DD209295A1

DD209295A1 - Objekttisch fuer reflexions-mikroskopphotometer

Info

Publication number: DD209295A1
Application number: DD24214182A
Authority: DD
Inventors: Joachim Bergner; Siegfried Zschach
Original assignee: Joachim Bergner; Siegfried Zschach
Priority date: 1982-08-02
Filing date: 1982-08-02
Publication date: 1984-04-25
Also published as: JPS5930042A; DE3320819A1

Abstract

Gegenstand der Erfindung ist ein Objekttisch fuer Reflexions-Mikroskopphotometer zur wechselweisen Photometrie einer zu verwendenden Probe und einer Vergleichsprobe. Ziel der Erfindung ist es, einen Photometer-Objekttisch so zu gestalten, dass die Oberflaeche zweier Proben wahlweise ohne Zeitverluste, Nachjustieren oder Nachfokussieren in den Strahlengang des Mikroskopphotometers gebracht werden koennen. Das Wesen der Erfindung besteht darin, dass beide Proben mit Federkraft gegen eine gleiche, zu einer Kreuzfuehrung parallel liegende Anlageflaeche gedrueckt werden und die Justierschrauben gleichzeitig auf beide Proben wirken.

Description

Objekttisch fur Heflexions-Mikroskopphotometer

der Zriiiiduag

Die 3rfindung betrifft einen Objekttisch für Se flexions-Llikroskopphotometer zur wechselweisen Photometrie einer zu vermessenden Probe und einer Vergleichsprobe, bei-SOielsweise eines Reflexionsstandards.

en. u

nniseilen. Lösun^er.

Bei Messungen des Reflexionsvermögen von Probenoberflächen mit dem Mikroskopphotometer hat die Orientierung der Iflächennormalen der Proben zur optischen Achse des Mikrcskopes einen erheblichen Sinfluß auf das Meßergebnis* Sine

t J ustiermöglichte it von -^ 5 gilt als Mindestforderung♦ Zur Aufnahme entsprechender mikroskopischer Objekte sind seit langem Anschlifftische (DR-? 630 478}bekannt, die ein schnelles und einfaches Ausrichten polierter Proben senkrecht zur Mikroskopachse gestatten. Diese Spezialtische sind auf den Mikroskoptisch der G-rundausrüstung aufsetzbar» Die Probe wird von unten mit der zu untersuchenden !fläche gegen eine senkrecht zur optischen Achse der Mikroskope verlaufende Hache gepreßt. Sachteilig ist hierbei die fehlende Justierung, weil stets der Justierfehler von Anschlifftisch und Llikroskoptisch auf die zu untersuchende !flache übertragen wird* Dieser Fehler v;ird behoben, indes der Anschlifftisch auf drei SchraubfliSen justierbar gelagert wird. Die Justierung der reflektierenden Fläche ist hierbei unter mikroskopischer Beobachtung möglich»

Zusätzlich, ist eine horizontale Verschiebung .der Probe in x- und y-Richtung möglich. Sin erheblicher 3achteil dieser Lösung besteht darin, daß .auf diesem !Zisch Probe und Seflexionsstandard an der gleichen Stelle gelagert sind. Der verfahrungsbedingte mehr oder weniger oft notwendige Austausch beider bringt hohe Zeitverluste mit sich, lach einer weiteren bekannten Lösung wird dieser ilachteil dadurch behoben, daß Probe und Heflexi.onsstandard sich auf einem './echselschlitten befinden und durch Verschieben gegen Anschlag wechselweise in den Meßbereich des Mikroskopes gebracht werden können.

Die Probe und der Seflexionsstandard sind mittels Plastilin auf Objektträgern.befestigt und diese werden auf den 'wechselschlitten aufgesetzt. Die Ausrichtung der Oberfläche der Probe zur Auflagefläche des Objektträgers erfolgt mit einer Schliffpresse. Allgemein wird dabei jedoch nur eine Parallelität beider Plächen von. 30' erreicht, so daß für jede neu zu vermessende Probe dia Vorrichtung nachjustiert «erden muß«. Zusätzlich treten Unterschiede der Abstände der Probenoberflächen zu den Auflage flächen auf, die beim Probenwechsel ein 3achfokussierennotwendig machen.

