DE10126286A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Punktweisen scannen einer Probe - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zum Punktweisen scannen einer Probe

Info

Publication number
DE10126286A1
DE10126286A1 DE10126286A DE10126286A DE10126286A1 DE 10126286 A1 DE10126286 A1 DE 10126286A1 DE 10126286 A DE10126286 A DE 10126286A DE 10126286 A DE10126286 A DE 10126286A DE 10126286 A1 DE10126286 A1 DE 10126286A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
signals
actual
detection
scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE10126286A
Other languages
English (en)
Inventor
Johann Engelhardt
Bernd Widzgowski
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Microsystems CMS GmbH
Original Assignee
Leica Microsystems Heidelberg GmbH
Leica Microsystems CMS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Microsystems Heidelberg GmbH, Leica Microsystems CMS GmbH filed Critical Leica Microsystems Heidelberg GmbH
Priority to DE10126286A priority Critical patent/DE10126286A1/de
Priority to US10/157,561 priority patent/US6914238B2/en
Publication of DE10126286A1 publication Critical patent/DE10126286A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/004Scanning details, e.g. scanning stages fixed arrays, e.g. switchable aperture arrays
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/0048Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control
    • G02B21/0084Details of detection or image processing, including general computer control time-scale detection, e.g. strobed, ultra-fast, heterodyne detection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

Ein Verfahren und eine Vorrichtung zum punktweisen Scannen einer Probe (15) ist offenbart. Das Verfahren ist gekennzeichnet durch die Schritte des Erzeugens (45) eines Sollsignals (10) für jeden Scanpunkt und des Übergebens (47) des Sollsignals (10) an eine Scaneinrichtung (7). In weiteren Schritten erfolgt das Ermitteln (49) eines Istsignals (25), für jeden Scanpunkt aus der Stellung der Scaneinrichtung (7), das Detektieren (51) mindestens eines Detektionssignals (21) für jeden Scanpunkt, das Errechnen (53) eines Darstellsignals (27) und einer Bildpunktposition (29) aus dem Istsignal (25) und/oder dem Sollsignal (10) und dem Detektionssignal (21) und das Zuordnen (55) des Darstellsignals (27) zu der Bildpunktposition (29).

