(KOH) verwendet werden. Metallschichten z.B. aus Silber oder Aluminium können mit
einer Ätzlösung, die
Salpetersäure (HNO3) oder salpetrige Säure (HNO2)
enthält,
geätzt werden.
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Die
beschriebenen und weitere Vorteile und Merkmale der Erfindung werden
aus der nachfolgenden Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsform
zusammen mit der begleitenden Zeichnung ersichtlich, wobei:
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1 schematisch
eine Vorrichtungsanordnung zum Ausführen des erfindungsgemäßen Verfahrens
zeigt.
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Im
Folgenden wird ein Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle beschrieben.
Das beschriebene Verfahren umfasst neben den im Hauptanspruch beanspruchten
Verfahrensschritten weitere Verfahrensschritte. Mit dem Stand der
Technik vertraute Fachleute erkennen, dass diese weiteren, nicht
beanspruchten Verfahrensschritte optional sind, weggelassen, modifiziert
oder durch andere Verfahrensschritte ersetzt oder ergänzt werden
können.
Die beschriebene Ausführungsform
stellt lediglich ein Beispiel eines Gesamtherstellungsverfahrens
für Solarzellen
dar, dass das erfindungsgemäße Verfahren mit
den beanspruchten Verfahrensschritten umfasst, jedoch nicht als
den Umfang der Erfindung beschränkend
ausgelegt werden soll.
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Das
vorgestellte Verfahren zur Herstellung einer Siliciumsolarzelle
wird ausgehend von einem unbehandelten handelsüblichen Siliciumwafer beschrieben.
Der Siliciumwafer ist eine Scheibe aus monokristallinem oder multikristallinem
Silicium mit einer Dicke von etwa 200 bis 300 μm. Im vorgestellten Beispiel
wird von einem Wafer ausgegangen, der homogen mit Bor dotiert ist
und somit einen p-Typ-Halbleiter darstellt, wobei p-Typ-Bereiche
des Wafers später
die Basis der letztendlich hergestellten Solarzelle bilden.
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Nach
einem Reinigungsschritt und evtl. einem Ätzschritt, um einen durch das
Sägen des
Wafers erzeugten oberflächlichen
Sägeschaden
zu entfernen, wird eine Emitterschicht in den Wafer eindiffundiert.
Hierzu wird der Wafer in ein auf etwa 800–1000°C geheiztes Ofenrohr eingebracht.
In das Ofenrohr wird gasförmiges
POCl3 eingeleitet. Die freiwerdenden Phosphoratome
diffundieren in die Oberflächen
des Wafers, so dass der p-Typ-Wafer in einer oberflächlichen
Schicht, die später
den Emitter der fertig gestellten Solarzelle bildet, zu einem n-Typ-Halbleiter überkompensiert
wird. An der Grenzfläche
zwischen der p-Typ-Basis und der n-Typ-Emitterschicht wird so ein pn-Übergang
ausgebildet.
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Anschließend wird
an Oberflächen
des Wafers eine Dielektrikumschicht ausgebildet. Diese kann beispielsweise
aus Siliciumdioxid bestehen, dass bei hohen Temperaturen in einer
sauerstoffhaltigen Atmosphäre
auf der Siliciumoberfläche
aufgewachsen wird. Alternativ kann auch eine Siliciumnitridschicht
auf Oberflächen
des Wafers abgeschieden werden z.B. mit dem PECVD-Verfahren (Plasma
Enhanced Chemical Vapor Deposition).
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Wie
in 1 dargestellt weist das derart vorbereitete Solarzellensubstrat 1 ein
Halbleitersubstrat 2 auf, in dem zwischen einem Basisbereich 3 und
einem Emitterbereich 4 ein pn-Übergang 5 ausgebildet ist.
An der rückseitigen
Oberfläche
des Solarzellensubstrats 1 befindet sich eine Dielektrikumschicht 6 und
an der frontseitigen Oberfläche
befindet sich eine Dielektrikumschicht 7.
