CZ2011295A3 - Zarízení pro kontrolu vad tvarované fólie - Google Patents

Zarízení pro kontrolu vad tvarované fólie Download PDF

Info

Publication number
CZ2011295A3
CZ2011295A3 CZ20110295A CZ2011295A CZ2011295A3 CZ 2011295 A3 CZ2011295 A3 CZ 2011295A3 CZ 20110295 A CZ20110295 A CZ 20110295A CZ 2011295 A CZ2011295 A CZ 2011295A CZ 2011295 A3 CZ2011295 A3 CZ 2011295A3
Authority
CZ
Czechia
Prior art keywords
defect
image data
image
light source
linear
Prior art date
Application number
CZ20110295A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirose@Osamu
Original Assignee
Sumitomo Chemical Company, Limited
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Chemical Company, Limited filed Critical Sumitomo Chemical Company, Limited
Publication of CZ2011295A3 publication Critical patent/CZ2011295A3/cs

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/8921Streaks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • G01N21/8903Optical details; Scanning details using a multiple detector array
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9511Optical elements other than lenses, e.g. mirrors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Zarízení pro vyšetrování vad obsahuje: obrazové zachycovací cásti (5.sub.1.n. až 5.sub.n.n.) pro zachycování množiny dvourozmerných obrazu tvarované fólie pro vytvárení množiny kusu dvourozmerných obrazových dat; prímkový svetelný zdroj pro osvetlování tvarované fólie tak, že obraz prímkového svetelného zdroje je promítán na cást zachycovací oblasti obrazu na tvarované fólii; nesoucí zarízení pro nesení tvarované fólie ve smeru protínajícím se s podélným smerem prímkového svetelného zdroje a kolmým ke smeru tlouštky tvarované fólie, tak že obraz prímkového svetelného zdroje je promítán na ruzné polohy na tvarované fólii; sekce pro analýzu vad lineárního obrazu (61.sub.1.n. až 61.sub.n.n.) pro zjištování vad algoritmem pro zjištování lineárních vad z množiny kusu dvourozmerných obrazových dat tak vytvorených obrazovými zachycovacími sekcemi (5.sub.1.n. až 5.sub.n.n.); a sekce pro analýzu obrazových bodových vad (62.sub.1.n. až 62.sub.n.n.) pro zjištování vad zjištovacím algoritmem bodových vad z množiny kusu dvourozmerných obrazových dat tak vytvárených obrazovými zachycovacími cástmi (5.sub.1.n. až 5.sub.n.n.). Se zarízením je možné poskytnout zarízení pro vyšetrení vad pro tvarovanou fólii, které muže s jistotou zjištovat ruzné vady jisteji.

Description

Oblast techniky
Přítomný vynález se týká vyšetřovacího zařízení vad pro kontrolu vad tvarované filmu nebo polarizačního optického filmu navinutého fólie jako je optický film, např. zpožďovacího filmu (zejména dlouhého do role pro skladování a přepravu).
Dosavadní stav techniky
Běžné vyšetřovací zařízení vad pro kontrolu tvarované fólie provádí revizi vad na tvarované fólii s použitím jednorozměrné kamery nazývané přímkový snímač takovým způsobem, že zatímco tvarovaná fólie je osvětlována přímkovým světelným zdrojem jako je zářivková trubice, povrch tvarované fólie je skenován jednorozměrnou kamerou podél délkového směru tvarované fólie od jednoho jejího konce k jejímu druhému konci v podélném směru, pro získání jediného statického obrazového údaje a kontrola vad je vykonávána na základě získaného jediného statického obrazového údaje. Statický obrazový údaj obsahuje obecně zobrazení přímkového světelného zdroje. V případě kde tvarovaná folie je umístěna mezi (a) přímkovým světelným zdrojem a kamerou a (b) zrcadlícím povrchem, zobrazení přímkového světelného zdroje je zobrazení světla, které je vydáváno z přímkového světelného zdroje a pak dosahuje kamery vlivem zrcadlového odrazu na tvarované fólii. Mezitím, v případě kde tvarovaná fólie je umístěna mezi přímkový světelný zdroj a kameru, zobrazení přímkového světelného zdroje je zobrazení světla, které je vydáváno z přímkového světelného zdroje a pak dosahuje kamery skrz tvarovanou fólii. V případě kde tvarovaná fólie je co do šířky rozsáhlá, toto inspekční zařízení vad používá * ·
množinu přímkových snímačů vyrovnaných v šířkovém směru tak, aby celý šířkový rozsah tvarované fólie mohl být zkontrolován.
Avšak běžné vyšetřovací zařízení vad vykonává vyšetření vad na tvarované folii na jednom kuse nehybných obrazových údajů (nadále právě udávaných jako „obrazová data) celé oblasti tvarované fólie. Z tohoto hlediska pixel, který má být vyšetřován v obrazových datech a lineární obraz světelného zdroje jsou v jediném specifickém polohovém vztahu. V některých případech může se vada jevit v obrazových datech pouze když pixel (cílový pixel), který má být vyšetřen a zobrazení přímkového světelného zdroje jsou v určitém polohovém vztahu. Například, ve většině případů, bublina, která je jedna z různých typů vad, se objevuje na obrazových datech pouze jestliže bublina existuje na okraji nebo v blízkosti zobrazení přímkového světelného zdroje. Jako taková, vada někdy nemůže být objevena v závislosti na její poloze. Tak běžné vyšetřovací zařízení vad má omezenou schopnost objevení vad.
Přihlašovatel předmětné přihlášky podal další přihlášku vynálezu týkající se zařízení pro vyšetřování vad pro tvarovanou fólii, které má zlepšenou schopnost identifikace vad v porovnání s běžným zařízením pro vyšetřování vad (viz Patentovou literaturu 1) . Zařízení pro vyšetřování vad z Patentové literatury 1 provádí vyšetřování vad na tvarované fólii takovým způsobem, že (i) zatímco tvarovaná fólie je osvětlena přímkovým světelným zdrojem takovým jako fluorescenční trubice a následně je nesena v daném směru, její pohyblivá obrazová data (množina částí obrazových dat zachycených v různých polohách na tvarované fólii) jsou získána použitím dvourozměrné kamery nazývané plošný snímač; a (ii) tvarovaná fólie je vyšetřována na zjištění založená na pohyblivých obrazových datech. Vyšetřovací zařízení vad podle Patentové literatury 1 může určit zda tvarovaná fólie má vadu, nebo ne, na základě množiny obrazových dat majících odlišné polohové vztahy mezi cílovým pixelem, který má být
-3vyšetřen a obrazem přímkového světelného možné zjistit vadu zdroje. Podle toho je mnohem j istěji než běžným zařízením pro zjišťování vad. Jako
Patentové literatury takové zařízení pro má zlepšenou v porovnání s běžným zařízením pro zjišťování vad podle zjišťování vad Použitím schopnost zj išťování dat j e pohyblivých obrazových pohybuje vzhledem k osvětlovacímu možné sledovat zobrazení.
j ak se vada
Seznam odkazů
Patentová literatura 1
Japonská zveřejněná patentová přihláška, Tokukai, č. 2007218629 A (Datum zveřejnění: 30. srpna 2007)
Podstata vynálezu
Technický problém
Podle zkoušek provedených vynálezcem přítomného vynálezu bylo zjištěno, že zařízení pro zjišťovaní vad popsané v Patentové literatuře 1 stále připouští zlepšení schopnosti zjišťování vad.
Přesněji, zařízení pro zjišťování vad popsané v Patentové literatuře 1 zjišťuje vady z každého z množiny exemplářů (vícehodnotových) obrazových dat zachycených plošným snímačem v souladu s následujícím obrazovým zpracováním (viz odstavce [0032] až [0035] v Patentové literatuře 1).
Nejprve jsou vícehodnotová obrazová data binarizována a bílé části a černé části jsou označeny jako cíle zjišťování. Následně od bílých částí jako zjišťovacích cílů, bílá oblast mající plochu (počet pixelů) větší než určená hodnota (poměrně velká hodnota vhodná jako plocha obrazu přímkového světelného zdroje; například 2500 pixelů) je vyloučena jako obraz přímkového světelného zdroje. Podobně, z černých oblastí jako cíle • M·· *
I M* ·» ♦ * ·· ·· zjišťování, černá oblast mající plochu větší než určená hodnota (poměrně velká hodnota vhodná jako plocha vyloučena jako oblast pozadí (obraz oblasti v tvarované fólii). Dále z bílých oblastí zbývajících jako cíle zjišťování, bílé oblasti a černé mající plochu menší než určená hodnota (poměrně malá nemající žádnou vadu a černých oblastí oblasti hodnota blízká 1 pixelu; například 9 pixelů) jsou vyloučeny jako šum. Tak oblast zbývající aniž by byla vyloučena z bílých oblastí a černých oblastí jako zjišťovacích cílů je určena jako vada.
