DE102004022605A1 - Optische Objektuntersuchungseinrichtung mit mehreren auf Grundlage wenigstens eines polarisierenden Strahlteilers gebildeten Strahlengängen - Google Patents

Optische Objektuntersuchungseinrichtung mit mehreren auf Grundlage wenigstens eines polarisierenden Strahlteilers gebildeten Strahlengängen Download PDF

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine optische Objektuntersuchungseinrichtung (210), bei der Beleuchtungs- und Anregungslicht aus zwei verschiedenen Lichtquellen, wie beispielsweise einem Laser (228) und einer Bogenlampe (224), mittels eines polarisierenden Strahlteilers (230) zum Objektbereich (212) hin durchgelassen bzw. umgelenkt werden. Dabei kann Laserlicht so eingekoppelt werden, dass es sich für TIRF-Mikroskopie oder zum Ausbleichen einer Probe eignet, während mit dem Licht der Bogenlampe gleichzeitig oder in schnellem Wechsel klassische Fluoreszenzmikroskopie betrieben werden kann.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine optische Objektuntersuchungseinrichtung, umfassend einen Objektbereich, in dem wenigstens ein zu untersuchendes Objekt oder ein Objektträger mit wenigstens einem zu untersuchenden Objekt platzierbar ist; einen Beobachtungsstrahlengang, der vom Objektbereich zu einem Bildbereich oder Beobachtungsbereich führt, wobei der Beobachtungsstrahlengang zumindest bereichsweise in Richtung einer Einrichtungsachse, ggf. vertikal, verläuft; wenigstens zwei weitere Strahlengänge, die zum Objektbereich führen und über die Anregungslicht oder Beleuchtungslicht dem Objektbereich zuführbar ist und von denen wenigstens einer zumindest bereichsweise in einer von der Einrichtungsachse geschnittenen Ebene, ggf. Horizontalebene, verläuft. Es wird insbesondere an eine solche Objektuntersuchungseinrichtung gedacht, bei der zur Beleuchtung/Anregung einer Probe Licht einer linear polarisierten Lichtquelle, wie beispielsweise einem Laser, möglichst effizient mit Licht einer unpolarisierten Lichtquelle, wie beispielsweise einer Bogenlampe, vereinigt wird, oder zwischen diesen Lichtquellen im Zuge von Untersuchungen umzuschalten ist. Dies ist beispielsweise dann von Vorteil, wenn Fluoreszenzmikroskopie mit TIR-Beleuchtung (TIRF-Mikroskopie) in schnellem Wechsel mit klassischer Fluoreszenzmikroskopie durchgeführt werden soll.
  • Eine derartige totale-interne-Reflexion-Fluoreszenz-Anregung ist beispielsweise zur Untersuchung von biologischen Objekten weit gebräuchlich. Dabei handelt es sich um eine Sonderform der Fluoreszenzmikroskopie, bei der die Tatsache genutzt wird, dass bei Totalreflexion eines Strahls an einer Grenzfläche von optisch dichterem zu optisch dünnerem Medium in unmittelbarer Nähe dieser Grenzfläche Lichtintensität auch im optisch dünneren Medium vorliegt. Diese fällt allerdings, je nach Wellenlänge, über ca. 200 bis 300 nm exponentiell ab. Damit ist es möglich, Farbstoffe, die im optisch dünneren Medium vorliegen, selektiv in einer dünnen, an die Grenzfläche angrenzenden Anregungsschicht anzuregen, wodurch diffuse Hintergrundfluoreszenz von Farbstoffen außerhalb der dünnen Anregungsschicht praktisch vollständig unterdrückt wird.
  • Durch die Begrenzung der Fluoreszenzanregung auf eine dünne Anregungsschicht angrenzend an die Grenzfläche bietet die TIRF-Mikroskopie auch die Möglichkeit, einzelne Farbstoffmoleküle zu erkennen, d. h. beispielsweise Objekte, insbesondere Moleküle, die nur etwa mit einem einzigen Farbstoffmolekül markiert sind, zu detektieren und zu verfolgen.
  • Bei der TIRF-Mikroskopie wird die Probe in der Regel mit einem linear polarisierten Laser angeregt. Bei klassischer Fluoreszenzmikroskopie wird die Probe häufig mit dem Licht einer Bogenlampe angeregt, welches durch einen Anregungsfilter (Bandpassfilter) auf ein Wellenlängenband eingeschränkt wird. Häufig ist es zweckmäßig, im Zuge von Untersuchungen zwischen den beiden genannten Beleuchtungsarten umzuschalten.
  • Bei manchen Anwendungen wird die Möglichkeit ausgenutzt, dass Farbstoffe durch Beleuchtung/Anregung mit hinreichender Intensität ausgebleicht werden können. Dabei ist häufig ein Wechsel zwischen einer solchen Beleuchtung/Anregung und einer Beleuchtung/Anregung für die klassische Fluoreszenzmikroskopie im Zuge von Untersuchungen zweckmäßig. Die Beleuchtung zum Ausbleichen einer Probe kann im Hinblick auf die benötigte Intensität mit einem Laser durchgeführt werden, während für die klassische Fluoreszenzmikroskopie die Probe zweckmäßig mit dem Licht einer Bogenlampe angeregt werden kann, welches durch einen Bandpassfilter auf ein beispielsweise die Laserwellenlänge enthaltendes Wellenlängenband eingeschränkbar ist.
  • Im Bereich der Mikroskopie werden bisher zur Vereinigung von Strahlengängen gewöhnliche Strahlteiler eingesetzt, die den Nachteil haben, dass die in der gewünschten Richtung durchgelassenen oder reflektierten Strahlen immer entsprechend dem Teilungsverhältnis des Strahlteilers abgeschwächt werden.
  • Neben dem Zusammenführen von Licht unterschiedlicher Wellenlänge besteht insbesondere auch Interesse daran, Licht gleicher oder im Wesentlichen gleicher Wellenlänge zusammenzuführen, etwa für Anwendungen wie vorangehend angesprochen.
  • Demgegenüber ist es eine Aufgabe der Erfindung, eine Objektuntersuchungseinrichtung der angesprochenen Art anzugeben, bei der wenigstens zwei Strahlengänge zur Beleuchtung bzw. Anregung eines Objekts so zum Objektbereich geführt sind, dass die zur Verfügung stehende Intensität gut ausnutzbar ist, und ein Wechsel zwischen wenigstens zwei Beleuchtungsarten/Anregungsarten schnell möglich ist.
  • Erfindungsgemäß wird daher für die angesprochene optische Objektuntersuchungseinrichtung vorgeschlagen, dass diese wenigstens einen einem ersten und einem zweiten der weiteren Strahlengänge zugeordneten polarisierenden Strahlteiler aufweist, wobei der erste Strahlengang derart durch den polarisierenden Strahlteiler verläuft, dass von über den ersten Strahlengang einfallendem Licht zumindest Licht einer ersten Polarisation durch den polarisierenden Strahlteiler in Richtung zum Objektbereich durchgelassen wird, und wobei vermittels des polarisierenden Strahlteilers zwei unter einem Winkel zueinander verlaufende Abschnitte des zweiten Strahlengangs derart aneinander angeschlossen sind, dass von über den einen Abschnitt des zweiten Strahlengangs einfallendem Licht zumindest Licht einer zweiten Polarisation durch den polarisierenden Strahlteiler in den anderen Abschnitt des zweiten Strahlengangs in Richtung zum Objektbereich reflektiert wird.