Ziel der — r f i n. dun&

Siel der Erfindung ist es, einen Objekttisch für Heflesions-Mikroskopphotometer zur wechselweisen Photometrie einer zu vermessenden Probe und eines Seflezionsstandards zu schaffen, bei dem die genannten Nachteile vermieden werden. 2Iach einer einmaligen Justierung sollen die Oberflächen zweier wahlweise in den Strahlengang des lükroskopphotometers. zu bringenden Proben.mit einem V/inkelfehler von ^5 senkrecht zur optischen Achse ausgerichtet sein.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Objekttisch für Eeflesions-idikroskopphotometer zur wechselteisen Photometrie einer zu vermessenden Probe und einer Yerglsichsprobe mit Justierschrauben zur Justierung der Probenoberfläche relativ zur optischen Achse des ilikroskopphotometers zu -schaffen,

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bei der die Oberflächen, von der su ve^andten Probe und der Vergleichsprobe in einer gemeinsamen in ihrer Winkellage sur optischen Achse justierbaren Ebene verschiebbar angeordnet sind.

Srfindungsgeniäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß beide Proben mit !Federkraft gegen eine gleiche, zu einer Kreuzführung parallel liegenden Anlagefläche gedrückt werden und die Justierschrauben gleichseitig auf beide Proben wirken. Vorteilhaft sind stellbare Anschlage so angeordnet, daS von einem beliebigen Punkt der Meßprobe stets der gleiche Punkt der Vergleichsprobe und beim Rücklauf der zuletzt eingestellte Meßpunkt angefahren werden können.

Ausführungsbeispiel

Die- Srfindung wird nachstehend anhand der schematischen 'Zeichnung näher erläutert« Es zeigen:

I^r'ig» 1: 3inen erfindungsgemäßen Objekttisch im. Schnitt dargestellt,

Jig. 2: den Objekt ti sch nach Jig» 1 in Draufsicht. In Pig» 1 aardea ein Standardpräparat. 1 als Vergleichsprobe und eine zu prüfende Probe 2 mittels zweier gleich- . artiger Andruckvorrichtungen 7 gegen eine Anlageplatte 3 gedruckt. Die Proben 1, 2 und die Andruckvorrichtung 7 befinden sich in einem G-ehause 6* Das Gehäuse 6 ist auf einer Sreuzführung 9, von der nur eine Führungsrichtung dargestellt ist, befestigt. Die. Anlageplatte 3 besteht aus Q-Ias oder anderem geeigneten Material. Sie' wird mittels zweier Haltebügel 4- an zwei zu der Kreuzführung 9 parallele Anlageflächen 5 gedrückt. Die Kreuzführung 9 erlaubt die Verstellung des G-ehäuses 6 innerhalb eines Bewegungsbereiches, der von Anschlägen S begrenzt wird. Die lireuzführung 9 ist mit einer 2ischbasis 11 verbunden, die mittels einer Hingsch^albe 12 an einem, bis auf ein Objektiv 13 nicht dargestellten Mikroskop mit einer optischen Achse 14- befestigt ist*

?ig· 2 zeigt den erfindungsgesäßen Objekttisch in Draufsicht. Drei zwischen der xischbasis iT^cTer Ere uz'führung 9 wirkende

- 4 - 4L *4 L·. i M·

Justierschrauben 15 dienen der Justierung der unteren Fläche der Anlageplatte 3 und somit der Objekt oberfläche senkrecht zur optischen Achse 14 des Mikroskopes*.

Zur photometrisehen Auswertung einer Probe wird diese und die Vergleiehsprobe seitlich in das Gehäuse 6 eingeführt und beide werden mit den zu vermessenden Oberflächen mittels der Andr uc lev or richtung 7. an die Anlageplatte 3 gedrücict. Ba die Anlageplatte 3 vorher mittels der Justierschrauben 15 senkrecht zur optischen Achse- des Mikroskopes ausgerichtet wurde, kann sofort die Messung beginnen. Sin Wechsel zwischen der Probe und dem Standardpräparat 1 kann beliebig oft ohne Zeitverlust vorgenommen werden, ohne daß ein winkelfehler auftritt oder ein Sachfokussieren notwendig ist«

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Claims

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Δτί. in dung 3 an Spruch.

1. Objekttisch fur Reflexians-Mikroskopphotometer zur wechselteisen Pnotometrie einer zn veraessenden Probe und einer Vergleichsprobe mit Justierschrauben zur Justierung der Probenoberflachen relativ zur optischen Achse des Hikroskopphotometers, dadurch gekannzelehnet,.daß beide Proben mittels Federkraft gegen eine gleiche, zu einer Kreuzführung parallel liegenden Anlagefläche gedruckt werden und die ,Justierschrauben gleichzeitig auf beide Proben wirken.
2. Objekttisch nach Punkt 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Proben zwischen stellbaren Anschlägen so verschoben werden.können, daß von einem beliebigen Punkt der Meßprobe stets der gleiche Punkt der Vergleichsprobe und beim Sücklauf der zuletzt eingestellte Meßpunkt angefahren werden.

Hierzu eine Seite Zeichnungen

30» 7' 82

Ltn/Schla

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