Avšak vyšetřovací zařízení literatuře někdy nemůže zjistit dat, protože zařízení pro s převrácenou černou a bílou.
obrazových popsané v Patentové mající nízký kontrast zjišťování vad zjistil vadu vad vadu vynálezu je mikroskopické výšku málo s takovými a/nebo
V následujícím jsou popsány různé vady, které mají být zjištěny v přítomném vynálezu. Cílem přítomného hlavně zjišťování vad (vzhledové vady), které mají nepravidelnosti (zejména nepravidelnosti mající mikronů) na povrchu tvarované fólie. Příklady vad nepravidelnostmi mohou být mikroskopická zahloubení výstupky způsobené na povrchu tvarované fólie vlivem bublin nebo cizích materiálů; vtisky (mělká místa provedená tlakem ohnuté značky (nazývané „vrub); poškrábání vytlačené nosným válcem v průběhu výroby je tvarovaná fólie nesena nosným válcem a podobně.
v bodech);
rýhování) na povrch fólie když
Tyto vady s mikroskopickými nepravidelnostmi jsou velmi obtížně zjistitelné s použitím běžného zařízení pro kontrolu používajícího linkový snímač. Předmětem přítomného vynálezu hlavně zjišťování takových různých vad.
vad je
V popisu přítomné přihlášky, je pro které mikroskopická zahloubení a výstupky příhodnost, jsou místně vada, ve způsobeny hustě (průměr výstupku je přibližně 1 mm kde rozlišovací schopnost zařízení pro v případě zachycení obrazu je nebo méně ;
• · « ·
200 μτη/pixel, průměr výstupku neodpovídá více než přibližně pár pixelů), např. bublina, zoubek a podobně, je nazývána „tečkovitý defekt. Zatímco vada, ve které mikroskopická zahloubení a výstupky jsou spojeny přímočaře a stávají se delší než 1 mm se nazývá „lineární vada. Lineární vada zobrazená rýhováním nebo podobně má délku větší než přibližně 10 mm (v případě kde rozlišovací schopnost zařízení pro zachycení obrazu je 200 pm/pixel, délka odpovídá více než přibližně několik tuctů pixelů). Taková typická lineární vada má délku přibližně tucty centimetrů, nebo více než tucty centimetrů v některých případech. Vrub má délku, která není větší než přibližně 10 mm (v případě kde rozlišovací schopnost zařízení na zachycení obrazu je 200 pm/pixel, délka odpovídá ne více než přibližně několik tuctů pixelů). Běžně má vrub délku přibližně několika milimetrů a má střední vlastnost mezi tečkovou vadou a typickou lineární vadou.
Příklad obrazu vady (pohyblivého obrazu) zachyceného obrazovou zobrazovací částí vyšetřovacího zařízení vad popsaného v Patentové literatuře 1 je jak je znázorněno na obr. 14 až obr. 15 v Patentové literatuře 1. Obr. 14 až obr. 15 v Patentové literatuře 1 každý znázorňuje od (a) do (e) pět spojitých rámců tvořících pohyblivý obraz v pořadí času. V případě kde pohyblivý snímek je hlavní pohyblivý snímek pro televizi, časový interval (obnovovací kmitočet) mezi snímky je 1/30 sekund.
Časový interval mezi obrázky závisí na zachycování obrazu. V zařízení pro vlastnostech části pro vyšetřování vad popsaném v Patentové literatuře 1, část pro zachycování obrazu je umístěna takovým způsobem, že (i) ostrý úhel je tvořen (a) směrem z části pro zachycování obrazu směrem ke středu oblasti zachycování obrazu (obdélník znázorněný přerušovanými čárami na tvarovaném povrchu fólie na obr. 4 Patentové literatury 1) na tvarované fólii a (b) směrem nosného směru tvarované fólie,- (ii) osvětlovací obraz (odrazový obraz přímkového světelného zdroje) je obsažen v části oblasti zachycení obrazu; a (iii) je oblast • · · * « · 4 · « · · · · · · ·· · • < · · · V · ·· • · · · · · · · * • · · · · ·· *a*« ··· ·· · ··«··· (oblast pozadí) neobsahující žádný osvětlovací obraz na obou stranách od osvětlovacího obrazu v oblasti zachycení obrazu. Tak směr nahoru v pohyblivém obrazu znázorněném na obr. 14 až obr. 15 v Patentové literatuře 1 odpovídá nosnému směru tvarované fólie. V oblasti zachycení obrazu na tvarované fólii se vada pohybuje v nosném směru tvarované fólie. To znamená, že vada se pohybuje od spodu vzhůru v pohybujícím se zobrazení znázorněném na obr. 14 až obr. 15 Patentové literatury 1 (světelný obraz je znázorněn jako bílá pásovitá oblast).
Obr. 14 Patentové literatury 1 znázorňuje příklad pohyblivého obrazu oblasti zachycování obrazu (velikost podél směru kolmého k nosnému směru: 5 mm) včetně bubliny (tečkové vady) , kteréžto pohyblivé zobrazení je zachyceno zachycovací částí obrazu. Na obr. 14 se bublina objevuje jako část znázorněná s převrácenou černou a bílou. V tomto pohyblivém zobrazení, není pozorována v prvním snímku (a) . V druhém snímku (b), ve kterém tečková vada přijde blíže k osvětlení obrazu, bublina se mírně objeví. V třetím snímku (c) , ve kterém je bublina umístěna na okraji osvětleného obrazu, je bublina pozorována poměrně dobře. Ve čtvrtém a pátém snímku (d) a (e), ve kterých je bublina uvnitř osvětleného obrazu, bublina nemůže být pozorována protože bublina se ponoří do osvětlovacího světla.
Obr. 15 v Patentové literatuře 1 znázorňuje příklad pohyblivé oblasti zachyceného obrazu (velikost podél směru kolmého k nosnému směru: 5 mm) obsahující vrub, kterýžto pohybující se obraz je zachycen obrazovou zachycovací částí. Na obr. 15 vrub zachycený obrazovou zachycovací částí nezpůsobí žádné převrácení černé a bílé. Jak vrub prochází osvětlovacím obrazem, osvětlovací obraz, který by měl být ukázán za normální situace jako bílá obdélníková oblast, je v čase zkreslen.
• · * ·
Obr. 15 Patentové literatury 1 znázorňuje příklad pohyblivého obrazu oblasti zachyceného obrazu (velikost podél směru kolmého k nosnému směru: 200 mm) obsahující rýhování (lineární vada), kterýžto pohyblivý obraz je zachycen obrazovou zachycovací částí. V prvním až třetím obrazu (a) až (c) osvětlovací obraz je mírně zkreslen ve vypouklé linii. Avšak takové zkreslení ve vypouklé linii není způsobené vadou ale protože tvarovaná fólie je tažena. Na druhé straně na čtvrtém snímku, osvětlovací obrazec je zkreslen poměrně rozsáhle ve tvaru S. Zkreslení osvětlovacího obrazu do tohoto rozsahu nebo více je způsobeno protože vroubkování je umístěno na pokřivené části. Z tohoto hlediska je žádoucí aby část osvětleného obrazu, který je zkreslen v tomto rozsahu nebo více byla zjištěna jako vada.
Bylo však zjištěno, že zařízení pro kontrolu vad z Patentové literatury 1 někdy nemůže zjistit vadu o nízkém kontrastu obrazových údajů v závislosti na prahové úrovni pro použití v binárním procesu pro oddělení jasné oblasti (obraz přímkového světelného zdroje a vadná oblast v obrazu přímkového světelného zdroje) a tmavé oblasti (oblast pozadí a vadná oblast v oblasti pozadí).
To znamená, že v zařízení pro vyšetření podle Patentové literatury 1, v případě kde vada má poměrně vysoký kontrast (změna jasu vlivem vady) v obrazových datech, změna jasu vlivem vady je pozorována tak, že to překračuje mez binárního procesu, jak je znázorněno ve svislém (nosném směru tvarované fólie) profilu jasu na obr. 3. Specifičtěji, prahová úroveň binárního procesu je vyšší než hodnota jasu minimálního bodu (sedla na obr. 3) odpovídajícího vadě pozorované jako tmavá oblast na obrazu podélného světelného zdroje a menší než hodnoty jasu maximálních bodů existujících po obou stranách minimálního bodu. Dále práh binárního procesu je větší než hodnota jasu maximálního bodu (vrchol na obr. 3) odpovídající vadě pozorované jako jasná oblast vně obrazu přímého světelného zdroje a větší než hodnoty jasu minimálních bodů po obou stranách maximálního bodu. Proto vada pozorovaná jako tmavá oblast v obrazu přímého světelného zdroje a vada pozorovaná jako jasná oblast vně přímého světelného zdroje jsou obě zjistitelné. Z hlediska toho, vyšetřovací zařízení pro literatury 1 může jistě vyšetřování odhalit vady vad podle Patentové mající poměrně vysoký kontrast.
Na druhé straně.
zařízení pro vyšetřování vad podle
Patentové literatury 1, obrazových binárního dat, svislý procesu spadá Přesněji svislý jasový případě, jasový profil pod poměr jak profil pátrací kde vada má nízký kontrast detektivní části a práh je znázorněn na obr, 4. části a práh binárního procesu spadá pod takový vztah, že jasová změna vlivem vady nepřekračuje přes práh binárního procesu. Právě jako vodítko, vztah znázorněný na obr. 4 může být ukázán když následující rovnice je splněna:
(velikost změny jasu vlivem vady) < zobrazení přímkového světelného zdroje) pozadí)}/2 {(úroveň jasu oblasti (úroveň jasu oblasti
... (1)
Když je ukázán vztah znázorněný na obr.
4, vada může být přehlédnuta.
Všimněte si, že dokonce i v případě kde kontrast vady na obrazových datech je nízký a rovnice (1) je splněna, jestliže je to zpozorováno, že změna jasu vlivem vady překročí přes práh binárního procesu jak je zobrazeno ve svislém jasovém profilu obr. 5, vada může být objevena. Jako taková, dokonce v případě kde rovnice (1) je splněna, zařízení pro vyšetření vady podle Patentové literatury 1 může objevit vadu v závislosti na vztahu mezi změnou jasu vlivem vady a prahovou úrovní binárního procesu.