  • Dadurch, dass der polarisierende Strahlteiler für s-polarisiertes Licht ein hohes Reflexionsvermögen aufweist, und für p-polarisiertes Licht gute Transmissionseigenschaften aufweist, ist es mit Hilfe eines polarisierenden Strahlteilers möglich, linear polarisiertes Licht mit nur sehr geringen Intensitätsverlusten zum Objektbereich zu leiten, entweder indem dieses als p-polarisiertes Licht dem Strahlteiler für die Transmission in Richtung zum Objektbereich zugeführt wird oder indem dieses als s-polarisiertes Licht dem Strahlteiler für die Reflexion in Richtung zum Objektbereich zugeführt wird. Besonders geringe Intensitätsverluste ergeben sich also dann, wenn über den ersten weiteren Strahlengang zum Objektbereich geleitetes Licht im Bezug zum polarisierenden Strahlteiler p-Polarisation aufweist und wenn über den zweiten weiteren Strahlengang zum Objektbereich geleitetes Licht in Bezug zum polarisierenden Strahlteiler s-Polarisation aufweist. Unpolarisiertes Licht, das über den ersten oder den zweiten weiteren Strahlengang zum Objektbereich geleitet wird, wird durch den polarisierenden Strahlteiler zwangsläufig um etwa 50% in der Intensität reduziert. Steht allerdings genug Beleuchtungs-/Anregungsintensität etwa einer konventionellen Beleuchtungsquelle zur Verfügung, etwa im Falle von Beleuchtungslicht oder Anregungslicht für die klassische Fluoreszenzmikroskopie, bei der überdies vom Objekt in der Regel ein intensitätsstarkes Signal emittiert wird, ist es weniger kritisch, wenn die Anregungsintensität durch die Verwendung des polarisierenden Strahlteilers reduziert wird. Für TIRF-Mikroskopie oder zum Ausbleichen einer Probe ist die Anregungsintensität allerdings entscheidend. Die Erfindung bietet diesbezüglich die Möglichkeit, die Intensitätsverluste bei Anregung mit polarisiertem (Laser-)Licht zu minimieren, durch Ausnutzung der Eigenschaften des polarisierenden Strahlteilers.
  • Polarisierende Strahlteiler können beispielsweise mit Dünnschichttechniken produziert werden. Hier ist das Reflektionsvermögen für die s-Polarisation und das Transmissionsvermögen für die p-Polarisation in Grenzen gestaltbar, so dass die Transmission für unpolarisiertes Licht in einem gewissen Bereich gestaltbar ist. Zudem kann der pol. Strahlteiler vorteilhaft so gestaltet werden, dass er nur in einem gewissen Wellenlängenband eine hohe Reflektion für die s-Polarisation aufweist und außerhalb das unpolarisierte Licht im Wesentlichen verlustfrei transmittiert.
  • Es sind im Prinzip diverse Strahlengangverläufe denkbar. Es wird aber vor allem daran gedacht, dass der erste Strahlengang und der andere Abschnitt des zweiten Strahlengangs bereichsweise zumindest näherungsweise parallel verlaufen oder zusammenfallen.
  • Vorteilhaft kann dem ersten und dem zweiten Strahlengang wenigstens ein dichroitischer Strahlteiler zugeordnet sein, der vom polarisierenden Strahlteiler her einstrahlendes Licht der ersten bzw. zweiten Polarisation in Richtung zum Objektbereich umlenkt. Der Beobachtungsstrahlengang kann hierbei durch den dichroitischen Strahlteiler verlaufen, so dass – im Falle einer typischen Anwendungssituation – der dichroitische Strahlteiler das kurzwellige Beleuchtungs- bzw. Anregungslicht in Richtung zum Objektbereich reflektiert, während er das langwellige Fluoreszenzlicht vom Objekt in Richtung zum Beobachtungsbereich durchlässt.
  • Vorteilhaft kann wenigstens eine Laserlichtquelle vorgesehen sein, die an wenigstens einem vom ersten und zweiten Strahlengang angeschlossen oder anschließbar ist, um von der Laserlichtquelle erzeugtes Anregungslicht oder Beleuchtungslicht dem Objektbereich zuzuführen.
  • Die Laserlichtquelle kann hierbei derart an wenigstens einen vom ersten und zweiten Strahlengang angeschlossen oder anschließbar sein, dass von der Laserlichtquelle erzeugtes Anregungslicht oder Beleuchtungslicht so auf den bzw. auf einen dichroitischen Strahlteiler trifft, dass es in Bezug zum dichroitischen Strahlteiler s-polarisiert ist.
  • Weiterhin kann die Laserlichtquelle an einem vom ersten und zweiten Strahlengang angeschlossen oder anschließbar sein, und es kann eine weitere Lichtquelle, insbesondere eine konventionelle Lichtquelle wie eine Bogenlampe oder Entladungslampe, am anderen vom ersten und zweiten Strahlengang angeschlossen oder anschließbar sein, um von der konventionellen Lichtquelle erzeugtes Anregungslicht oder Beleuchtungslicht dem Objektbereich zuzuführen. Hiermit ist es möglich, ein Objekt gleichzeitig mit einer Laserlichtquelle und einer konventionellen Lichtquelle zu beleuchten und beispielsweise durch ansteuerbare Verschlüsse sehr schnell, insbesondere quasi instantan, zwischen beiden Anregungs-/bzw. Beleuchtungsquellen zu wechseln.
  • Über einen vom ersten und zweiten Strahlengang kann Anregungslicht derart dem Objektbereich zuführbar sein, dass das Anregungslicht unter einem Einfallswinkel auf eine Grenzfläche, insbesondere eine Grenzfläche des Objektträgers, trifft, und dass das Anregungslicht an der Grenzfläche reflektiert wird, um eine Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern vorzusehen (so genannte TIRF-Anregung).
  • Ferner kann vorgesehen sein, dass über einen vom ersten und zweiten Strahlengang Anregungslicht derart und mit einer derartigen Intensität dem Objektbereich zuführbar ist, dass geeignete Farbstoffe im Objektbereich ausbleichbar sind. Dadurch kann das Ausbleichen eines Farbstoffes in einem bestimmten Areal oder in der gesamten Probe in sehr schnellem Wechsel, insbesondere quasi instantan mit klassischer Fluoreszenzmikroskopie durchgeführt werden, etwa unter Verwendung mechanischer Schalter und dergleichen.
  • Die optische Objektuntersuchungseinrichtung kann so ausgelegt sein, dass das Licht der zweiten Polarisation als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft. Weiterhin kann das Licht der ersten Polarisation als s-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler treffen. Dabei können die beiden Abschnitte des zweiten Strahlengangs in der von der Einrichtungsachse geschnittenen Ebene, ggf. Horizontalebene, liegen. Insbesondere können die das Anregungslicht und das Beleuchtungslicht führenden Strahlengänge bis zum dichroitischen Strahlteiler ausschließlich in der von der Einrichtungsachse geschnittenen Ebene, ggf. Horizontalebene, liegen.
  • Alternativ kann die Objektuntersuchungseinrichtung so ausgelegt sein, dass das Licht der zweiten Polarisation als s-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft. Weiterhin kann das Licht der ersten Polarisation als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler treffen. Dabei kann der eine Abschnitt des zweiten Strahlengangs die von der Einrichtungsachse geschnittene Ebene, ggf. Horizontalebene, oder eine hierzu parallele Ebene schneiden. Insbesondere kann der eine Abschnitt des zweiten Strahlengangs vertikal verlaufen, wenn die Objektuntersuchungseinrichtung so ausgelegt ist, dass die Einrichtungsachse vertikal läuft und die von der Einrichtungsachse geschnittene Ebene die Horizontalebene ist.