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Das
Solarzellensubstrat 1 wird nun mit der Rückseite
nach oben auf eine Heizplatte 9 gelegt. Die Heizplatte 9 ist
mit einer Steuerung 11 verbunden, mit der die Temperatur
der Heizplatte 9 gesteuert oder geregelt werden kann.
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Die
Heizplatte kann entweder schon geheizt sein, bevor Tropfen auf das
Solarzellensubstrat 1 abgeschieden werden oder erst später geheizt
werden. Mit einer Mikrodosiervorrichtung 13 werden nun
winzige Tropfen 15 einer Ätzlösung auf die rückseitige Dielektrikumschicht 6 aufgebracht.
Die Ätzlösung ist in
diesem Fall eine konzentrierte Lösung
aus Flusssäure
(HF), die die Dielektrikumschicht 6 ätzt und in der sich die Bestandteile
der Dielektrikumschicht 6 vollständig lösen. Es werden Chemikalien
in VLSI-Qualität
verwendet.
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Die
Mikrodosiervorrichtung
13 ist der in der Patentanmeldung
DE 103 37 484 A1 beschriebenen Mikrodosiervorrichtung ähnlich und
weist einen verformbaren Polymerschlauch
17 mit einem Durchmesser
von etwa 200 μm
auf, dessen vorderes offenes Ende
18 auf die Oberfläche des
Solarzellensubstrats
1 gerichtet ist. Das andere Ende des
Schlauchs
17 ist mit einem Reservoir für die Ätzlösung verbunden (in
1 nicht
dargestellt). Die Komponenten der Mikrodosiervorrichtung
13,
die direkt mit der Ätzlösung in
Kontakt kommen, bestehen aus Materialien, die resistent gegen die Ätzlösung sind:
Wird Flusssäure
als Ätzlösung verwendet,
können
diese Komponenten beispielsweise aus Polytetrafluorethylen (auch
unter dem Markenname „Teflon" bekannt) bestehen.
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Ein
Stempel 19 liegt an einer seitlichen Oberfläche des
Schlauchs 17 an. Der Stempel 19 ist über ein
Verbindungselement 21 mit einem als Aktuator dienenden
Piezoelement 23 verbunden. Wird an das Piezoelement 23 eine
ausreichend hohe Spannung angelegt, verlagert es den Stempel 19 sehr
schnell in Richtung des Schlauchs 17. Der aus elastischem
Material bestehende Schlauchbereich in der Nähe des Stempels 19 wird
dabei schlagartig deformiert. Durch die damit zusammenhängende Volumenverringerung innerhalb
des Schlauchs 17 wird am vorderen Ende 18 des
Schlauchs 17 ein Tropfen 15 ausgestoßen, der
sich beim Verlassen des Schlauches 17 abschnürt und hin
zu der Oberfläche
des Solarzellensubstrats 1 frei fliegt. Anschließend wird
die an das Piezoelement 23 angelegte Spannung langsam gesenkt,
der Stempel 19 wird zurückgefahren
und der Schlauch 17 nimmt seine ursprüngliche unverformte Form wieder
an und füllt
sich dabei mit frischer Ätzlösung aus
dem Ätzlösungsreservoir.