·« ·*«*
Dále, používá zařízení pro vyšetření vady podle Patentové literatury pohyblivé zobrazení, ve kterém takový pohyb může být pozorován, že zobrazení vady přijde blíže k přímkovému světelnému zdroji snímek po snímku, pak prochází zobrazení přímkového světelného zdroje, a konečně odchází od zobrazení přímkového světelného zdroje.
Proto dokonce i v případě kde kontrast vady na obrazových údajích je nízký a rovnice splněna, jestliže pouze jeden obraz mezi množinou obrazů tvořících pohyblivý obraz ukáže vztah jak je znázorněn na mezi změnou jasu vlivem vady a prahovou úrovní binárního procesu, pak je vada zjistitelná.
Jak popsáno výše, v zařízení
Patentové literatury 1, jak velikost pro kontrolu vad podle změny jasu vlivem vady se zmenší z pohledu rovnice (1), je pravděpodobnéj ší že vada bude přehlédnuta. Z tohoto hlediska stále zůstává prostor pro zlepšení zařízení pro kontrolu vad v Patentové literatuře 1 v ohledu jak jistě je vada s nízkým kontrastem zjištěna.
Přítomný vynález je uskutečněn z hlediska výše uvedeného problému. Předmětem přítomného vynálezu je poskytnout zařízení pro kontrolu vad pro tvarovanou fólii, které může jistěji odhalit různé vady.
Řešení problému
Pro dosažení výše uvedeného cíle, zřízení pro kontrolu vad podle přítomného vynálezu je kontrolní zařízení vad pro zjištění vady na tvarované fólii a obsahuje:
prostředek pro zachycení obrazu pro zachycení množiny dvourozměrných obrazů tvarované aby vytvářel množinu součástí dvourozměrných údajů; přímkový světelný zdroj pro osvětlování tvarované fólie tak, aby obraz přímkového světelného zdroje byl fólie tak obrazových promítán na část oblasti zachycování obrazu na tvarované fólii;
přenosové prostředky pro přenášení alespoň jedné z tvarované fólie a přímkového světelného zdroje ve směru protínajícím se s podélným směrem přímkového světelného zdroje a kolmým ke směru tloušťky tvarované fólie, takže obraz přímkového světelného zdroje je promítán na různé polohy tvarované fólie; a přímkové vady zjišťující prostředky pro zjišťování přímkových vad z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat vytvářených zachycovacími prostředky obrazů, přímkové vady zjišťující prostředky zjišťující přímkové vady v souladu s každým z následujících algoritmů zjišťujících lineární vady: (a) zjišťující algoritmus přímkové vady pro zjišťování přímkové vady takovým způsobem, že úprava podle funkční křivky je provedena na okraji obrazu přímkového světelného zdroje v každém z množiny dílů dvourozměrných obrazových dat a část ve kterých okraj obrazu přímkového zdroje je vzdálen od funkční křivky o alespoň první práh je zjištěn jak přímková vada; a (b) zjišťující algoritmus přímkové vady pro zjišťování přímkové vady takovým způsobem, že zakřivení v sousedních oblastech příslušných pixelů v okraji obrazu přímkového světelného zdroje v každém z množiny dílů dvourozměrných obrazových dat jsou nalezena, a část mající zakřivení, které není menší než druhý práh je zjištěna jako lineární vada.
U výše uvedeného uspořádání je možné jistěji zjistit lineární vadu.
Je dávána přednost když vyšetřovací zařízení vad podle přítomného vynálezu dále obsahuje zjišťovací prostředky tečkových vad pro zjišťování tečkových vad z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat generovaných obrazovými zachycovacími prostředky. S tímto uspořádáním je možné zjišťovat nejen lineární vady ale také tečkové vady.
Ve vyšetřovacím zařízení vad podle přítomného vynálezu je dávána přednost aby zjišťovací prostředky tečkových vad zjišťovaly tečkové vady v souladu s každým z následujících algoritmů zjišťování tečkových vad: (a) algoritmus zjišťování *··· »♦ * » ··
tečkových vad pro zjišťování tečkových vad takovým způsobem že; jasový profil je tvořen z jasových změn podle polohy podél přímé linie v každém z množiny kusů dvojrozměrných obrazových dat; předpokládá se hmotný bod, který se pohybuje mezi pozicemi ve skupině pozic v jasovém profilu ve stálém času pohybu, takže odhadnutá jasová hodnota cílové pozice je nalezena z (i) rychlostního vektoru hmotného bodu mezi dvěma pozicemi právě před cílovou pozicí a (ii) vektoru zrychlení hmotného bodu mezi třemi pozicemi právě před cílovou pozicí; a části, ve které rozdíl mezi odhadnutou hodnotou jasu a skutečnou hodnotou jasu není menší než třetí práh zjištěný jako tečková vada; a (b) algoritmus zjištění tečkové vady pro zjištění tečkové vady takovým způsobem, že je provedeno vyhlazení na každém z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat tak aby se získala vyhlazená dvourozměrná obrazová data; diference mezi vyhlazenými dvourozměrnými obrazovými daty a každým z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat je zjištěn jako rozdílová obrazová data; a ta část v rozdílových obrazových datech, která má jasovou hodnotu, která není menší než čtvrtý práh a ta část v rozdílových obrazových datech, která má jasovou hodnotu ne větší než pátý práh (pátý práh je menší než čtvrtý práh) jsou zjištěny jako tečkové vady. S uspořádáním, ve kterém tečková vada s nízkým kontrastem (například vada která vykazuje malé změny jasu jako na obr. 4) může být jistěji detekována než postupem popsaným v Patentové literatuře 1. Podle toho je možné jistě zjišťovat jak tečkovou vadu tak čárovou vadu.
Pro dosažení výše uvedeného cíle zařízení pro vyšetřování vad podle přítomného vynálezu je zařízení pro zjišťování vad na tvarované fólii a obsahuje: obrazové zachycovací prostředky pro zachycení množiny dvourozměrných zobrazení tvarované fólie tak aby vytvořily množinu částí dvourozměrných obrazových dat, přímkový světelný zdroj pro osvětlování tvarované fólie tak, že přímkový světelný zdroj je promítán na část zachycené obrazové oblasti na tvarované fólii; přenesení prostředků pro přenos ·♦ ··· ·
-(/Ialespoň z tvarovaných fólií a přímkového směru protínajícím se s podélným směrem zdroje a kolmo k směru tloušťky tvarované přímkového světelného zdroje byl promítán na různé tvarované fólii; a zjišťovací prostředky světelného přímkového fólie tak, zdroj e ve světelného aby obraz tečkových vad polohy na z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat vytvářených obrazovými zachycovacími tečkových vad prostředky, přičemž zjišťují tečkové vady zj išťovací v souladu prostředky s každým zjišťovacích algoritmů algoritmus zjišťování tečkových zjišťující z následujících vad (a) způsobem, že; jasový profil je vytvořen ze každé z množiny bod, který se pohybuje profilu v konstantním podél přímé linie v obrazových dat; hmotný skupině grafů v jasovém předpokládán, takže odhadnutá jasová tečkových tečkovou vadu takovým změn jasu podle poloh kusů dvourozměrných mezi grafy čase pohybu hodnota cílového grafu ve je je nalezena z (i) rychlostního vektoru hmotného bodu mezi dvěma grafy právě před cílovým grafem a (ii) vektorem zrychlení hmotného bodu mezi třemi část, ve které odchylka grafy právě před cílovým grafem; a mezi odhadnutou současnou jasovou hodnotou cílového grafu jasovou hodnotou a není menší než třetí zjišťovací algoritmus práh je odhalena jako tečková vada,- a (b) tečkové vady zjišťování tečkové vady takovým způsobem, že: vyhlazování je prováděno na každém z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat tak aby se získala vyhlazená dvourozměrná obrazová data; rozdíl mezi vyhlazenými dvourozměrnými obrazovými daty a každým z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat je nalezen jako rozdílová obrazová data; a ta část v rozdílových obrazových datech, která má hodnotu jasu, která není menší než čtvrtý práh a, že část v rozdílových obrazových datech která má hodnotu jasu která není větší než pátý práh {pátý práh je menší než čtvrtý práh) jsou zjištěny jako tečkové vady.
S výše uvedeným uspořádáním je možné zjistit tečkovou vadu mající nízký kontrast (například, vadu vykazující malou změnu ·· v · ··· ·
jasu jak je znázorněno na obr. 4) jistěji než postupem popsaným v Patentové literatuře 1.
Je výhodnější, že zařízení pro zjišťování vad dále obsahuje prostředky pro zjišťování čárových vad pro zjišťování čárové vady z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat vytvářených zachycovacími prostředky obrazu. S výše uvedeným uspořádáním je možné odhalovat nejen tečkovou vadu ale také čárovou vadu.
Výhodné účinky vynálezu
Jak popsáno výše přítomný vynález přináší takové účinky pro poskytování zařízení pro zjišťování vad pro tvarovanou fólii, které může jistěji zjišťovat různé vady.
Stručný popis obrázků
Obr. 1 je funkční blokový diagram znázorňující uspořádání hlavní části zařízení pro zjišťování vad podle jednoho provedení přítomného vynálezu.
Obr. 2 je schematický pohled znázorňující přehled zařízení pro zjišťování vad.
Obr. 3 znázorňuje problematický bod běžného způsobu.
Obr. 4 znázorňuje problematický bod běžného způsobu.
Obr. 5 znázorňuje problematický bod běžného způsobu.
Obr. 6 znázorňuje jeden příklad (způsobu okrajového profilu 1) algoritmu vyhledání vady.