  • Gemäß einer ersten Ausführungsform, bei der das Licht der zweiten Polarisation als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft oder/und das Licht der ersten Polarisation als s-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft, ist die Laserlichtquelle am zweiten Strahlengang angeschlossen oder anschließbar.
  • Bei dieser Ausführungsform kann insbesondere der zweite Strahlengang für die Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern (so genannte TIRF-Anregung) vorgesehen sein. Hierbei reflektiert der polarisierende Strahlteiler das Licht des zweiten weiteren Strahlengangs in der von der Einrichtungsachse geschnittenen Ebene, ggf. Horizontalebene, und der dichroitische Strahlteiler reflektiert das Licht dann in die Einrichtungsachse, ggf. vertikal, zum Objektbereich hin. Die Reflexionsebenen von polarisierendem Strahlteiler und dichroitischem Strahlteiler sind also ggf. senkrecht zueinander und Licht, das in Bezug zum polarisierenden Strahlteiler s-polarisiert ist, weist in Bezug zum dichroitischen Strahlteiler p-Polarisation auf. Dies bedeutet, dass Licht aus der am zweiten Strahlengang ggf. angeschlossenen Laserlichtquelle durch den polarisierenden Strahlteiler in Richtung zum Objektbereich reflektiert wird und als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft.
  • Der zweite Strahlengang ist dann so justiert, dass das Licht vom dichroitischen Strahlteiler so auf bzw. in das Objektiv und damit auf den Objektträger trifft, dass es an einer Grenzfläche des Objektträgers totalreflektiert wird. Diese Ausführungsform hat diesbezüglich allerdings den Nachteil, dass bei einem dichroitischen Strahlteiler die p-Kante der Reflexion bei kürzeren Wellenlängen liegt als die s-Kante. Daher ist es bei p-polarisiertem Licht notwendig, eine kürzere Laserwellenlänge zu wählen, damit das Licht vom dichroitischen Strahlteiler in Richtung zum Objektbereich reflektiert wird. Dies kann dazu führen, dass die Anregungswellenlänge nicht mehr im Absorptionsmaximum des anzuregenden Farbstoffs liegt, da der dichroitische Strahlteiler gleichzeitig so gewählt werden muss, dass die Transmission für Fluoreszenzlicht möglichst hoch ist, d. h. dass die Fluoreszenzbande des Farbstoffs auf jeden Fall im Transmissionsbereich des dichroitischen Strahlteilers liegen muss.
  • Ferner kann bei der ersten Ausführungsform vorgesehen sein, dass der zweite Strahlengang für Zuführung von Anregungslicht zum Ausbleichen von geeigneten Farbstoffen vorgesehen ist. Hierbei stellt sich das Problem der kürzerwelligen p-Kante des dichroitischen Strahlteilers in geringerem Maße, da das Ausbleichen des Objekts durch direkte Beleuchtung erfolgt, und daher ein Intensitätsverlust durch eine Anregung außerhalb des Absorptionsmaximums nicht ganz so kritisch ist.
  • Gemäß einer zweiten Ausführungsform, bei der das Licht der zweiten Polarisation als s-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft oder/und das Licht der ersten Polarisation als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft, ist die Laserquelle am ersten Strahlengang angeschlossen oder anschließbar.
  • Weiterhin kann bei der zweiten Ausführungsform vorgesehen sein, dass der erste Strahlengang für die Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern (so genannte TIRF-Anregung) vorgesehen ist. Diese Ausführungsform, bei der die ggf. verwendete Laserlichtquelle am ersten Strahlengang angeschlossen oder anschließbar ist und vom polarisierenden Strahlteiler in Richtung zum dichroitischen Strahlteiler ohne Richtungsänderung durchgelassen wird, hat die gleichen Probleme wie die erste Ausführungsform, da auch hier das Laserlicht als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft. Zwar sind bei dieser Ausführungsform die Reflexionsebenen des polarisierenden Strahlteilers und des dichroitischen Strahlteilers im Wesentlichen parallel zueinander, aber da die Laserlichtquelle als p-polarisiertes Licht durch den polarisierenden Strahlteiler durchgelassen wird, weist sie dann auch in Bezug zum dichroitischen Strahlteiler p-Polarisation auf.
  • Ferner kann bei der zweiten Ausführungsform vorgesehen sein, dass der erste Strahlengang für Zuführung von Anregungslicht zum Ausbleichen von geeigneten Farbstoffen vorgesehen ist.
  • Bei einer dritten und gegenüber der ersten und zweiten Ausführungsform bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, bei der das Licht der zweiten Polarisation als s-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft oder/und das Licht der ersten Polarisation als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft, ist vorgesehen, dass die Laserlichtquelle am zweiten Strahlengang angeschlossen oder anschließbar ist.
  • Vorteilhaft kann bei der dritten Ausführungsform vorgesehen sein, dass der zweite Strahlengang für die Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern (so genannte TIRF-Anregung) vorgesehen ist. Bei dieser Ausführungsform ist die vorzugsweise verwendete Laserlichtquelle am zweiten Strahlengang angeschlossen und es sind bei dieser Ausführungsform die Reflexionsebenen des polarisierenden Strahlteilers und des dichroitischen Strahlteilers zueinander im Wesentlichen parallel, so dass das bezüglich des polarisierenden Strahlteilers s-polarisierte Laserlicht, das am polarisierenden Strahlteiler reflektiert wurde, auch bezüglich des dichroitischen Strahlteilers s-Polarisation aufweist. Dadurch kann unter Ausnutzung der längerwelligen Reflexionskante für s-polarisiertes Licht am dichroitischen Strahlteiler eine größere Wellenlänge für die TIRF-Anregung gewählt werden, so dass das Anregungslicht für eine möglichst hohe Fluoreszenzintensität näher am Absorptionsmaximum des Farbstoffs liegen kann, und trotzdem noch vom dichroitischen Strahlteiler in Richtung zum Objektbereich reflektiert wird.
  • Ferner kann bei der dritten Ausführungsform vorgesehen sein, dass der zweite Strahlengang für Zuführung von Anregungslicht zum Ausbleichen von geeigneten Farbstoffen vorgesehen ist.
  • Bei einer vierten und gegenüber der ersten und zweiten Ausführungsform ebenfalls bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, bei der das Licht der zweiten Polarisation als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft oder/und das Licht der ersten Polarisation als s-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft, ist vorgesehen, dass die Laserlichtquelle am ersten Strahlengang angeschlossen oder anschließbar ist.
  • Vorteilhaft kann bei der vierten Ausführungsform vorgesehen sein, dass der erste Strahlengang für die Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern (so genannte TIRF-Anregung) vorgesehen ist. Bei dieser Ausführungsform ist die vorzugsweise verwendete Laserlichtquelle am ersten Strahlengang angeschlossen und es sind bei dieser Ausführungsform die Reflexionsebenen des polarisierenden Strahlteilers und des dichroitischen Strahlteilers zueinander im Wesentlichen senkrecht, so dass das bezüglich des polarisierenden Strahlteilers p-polarisierte Laserlicht, das durch den polarisierenden Strahlteiler durchgelassen wird, bezüglich des dichroitischen Strahlteilers s-Polarisation aufweist. Dadurch kann, wie bei der dritten Ausführungsform, die längerwellige s-Kante des dichroitischen Strahlteilers ausgenutzt werden.