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum punktweisen Scannen einer Probe.
In der Scanmikroskopie wird eine Probe mit einem Lichtstrahl beleuchtet, um das von der Probe emittierte Detektionslicht, als Reflexions- oder Fluoreszenzlicht, zu beobachten. Der Fokus eines Beleuchtungslichtstrahles wird mit Hilfe einer steuerbaren Scaneinrichtung, im Allgemeinen durch Verkippen zweier Spiegel, in einer Probenebene bewegt, wobei die Ablenkachsen meist senkrecht aufeinander stehen, so daß ein Spiegel in x-, der andere in y-Richtung ablenkt. Die Scaneinrichtung wird mit einem Sollsignal angesteuert. Die Verkippung der Spiegel wird beispielsweise mit Hilfe von Galvanometer-Stellelementen bewerkstelligt, wobei sowohl schnelle resonante als auch langsamere (genauere) nichtresonante Galvanometer zum Einsatz kommen. Die Leistung des von der Probe kommenden Detektionslichtes wird in Abhängigkeit von der Position des Abtaststrahles gemessen. Üblicherweise werden die Stellelemente mit Sensoren zur Ermittlung der aktuellen Spiegelstellung (Istsignal) ausgerüstet. Üblicher Weise wird das Istsignal eindeutig dem jeweiligen Detektionssignal zugeordnet, um ein Bild erzeugen zu können.
Speziell in der konfokalen Scanmikroskopie wird eine Probe mit dem Fokus eines Lichtstrahles in drei Dimensionen abgetastet.
Ein konfokales Scanmikroskop umfasst im Allgemeinen eine Lichtquelle, eine Fokussieroptik, mit der das Licht der Quelle auf eine Lochblende - die sog. Anregungsblende - fokussiert wird, einen Strahlteiler, eine Scaneinrichtung zur Strahlsteuerung, eine Mikroskopoptik, eine Detektionsblende und die Detektoren zum Nachweis des Detektions- bzw. Fluoreszenzlichtes. Das Beleuchtungslicht wird über einen Strahlteiler eingekoppelt. Das von der Probe kommende Fluoreszenz- oder Reflexionslicht gelangt über die Scaneinrichtung zurück zum Strahlteiler, passiert diesen, um anschließend auf die Detektionsblende fokussiert zu werden, hinter der sich die Detektoren befinden. Diese Detektionsanordnung wird Descan-Anordnung genannt.
Detektionslicht, das nicht direkt aus der Fokusregion stammt, nimmt einen anderen Lichtweg und passiert die Detektionsblende nicht, so daß man eine Punktinformation erhält, die durch sequentielles Abtasten der Probe mit dem Fokus des Beleuchtungslichtstrahles zu einem dreidimensionalen Bild führt. Meist wird ein dreidimensionales Bild durch schichtweise Bilddatennahme erzielt. Kommerzielle Scanmikroskope bestehen meist aus einem Scanmodul, das an das Stativ eines klassischen Lichtmikroskops angeflanscht wird, wobei das Scanmodul alle genannten zur Abrasterung einer Probe zusätzlich nötigen Elemente beinhaltet.
In der konfokalen Scanmikroskopie kann im Falle der Zweiphotonenanregung (oder Mehrphotonenanregung) auf eine Detektionsblende verzichtet werden, da die Anregungswahrscheinlichkeit vom Quadrat der Photonendichte und damit vom Quadrat der Beleuchtungslichtintensität abhängt, die naturgemäß im Fokus viel höher ist als in den Nachbarregionen. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht stammt daher mit großer Wahrscheinlichkeit zum aller größten Teil aus der Fokusregion, was eine weitere Differenzierung von Fluoreszenzphotonen aus dem Fokusbereich von Fluoreszenzphotonen aus den Nachbarbereichen mit einer Blendenanordnung überflüssig macht.
Idealer Weise müsste die Bahn des Abtaststrahles auf oder in der Probe einen Mäander (Abrastern einer Zeile in x-Richtung bei konstanter y-Position, anschließend x-Scan anhalten und per y-Verstellung auf die nächste abzurasternde Zeile schwenken und dann bei konstanter y-Position diese Zeile in negative x-Richtung auslesen usw.) beschreiben. In der Realität wird dies jedoch aufgrund verschiedener Störeinflüsse nicht erreicht, so dass störende Bildfehler auftreten. Insbesondere die Massenträgheit der bewegten Bauteile, der Stellelemente und der Spiegel erlauben nur bei sehr langsamem Scannen eine mäanderförmige Scanbahn. Bei schnellem Scannen werden die Stellelemente vorzugsweise sägezahnförmig (linear in der Zeit) oder sinusförmig (nahezu linear im mittleren Bereich) angesteuert. Tatsächlich folgen die Stellelemente bei schnellem Scannen nicht exakt dem Sollsignal. Die Scanbahn des Lichtstrahles beschreibt in der Probe eine sinusähnliche Kurve. Eine weitere Fehlerquelle ist darin zu suchen, dass die Projektion der Bahngeschwindigkeit auf die x-Richtung in der Nähe der Umkehrpunkte niedriger, als im linearen Bereich der sinusähnlichen Kurve ist. Oft ist sogar, beispielsweise bei "schlechten" Galvanometern, eine enorme Abweichung von der Sinusform festzustellen. Es kommt außerdem vor, dass die Kurvenform für das Ablenken in positive x-Richtung von der Kurvenform beim Ablenken in die entgegengesetzte, negative x-Richtung abweicht.
Bildfehler treten außerdem durch die Ungenauigkeit der Sensoren zur Ermittlung der aktuellen Spiegelstellung, also durch Fehler im Istsignal auf. Diese Messfehler der Sensoren sind in der Hauptsache auf Reibung und Aufmagnetisierung des Materials zurückzuführen.