Obr. 7 znázorňuje další příklad (způsobu okrajového profilu 2) algoritmu vyhledání vady.
Obr. 8 znázorňuje ještě další příklad (vrcholového způsobu) algoritmu vyhledání vady.
♦ ·
Obr, 9 znázorňuje j eště další příklad (vrcholového způsobu)
algoritmu vyhledání vady.
Obr. 10 znázorňuje algoritmu vyhledání j eště vady. další příklad (vrcholového způsobu 2)
Obr. 11 znázorňuje algoritmu vyhledání j eště vady. další příklad (vrcholového způsobu 2)
Obr. 12 znázorňuje j eště další příklad (okraj ového křivkového
způsobu 1) algoritmu vyhledání vady.
Obr. 13 (a) znázorňuje ještě další příklad (okrajového křivkového
způsobu 2) algoritmu vyhledání vady.
Obr. 13(b) znázorňuje ještě další příklad (okrajového křivkového
způsobu 2) algoritmu vyhledání vady.
Obr. 13(c) znázorňuje ještě další příklad (okrajového křivkového
způsobu 2) algoritmu vyhledání vady.
Obr. 14 je funkční blokový diagram znázorňující uspořádání hlavní části zařízení pro zjišťování vad podle dalšího provedení přítomného vynálezu.
Obr. 15 je funkční blokový diagram znázorňující uspořádání
hlavní části zařízení pro zjišťování vad provedení přítomného vynálezu. Popis provedení podle j eště dalšího
[Provedení 1]
Jedno provedení přítomného vynálezu je popsáno níže s odkazy
na výkresy.
Zařízení pro zjišťování vad podle přítomného vynálezu
zjišťuje vady na tvarované fólii. Zařízení pro zjišťování vad podle přítomného vynálezu je vhodné pro vyšetřování tvarované • 9 · · « · *· ·««· • * • · · ·
fólie mající optickou průhlednost, zejména tvarované fólie zhotovené z pryskyřice jako je termoplastová pryskyřice nebo podobně. Tvarovaná fólie zhotovená z pryskyřice může být například tvarovaná fólie, která je tvarovaná takovým způsobem že (i) termoplastová pryskyřice vytlačovaná z vytlačovacího stroje prochází mezi válci takže povrch termoplastová pryskyřice má danou hladkost a lesk a (ii) termoplastová pryskyřice je ochlazována na nosném válci a je vinuta kolem navíjecího válce. Termoplastové pryskyřice použitelné v přítomném provedení mohou být, například methakrylová pryskyřice, methyl methakrylátstyrenový kopolymer, polyolefin takový jako polyethylen a polypropylen, polykarbonát, polyvinyl chlorid, polystyren, polyvinyl alkohol triacetyl celulosová pryskyřice a podobně. Tvarovaná pryskyřice může být zhotovena z jednoho typu těchto termoplastových pryskyřic nebo může být vytvořena ve vrstvách (jako laminovaná fólie) několika typů termoplastových pryskyřic. Dále zařízení pro kontrolu vad podle přítomného provedení je vhodné pro kontrolu optických filmů jako jsou polarizační filmy a zpožďovací filmy zejména dlouhé optické filmy vinuté do rolí pro skladování a dopravu. Dále tvarovaná fólie může mít jakoukoliv tloušťku. Tvarovaná fólie může být poměrně tenká folie obecně nazývaná film nebo poměrně tlustá fólie obecně nazývaná deska.
Příklady vad tvořených na tvarovaných foliích mohou být tečkovité vady jako jsou bubliny (způsobené během vytváření tvarované fólie nebo podobně) rybí oka, cizí materiály, únavové známky, vroubky, skvrny a podobně; a vady jako zářezy, vroubkování (způsobené vlivem rozdílu tloušťky) a podobně.
V následujícím je popsáno uspořádání zařízení 1 pro vyšetření vad podle přítomného provedení s odkazem na obr. 1 a obr. 2. Obr. 1 je funkční blokový diagram zobrazující uspřádání hlavní části zařízení 1 pro vyšetření vad. Obr. 2 je schematický pohled zobrazující přehled zařízení 1 pro vyšetření vad. Na obr.
·«« · pro snadnou identifikaci součástí znázorněných na tvarované fólii překrývajícím se způsobem je povrch folie zobrazen s převrácenou černou a bílou barvou. To znamená že, černá oblast na povrchu tvarované fólie na obr. 2 je ve skutečnosti jasná oblast, zatímco bílá oblast na povrchu tvarované fólie na obr. 2 je ve skutečnosti tmavá oblast.
Zařízení 1 pro vyšetření vad je uspořádáno tak, že: nosné zařízení (přemisťovací prostředek) 3 nese obdélníkově tvarovanou fólii 2 v daném směru; n (n je celé číslo, které není menší než 2) kusů částí zachycujících obraz (obraz zachycujících prostředků) 5: až 5n , z nichž každý mnohokrát vynáší obraz zachycující tvarovanou fólii 2 osvětlenou přímkovým světelným zdrojem 4 tak aby vytvořil množinu kusů dvourozměrných obrazových dat a analyzující zařízení 6 zjišťuje vadu na tvarované fólii založenou na množině kusů dvourozměrných obrazových dat tak vytvořených.
Přesněji zařízení 1 pro vyšetření vad obsahuje nosný prostředek (přenosové prostředky) 3 pro nesení tvarované fólie; přímkový světelný zdroj 4 pro osvětlení tvarované fólie 2 tak aby obraz přímkového světelného zdroje 4 byl promítán na část oblasti zachycující obraz na tvarované fólii 2 (oblast zachycená obraz zachycujícími prostředky 5i až 5n; obdélník znázorněný přerušovanými čarami na tvarované fólii 2 na obr. 2) ; obraz zachycující části 5i až 5n každá pro zachycení množiny dvourozměrných obrazů každá obsahující (a) odražený obraz přímkového světelného zdroje 4 (obraz přímkového světelného zdroje 4 vytvořeného takovým způsobem, že přímé světlo z přímkového světelného zdroje 4 se odráží od tvarovaná fólie 2 a dosahuje obrazových zachycujících částí 5r až 5n a (b) odrazový obraz tvarované fólie 2 (obraz tvarované fólie 2 tvořený takovým způsobem, že rozptýlené světlo z přímkového světelného zdroje 4 se odráží od tvarované fólie 2 a dosahuje obrazových zachycujících částí 5: až 5n) ; a analyzující zařízení 6 pro •v ··*· « · • ··♦ r · ♦ * · · » * · • · * · · · « ···« ··♦ ·* ♦ »·· «·» analyzování vady na tvarované fólii 6 v souladu s algoritmem zpracování obrazu (vadu odhalujícím algoritmem) založeném na množině kusů dvourozměrných obrazových dat.
Nosné zařízení 3 nese tvarovanou folii 2 ve směru kolmém ke směru jeho tloušťky, zvláště, v jeho podélném směru, takže část na tvarované fólii 2, na kterou je obraz přímkového světelného obsahuj e zdroje 4 promítán je změněna. Nosné zařízení 3 například vysílající válec pro nesení tvarované fólie válec a měří otočným kódovacím zařízením nebo směru a přijímací podobně, nosnou rychlost. Nosná v daném rychlost je nastavena na přibližně 2 m/min až 12 m/min. Nosná je nastavena řízena informace rychlost nosného zařízení 3 zpracujícím zařízením nebo podobně (není znázorněno).
Přímkový světelný zdroj je j eho podélný směr je podél směru protínajícím se s nosným směrem kolmým fólie 2 (např. směrem (ii) odražený obraz přímkového světelného k nosnému směru tvarované zdroje 4 kříží oblast zachyceného obrazu na tvarované fólii, takže odrazový obraz přímkového světelného vložený mezi oblasti zdroj e 4 (oblasti na oblasti zachyceného obrazu je obraz přímkového světelného zdroje.
Přímkový světelný zdroj 4 není které omezen zejména za neovlivňuj e předpokladu, že vydává světlo, složení a vlastnosti tvarované fólie 2. Příklady přímkového světelného zdroje 4 mohou být fluorescenční světlo (zejména halogenová vysokofrekvenční fluorescenční lampa a halogenní přenosové světlo), kovová.
světlo a podobně.
Přímkový světelný zdroj 4 může být umístěn naproti obraz zachycujícím sekcím 5j až 5n s tvarovou fólií 2 vrstvenou mezi nimi. V tomto případě každý z dvourozměrných obrazů zachycených mezi obraz zachycujícími sekcemi 5i až 5n obsahuje (a) obraz přímkového světelného zdroje 4 (obraz převodový přímkového světelného zdroje 4 vytvořeného takovým způsobem, že přímé světlo z přímkového světelného zdroje dosahuje obraz zachycující sekci převodový obraz tvarované takovým světelného zdroje ·· ♦·-· ·* * » · · * • ··· < · * · * · · • · · »«·· ··· *· «··· (5χ až 5n) skrz tvarovanou ·· fólii tvarované fólie (obraz tvarované způsobem, že rozptylované světlo dosahuje obrazovou zachycovací
2), a (b) fólie 2 přímkového
Každá z obrazových zachycovacích sekcí 5χ až
5n zachycuj e množinu dvourozměrných obrazů z nichž každý obsahuje odrazový obraz přímkového světelného zdroje odrazový obraz tvarované fólie 2 tak, aby generoval výstup množiny kusů dvourozměrných obrazových dat. Obraz zachycující sekce 5χ až % jsou každá vytvořena plošným snímačem zhotoveným z obraz zachycuj íčího prvku pro zachycování dvourozměrného obrazu, j ako j e CCD s nábojovou vazbou) nebo CMOS (komplementární kovooxidový polovodič). Velikost vady, která má být zjištěna zařízením 1 pro vyšetření vad závisí na rozlišovací schopnosti obrazových zachycovacích sekcí 5χ až 5n. Z tohoto hlediska rozlišovací schopnost obrazových zachycovacích sekcí
5i až 5n může být vybrána v souladu s velikostí vady, která by měla být zjištěna. Trojrozměrný tvar (poměr šířky k výšce) vady, která má být zjištěna zařízením pro vyšetření vad v základě nezávisí na rozlišovací schopnosti obrazových zachycovacích sekcí 5χ až
5n.