  • Bei der erfindungsgemäßen Objektuntersuchungseinrichtung wird der Beobachtungsstrahlengang in der Regel als Mikroskopstrahlengang ausgeführt sein. Die optische Objektuntersuchungseinrichtung kann ein wenigstens den Objektbereich, den Beobachtungsstrahlengang und die weiteren Strahlengänge aufweisendes Mikroskop umfassen. Dieses Mikroskop kann als Aufrecht-Mikroskop oder vorzugsweise als Invers-Mikroskop ausgeführt sein. Es wird vor allem daran gedacht, dass das Mikroskop als Abbildungs-Mikroskop ausgeführt ist, das über den Beobachtungsstrahlengang optisch ein Bild in den Bildbereich oder Beobachtungsbereich abbildet.
  • Wie implizit schon angedeutet, kann die optische Objektuntersuchungseinrichtung eine wenigstens den Objektbereich, den Beobachtungsstrahlengang und die weiteren Strahlengänge aufweisende, ggf. das Mikroskop umfassende Fluoreszenzmessvorrichtung umfassen.
  • Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Untersuchung von Objekten auf optischem Wege unter Verwendung einer erfindungsgemäßen optischen Objektuntersuchungseinrichtung.
  • Bereitgestellt wird insbesondere ein solches Verfahren, bei dem Laserlicht über den ersten oder zweiten Strahlengang derart eingestrahlt wird, dass es als s-polarisiertes Licht auf den bzw. auf einen dichroitischen Strahlteiler trifft und in Richtung zum Objektbereich umgelenkt wird. Dabei kann über den anderen Strahlengang vom ersten und zweiten Strahlengang konventionelles Licht eingestrahlt werden, welches als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler trifft und in Richtung zum Objektbereich umgelenkt wird.
  • Nach einer besonders bevorzugten Ausgestaltung trifft das Laserlicht unter einem Einfallswinkel auf eine Grenzfläche, insbesondere eine Grenzfläche des Objektträgers. Das Laserlicht wird dann an der Grenzfläche vollständig reflektiert, um eine Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern vorzusehen (so genannte TIRF-Anregung).
  • Nach einer weiteren bevorzugten Auslegung wird das Laserlicht derart und mit einer derartigen Intensität dem Objektbereich zugeführt, dass geeignete Farbstoffe im Objektbereich ausbleichen.
  • Die Erfindung wird im Folgenden anhand von in den Figuren gezeigten, keinesfalls beschränkend auszulegenden Ausführungsbeispielen näher erläutert.
  • 1 zeigt die prinzipiellen Transmissionseigenschaften eines polarisierenden Strahlteilers für eingestrahltes Licht unterschiedlicher Polarisationen.
  • 2 ist eine schematische Darstellung einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 3 ist eine schematische Darstellung einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 4 zeigt die prinzipiellen Reflexionseigenschaften eines dichroitischen Strahlteilers. Gleichzeitig sind zur Information ein Absorptionsspektrum und ein Emissionsspektrum eines Farbstoffs eingezeichnet.
  • 5 ist eine schematische Darstellung einer dritten bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 6 ist eine schematische Darstellung einer vierten, ebenfalls bevorzugten, Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 7 ist eine schematische Darstellung einer fünften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • Aus 1 ist ersichtlich, dass ein polarisierender Strahlteiler eine hohe Durchlässigkeit für p-polarisiertes Licht und ein hohes Reflexionsvermögen für s-polarisiertes Licht aufweist. Unpolarisiertes Licht, das auf einen polarisierenden Strahlteilennrürfel eingestrahlt wird, wird etwa zur Hälfte durchgelassen und zur Hälfte reflektiert, wobei das durchgelassene Licht hinter dem Strahlteilerwürfel p-Polarisation aufweist und das reflektierte Licht s-Polarisation. In den Ausführungsbeispielen der 2, 3, 5 und 6 wird ein polarisierender Strahlteiler dazu benutzt, Licht aus einer polarisierten Lichtquelle, wie beispielsweise einer Laserlichtquelle, und aus einer unpolarisierten Lichtquelle, wie beispielsweise einer Bogenlampe, zu vereinigen. Dabei kann das entsprechend polarisierte Laserlicht fast verlustfrei in Richtung zum Objektbereich geleitet werden, während vom unpolarisierten Licht immerhin noch etwa die Hälfte der ursprünglichen Intensität in Richtung zum Objektbereich geleitet wird.
  • 2 zeigt ein erfindungsgemäßes Mikroskop 10 gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Zur Verdeutlichung der Lage der Strahlengänge im Raum ist ein Koordinatensystem eingezeichnet, wobei die x- und y-Achse eine horizontale Ebene aufspannen und die z-Achse vertikal verläuft. Das Mikroskop umfasst einen Objektbereich 12, in den eine zu untersuchende Probe zu platzieren ist, ein Objektiv 14, einen dichroitischen Strahlteiler 16, einen Langpassfilter 18, eine Abbildungsoptik 20 und einen Beobachtungsbereich, beispielsweise eine OCD-Kamera, 22. Weiterhin sind zur Beleuchtung bzw. Anregung der Probe zwei Lichtquellen vorgesehen, eine Bogenlampe 24 mit einem Bandpassfilter 26 und eine Laserlichtquelle 28. Von der Bogenlampe 24 ausgehendes Licht verläuft in einem ersten weiteren Strahlengang 34, 38 durch den Bandpassfilter 26 und einen polarisierenden Strahlteilerwürfel 30, der den p-polarisierten Anteil dieses Lichts zum dichroitischen Strahlteiler 16 durchlässt. Von der Laserlichtquelle 28 ausgehendes Licht, das in Bezug zum polarisierenden Strahlteilerwürfel s-polarisiert ist, verläuft entlang eines ersten Abschnitts 36 eines zweiten weiteren Strahlengangs und wird dann am polarisierenden Strahlteiler 30 in Richtung zum dichroitischen Strahlteiler 16 in einen zweiten Abschnitt 38 des zweiten weiteren Strahlengangs reflektiert, wobei dieser zweite Abschnitt 38 des zweiten weiteren Strahlengangs im Wesentlichen mit dem Abschnitt des ersten weiteren Strahlengangs 34, 38 zwischen dem polarisierenden Strahlteilerwürtel und dem dichroitischen Strahlteiler 16 zusammenfällt.
  • In Bezug zum dichroitischen Strahlteiler 16 ist das vom Strahlteilerwürfel durchgelassene Licht von der Bogenlampe s-polarisiert und ist das vom Strahlteilerwürfel reflektierte Licht vom Laser p-polarisiert, wie in 2 durch die Schwingungsrichtung des elektrischen Wechselfeldes repräsentierende Pfeile angedeutet.