Aus der deutschen Offenlegungsschrift DE 197 02 752 A1 ist ein Ansteuersystem für einen Scannerantrieb, insbesondere für ein Laserscannmikroskop, mit einem Schwingmotor zum Antreiben eines Schwingspiegels, der zur linear oszillierenden Ablenkung eines Strahlenbündels dient, mit einer Ansteuereinheit zur Speisung des Schwingmotors mit einem Erregerstrom, der hinsichtlich der Ansteuerfrequenz, der Frequenzkurve und der Amplitude veränderbar ist, mit einem Funktionsgenerator, der mit der Ansteuereinheit verbunden ist, und mit einem Messwertaufnehmer zur Gewinnung einer Folge von Informationen über die Ablenkpositionen des Schwingspiegels, bekannt. Die Aufgabe der Erfindung wird dadurch gelöst, dass der Messwertaufnehmer über eine Logikeinheit zur Ermittlung von Korrekturwerten für den Erregerstrom mit dem Funktionsgenerator verknüpft ist. Damit ist es vorteilhaft möglich, unter Auswertung der vom Messwertaufnehmer zur Verfügung gestellten Informationen über die tatsächliche Ablenkposition des Schwingspiegels mit Hilfe der Logikeinheit Korrekturwerte zu ermitteln. Die können wiederum dazu genutzt werden, die vom Funktionsgenerator ausgegebenen Ansteuerfrequenzen so zu beeinflussen, dass die Abweichungen minimiert bzw. vollkommen vermieden werden. Die Lösung der aufgezeigten Probleme durch die offenbarte geregelte Ansteuerung der Stellelemente ist technisch sehr aufwendig und teuer. Außerdem ist dem offenbarten Ansteuersystem eine Grenze gesetzt; denn bei höchsten Scangeschwindigkeiten entsteht zumindest teilweise immer eine nichtlineare Scanbahn. Bei resonant arbeitenden Galvanometern als Stellelement sind praktisch nur noch sinusähnliche Scanbahnen erreichbar.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zu Grunde, ein Verfahren zum Scannen einer Probe anzugeben, das auf einfache und zuverlässige Weise auch bei schnellem Scannen das Erzeugen weitgehend bildfehlerfreier Bilddaten ermöglicht.
Die Aufgabe wird durch ein Verfahren gelöst, das durch die folgenden Schritte gekennzeichnet ist:
Erzeugen eines Sollsignals für jeden Scanpunkt und Übergeben des Sollsignals an eine Scaneinrichtung,
Ermitteln eines Istsignals, für jeden Scanpunkt aus der Einstellung der Scaneinrichtung,
Detektieren mindestens eines Detektionssignals für jeden Scanpunkt,
Errechnen eines Darstellsignals und einer Bildpunktposition aus dem Istsignal und/oder dem Sollsignal und dem Detektionssignal und
Zuordnen des Darstellsignals zu der Bildpunktposition.
Weiterhin ist es Aufgabe der Erfindung eine Vorrichtung zum Scannen einer Probe anzugeben, mit der auch bei schnellem Scannen einer Probe weitgehend bildfehlerfreie Bilddaten erzeugbar sind.
Die Aufgabe wird durch eine Vorrichtung gelöst, die durch die folgenden Merkmale gekennzeichnet ist:
einer Steuereinheit zum Erzeugen eines Sollsignals für jeden Scanpunkt und einer Scaneinrichtung, die das Sollsignal empfängt,
einer Vorrichtung zum Ermitteln eines lstsignals für jeden Scanpunkt aus der Einstellung der Scaneinrichtung,
einem Detektor zum Detektieren eines Detektionssignals für jeden Scanpunkt,
einer weiteren Verarbeitungseinheit zum Errechnen eines Darstellsignals und einer Bildpunktposition aus dem Istsignal und/oder dem Sollsignal und dem Detektionssignal und
einer Verarbeitungseinheit zum Zuordnen des Darstellsignals zu der Bildpunktposition.
Die Erfindung hat den Vorteil, dass trotz des Verzichts auf aufwendige Regelungs- und Ansteuerelektronik eine - insbesondere hinsichtlich der Scanfehler auf Grund von Nichtlinearitäten - verbesserte und exaktere Bilddatenerzeugung ermöglicht ist. Ganz besonders vorteilhaft ist es, dass das erfindungsgemäße Verfahren sowohl bei langsamem, als auch bei schnellem Scannen und bei der Verwendung von resonanten Stellelementen einsetzbar ist.
In ganz besonders vorteilhafter Weise wird das Darstellsignal aus dem Istsignal und/oder dem Sollsignal und dem Detektionssignal mindestens zweier Scanpunkte errechnet. In einer Ausführungsform werden die Detektionssignale von mehreren vorzugsweise aufeinanderfolgend gescannten Scanpunkten gewichtet gemittelt und aus dem erhaltenen Wert das Darstellsignal eines einzelnen Bildpunktes errechnet, wobei das Sollsignal und das lstsignal in die Wichtung eingehen. Die Bildpunktposition wird vorzugsweise aus dem lstsignal und dem Sollsignal in Abhängigkeit von den Scanparametern, wie Scangeschwindigkeit, Scanbahn usw., errechnet. Insbesondere bei sehr hohen Scangeschwindigkeiten beinhaltet das Berechnen Signalkorrekturen höherer Ordnungen, so dass auch grobe Abweichungen von der vorgegebenen Sollscanbahn, wie Asymmetrien und/oder Nichtlinearitäten, kompensierbar sind. Hierzu werden weitere Kalibrierschritte, Speicherungen sowie Lookuptabellen verwendet.