Proto není nutné vybírat rozlišovací schopnost kamery podle typu vady, která má být zjištěna.
Obrazové zachycovací sekce 5χ až
5n jsou uspořádány tak aby ostrý úhel byl vytvořen (a) směrem z obrazových zachycovacích sekcí 5i až 5n do středu oblasti zachycovací oblasti obrazu na tvarované fólii a (b) nosným směrem tvarované fólie 2.
Dále jsou obrazové zachycovací sekce 5χ až 5n uspořádány podél šířkového rozměru tvarované fólie takže celá příčná šířka tvarované fólie 2 podél šířkového směru (tj . směru kolmého k nosnému směru tvarované fólie a k směru tloušťky tvarované fólie 2) je zcela zachycena alespoň jednou z obrazových zachycovacích sekcí 5χ až 5n. Zachycením obrazu napříč šířkové • · * ·
oblasti tvarované fólie 2 obrazovými zachycovacími sekcemi 5i až
5n je možné vyšetřit celou oblast tvarované fólie 2 na vady.
Interval zachycování obrazů (obnovovací kmitočet) obrazových zachycovací ch sekcí 5X až 5n může být pevný nebo měnitelný činností uživatele obrazových zachycovacích sekcí 5X až 5n. Eventuálně interval zachycování obrazů může být měnitelný uživatelským ovládáním zařízení pro zpracování informací (není znázorněno;
k disposici) zařízení pro zpracování informací nemusí být spojeným s obrazovými zachycovacími sekcemi 5X
5n- Dále, interval zachycování obrazů obrazových zachycovacích sekcí 5i až 5n může být zlomkem sekundy, což je časový interval pravidelného snímkování digitální ocelové kamery. Avšak interval zachycování obrazů je přednostně krátký časový interval, například 1/30 sekundy, což je obnovovací kmitočet obecných pohyblivých obrazových dat, z hlediska zlepšování účinnosti kontroly.
Zde je, nosná vzdálenost, tj. jak daleko je tvarovaná fólie 2 nesena od míst, kde každá z obrazových zachycovacích sekcí 5X až 5n zachytí dvourozměrný obraz do zachycení dalšího dvourozměrného obrazu, je nastavena alespoň na 1/m (m není menší než 2) z délky zachycené obrazové oblasti podél nosného směru na tvarované fólii 2. V tomto případě, je zachyceno m kusů dvourozměrných obrazů obsahujících stejnou část tvarované fólie 2. Je výhodnější, že m je dostatečně větší než 2. Čím vícekrát stejná část tvarované fólie 2 je zachycena, tím přesněji může být vykonána kontrola vad.
Jak je zobrazeno na obr. 1, analyzující prostředek 6 obsahuje: sekce analýzy přímkových vad obrazu (zjišťovací prostředky přímkových vad) 61x až 61n a sekce analýzy bodových vad obrazu (zjišťovací prostředky bodových vad) 62x až 62n každá pro (i) přijímání množiny kusů dvourozměrných obrazových dat dodávaných z odpovídající jedné z obrazových zachycovacích částí
5i až 5n, (ii) odhalující vadu založenou na množině kusů vydávájící zj i štění výsledku část 64 pro a řídící výsledek zobrazení procesor zjištění (výsledku vyšetření);
CPU) 63 pro komplexní řízení těchto částí.
centrální
Množina vzorků dvourozměrných obrazových dat vytvořených každou z obrazových k odpovídající jedné až 61n a odpovídající zachycovacích částí 5χ až 5n je dodávána ze sekcí analýzy přímkových vad obrazu jedné sekci analýzy bodových vad obrazu
61i
62T až 62n.
analýzy přímkových vad obrazu 61i až určuje vadu v souladu s algoritmem zjišťování přímkových vad, z množiny vzorků (množiny rámců) dvourozměrných obrazových dat, která zahrnují obrazy příslušného přímkového světelného zdroje a pak vydává výsledek
Každá ze sekce
61n ze sekcí 62i až 62n v souladu s algoritmem zobrazení tvarované kontroly.
62]_ az 6 2 n v různých polohách na tvarované fólii 2 zjištění jako výsledek kontroly. Každá analýzy bodových vad obrazu určuje vadu zjišťování bodových vad z množiny vzorků (množiny rámců) dvourozměrných obrazových dat, které mají příslušné přímkového světelného zdroje v různých polohách na fólii 2 a pak vydává výsledek zjištění jako výsledek Sekce 61i až 61n analýzy přímkových vad obrazu a sekce analýzy bodových vad obrazu každá posuzuje zda tvarovaná fólie 2 má vadu nebo ne, na základě takové množiny vzorků dvourozměrných obrazových dat, která mají příslušná zobrazení světelného zdroje v různých polohách na tvarované fólii 2. To příslušně umožňuje zjistit vadu mnohem jistěji než běžné zařízení na kontrolu vad.
bodových zj išťování
Algoritmus zjišťování přímkových vad a algoritmus zjišťování vad budou popsány později. Parametry algoritmu přímkových vad algoritmu zjišťování bodových vad pevné. Alternativně mohou být parametry proměnné na informace zpracující zařízení (není mohou být uživatelským působením •
» · « · • « · ·
znázorněno; zařízení na zpracování informací nemusí být poskytnuto) připojené k sekcím 61i až 61n analýzy přímkových vad obrazu a k sekcím 62i až 62n analýzy bodových vad obrazu.
Sekce 61i až 61n analýzy přímkových vad mohou být uspořádány do (i) výstupu výsledku kontroly indikujícího, že tvarovaná fólie 2 má lineární vadu v případě kde lineární vada je zjištěna v souladu se zjišťujícím algoritmem lineární vady, z alespoň L (L < m) případů dvourozměrných obrazových dat mezi m případy dvourozměrných obrazových dat a (ii) výstupu kontrolního výsledku ukazujícího, že tam neexistuje lineární vada v ostatních případech. Alternativně sekce 61i až 61n mohou být uspořádány do (i) výstupu, jako výsledek kontroly, informace o poloze lineární vady v případě kde byla lineární vada zjištěna, v souladu se zjišťovacím algoritmem lineární vady, z alespoň L případů dvourozměrných obrazových vad mezi m případy dvourozměrných obrazových dat, a (ii) výstupu žádného kontrolního výsledku v ostatních případech. V případě kde m není menší než 3 a L není menší než 2 (m a L každé označují počet případů dvourozměrných dat) , když počet případů dvourozměrných obrazových dat, z kterých je zjišťována lineární vada v souladu algoritmem zjišťování lineárních vad je menší než L, výsledek zjišťování lineárních vad je považován za chybnou informaci a je zanedbán. Zde je chybná informace chybná zpráva, ve které část, která není ve skutečnosti vadná, je špatně ohlášena jako vada. S výše uvedeným uspořádáním je možné omezit výskyt vadných informací. V případě kde informace o poloze lineární vady je vydána jako výsledek kontroly, zjišťovací algoritmus lineární vady, který může nalézt kde je lineární vada umístěna by měl být použit.
Sekce 62! až 62n analýzy bodových vad obrazu mohou být připojeny k (i) výstupu výsledku vyšetření ukazujícímu, že tvarovaná fólie 2 má bodovou vadu, v případě kde je bodová vada zjištěna, v souladu s algoritmem zjišťování bodové vady, • · « «
-2λz alespoň L (L < m) příkladů dvourozměrných obrazových údajů mezi m případy dvourozměrných výsledku vyšetření ukazující, v ostatních případech. Alternativně mohou obrazových údajů a (ii) výstup že neexistuje žádná bodová vada být sekce 62i až 62n analýzy bodových vad obrazu připoj eny o poloze bodové vady v případě s algoritmem zjištění informace o výsledku vyšetření kde je bodová vada zjištěna bodové vady od alespoň L případů dvourozměrných obrazových údajů dvourozměrných obrazových dat, a (ii) výstup případech. V případě kde 2 (m a L každé označují v souladu mezi m žádného m není případy výsledku menší než vyšetření v a L není ostatních menší než obrazových dat), když počet případů z kterých je bodová vada zjištěna počet případů dvourozměrných dvourozměrných obrazových dat, podle detekčního algoritmu bodových vad je menší než L, výsledek zjištění bodové vady je považován za dezinformaci a je zanedbán. Zde je dezinformace chybná zpráva, ve které část, která je ve skutečnosti bez vady je chybně označena jako vada. Ve výše uspořádání je možné omezit výskyt vadných informací, kde informace o poloze bodové vady je vydána jako uvedeném
V případě výsledek vyšetření, je třeba použít detekční algoritmus bodové vady, který může najít kde je bodová vada umístěna.
CPU 63 shromažďuje výsledky kontroly přijaté ze sekcí analýzy přímkových obrazových vad a sekcí62i až 62n analýzy bodových obrazových dat tak aby vytvořila informaci o oblasti tvarované fólie 2.