  • Der dichroitische Strahlteiler 16 reflektiert kürzerwelliges Anregungs- und/oder Beleuchtungslicht von der Bogenlampe 24 und von der Laserlichtquelle 28 in Richtung zum Objektiv 14 und Objektbereich 12 und lässt längenwelliges Fluoreszenzlicht vom Objektbereich 12 in Richtung zum Beobachtungsbereich 22 durch. Da die Reflexionsebene des polarisierenden Strahlteilerwürfels 30 die von der x- und y-Achse aufgespanne Horizontalebene ist, hat das bezüglich des polarisierenden Strahlteilerwürfels 30 s-polarisierte Laserlicht ein in z-Richtung schwingendes elektrisches Feld, wie schon angesprochen. Die Reflexionsebene des dichroitischen Strahlteilers ist die von der x- und der z-Achse aufgespannte Ebene, so dass das bezüglich des polarisierenden Strahlteilerwürfels 30 s-polarisierte Laserlicht in Bezug auf den dichroitischen Strahlteiler 16 p-Polarisation aufweist, da das in z-Richtung schwingende elektrische Feld parallel zur Reflexionsebene am dichroitischen Strahlteiler 16 schwingt.
  • Von der im Objektbereich 12 befindlichen Probe ausgehendes Fluoreszenzlicht wird durch das Objektiv 14 auf den dichroitischen Strahlteiler 16 geleitet, der es in Richtung zum Langpassfilter 18 durchlässt. Der Langpassfilter 18 hat die Aufgabe, Anregungs- bzw. Beleuchtungslicht auszufiltern und nur Fluoreszenzlicht von der Probe in Richtung zur Abbildungsoptik 20 und zum Beobachtungsbereich 22, beispielsweise einer CCD-Kamera, durchzulassen.
  • In den beiden Strahlgängen können jeweils zwischen der Bogenlampe 24 und dem Strahlteüerwürfel 30 einerseits und zwischen der Laserlichtquelle 28 und dem Strahlteilerwürfel 30 andererseits Strahlgangunterbrechungsvorrichtungen, wie etwa ansteuerbare Verschlüsse und dergleichen, angeordnet sein, um ein quasi-instantanes Umschalten zwischen einer Beleuchtung bzw. Anregung auf Grundlage der Bogenlampe und einer Beleuchtung bzw. Anregung auf Grundlage der Laserlichtquelle zu ermöglichen.
  • Im Folgenden werden weitere Ausführungsbeispiele beschrieben, wobei für identische, analoge oder entsprechende Komponenten die gleichen Bezugszeichen verwendet werden, jeweils erhöht um 100. Soweit nichts anderes ausgeführt ist, gelten die Ausführungen zu dem vorangehend beschriebenen Ausführungsbeispiel auch für die nachfolgend behandelten Ausführungsbeispiele.
  • 3 zeigt eine zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, bei der einer der weiteren Strahlengänge für Anregungs- bzw. Beleuchtungslicht zumindest teilweise nicht – wie in der Mikroskopie sonst üblich – in der horizontalen Ebene, sondern vertikal angeordnet ist. Dadurch beschränkt sich die gesamte Strahlenführung auf eine von der x- und der z-Achse aufgespannte Ebene.
  • Ein Mikroskop 110 gemäß der zweiten Ausführungsform umfasst einen Objektbereich 112, ein Objektiv 114, einen dichroitischen Strahlteiler 116, einen Langpassfilter 118, eine Abbildungsoptik 120 und einen Beobachtungsbereich 122, beispielsweise eine CCD-Kamera. Weiterhin sind zur Beleuchtung bzw. Anregung eine im Objektbereich 112 befindlichen Probe eine Bogenlampe 124 mit einem dazugehörigen Bandpassfilter 126 und eine Laserlichtquelle 128 vorgesehen. Gemäß der zweiten Ausführungsform verläuft Licht aus der Laserlichtquelle 128 entlang des ersten Strahlengangs 134, 138 durch einen polarisierenden Strahlteilerwürtel 130 zum dichroitischen Strahlteiler 118. Licht aus der Bogenlampe 124 verläuft entlang eines ersten Abschnitts 136 eines zweiten weiteren Strahlengangs zum polarisierenden Strahlteilerwürfel 130, der den s-polarisierten Anteil dieses Lichts in einen zweiten Abschnitt 138 des zweiten weiteren Strahlengangs in Richtung zum dichroitischen Strahlteiler 116 umlenkt. Der zweite Abschnitt 138 des zweiten weiteren Strahlengangs fällt dabei im Wesentlichen mit dem Abschnitt des ersten Strahlengangs 134, 138 zwischen dem polarisierenden Strahlteilerwürfel und dem dichroitischen Strahlteiler 116 zusammen. Da bei dieser Ausführungsform die Reflexionsebene sowohl des polarisierenden Strahlteilerwürfels als auch des dichroitischen Strahlteilers in der von der x- und der z-Achse aufgespannten Ebene liegen, ist das bezüglich des polarisierenden Strahlteilerwürfels 130 p-polarisierte Laserlicht, das zum dichroitischen Strahlteiler 116 durchgelassen wird, auch in Bezug zum dichroitischen Strahlteiler 116 p-polarisiert. Der bezüglich des polarisierenden Strahlteilerwürfels 130 s-polarisierte Anteil des Lichts aus der Bogenlampe 124, der zum dichroitischen Strahlteiler 116 reflektiert wird, ist auch bezüglich des dichroitischen Strahlteilers 116 s-polarisiert.
  • Sowohl bei der ersten als auch bei der zweiten oben erläuterten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung trifft daher bezüglich des dichroitischen Strahlteilers 116 p-polarisiertes Laserlicht auf den dichroitischen Strahlteiler 116. 4 zeigt das Reflexionsvermögen eines dichroitischen Langpassstrahlteilers. Dabei ist ersichtlich, dass die s-Kante bei längeren Wellenlängen liegt als die p-Kante. Der Abstand der Kanten kann 20 bis 30 nm betragen. 4 zeigt weiterhin schraffiert ein Absorptionsspektrum und ein Emissionsspektrum für einen in Verbindung mit dem beispielsweise dem Strahlteiler 16 bzw. 116 entsprechenden Langpassstrahlteiler verwendbaren Farbstoff. Das Absorptionsspektrum und Emissionsspektrum sind relativ zueinander verschoben. Es besteht das grundsätzliche Interesse, möglichst viel Emissionslicht zu detektieren und gleichzeitig den Farbstoff nahe dem Maximum der Absorption anregen zu können. Daher muss die Lage der Kante des zum jeweiligen Farbstoff passenden dichroitischen Strahlfieilers geschickt gewählt werden. Wegen des endlichen Wellenlängenbereichs zwischen Sperr- und Durchlassbereich ist jedoch ein Kompromiss notwendig. Bei der in 4 gezeigten Lage der Farbstoffspektren relativ zur Reflexionskante des dichroitischen Strahlteilers wird zwar das vom Farbstoff emittierte Licht größtenteils in Richtung zum Beobachtungsbereich durchgelassen, bei Anregung mit p-polarisiertem Laserlicht ist es allerdings nicht möglich, eine Anregungswellenlänge zu wählen, die nahe des Absorptionsmaximums liegt und vom dichroitischen Strahlteiler in Richtung zum Objektbereich reflektiert wird. Es ist also vorteilhaft, den Farbstoff mit s-polarisiertem Laserlicht anzuregen, um die längerwellige Reflexionskante für s-polarisiertes Licht ausnutzen zu können, und daher eine Anregungswellenlänge wählen zu können, die näher am Absorptionsmaximum des Farbstoffs liegt.