In einigen Fällen ist es von Vorteil bei der Berechnung der Bildpunktposition das Detektionssignal zu berücksichtigen, so dass die Bildpunktposition aus dem Istsignal und/oder dem Sollsignal und dem Detektionssignal mindestens zweier Scanpunkte errechnet wird. Auch in die Berechnung der Bildpunktposition können die Signale mehrerer Scanpunkte eingehen. Zur Vermeidung eines Jitters entlang einer Bildspalte werden die Istsignale gleicher Phase vor dem Zuordnen über mehrere Perioden gemittelt.
In einer bevorzugen Ausgestaltung ist ein Analog-Digitalwandler zum digitalisieren des Detektionssignals, des Sollsignals und des lstsignals vorgesehen. Die digitalisierten Signale werden In einer bevorzugen Ausführungsvariante in einer Verarbeitungseinheit mit einem programmierbaren Logikbaustein, beispielsweise einem FPGA (Field Programmable Gate Array), oder mit einem PC verarbeitet. Mindestens zwei der Signale werden vorzugsweise gleichzeitig digitalisiert und zwischengespeichert.
Das Ermitteln des Ist- und/oder des Sollsignals bzw. das Detektieren der Detektionssignale aufeinanderfolgender Scanpunkte erfolgt in einer bevorzugten Ausführung in zeitlich konstanten Abständen. In dieser Ausführung ist auf Grund konstanter Integrationszeiten das Abtasttheorem auf besonders einfache Weise zu erfüllen.
Bei dem Zuordnen des Darstellsignals zur Bildpunktposition wird vorteilhafter Weise berücksichtigt, dass die Detektionssignale und die Ist- und Sollsignale unterschiedliche elektronische Lauf- und Verarbeitungszeiten haben können. Phasenunterschiede zwischen den Signalen werden kompensiert. Dabei ist der Phasen-Bezug zwischen den Ist- und Sollsignalen und Detektionssignalen zu ermitteln, zu speichern und zu berücksichtigen. In einer ganz besonders bevorzugen Ausgestaltung beinhaltet das Zuordnen eine Interpolation der Detektionssignale bezüglich der Ist- und/oder Sollsignale.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung beinhaltet in einer bevorzugen Ausgestaltung einen Datenspeicher, in dem die Signale speicherbar sind. Der Datenspeicher umfasst einzelne adressierbare Speicherzellen, in denen die Darstellsignale speicherbar sind, wobei die Adresse einer Speicherzelle aus der Bildpunktposition errechenbar ist.
Die Scaneinrichtung ist vorzugsweise derart ausgestaltet, dass ein bidirektionales Scannen zumindest in einer Raumrichtung ermöglicht ist. Durch Nutzung von Hin- und Rücklauf beim Scannen werden maximale Bilddatenaufnahmeraten erreicht. In einer weiteren Ausführungsform ist ein Taktgeber vorgesehen, der das Ermitteln bzw. Detektieren der Signale zeitlich steuert.
Beim Detektionssignal kann es sich sowohl um irgendein von der Probe kommendes Lichtsignal (Bsp. Reflex, Streulicht, Fluoreszenz, Transmission, Ramanstreuung, etc.) handeln, als auch einen anders nachgewiesenen Effekt (Bsp: OBIC (optical beam induced current), OBIRCH (. . .resistance change. . .), OBITC (. . .temperature change), etc.).
Die Berechung der Bildpunktposition, des Darstellsignals, sowie das Zuordnen erfolgen vorzugsweise während des Scannens der Probe. In einer anderen Ausführung erfolgt die Berechung der Bildpunktposition, des Darstellsignals, sowie das Zuordnen nachträglich, wobei die Signale zunächst zwischengespeichert werden. Die nachträgliche Verarbeitung hat den Vorteil, dass die Daten vor der Verarbeitung hinsichtlich probenspezifischer Besonderheiten gefiltert werden können. Hierzu bietet sich die Verwendung eines PC an.
Besonders vorteilhaft lässt sich das beschriebene Verfahren bei Scanmikroskopen oder konfokalen Scanmikroskopen einsetzen. Dies ist ebenso der Fall bei doppelkonfokalen Scanmikroskopanordnungen, als auch bei der Nutzung nichtlinearer optischer Wechselwirkungen mit der Probe (2nd, 3rd etc. Harmonic Generation, Multiphotonenfluoreszenzanregung, STED, CARS (coherent antistokes raman scattering), SERS (surface enhanced raman scattering), SERRS (. . .resonant raman. . .), etc.).
In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben. Dabei zeigen:
Fig. 1 eine erfindungsgemäße Vorrichtung mit einem konfokalen Scanmikroskop und
Fig. 2 einen Ablaufplan des erfindungsgemäßen Verfahrens.
Fig. 1 zeigt schematisch ein konfokales Scanmikroskop. Der von einem Beleuchtungssystem 1 kommende Lichtstrahl 3 wird von einem Strahlteiler 5 zur Scaneinrichtung 7 reflektiert, die einen kardanisch aufgehängten Scanspiegel 9 beinhaltet, der den Strahl durch die Mikroskopoptik 13 hindurch über bzw. durch das Probe 15 führt. Die Scaneinrichtung 7 empfängt von einer Steuereinheit 8 Sollsignale 10, die in entsprechende Ablenkstellungen des Scanspiegels 9 umgesetzt werden. Die Sollsignale werden außerdem von der Steuereinheit 8 an eine Verarbeitungseinheit 23 weitergegeben. Der Lichtstrahl 3 wird bei nicht transparenten Proben 15 über die Probenoberfläche geführt. Bei biologischen Proben 15 (Präparaten) oder transparenten Proben kann der Lichtstrahl 3 auch durch die Probe 15 geführt werden. Dies bedeutet, dass