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Die
von der Mikrodosiervorrichtung 13 ausgestoßenen Tropfen 15 haben
einen Durchmesser von weniger als 100 μm und ein Volumen von weniger
als 5 nl. Aufgrund ihrer geringen Größe werden die Tropfen 15 durch
die Oberflächenspannung
der Ätzlösung auch
nach dem Auftreffen auf die Oberfläche des Solarzellensubstrats 1 in
Form gehalten und zerfließen
nicht. Die Tropfen 15 werden nacheinander auf das Solarzellensubstrat 1 aufgebracht,
wobei die Mikrodosiervorrichtung 13 relativ zu dem Solarzellensubstrat 1 verlagert
wird. Dabei kann entweder das Solarzellensubstrat 1 verlagert
werden, beispielsweise durch einen in XY-Richtung verlagerbaren
Tisch, oder die Mikrodosiervorrichtung 13 oder zumindest
ihr Schlauch 17 kann verlagert werden. Es können auch
mehrere Mikrodosiervorrichtungen parallel angeordnet werden, um
mehrere Tropfen gleichzeitig parallel auszustoßen. Die Tropfen 15 können ausreichend
beabstandet voneinander auf die Oberfläche des Solarzellensubstrats 1 aufgebracht
werden, so dass sie als einzelne punktförmige Tropfen 15 verbleiben,
oder sie können
so eng benachbart aufgebracht werden, dass sie an der Oberfläche des Solarzellensubstrats 1 zu
einer Linie verfließen.
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Wenn
das Solarzellensubstrat 1 bereits während dem Aufbringen der Tropfen 15 geheizt
wird, beispielsweise auf 100 bis 150°C, ätzt die Ätzlösung die Dielektrikumschicht
sehr schnell und verdampft gleichzeitig. Das Gesamtätzergebnis
ist dabei aufgrund der reproduzierbar konstanten Größe der Tropfen 15 und
der konstanten Temperatur des Substrats stets dasselbe, so dass
fein definierte Strukturen geätzt
werden können.
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Alternativ
kann das Solarzellensubstrat 1, während die Tropfen 15 aufgebracht
werden, bei einer relativ niedrigen Temperatur gehalten werden. Die Ätzrate der Ätzlösung ist
dabei gering. Sobald alle Tropfen 15 auf der Oberfläche des
Solarzellensubstrats 1 aufgebracht sind, wird die Heizplatte 9 auf eine
erhöhte
Temperatur zwischen etwa 100 und 150°C geheizt. Die Ätzrate der Ätzlösung steigt
dabei erheblich an. Die erhöhte
Temperatur wird während einer
vorbestimmten Ätzdauer
gehalten. Dadurch, dass der Hauptätzeffekt während der Ätzdauer bei der erhöhten Temperatur
erzielt wird und das vorangehende Ätzen während der Phase, in der die
Tropfen 15 nacheinander aufgebracht werden vernachlässigt werden
kann, wird erreicht, dass alle von den Tropfen 15 geätzten Strukturen
etwa gleich groß sind.
Eine Ätzdauer,
die zu einer erwünschten
Größe der geätzten Strukturen
führt,
kann vorab experimentell bestimmt werden.
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Bei
der erhöhten
Temperatur verdampfen die kleinen Ätzlösungstropfen 15 rasch
und der Ätzvorgang
kann somit definiert abgebrochen werden. Mit dem beschriebenen Verfahren
können
somit an definierten Positionen geätzte Strukturen einer definierten
Größe erzeugt
werden.
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Im
beschriebenen Beispiel werden durch den Ätzvorgang kleine Löcher in
die Dielektrikumschicht 6 geätzt. Die Löcher werden in einem nachfolgenden
Metallisierungsschritt dazu verwendet, die Basis 3 der
zu fertigenden Solarzelle zu kontaktieren. In dem Metallisierungsschritt
wird auf der gesamten Rückseite
des Solarzellensubstrats 1 eine Metallschicht abgeschieden,
die an den Löchern
die Basis 3 kontaktiert, wohingegen dazwischen liegende
Bereiche von der Dielektrikumschicht 5 abgedeckt bleiben
und so die Rückseitenoberfläche der
Solarzelle passiviert wird, was zu einer Wirkungsgradsteigerung
gegenüber
ganzflächig
mit Metall kontaktierten Solarzellen beiträgt. Nach einem weiteren Metallisierungsschritt
zur Kontaktierung des Emitters 4 ist die Solarzelle im
Prinzip fertig gestellt.