  • Letzteres ist bei einer dritten und bevorzugten Ausführungsform möglich. 5 zeigt ein Beispiel eines erfindungsgemäßen Mikroskops 210, bei dem – wie bei der zweiten Ausführungsform – alle Strahlengänge in einer von der x- und der z-Achse aufgespannten Ebene verlaufen. Licht, das von der Bogenlampe 224 ausgeht und durch den Bandpassfilter 226 durchgelassen wird, verläuft entlang eines ersten weiteren Strahlengangs 234, 238 durch den polarisierenden Strahlteilerwürfel 230, der den p-polarisierten Anteil dieses Lichts in Richtung zum dichroitischen Strahlteiler 216 durchlässt. Von der Laserlichtquelle 228 ausgehendes s-polarisiertes Licht verläuft entlang eines ersten Abschnitts 236 eines zweiten weiteren Strahlengangs zum polarisierenden Strahlteilerwürfel 230, der es in einen zweiten Abschnitt 238 des zweiten weiteren Strahlengangs in Richtung zum dichroitischen Strahlteiler 216 reflektiert. Bei dieser Ausführungsform sind die Reflexionsebenen von polarisierendem Strahlteilerwürfel 230 und dichroitischem Strahlteiler 216 zueinander parallel, so dass bezüglich des polarisierenden Strahlteilerwürfels 230 s-polarisiertes Laserlicht auch bezüglich dem dichroitischen Strahlteiler 216 s-polarisiert ist. Damit kann für die Zuführung des Anregungslaserlichts die längerwellige s-Kante des dichroitischen Strahlteilers 216 ausgenutzt werden (siehe 4) und es ist daher möglich, den Farbstoff näher am Absorptionsmaximum anzuregen. Es wird eine größere Fluoreszenzausbeute erzielt.
  • 6 zeigt eine vierte und ebenfalls bevorzugte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, bei der wie bei der ersten Ausführungsform die Beleuchtungs-/Anregungsstrahlengänge in einer von der x- und der y-Achse aufgespannten Ebene verlaufen. Im Unterschied zur ersten Ausführungsform ist hier allerdings der Laser 328 an den ersten Beleuchtungs-/Anregungsstrahlengang 334, 338 angeschlossen, so dass der polarisierende Strahlteiler 330 das bezüglich des polarisierenden Strahlteilers 330 p-polarisierte Laserlicht in Richtung zum dichroitischen Strahlteiler 316 durchlässt. Eine Bogenlampe 324 ist an den zweiten Beleuchtungs-/Anregungsstrahlengang 336, 338 angeschlossen, so dass der polarisierende Strahlteiler 330 den Anteil des Lichts von der Bogenlampe 324, der bezüglich des polarisierenden Strahlteilers 330 s-polarisiert ist, in Richtung zum dichroitischen Strahlteiler 316 umlenkt. Da bei dieser Ausführungsform die Reflexionsebenen des polarisierenden Strahlteilerwürfels und des dichroitischen Strahlteilers senkrecht aufeinander stehen, ist das vom polarisierenden Strahlteiler 330 durchgelassene Laserlicht in Bezug zum dichroitischen Strahlteiler 316 s-polarisiert, wie in 6 durch die Schwingungsrichtung des elektrischen Wechselfeldes repräsentierende Pfeile angedeutet. Damit kann wie bei der dritten Ausführungsform für die Zuführung des Anregungslaserlichts die längerwellige s-Kante des dichroitischen Strahlteilers 316 ausgenutzt werden (siehe 4) und es ist daher möglich, den Farbstoff näher am Absorptionsmaximum anzuregen und eine größere Fluoreszenzausbeute zu erzielen.
  • 7 zeigt eine fünfte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mit einem Mikroskop 410, das als Durchlichtmikroskop ausgeführt ist, so dass Anregungs- und Beleuchtungslicht von unten auf den Objektbereich 412 trifft und Fluoreszenzlicht von der Probe nach oben zum Beobachtungsbereich 422 geleitet wird. Auch bei diesem Durchlichtmikroskop wird Licht von der Bogenlampe 424 und von der Laserlichtquelle 428 mittels eines polarisierenden Strahlteilerwürfels 430 vereinigt und in Richtung zum Objektbereich 412 durchgelassen bzw. umgelenkt. Bei dieser Geometrie kann ein dichroitischer Strahlteiler entfallen. Die Trennung des Anregungs- und Beleuchtungslichts von dem vom Farbstoff emittierten Fluoreszenzlicht kann lediglich auf Grundlage des Langpassfilters 418 erfolgen.
  • Aufgrund der Transmissionseigenschaften des polarisierenden Strahlteilerwürfels 430 (siehe 1) ist das Licht, das über den ersten Strahlengang 434, 438 zum Objektiv 440 und zum Objektbereich 412 geleitet wird, im Abschnitt 438 hinter dem polarisierenden Strahlteiler 430 zwangsläufig in Bezug zum polarisierenden Strahlteiler 430 p-polarisiert und Licht, das über den zweiten Strahlengang 436, 438 zum Objektiv 440 und zum Objektbereich 412 geleitet wird, zwangsläufig in Bezug zum polarisierenden Strahlteiler 430 s-polarisiert. Da beim Durchlichtmikroskop 410 ein dichroitischer Strahlteiler entfallen kann, macht es hier für die Fluoreszenzausbeute keinen Unterschied, ob, wie in 7 gezeigt, s-polarisiertes Laserlicht über den zweiten Strahlengang 436, 438 und p-polarisiertes Licht von der Bogenlampe über den ersten Strahlengang 434, 438 zum Objektbereich geleitet werden, oder ob alternativ ein Laser 428, der p-polarisiertes Licht emittiert, an den ersten Strahlengang 434, 438 und eine Bogenlampe 424 an den zweiten Strahlengang 436, 438 angeschlossen ist.
  • Es ist darauf hinzuweisen, dass man je nach Zweckmäßigkeit die Strahlengänge bzw. Strahlengangabschnitte zwischen Laserlichtquelle und Strahlteilerwürfel, zwischen Bogenlampe und Strahlteilerwürfel und zwischen Strahlteilerwürfel und dichroitischem Strahlteiler in Abweichung von den gezeigten Ausführungsbeispielen nicht geradlinig, sondern aus mehreren, über Umlenkelemente verbundenen Strahlgangsegmenten ausführen kann, etwa wenn dies im Hinblick auf gewisse Platzverhältnisse und sonstige Anforderungen vorteilhaft ist. Entsprechendes gilt auch für den Beobachtungsstrahlengang zwischen Objektbereich und Beobachtungsbereich.
  • Die optischen Objektuntersuchungseinrichtungen bzw. Mikroskope gemäß 1 bis 7 lassen sich vorteilhaft für vielfältige Untersuchungen und Analysen verwenden, speziell auch für fluoreszenzmikroskopische Anwendungen. Ein wichtiges Beispiel ist die TIRF-Mikroskopie. Es können hier in Verbindung mit der erfindungsgemäßen Strahlgangführung die im Stand der Technik bekannten Techniken für die Einkopplung der TIRF-Anregungsstrahlung in die die TIRF-Reflexionsgrenzfläche aufweisende optische Komponente, insbesondere Objektträger, verwendet werden. Es kann beispielsweise ein Mikroskopobjektiv mit hoher numerischer Apertur verwendet werden. Es kann dann das Laserlicht vermittels einer Linsenanordnung in die Fokusebene des Objektivs bzw. der Objektivlinse fokussiert werden, und zwar in einen Seitenabstand zur optischen Achse, so dass das aus der Objektivlinse zuerst in ein Öl-Immersionsmedium und dann in einen Glas-Objektträger eintretende Laserlicht unter einem Winkel auf eine Grenzfläche zwischen dem Objektträger und einem demgegenüber optisch dünneren Medium, beispielsweise Wasser, trifft, dass das Laserlicht an der Grenzfläche totalreflektiert wird und dass in das optisch dünnere Medium nur evaneszente elektromagnetische Felder eintreten. Soweit erforderlich, können bei den Anordnungen gemäß den 2, 3, 5, 6 und 7 für die Implementierung der TIRF-Mikroskopie noch zusätzliche Komponenten eingesetzt werden. Hierzu ist der Fachmann auf Grundlage seiner Kenntnisse in der Lage. Ergänzend wird auf den Inhalt der am 17.12.2003 eingereichten PCT-Anmeldung, Aktenzeichen PCT/EP 03/014405 bzw. der dieser zugrundeliegenden deutschen Patentanmeldung 102 58 945.3 vom 17.12.2002 mit dem Titel „Fluoreszenzbasierte optische Objektuntersuchungseinrichtung, insbesondere für die TIRF-Mikroskopie" verwiesen. Dieser Inhalt wird durch Bezugnahme in den Inhalt der vorliegenden Anmeldung einbezogen.