verschiedene Fokusebenen der Probe nacheinander durch den Lichtstrahl 3 abgetastet werden. Die nachträgliche Zusammensetzung ergibt dann ein dreidimensionales Bild des Probe. Der vom Beleuchtungssystem 1 kommende Lichtstrahl 3 ist als durchgezogene Linie dargestellt. Das von der Probe 15 ausgehende Licht 17 gelangt durch die Mikroskopoptik 13 und über das Scaneinrichtung 7 zum Strahlteiler 5, passiert diesen und trifft auf Detektor 19, der als Photomultiplier ausgeführt ist. Das von der Probe 15 ausgehende Licht 17 ist als gestrichelte Linie dargestellt. Im Detektor 19 werden elektrische, zur Leistung des von der Probe ausgehenden Lichtes 17 proportionale Detektionssignale 21 erzeugt und an die Verarbeitungseinheit 23 weitergegeben. Die in der Scaneinrichtung 7 mit Hilfe einer induktiv oder kapazitiv arbeitenden Vorrichtung 11 zum Ermitteln eines lstsignals erfassten Istsignale 25 werden ebenfalls an die Verarbeitungseinheit 23 übergeben. Die eingehenden Analogsignale werden in der Verarbeitungseinheit 23 zunächst digitalisiert. Die Verarbeitungseinheit 23 umfasst drei Verzögerungselemente zum Ausgleich von Laufzeitunterschieden (nicht dargestellt), von denen eines von den Detektionssignalen 21, ein weiteres von den Sollsignalen 10 und das dritte von den Istsignalen 25 durchlaufen wird. In der Verarbeitungseinheit 23 erfolgt das Errechnen der Darstellsignale 27 und das Errechnen der Bildpunktpositionen 29 aus den Istsignalen, den Sollsignalen und den Detektionssignalen nach einem vorgebbaren Algorithmus. Die Verarbeitungseinheit 23 beinhaltet einen programmierbaren Logikbaustein, der als FPGA ausgeführt ist. Die errechneten Darstellsignale 27 und Bildpunktpositionen 29 werden einer weiteren Verarbeitungseinheit 31 übergeben, in der das Zuordnen der Darstellsignale 27 zu den Bildpunktpositionen 29 erfolgt. Die zugeordneten Bilddaten 33 werden an einen PC 35 weitergegeben, auf dessen Monitor 37 das Bild 39 der Probe 15 dargestellt wird. Das bei einem konfokalen Scanmikroskop üblicherweise vorgesehene Beleuchtungspinhole 41 und das Detektionspinhole 43 sind der Vollständigkeit halber schematisch eingezeichnet. Weggelassen sind wegen der besseren Anschaulichkeit hingegen einige optische Elemente zur Führung und Formung der Lichtstrahlen. Diese sind einem auf diesem Gebiet tätigen Fachmann hinlänglich bekannt.
Fig. 2 zeigt einen Ablaufplan des erfindungsgemäßen Verfahrens. Zunächst erfolgt das Erzeugen 45 eines Sollsignals für jeden Scanpunkt und das Übergeben 47 des Sollsignals an eine Scaneinrichtung 7. Das Sollsignal wird von einer Steuereinheit 8 erzeugt. Das Sollsignal kann nahezu jede beliebige Abhängigkeit von der Zeit haben. Besonders vorteilhaft sind Rechteck-, Dreieck und Sinusfunktionen. Bei sehr schnellem Scannen ist eine sinusförmige Ansteuerung zweckmäßig. Im nächsten Schritt erfolgt das Ermitteln 49 eines lstsignals, für jeden Scanpunkt aus der Einstellung der Scaneinrichtung. Die Scaneinrichtung ist hierfür vorzugsweise mit einem Sensor, als Mittel zur Ermittlung des lstsignals ausgerüstet, der beispielsweise die Stellung der ablenkenden Spiegel ermittelt. Der Sensor arbeitet vorzugsweise kapazitiv, induktiv oder trigonometrisch. In einem weiteren Schritt folgt das Detektieren 51 mindestens eines Detektionssignals für jeden Scanpunkt. Als Detektor 19 wird insbesondere bei geringen Detektionslichtleistungen vorzugsweise ein Photomultiplier verwendet. Die Verwendung anderer Detektoren, wie beispielsweise Halbleiterdetektoren, Photodioden, Photozellen, CCD-Chips und Multibanddetektoren ist ebenso möglich. In dem folgenden Schritt folgt das Errechnen 53 eines Darstellsignals 27 und einer Bildpunktposition 29 aus dem lstsignal 25 und/oder dem Sollsignal 10 und dem Detektionssignal 21. Hierzu sind vorzugsweise mehrere Algorithmen vorgegeben, aus denen der Benutzer probenspezifisch den jeweils passenden auswählen kann. Im letzten Schritt erfolgt das Zuordnen 55 des Darstellsignals 27 zu der Bildpunktposition 29. Die so gewonnenen Bilddaten können beispielsweise mit einem PC 35 zu einem Bild 39 zusammengesetzt und auf einem Monitor 37 dargestellt werden.
Die Erfindung wurde in Bezug auf eine besondere Ausführungsform beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen und Abwandlungen durchgeführt werden können, ohne dabei den Schutzbereich der nachstehenden Ansprüche zu verlassen.
Bezugszeichenliste
1
Beleuchtungssystem
3
Lichtstrahl
5
Strahlteiler
7
Scaneinrichtung
8
Steuereinheit
9
Scanspiegel
10
Sollsignale
11
Vorrichtung zum Ermitteln eines Istsignals
13
Mikroskopoptik
15
Probe
17
von der Probe ausgehendes Licht
19
Detektor
21
Detektionssignale
23
Verarbeitungseinheit
25
Istsignale
27
Darstellsignale
29
Bildpunktpositionen
31
weitere Verarbeitungseinheit
33
Bilddaten
35
PC
37
Monitor
39
Bild
41
Beleuchtungspinhole
43
Detektionspinhole
45
Erzeugen
47
Übergeben
49
Ermitteln
51
Detektieren
53
Errechnen
55
Zuordnen