Řídící
61] az 61 n výsledcích kontroly po celé
Pak řídící CPU 63 v sobě uložilo řídí paměťové informaci o aby řídí displejový úsek výsledku kontroly, zatímco aby zobrazil informaci o výsledku kontroly.
Informace může být, tvarované o výsledku kontroly po celé oblasti tvarované fólie 2 například informace udávající zda fólie vytvořena je na celé oblasti nějaká vada nebo ne, mapu vad celé oblasti tvarované fólie
2, nebo podobně.
oblasti tvarované
V případě kdy je fólie 2 zpracován, výsledek kontroly po celé zda alespoň některá ze sekcí 61Ί až 61n analýzy přímkových vad a
ze sekcí 62] až 62n analýzy bodových vad zjistila vadu, je vytvořena informace o výsledku vyšetření oznamující, že tvarovaná fólie 2 má vytvořenou vadu.
V případě kde řídící CPU 63 vytvoří mapu vad celé oblasti tvarované fólie 2 jako výsledek kontroly po celé oblasti tvarované fólie 2, každá ze sekcí 61i až 61n analýzy přímkových vad a každá ze sekcí 62i až 62n analýzy bodových vad tvoří polohovou informaci o vadách převodem souřadnic na datech dvourozměrného obrazu na souřadnice na tvarované fólii 2 a dodá tak formovanou informaci o poloze vady do řídící CPU 63 . Jak vykonaný proces převedení souřadnic v každé ze sekcí 61! až 61n analýzy přímkových vad a v každé ze sekcí 62χ až 62n analýzy bodových vad, mohou být například použity procesy popsané v Patentové literatuře 1 odstavce [0037] až [0041] a odstavce [0050] až [0053] . Informace mapy vad mohou být do označovacího přístroje (není znázorněn) a zařízení pro zpracování informací (není znázorněno) tak, že označovací přístroj umístí značku na tvarovanou fólii 2 na základnu vadné polohy mapy vad.. Označovací přístroj obsahuje, například, rameno umístěné podél šířkového směru tvarované fólie 2 a označovací hlavu mající pero nebo podobně. Označovací přístroj je uspořádán tak, že označovací hlava se vratně pohybuje na rameni podél šířkového směru tvarované fólie 2 tak aby umístila značku na tvarovanou fólii 2 v dané poloze. Informace o poloze vady takto označená může být použita v oddělovacím postupu nebo podobně, například, po tom co je tvarovaná fólie 2 nařezána na množinu fóliových výrobků majících předem stanovenou velikost. V oddělovacím postupu je množina fóliových výrobků rozdělena na normální výrobky a defektivní výrobky.
Dále v přítomném provedení popsaném výše je přímkový světelný zdroj 4 upevněn, zatímco tvarovaná fólie 2 je unášena. Avšak jak uspořádat přímkový světelný zdroj 4 není omezeno na toto, za předpokladu, že obraz přímkového světelného zdroje 4 je • · ··*
promítán na různé polohy na tvarované fólii 2 . Z tohoto hlediska, přímkovým světelným zdrojem 4 může být pohybováno zatímco tvarovaná fólie je upevněna. Alternativně jak tvarovaná fólie 2 tak přímkový světelný zdroj 4 se mohou pohybovat v různých směrech nebo různými rychlostmi. V případě, kde je tvarovaná fólie 2 upevněna a přímkovým světelným zdrojem 4 je pohybováno, částmi 5i rychlostí zachycovat příslušných zobrazení je dávána přednost aby až 5n bylo pohybováno ve jako přímkovým světelným množinu kusů obrazovými zachycovacími stejném směru a stejnou zdroj em 4 .
dvourozměrných obrazových dat přímkového světelného zdroje. V
To umožňuje včetně případě kde přímkovým světelným zdrojem 4 je pohybováno přičemž tvarovaná fólie 2 je upevněna, je možné vyhnout se zkreslení obrazu přímkového světelného zdroje tažením tvarované fólie 2 nosným prostředkem 3. Avšak zkušební délka tvarované fólie 2, na které může být prováděno vyšetřovaní vad najednou je omezena na délku odpovídající rozsahu pohybu přímkového světelného zdroje 4. Z tohoto hlediska, pro kontrolu podélně tvarované fólie 2 s dobrou účinností, je dávána přednost aby tvarovaná fólie 2 byla nesena, jak popsáno v přítomném provedení.
Dále ve výše popsaném přítomném provedení sekce 6li až 61n analýzy přímkových vad a každá ze sekcí 62i až 62n analýzy bodových vad zjišťuje vadu založenou na dvourozměrných obrazových datech získaných ze stejných obrazových zachycovacích částí 5i až 5n. Avšak sekce 61! až 61n analýzy přímkových vad a sekce 612j až 62n analýzy bodových vad mohou zjistit vadu založenou na příslušných částech dvourozměrných obrazových dat získaných z různých zachycovacích částí. S uspořádáním, obrazové zachycovací podmínky pro obrazové zachycovací části 5i až 5n (např. vzdálenost od tvarované fólie 2, úhel vytvořený nosným směrem tvarované fólie 2 a směrem zachycování obrazu, a podobnými podmínkami) mohou být nastaveny vhodně pro typ vady aby byla zjištěna. Obrazová zachycovací část, která zachycuje dvourozměrná obrazová data pro použití v sekcích 61j až 61n • · ··· · ♦ ·· · *·· · ♦ · ···· » «Μ · · · ·· • · · · · · « ·« • * · · ♦ ·« ···· ··· ·* · »·· ··* analýzy přímkových vad je přednostně uspořádána tak, aby (i) byla umístěna mimo tvarovanou fólii 2 při porovnání s obrazovou zachycovací částí, která zachycuje dvourozměrná obrazová data pro použití v sekcích 62γ až 62n analýzy bodových vad a (ii) ostrý úhel je vytvořen mezi nosným směrem tvarované fólie 2 a směrem zachycování obrazu obrazové zachycovací části pro sekce 61i až 61n analýzy přímkových vad. V tomto uspořádání, je možné zachytit obrazy bodové vady a přímkové vady za příslušných optimálních podmínek. Tak mohou být bodová vada a přímková vada obě zjištěny s další přesností.
Navíc v přítomném provedení popsaném výše, dvourozměrné obrazy zachycení obrazovými zachycovacími sekcemi 5χ až 5n jsou příslušně zpracovány sekcemi 61! až 61n analýzy přímkových vad a příslušně zpracovány sekcemi 62j až 62n analýzy bodových vad. Alternativně, jednoduchý obraz o plné šířce pokrývající celou příčnou šířkovou oblast tvarované fólie 2 může být syntetizován z n kusů dvourozměrných obrazů příslušně zachycených obrazovými zachycovacími sekcemi 5i až 5n na základě vzájemných poloh dvourozměrných obrazů zachycených obrazovými zachycovacími sekcemi 5! až 5n. V tomto případě založeném na obraze o plné šířce, jedna sekce obrazové přímkové vady a jedna sekce obrazové bodové vady mohou detekovat vadu na tvarované fólii 2. Jak způsob pro syntetizování jednoho obrazu o plné šířce z n kusů dvourozměrných obrazů, způsob popsaný v Patentové literatuře 1, paragraf [0050] může být využit.
Dále bude popsán algoritmus zjišťování přímkové vady a algoritmus zjišťování bodové vady použité pro obrazové sekce 61χ až 61n analýzy přímkových vad a pro obrazové sekce 62; až 62n analýzy bodových vad. Jako algoritmus zjišťování přímkové vady a algoritmus zjišťování bodové vady následujících 7 typů algoritmů A až G zjišťování vad může být využito. V následujícím popisu, hodnota jasu (hodnota pixelů) dvourozměrných obrazových dat je reprezentována přirozeným číslem.
·· «·*·
[Algoritmus zjišťování vad A]
V následujícím je popsán algoritmus A zjišťování vad s odkazem na obr. 6. Obr. 6 (a) znázorňuje příklad vícehodnotových dvourozměrných obrazových dat (v následujícím uváděných jako původní obrazová data) vytvářených kteroukoliv z obrazových zachycovacích sekcí 5i až 5n. Na obr. 6 (a) horní strana obrazu je strana po proudu nosného směru a spodní strana obrazu je strana proti proudu nosného směru. Na obr. 6 (a) , pásová bílá oblast probíhající v příčném směru ve středu obrazu je obraz přímkového světelného zdroje; oblast tmavých bodů v obrazu přímkového světelného zdroje a malá oblast bílých skvrn v sousedství obrazu přímkového světelného zdroje jsou vady.
V algoritmu zjišťování vad A, množina kusů původních obrazových dat vytvářených každou z obraz zachycujících sekcí 5X až 5n je jednotlivě podrobena následujícímu procesu.
Nejprve jsou původní obrazová data rozdělena do kusů pixelových sloupcových dat (data na pixelový sloupec) podél svislého směru (nosný směr tvarované fólie 2) (to je data udávající jasovou hodnotu (pixelovou hodnotu) a polohu; jasový profil; jednorozměrná obrazová data).
Pak každá pixelová sloupcová data jsou podrobena procesu určování prvního okraje nalézání okraje z prvního konce (horní konec na obr. 6 (a)} k druhému konci (spodní konec na obr. 6 (a) ) následujícím způsobem. Nejprve druhý pixel z prvního konce v cílovém pixelovém sloupci je požadován za cílový pixel, a je určeno zda a nebo ne jasová hodnota cílového pixelů je menší než hodnota sousedního pixelů na první koncové straně cílového pixelů o alespoň prahovou hodnotu TI. V případě kde je určeno, že jasová hodnota cílového pixelů je menší než hodnota sousedního pixelů o alespoň prahové TI (to je, La - Lb >T1, kde La je jasová hodnota sousedního pixelů, a Lb je jasová hodnota cílového pixelů) , je určeno že sousední pixel je první okraj .