  • Vorgeschlagen wird unter anderem eine optische Objektuntersuchungseinrichtung, bei der Beleuchtungs- und Anregungslicht aus zwei verschiedenen Lichtquellen, wie beispielsweise einem Laser und einer Bogenlampe, mittels eines polarisierenden Strahlteilers zum Objektbereich hin durchgelassen bzw. umgelenkt werden. Dabei kann Laserlicht so eingekoppelt werden, dass es sich für TIRF-Mikroskopie oder zum Ausbleichen einer Probe eignet, während mit dem Licht der Bogenlampe gleichzeitig oder in schnellem Wechsel klassische Fluoreszenzmikroskopie betrieben werden kann.

Claims (37)

  1. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310; 410), umfassend: – einen Objektbereich (12, 112; 212; 312; 412), in dem wenigstens ein zu untersuchendes Objekt oder ein Objektträger mit wenigstens einem zu untersuchenden Objekt platzierbar ist; – einen Beobachtungsstrahlengang (32; 132; 232; 332; 432), der vom Objektbereich (12; 112; 212; 312; 412) zu einem Bildbereich oder Beobachtungsbereich (22; 122; 222; 322; 422) führt, wobei der Beobachtungsstrahlengang (32; 132; 232; 332, 432) zumindest bereichsweise in Richtung einer Einrichtungsachse, ggf. vertikal, verläuft; – wenigstens zwei weitere Strahlengänge (34, 36, 38; 134, 136, 138; 234, 236, 238; 334, 336, 338; 434, 436, 438), die zum Objektbereich führen und über die Anregungslicht oder Beleuchtungslicht dem Objektbereich (12; 112; 212; 312; 412) zuführbar ist und von denen wenigstens einer zumindest bereichsweise in einer von der Einrichtungsachse geschnittenen Ebene, ggf. Horizontalebene, verläuft; gekennzeichnet durch wenigstens einen einem ersten (34, 38; 134, 138; 234, 238; 334, 338; 434, 438) und einem zweiten (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) der weiteren Strahlengänge zugeordneten polarisierenden Strahlteiler (30; 130; 230; 330; 430), wobei der erste Strahlengang (34, 38; 134, 138; 234, 238; 334, 338; 434, 438) derart durch den polarisierenden Strahlteiler (30; 130; 230; 330; 430) verläuft, dass von über den ersten Strahlengang (34, 38; 134, 138; 234, 238; 334, 338; 434, 438) einfallendem Licht zumindest Licht einer ersten Polarisation durch den polarisierenden Strahlteiler (30; 130; 230; 330; 430) in Richtung zum Objektbereich (12; 112; 212; 312; 412) durchgelassen wird, und wobei vermittels des polarisierenden Strahlteilers (30; 130; 230; 330; 430) zwei unter einem Winkel zueinander verlaufende Abschnitte des zweiten Strahlengangs (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) derart aneinander angeschlossen sind, dass von über den einen Abschnitt (36; 136; 236; 336; 436) des zweiten Strahlengangs (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) einfallendem Licht zumindest Licht einer zweiten Polarisation durch den polarisierenden Strahlteiler (30; 130; 230; 330; 430) in den anderen Abschnitt (38; 138; 238; 338; 438) des zweiten Strahlengangs (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) in Richtung zum Objektbereich (12; 112; 212; 312; 412) reflektiert wird.
  2. Optische Objektuntersuchungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Strahlengang (34, 38; 134, 138; 234, 238; 334, 338; 436, 438) und der andere Abschnitt (38; 138; 238; 338; 438) des zweiten Strahlengangs (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) bereichsweise zumindest näherungsweise parallel verlaufen oder zusammenfallen.
  3. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass dem ersten (34, 38; 134, 138, 234, 238; 334, 338) und dem zweiten (36, 38; 136, 138, 236, 238; 336, 338) Strahlengang wenigstens ein dichroitischer Strahlteiler (16; 116; 216; 316) zugeordnet ist, der vom polarisierenden Strahlteiler (30; 130; 230; 330) her einstrahlendes Licht der ersten bzw. zweiten Polarisation in Richtung zum Objektbereich (12; 112; 212; 312) umlenkt.
  4. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310) nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Beobachtungsstrahlengang (32; 132; 232; 332) durch den dichroitischen Strahlteiler (16; 116; 216; 316) verläuft.
  5. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310; 410) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens eine Laserlichtquelle (28; 128; 228; 328; 428) vorgesehen ist, die an wenigstens einem vom ersten (34, 38; 134, 138; 234, 238; 334, 338; 434, 438) und zweiten (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) Strahlengang angeschlossen oder anschließbar ist, um von der Laserlichtquelle (28; 128; 228; 328; 428) erzeugtes Anregungslicht oder Beleuchtungslicht dem Objektbereich (12; 112; 212; 312; 412) zuzuführen.
  6. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (210; 310) nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle (228; 328) derart an wenigstens einen vom ersten (234, 238; 334, 338) und zweiten (236, 238; 336, 338) Strahlengang angeschlossen oder anschließbar ist, dass von der Laserlichtquelle (228; 328) erzeugtes Anregungslicht oder Beleuchtungslicht so auf den bzw. auf einen dichroitischen Strahlteiler (216; 316) trifft, dass es in Bezug zum dichroitischen Strahteiler (216; 316) s-polarisiert ist.
  7. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310; 410) nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle (28; 128; 228; 328; 428) an einem vom ersten (34, 38; 134, 138; 234, 238; 334, 338; 434, 438) und zweiten (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) Strahlengang angeschlossen oder anschließbar ist, und dass eine weitere Lichtquelle (24; 124; 224; 324; 424), insbesondere eine konventionelle Lichtquelle wie eine Bogenlampe (24; 124; 224; 324; 424) oder Entladungslampe, am anderen vom ersten (34, 38; 134, 138; 234, 238; 334, 338; 434, 438) und zweiten (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) Strahlengang angeschlossen oder anschließbar ist, um von der konventionellen Lichtquelle (24; 124; 224; 324; 424) erzeugtes Anregungslicht oder Beleuchtungslicht dem Objektbereich (12; 112; 212; 312; 412) zuzuführen.