Claims (20)

1. Verfahren zum punktweisen Scannen einer Probe gekennzeichnet durch folgende Schritte:
Erzeugen (45) eines Sollsignals (10) für jeden Scanpunkt und Übergeben (47) des Sollsignals an eine Scaneinrichtung (7),
Ermitteln (49) eines Istsignals (25), für jeden Scanpunkt aus der Einstellung der Scaneinrichtung (7),
Detektieren (51) mindestens eines Detektionssignals (21) für jeden Scanpunkt,
Errechnen (53) eines Darstellsignals (27) und einer Bildpunktposition (29) aus dem lstsignal (25) und/oder dem Sollsignal (10) und dem Detektionssignal (21) und
Zuordnen (55) des Darstellsignals (27) zu der Bildpunktposition (29).
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Darstellsignal (27) aus dem Istsignal (25) und/oder dem Sollsignal (10) und dem Detektionssignal (21) mindestens zweier Scanpunkte errechnet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Bildpunktposition (29) aus dem Istsignal (25) und/oder dem Sollsignal (10) und dem Detektionssignal (21) mindestens zweier Scanpunkte errechnet wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Scanpunkte aufeinanderfolgende Scanpunkte sind.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Detektionssignal (21) und das Sollsignal (10) und das Istsignal (25) digitalisiert werden.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens zwei der Signale (10, 21, 25) gleichzeitig digitalisiert und zwischengespeichert werden.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Ermitteln (49) bzw. das Detektieren (51) der Signale (10, 21, 25) aufeinanderfolgender Scanpunkte in zeitlich konstanten Abständen erfolgt.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Zuordnen (55) eine Interpolation der Detektionssignale (21) bezüglich der Ist- (25) und/oder Sollsignale (10) beinhaltet.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das bei dem Zuordnen (55) Phasenunterschiede zwischen den Signalen (10, 21, 25) kompensiert werden.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Errechnen (53) Signalkorrekturen höherer Ordnungen beinhaltet.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass Istsignale (25) gleicher Phase vor dem Zuordnen (55) über mehrere Perioden gemittelt werden.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Scannen zumindest in einer Raumrichtung bidirektional erfolgt.
13. Vorrichtung zum punktweisen Scannen einer Probe mit
einer Steuereinheit (8) zum Erzeugen (45) eines Sollsignals (10) für jeden Scanpunkt und einer Scaneinrichtung (7), die das Sollsignal (10) empfängt,
einer Vorrichtung (11) zum Ermitteln (49) eines lstsignals (25) für jeden Scanpunkt aus der Stellung der Scaneinrichtung (7),
einem Detektor (19) zum Detektieren (51) eines Detektionssignals (21) für jeden Scanpunkt,
einer weiteren Verarbeitungseinheit (23) zum Errechnen (53) eines Darstellsignals (27) und einer Bildpunktposition (29) aus dem Istsignal (25) und/oder dem Sollsignal (10) und dem Detektionssignal (21),
einer Verarbeitungseinheit (31) zum Zuordnen (55) des Darstellsignals (27) zu der Bildpunktposition (29) und
14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass ein Monitor (37) zum Darstellen eines Bildes (39) der Probe (15) vorgesehen ist.
15. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Analog-Digitalwandler zum Digitalisieren des Detektionssignals (21), des Sollsignals (10) und des Istsignals (25) vorgesehen ist.
16. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass ein Datenspeicher vorgesehen ist in dem die Signale (10, 21, 25) speicherbar sind.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass der Datenspeicher einzelne adressierbare Speicherzellen, in denen die Darstellsignale (27) speicherbar sind, umfasst, wobei die Adresse einer Speicherzelle aus dem Bildpunktposition (29) errechenbar ist.
18. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass eine Taktgeber vorgesehen ist, der das Ermitteln (49) bzw. Detektieren (51) der Signale (10, 21, 25) zeitlich steuert.
19. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass während des Scannens das Darstellsignal (27) zu der Bildpunktposition (29) zuordenbar ist.
20. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Verarbeitungseinheit (23) zum Errechnen (53) eines Darstellsignals (27) und einer Bildpunktposition (29) aus dem Istsignal (25) und/oder dem Sollsignal (10) und dem Detektionssignal (21) und die weitere Verarbeitungseinheit (31) zum Zuordnen (55) des Darstellsignals (27) zu der Bildpunktposition (29) zu einer gemeinsamen Verarbeitungseinheit zusammengefasst sind.
DE10126286A 2001-05-30 2001-05-30 Verfahren und Vorrichtung zum Punktweisen scannen einer Probe Ceased DE10126286A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10126286A DE10126286A1 (de) 2001-05-30 2001-05-30 Verfahren und Vorrichtung zum Punktweisen scannen einer Probe
US10/157,561 US6914238B2 (en) 2001-05-30 2002-05-29 Method and apparatus for point-by-point scanning of a specimen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10126286A DE10126286A1 (de) 2001-05-30 2001-05-30 Verfahren und Vorrichtung zum Punktweisen scannen einer Probe