*· ·*··
Následně, poloha prvního okraje (poloha sousedního pixelu) je zapsána a postup na cílovém pixelovém sloupci je ukončen. Jinak je postup opakovaně prováděn na následujících pixelech jeden po druhém od prvního konce směrem k druhému konci dokud cílový pixel jehož jasová hodnota je určena menší než jasová hodnota jeho sousedního pixelu o alespoň prahové TI není nalezen. Když takový cílový pixel jehož jasová hodnota je určena jako menší než hodnota jeho sousedního pixelu o alespoň prahové TI je nalezen, je pak určeno, že sousední pixel je první okraj a poloha prvního okraje (poloha sousedního pixelu) je zaznamenána. Tímto je postup na cílových pixelových sloupcových datech ukončen. Práh TI je dané přirozené číslo a může být minimální jednotkou jasové jednotky. V případě kde Práh TI je minimální jednotka hodnoty jasu, je určení vykonáno jednoduše ať hodnota jasu cílového pixelu je nebo není menší než hodnota jeho sousedního pixelu.
Následně je vykonáván proces určování druhého okraje, nalézání okraje z druhého konce směrem k prvnímu konci na datech každého pixelového sloupce následujícím způsobem. Nejprve druhý pixel z druhého konce v cílovém pixelovém sloupci je považován za cílový pixel, a je určeno zda ano nebo ne jasová hodnota cílového pixelu je větší než ta sousedního pixelu na straně druhého konce cílového pixelu o alespoň prahovou hodnotu
T2 .
V případě kde je určeno že jasová hodnota cílového pixelu je větší než ta sousedního pixelu o alespoň prahovou hodnotu T2 (to je Lb - La > T2, kde La je jasová hodnota sousedního pixelu, a Lb je jasová hodnota cílového pixelu), je určeno, že cílový pixel je druhý okraj. Pak poloha druhého okraje ( poloha cílového pixelu) je zaznamenána, a postup na datech cílového pixelového sloupce je ukončen. Jinak je postup opakovaně vykonáván na následujících pixelech jeden po druhém od druhého konce směrem k prvnímu konci dokud cílový pixel jehož jasová hodnota je určena jako větší než hodnota jeho sousedního pixelu o alespoň prahové T2 není nalezena. Když takový cílový pixel ♦···
jehož jasová hodnota je určena jako větší než jasová hodnota jeho sousedního pixelu alespoň o prahovou hodnotu T2 je nalezena, je pak určeno, že cílový pixel je druhý okraj a poloha druhého okraje (poloha cílového pixelu) je zaznamenána. Tímto je postup na cílových datech pixelového sloupce ukončen. Práh T2 je dané přirozené číslo a může být minimální jednotkou hodnoty jasu. V případě kde práh T2 je minimální jednotka hodnoty jasu, určení je provedeno jednoduše ať hodnota jasu cílového pixelu je větší nebo není než hodnota jeho sousedního pixelu.
Příklad prvních oki~ajů zjištěných prvním postupem určování okraje je představován trojúhelníky na obr. 6 (a) . Dále příklad druhých okrajů zjištěných druhým procesem určování okraje je představován kruhy na obr. 6a. Jak je znázorněno na obr. 6 (a) , oblast která nemá žádné vady neobsahuje žádné okraje kromě okraje obrazu přímkového světelného zdroje. Proto první okraje a druhé okraje odpovídají okraji druhé strany (okraji spodní strany v příkladu obr. 6 (a)) obrazu přímého světelného zdroje, to znamená první okraje a druhé okraje si navzájem odpovídají. Na druhé straně, jak je znázorněno na obr. 6 (a) , v oblasti mající vadu (oblast bílé skvrny a oblast černé skvrny), alespoň buď první okraj nebo druhý okraj odpovídá okraji vadné oblasti a odchyluje se od okraje obrazu druhého konce přímého světelného zdroje směrem k odpovídající okrajové vyhledávací výchozí straně ze které vyhledávání okraje začíná. Tak první okraj a druhý okraj jsou ve vadné oblasti od sebe navzájem odděleny.
Z tohoto pohledu vzdálenost (počet pixelu) mezi prvním okrajem a druhým okrajem je získána jak vzdálenost okrajů v každém sloupcovém pixelovém údaji. Vzdálenost okrajů získaná jako taková je vynášena v závislosti na poloze (příčné souřadnici) cílového pixelového sloupce. Profil získaný vynášením je znázorněn na obr. 5 (b) . V případě kde je pixelový sloupec, ve kterém okrajová vzdálenost není menší než práh T3 je určeno, že je vytvořena vada. Práh T3 je dané přirozené číslo a
·· ···· »* »·«*
* « ·
• *·· • · ·
• · • · · · t
• * • · ·
«· ·
může být 1 pixel. V případě kde práh T3 je 1 pixel, pixelový sloupec mající nenulovou okrajovou vzdálenost je určen jako pixelový sloupec mající vadu. Práh T3 může být určen náležitě podle přípustné velikosti vady. V případě kde násobná hodnota dvourozměrného obrazového údaje je dvourozměrný obrazový údaj 256 gradací (hodnoty jasu 0 až 225; 8 bitů), práh T3 je přednostně 3, například.
V příkladu z obr. 6 je horní konec považován za první konec (první počáteční strana okrajového prohledávání). Avšak, který konec pixelového sloupce je považován jako první konec není zvláště vymezeno a jeho spodní konec může být považován za první konec. V tomto případě v oblasti bez chyb první okraje a druhé okraje odpovídají okraji na horní straně zobrazení přímkového světelného zdroje.
Algoritmus A vyhledávání vad může objevovat různé typy tečkových vad s určitým stupněm jistoty, ačkoliv nemůže tak jistě objevovat mikroskopické tečkové vady takové jako bubliny nebo rybí oka. Zatím algoritmus A vyhledávání vad není vhodný pro vyhledávání lineárních vad. Algoritmus A vyhledávání vad je nadále označován jako „okrajový profilový způsob 1.
[Algoritmus vyhledávání vad B]
V algoritmu vyhledávaní vad B, okraj obrazu ve dvourozměrných obrazových podle funkční křivky a část, ve světelného zdroje je vzdálena světelného zdroje přímkového datech je které hrana podroben porovnání obrazu přímkového křivky ne o méně než prahovou úroveň T5 (první prahovou úroveň) je určena jako vada.
od funkční
Algoritmus vyhledávání vad B je popsán níže s odkazem na obr. 7. Obr. 7 (a) zobrazuje příklad původních obrazových dat vytvářených kteroukoliv z obrazových zachycovacích sekcí 5i až 5n. Na obr. 7 (a) , horní strana obrazu je na straně po proudu • i ** • · · · honosného směru a spodní strana obrazu je strana proti proudu nosného směru. Dále na obr. 7(a) pásovitá bílá oblast probíhající v příčném směru ve středu obrazu je obraz přímkového světelného zdroje,· část ve které spodní okraj obrazu přímkového světelného zdroje je místně zkreslený (nerovnoměrný) je vada.
Algoritmus vyhledávání vad B vykonává následující postupy na každé z množiny částí originálních obrazových dat generovaných každou z obrazových zachycovacích sekcí 5i až 5n.
Nejprve alespoň jeden okraj obrazu přímkového zdroje je nalezen z původních obrazových dat. Příklad okraje obrazu přímkového světelného zdroje tak nalezený je představován kroužky na obr. 7 (a) . Okraj spodní strany obrazu přímkového zdroje je nalezen na obr. 7, ale místo toho může být nalezen horní okraj obrazu přímkového světelného zdroje. Alternativně mohou být nalezeny jak horní okraj tak spodní okraj obrazu přímkového světelného zdroje.
Okraj obrazu přímkového světelného zdroje může být nalezen jakýmkoliv z následujících způsobů: (a) způsobem, ve kterém okraje jsou extrahovány dobře známým okrajovým extrakčním filtrem (např. Sobelovým filtrem) a okraje o vysoké intenzitě jsou brány jako okraj obrazu přímkového světelného zdroje; (b) způsobem, ve kterém dvourozměrná obrazová data jsou rozdělena na pixelová sloupcová data (data na pixelový sloupec), okraje s vysokou intenzitou jsou nalezeny z příslušných kusů pixelových sloupcových dat a okraje takto nalezené jsou považovány za okraj obrazu přímkového světelného zdroje; (c) způsobem, ve kterém oblast obrazu přímkového světelného zdroje je nalezena způsobem popsaným v Patentové literatuře 1, odstavec [0057] (jsou prováděny binarizace a označování a oblast mající plochu větší než daná hodnota je extrahována z označených oblastí jako oblast obrazu přímkového světelného zdroje); a podobné způsoby. Přítomné provedení se zabývá způsobem, jako například, ve kterém « · · • · · ♦
původní obrazová data jsou rozdělena na díly pixelových sloupcových dat (data na pixelový sloupec) a okraje s vysokou intenzitou jsou nalezena z příslušných dílů pixelových sloupcových dat, a okraje tak nalezené jsou brány jako okraj obrazu přímkového světelného zdroje. Zpočátku jsou původní obrazová data rozdělena na kusy pixelových sloupcových dat (data na pixelový sloupec) podél svislého směru (nosného směru tvarované fólie 2) . Následně každá pixelová sloupcová data jsou podrobena postupu nalezení okraje od prvního konce (horní konec na obr. 7(a)) do druhého konce (spodní konec na obr. 7(a)) . Přesněji, druhý pixel od prvního konce v cílovém pixelovém sloupci je považován za cílový pixel a je určeno zda ano nebo ne je jasová hodnota cílového pixelu menší než jasová hodnota sousedního pixelu na první koncové straně cílového pixelu alespoň o práh T4 (T4 je přirozené číslo) (to je, zda je nebo není splněno La - Lb T4, kde La je jasová hodnota sousedního pixelu a Lb je jasová hodnota cílového pixelu). Pro detekování pouze okraje o vysoké intenzitě, práh T4 je nastaven na poměrně vysokou hodnotu. V případě kde jasová hodnota cílového pixelu je určena jako menší než jasová hodnota sousedního pixelu o alespoň práh T4, je určeno, že sousední pixel je okraj obrazu přímkového světelného zdroje (poloha sousedního pixelu) je zapsán, a postup na cílový pixelový sloupec je ukončen. Jinak je postup opakovaně prováděn na následujících pixelech jeden po druhém dokud cílový pixel jehož jasová hodnota je určena jako menší než jasová hodnota jeho sousedního pixelu o alespoň práh T4 není nalezen. Když takový cílový pixel jehož jasová hodnota je určena jako menší než jasová hodnota jeho sousedního pixelu o alespoň práh T4 je nalezen je pak určeno, že sousední pixel je okraj obrazu přímkového světelného zdroje a poloha okraje obrazu přímkového světelného zdroje (poloha sousedního pixelu) je zaznamenána. Tímto je postup na cílových pixelových sloupcových datech ukončen.