  8. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310; 410) nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass über einen vom ersten (34, 38; 134, 138; 234, 238; 334, 338; 434, 438) und zweiten (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) Strahlengang Anregungslicht derart dem Objektbereich (12; 112; 212; 312; 412) zuführbar ist, dass das Anregungslicht unter einem Einfallswinkel auf eine Grenzfläche, insbesondere eine Grenzfläche des Objektträgers, trifft, und dass das Anregungslicht an der Grenzfläche vollständig reflektiert wird, um eine Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern vorzusehen (so genannte TIRF-Anregung).
  9. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310; 410) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass über einen vom ersten (34, 38; 134, 138; 234, 238; 334, 338; 434, 438) und zweiten (36, 38; 136, 138; 236, 238; 336, 338; 436, 438) Strahlengang Anregungslicht derart und mit einer derartigen Intensität dem Objektbereich (12; 112; 212; 312; 412) zuführbar ist, dass geeignete Farbstoffe im Objektbereich ausbleichbar sind.
  10. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 310) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, jedenfalls nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Licht der zweiten Polarisation als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler (16; 316) trifft.
  11. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 310) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, jedenfalls nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Licht der ersten Polarisation als s-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler (16; 316) trifft.
  12. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 310) nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Abschnitte des zweiten Strahlengangs (36, 38; 336, 338) in der von der Einrichtungsachse geschnittenen Ebene, ggf. Horizontalebene, liegen.
  13. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (110; 210) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, jedenfalls nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Licht der zweiten Polarisation als s-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler (116; 216) trifft.
  14. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (110; 210) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, jedenfalls nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Licht der ersten Polarisation als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler (116; 216) trifft.
  15. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (110; 210) nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, dass der eine Abschnitt (136; 236) des zweiten Strahlengangs (136, 138; 236, 238) die von der Einrichtungsachse geschnittene Ebene, ggf. Horizontalebene, oder eine hierzu parallele Ebene schneidet.
  16. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10) nach einem der Ansprüche 10, 11 oder 12, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 5 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle (28) am zweiten Strahlengang (36, 38) angeschlossen oder anschließbar ist.
  17. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10) nach einem der Ansprüche 10, 11, 12 oder 16, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Strahlengang (36, 38) für die Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern (so genannte TIRF-Anregung) vorgesehen ist.
  18. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10) nach einem der Ansprüche 10, 11, 12 oder 16, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Strahlengang (36, 38) für Zuführung von Anregungslicht zum Ausbleichen von geeigneten Farbstoffen vorgesehen ist.
  19. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (310) nach einem der Ansprüche 10, 11 oder 12, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 5, 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle (328) am ersten Strahlengang (334, 338) angeschlossen oder anschließbar ist.
  20. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (310) nach einem der Ansprüche 10, 11, 12 oder 19, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Strahlengang (334, 338) für die Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern (so genannte TIRF-Anregung) vorgesehen ist.
  21. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (310) nach einem der Ansprüche 10, 11, 12 oder 19, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Strahlengang (334, 338) für Zuführung von Anregungslicht zum Ausbleichen von geeigneten Farbstoffen vorgesehen ist.
  22. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (110) nach einem der Ansprüche 13, 14 oder 15, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 5 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle (128) am ersten Strahlengang (134, 138) angeschlossen oder anschließbar ist.
  23. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (110) nach einem der Ansprüche 13, 14, 15 oder 22, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Strahlengang (134, 138) für die Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern (so genannte TIRF-Anregung) vorgesehen ist.
  24. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (110) nach einem der Ansprüche 13, 14, 15 oder 22, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Strahlengang (134, 138) für Zuführung von Anregungslicht zum Ausbleichen von geeigneten Farbstoffen vorgesehen ist.
  25. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (210) nach einem der Ansprüche 13, 14, oder 15, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 5, 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle (228) am zweiten Strahlengang (236, 238) angeschlossen oder anschließbar ist.
  26. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (210) nach einem der Ansprüche 13, 14, 15 oder 25, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Strahlengang (236, 238) für die Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern (so genannte TIRF-Anregung) vorgesehen ist.
  27. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (210) nach einem der Ansprüche 13, 14, 15 oder 25, zumindest ferner rückbezogen auf Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Strahlengang (236, 238) für Zuführung von Anregungslicht zum Ausbleichen von geeigneten Farbstoffen vorgesehen ist.
  28. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210, 310; 410) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Beobachtungsstrahlengang (32; 132; 232; 332; 432) als Mikroskopstrahlengang ausgeführt ist.
  29. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310; 410) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch ein wenigstens den Objektbereich (12; 112; 212, 312; 412), den Beobachtungsstrahlengang (32; 132; 232; 332; 432) und die weiteren Strahlengänge (34, 36, 38; 134, 136, 138; 234, 236, 238; 334, 336, 338; 434, 436, 438) aufweisendes Mikroskop (10; 110; 210; 310; 410).
  30. Optische Objektuntersuchungseinrichtung nach Anspruch 29, dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskop als Aufrecht-Mikroskop (10; 110; 210; 310; 410) oder – vorzugsweise – als Invers-Mikroskop ausgeführt ist.
  31. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310; 410) nach Anspruch 29 oder 30, dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskop (10; 110; 210; 310; 410) als über den Beobachtungsstrahlengang (32; 132; 232; 332; 432) optisch ein Bild in den Bildbereich oder Beobachtungsbereich abbildendes Abbildungsmikroskop (10; 110; 210; 310; 410) ausgeführt ist.
  32. Optische Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310; 410) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sie eine wenigstens den Objektbereich (12; 112; 212; 312; 412), den Beobachtungsstrahlengang (32; 132; 232; 332; 432) und die weiteren Strahlengänge (34, 36, 38; 134, 136, 138; 234, 236, 238; 334, 336, 338; 434, 436, 438) aufweisende, ggf. das Mikroskop (10; 110; 210; 310; 410) umfassende, Fluoreszenz-Messvorrichtung umfasst.
  33. Verfahren zur Untersuchung von Objekten auf optischem Wege unter Verwendung einer optischen Objektuntersuchungseinrichtung (10; 110; 210; 310; 410) nach einem der vorhergehenden Ansprüche.
  34. Verfahren nach Anspruch 33, dadurch gekennzeichnet, dass Laserlicht über den ersten oder zweiten Strahlengang derart eingestrahlt wird, dass es als s-polarisiertes Licht auf den bzw. auf einen dichroitischen Strahlteiler (216; 316) trifft und in Richtung zum Objektbereich (212; 312) umgelenkt wird.
  35. Verfahren nach Anspruch 34, dadurch gekennzeichnet, dass über den anderen Strahlengang vom ersten und zweiten Strahlengang konventionelles Licht eingestrahlt wird, welches als p-polarisiertes Licht auf den dichroitischen Strahlteiler (216; 316) trifft und in Richtung zum Objektbereich (212; 312) umgelenkt wird.
  36. Verfahren nach Anspruch 34 oder 35, dadurch gekennzeichnet, dass das Laserlicht unter einem Einfallswinkel auf eine Grenzfläche, insbesondere eine Grenzfläche des Objektträgers, trifft, und dass das Laserlicht an der Grenzfläche vollständig reflektiert wird, um eine Fluoreszenzanregung im Wege von evaneszenten elektromagnetischen Feldern vorzusehen (so genannte TIRF-Anregung).
  37. Verfahren nach Anspruch 34 oder 35, dadurch gekennzeichnet, dass Laserlicht derart und mit einer derartigen Intensität dem Objektbereich (212; 312) zugeführt wird, dass geeignete Farbstoffe im Objektbereich ausbleichen.
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