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10126286A1 true DE10126286A1 (de) 2002-12-19

Family

ID=7686616

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10126286A Ceased DE10126286A1 (de) 2001-05-30 2001-05-30 Verfahren und Vorrichtung zum Punktweisen scannen einer Probe

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6914238B2 (de)
DE (1) DE10126286A1 (de)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10261155A1 (de) * 2002-12-20 2004-07-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren zur Detektion eines Objekts mit einem konfokalen Rastermikroskop und konfokales Rastermikroskop zur Detektion eines Objekts
EP1767979A1 (de) * 2005-09-21 2007-03-28 Leica Microsystems CMS GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Detektion mit einem Scanmikroskop
DE102005047200A1 (de) * 2005-10-01 2007-04-05 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Korrektur einer Steuerung eines optischen Scanners in einer Vorrichtung zur scannenden Abbildung einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102005047217A1 (de) * 2005-10-01 2007-04-05 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners und Steuereinrichtung für einen optischen Scanner
DE102006028409A1 (de) * 2006-06-19 2007-12-20 Polytec Gmbh Rastermikroskop zur optischen Vermessung eines Objekts
US7554722B2 (en) 2005-10-06 2009-06-30 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanning microscope with scanner frequency derived from pulsed laser
WO2009103663A1 (de) * 2008-02-21 2009-08-27 Tecan Trading Ag Datenerfassungsverfahren mit einem laser scanner-gerät
US7802668B2 (en) 2005-12-19 2010-09-28 Luk Lamellen Und Kupplungsbau Beteiligungs Kg Stator side plate for a torque converter
US8013288B2 (en) 2005-10-01 2011-09-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method for correcting a control of an optical scanner and the optical scanner
DE102015219709A1 (de) * 2015-10-12 2017-04-13 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Bildkorrekturverfahren und Mikroskop
EP2472302B2 (de) 2010-12-29 2021-01-13 Leica Microsystems CMS GmbH Verfahren zur Korrektur von Bildverzeichnungen bei einem konfokalen Scan-Mikroskop

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE602004028445D1 (de) * 2003-02-24 2010-09-16 Pritest Inc Lichtdurchlässige festmatrix-prüfvorrichtung zur mikroarray-analyse
US7064824B2 (en) * 2003-04-13 2006-06-20 Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung Der Wissenschaften E.V. High spatial resoulution imaging and modification of structures
EP1498759B1 (de) * 2003-07-15 2006-12-13 Yokogawa Electric Corporation Konfokales Mikroskop
US7919325B2 (en) 2004-05-24 2011-04-05 Authentix, Inc. Method and apparatus for monitoring liquid for the presence of an additive
US7609875B2 (en) * 2005-05-27 2009-10-27 Orametrix, Inc. Scanner system and method for mapping surface of three-dimensional object
US7397561B2 (en) * 2005-11-07 2008-07-08 Wafermasters, Incorporated Spectroscopy system
DE102018216038A1 (de) 2018-09-20 2020-03-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Bildes eines Objekts mit einem Scanmikroskop
CN116106728B (zh) * 2023-04-13 2023-08-04 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) GaAs集成电路的MIM电容器的失效定位方法和装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4124707A1 (de) * 1990-07-26 1992-02-06 Fuji Photo Film Co Ltd Rastermikroskop und abtastmechnismus fuer das rastermikroskop
US5496999A (en) * 1992-03-13 1996-03-05 Linker; Frederick I. Scanning probe microscope
EP0845693A1 (de) * 1996-12-02 1998-06-03 Nikon Corporation Konfokales Mikroskop und Verfahren zum Generieren dreidimensionaler Bilder unter Verwendung dieses Mikroskops
DE19702752A1 (de) * 1997-01-27 1998-07-30 Zeiss Carl Jena Gmbh Ansteuersystem für einen Scannerantrieb
DE19714221A1 (de) * 1997-04-07 1998-10-08 Zeiss Carl Fa Konfokales Mikroskop mit einem motorischen Scanningtisch
WO1999047964A1 (en) * 1998-03-20 1999-09-23 Genetic Microsystems, Inc. Wide field of view and high speed scanning microscopy
DE19923821A1 (de) * 1999-05-19 2000-11-23 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Lageerfassung einer mit einem Laser-Scanner abzutastenden Fläche

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5742419A (en) * 1995-11-07 1998-04-21 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior Universtiy Miniature scanning confocal microscope

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4124707A1 (de) * 1990-07-26 1992-02-06 Fuji Photo Film Co Ltd Rastermikroskop und abtastmechnismus fuer das rastermikroskop
US5496999A (en) * 1992-03-13 1996-03-05 Linker; Frederick I. Scanning probe microscope
EP0845693A1 (de) * 1996-12-02 1998-06-03 Nikon Corporation Konfokales Mikroskop und Verfahren zum Generieren dreidimensionaler Bilder unter Verwendung dieses Mikroskops
DE19702752A1 (de) * 1997-01-27 1998-07-30 Zeiss Carl Jena Gmbh Ansteuersystem für einen Scannerantrieb
DE19714221A1 (de) * 1997-04-07 1998-10-08 Zeiss Carl Fa Konfokales Mikroskop mit einem motorischen Scanningtisch
WO1999047964A1 (en) * 1998-03-20 1999-09-23 Genetic Microsystems, Inc. Wide field of view and high speed scanning microscopy
DE19923821A1 (de) * 1999-05-19 2000-11-23 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Lageerfassung einer mit einem Laser-Scanner abzutastenden Fläche

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10261155B4 (de) * 2002-12-20 2010-05-06 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Detektion eines Objekts mit einem konfokalen Rastermikroskop und konfokales Rastermikroskop zur Detektion eines Objekts
DE10261155A1 (de) * 2002-12-20 2004-07-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren zur Detektion eines Objekts mit einem konfokalen Rastermikroskop und konfokales Rastermikroskop zur Detektion eines Objekts
EP1767979A1 (de) * 2005-09-21 2007-03-28 Leica Microsystems CMS GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Detektion mit einem Scanmikroskop
DE102005045163B4 (de) * 2005-09-21 2007-06-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Detektion mit einem Scanmikroskop
US7495236B2 (en) 2005-09-21 2009-02-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Apparatus and method for detection with a scanning microscope
EP2216671A1 (de) 2005-09-21 2010-08-11 Leica Microsystems CMS GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Detektion mit einem Scanmikroskop
DE102005047200A1 (de) * 2005-10-01 2007-04-05 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Korrektur einer Steuerung eines optischen Scanners in einer Vorrichtung zur scannenden Abbildung einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102005047217A1 (de) * 2005-10-01 2007-04-05 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners und Steuereinrichtung für einen optischen Scanner
DE102005047200B4 (de) * 2005-10-01 2021-05-06 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Korrektur einer Steuerung eines optischen Scanners in einer Vorrichtung zur scannenden Abbildung einer Probe und Vorrichtung zur Erzeugung eines Bildes einer Probe durch Abscannen der Probe
US8013288B2 (en) 2005-10-01 2011-09-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method for correcting a control of an optical scanner and the optical scanner
US7554722B2 (en) 2005-10-06 2009-06-30 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanning microscope with scanner frequency derived from pulsed laser
US7802668B2 (en) 2005-12-19 2010-09-28 Luk Lamellen Und Kupplungsbau Beteiligungs Kg Stator side plate for a torque converter
US7518101B2 (en) 2006-06-19 2009-04-14 Polytec Gmbh Scanning microscope for optically measuring an object
DE102006028409A1 (de) * 2006-06-19 2007-12-20 Polytec Gmbh Rastermikroskop zur optischen Vermessung eines Objekts
WO2009103663A1 (de) * 2008-02-21 2009-08-27 Tecan Trading Ag Datenerfassungsverfahren mit einem laser scanner-gerät
US8222615B2 (en) 2008-02-21 2012-07-17 Tecan Trading Ag Data acquisition method using a laser scanner
EP2472302B2 (de) 2010-12-29 2021-01-13 Leica Microsystems CMS GmbH Verfahren zur Korrektur von Bildverzeichnungen bei einem konfokalen Scan-Mikroskop
DE102015219709A1 (de) * 2015-10-12 2017-04-13 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Bildkorrekturverfahren und Mikroskop

Also Published As

Publication number Publication date
US6914238B2 (en) 2005-07-05
US20020179828A1 (en) 2002-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10126286A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Punktweisen scannen einer Probe
EP2917776B1 (de) Lichtmikroskop und mikroskopieverfahren
EP0168643B1 (de) Gerät zur Wafer-Inspektion
DE102005047200B4 (de) Verfahren zur Korrektur einer Steuerung eines optischen Scanners in einer Vorrichtung zur scannenden Abbildung einer Probe und Vorrichtung zur Erzeugung eines Bildes einer Probe durch Abscannen der Probe
US7459698B2 (en) Process for the observation of at least one sample region with a light raster microscope
EP0116321A2 (de) Infrarot-Spektrometer
EP1354234B1 (de) Optisches system und verfahren zum anregen und messen von fluoreszenz an oder in mit fluoreszensfarbstoffen behandelten proben
DE10038622A1 (de) Scan-Mikroskop,optische Anordnung und Verfahren zur Bildaufnahme in der Scan-Mikroskopie
EP0978009B1 (de) Anordnung zum kalibrieren eines laserscanmikroskops
CH678663A5 (de)
DE102019008989B3 (de) Verfahren zur Störungskorrektur und Laserscanningmikroskop mit Störungskorrektur
EP0961945A1 (de) Lichtabtastvorrichtung
EP2561392A1 (de) Vorrichtung zur abbildung einer probenoberfläche
Parker et al. A high-resolution, confocal laser-scanning microscope and flash photolysis system for physiological studies
EP1617250A1 (de) Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung
DE102005047218B4 (de) Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, optischer Scanner und Laser-Scanning-Mikroskop
WO2015032497A1 (de) Verfahren zum erstellen eines mikroskopbildes mikroskopiervorrichtung und umlenkeinrichtung
DE10050529A1 (de) Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop, Anordnung zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop und Scanmikroskop
DE102004053730A1 (de) Verfahren und Anordnung zur Unterdrückung von Falschlicht
EP1178344B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bildentzerrung in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop
DE102017203492A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung einer Probenoberfläche
DE102004034979A1 (de) Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung
EP0961930B1 (de) Lichtabtastvorrichtung
DE102010015428A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung einer Probenoberfläche
DE10144593A1 (de) Verfahren zur Ermittlung von Positionswerten und Scanmikroskop

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH, 35578 WETZLAR, DE

R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R082 Change of representative

Representative=s name: ARROBA GBR, DE

R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R003 Refusal decision now final