·· · ·
-32.·Následně, čára získaných okrajů obrazu přímkového světelného zdroje je lícována s hladkou křivkou vyjádřenou funkcí (tj . lícování je prováděno podle funkční křivky) tím je nalézána lícovaná křivka (funkční křivka). Funkce použitá pro lícování může být funkcí stupně n (n je alespoň 2), Gaussovský profil, Lorentzův profil, Voightův profil nebo kombinace kterýchkoli z těchto profilů. Mezi nimi je dávána přednost funkci poměrně nízkého stupně n, například, je dávána přednost funkci čtvrtého stupně. Dále příslušný vyhodnocovací způsob, který má být použit, může být například metoda nejmenších čtverců.
Následně dvourozměrná obrazová data jsou rozdělena na kusy pixelových sloupcových dat (data na pixelový sloupec) podél svislého směru (nosného směru tvarované fólie 2). Pak je nalezena vzdálenost (počet pixelů) od lícovací křivky do okraje přímkového světelného zdroje jako lícovací stupeň na pixelová sloupcová data. Lícovací stupeň takto nalezený je vynášen v závislosti na poloze odpovídajícího pixelového sloupce (souřadnice v bočním směru (kolmém k nosnému směru tvarované fólie 2 a k směru tloušťky vynášením je znázorněn na obr. 7(b).
Jestliže je nalezen pixelový sloupec mající lícovací stupeň, který není menší než práh T5 je zjištěno, že existuje vada v pixelovém sloupci v poloze takové, přímkového světelného zdroje. Jako zda existuje nebo ne vada, kterou je možné určit a navíc okraje obrazu nalézt její polohu. Tímto způsobem je možné zjistit lineární vadu, která se jeví j ako místní deformace obrazu okraj e přímkového světelného zdroj e obrazu přímkového světelného zdroj e kolem jeho okraje) . Práh
T5 pro určení je použití pro
V případě kde práh T5 sloupec mající pixelový existuje dané přirozené číslo a může být 1 vada. Práh T5 pixel.
je 1 pixel, jestliže existuje jakýkoliv nenulový lícovací stupeň, je určeno, že může být náležitě určen podle přípustné velikosti vady. V případě kde vícehodnotová dvourozměrná *4··
-33obrazová data jsou dvourozměrná obrazová data 256 stupňování, práh T5 je například přednostně 4.
Pro algoritmus B zjištění vady může být vadná poloha také nalezena přídavně k určení zda existuje nebo neexistuje jakákoliv vada. V tomto případě pixelový sloupec, který má vhodný stupeň nebo ne menší než práh T5 je vybrán a může být získána poloha tohoto pixelu v tak vybraném pixelovém sloupci, která existuje mezi okrajem obrazu přímkového světelného zdroje a lícovací křivkou jako vadná poloha.
Algoritmus B zjištění vad může zjišťovat různé typy přímkových vad s vysokou jistotou. Mezitím algoritmus B zjišťování vad není vhodný pro zjišťování tečkovitých vad. Algoritmus B zjišťování vad je nadále označován jako „okrajový obrysový způsob 2.
[Algoritmus vyhledávání vad C]
V algoritmu vyhledávání vad C dvourozměrná obrazová data jsou vyhlazována a rozdíl mezi dvourozměrnými obrazovými daty tak vyhlazenými a původními dvourozměrnými obrazovými daty je zjištěn jako rozdílová obrazová data. Pak v rozdílových obrazových datech, část mající jasovou hodnotu, která není nižší než práh T6B (čtvrtý práh; T6B je dané kladné číslo), a část mající jasovou hodnotu, která není větší než práh T6D (pátý práh; T6D je dané kladné číslo menší než T6B) jsou zjištěny jako vady.
Následně je algoritmus vyhledávání vad C popsán podrobněji. Algoritmus vyhledávání vad C vyhledává vady následujícím způsobem. Nejprve jako porovnání se změnou jasnosti obrazu přímkového světelného zdroje v jeho příčném směru (kolmém k nosnému směru tvarované fólie 2 a k směru tloušťky tvarované fólie 2), změna jasnosti vlivem vady v příčném směru má vysokou prostorovou frekvenci. Použitím této skutečnosti je • · · · « · · ·
vysokofrekvenční složka v původních obrazových datech vytažena. Pak ve vysokofrekvenční složce část, jejíž hodnota jasu není menší než práh T6B nebo není větší než práh T6D je určena jako vada.
(1) Zpočátku s použitím příčného vyrovnávacího filtru (matrice) s 1 řádkou x n sloupci (n je celé číslo, které není menší než 3) původní obrazová data jsou vyhlazena v příčném směru, pro získání vyhlazených obrazových dat. Tak v ohledu k příčným změnám jasu jsou z původních obrazových dat odstraněny vysokofrekvenční oblasti a jsou ponechány pouze frekvenci (tj . jsou ponechány nízkofrekvenční změn jasu). Příčný vyrovnávací filtr, který má složky o nízké složky příčných být použit může být váhově vyrovnávající filtr takový j ako
Gaussův filtr, nivelizuj ící filtr nebo podobně. Všimněte si že n je přednostně (2) Následně vyhlazená obrazová data j sou odečtena z původních obrazových dat j asové příslušných datech zbudou obrazových v příčných jasových změnách.
(jsou odečteny výsledek odečtení, v pouze vysokofrekvenční hodnoty původních složky (3) Pak obrazová data získaná odečtením jsou podrobena vyrovnání s použitím vyhlazovacího filtru (operátoru) 3x3 pixelů. Jako výsledek vyhlazení je odstraněn šum a zůstanou pouze vysokofrekvenční složky. Vyhlazovací filtr pro použití zde je přednostně filtr, takový jako bilaterální filtr nebo mediánový filtr, který vykonává vyhlazování při zachování okraj ů.
(4) Potom z původních obrazových dat j sou nalezeny horní nosném směru) a spodní okraj (okraj po směru) obrazu přímého světelného okraj (okraj nosnému zdroje. Jak nalézt okraj e obrazu přímého světelného zdroje je stejné jako je popsáno ve vztahu k algoritmu B zjišťování vad a proto to není ····
zde vysvětlováno. Pak nosný směr tvarované fólie 2 v původních obrazových datech je považován za osu X a minimální hodnota Min, zatímco maximální hodnota Max je získána mezi souřadnicemi X všech pixelů tvořících dolní okraj. Následně je maximální hodnota Max odečtena od minimální hodnoty Min a hodnota obdržená odečtením je považována za šířku W obrazu přímého světelného zdroje. Oblast rozkládající se směrem ven v šířce W z obou stran oblasti, jejíž souřadnice X jsou mezi maximální hodnotou Max a minimální hodnotou Min, je definována jako kontrolní oblast. Přesněji, oblast jejíž souřadnice X jsou v rozsahu od „Max (Min Max) do „Min + (Min - Max) je definována jako kontrolní oblast. Tento postup je vykonán aby zúžil kontrolní cílovou oblast na obraz přímkového světelného zdroje a jeho sousední oblast. Dále důvod proč kontrolní oblast je nastavena širší než jejíž souřadnice X jsou mezi maximální hodnotou Max a minimální hodnotou Min, je protože kontrolní oblast může obsahovat mírné zkreslení obrazu přímého světelného zdroje.
(5) S použitím jasových hodnot pixelů v kontrolní oblasti v obrazových datech podrobených vyhlazení v (3) (to je vysokofrekvenčních složek kromě šumu), práh T6B pro jasnou stranu (stranu o vysokém jasu) a práh T6D pro tmavou stranu (stranu o nízkém jasu) jsou určeny podle následujících vzorců:
T6B = (průměrná jasová hodnota v kontrolní oblasti) + (standardní odchylka jasové hodnoty v kontrolní oblasti) x k
T6D = (průměrná jasová hodnota v kontrolní oblasti) (standardní odchylka jasové hodnoty v kontrolní oblasti) x k (k představuje parametr kladného čísla)
Všimněte si, že hodnota k může být určena přiměřeně podle přípustné velikosti vady a může být například 1,5, 3, 4,5 a podobně.
* · « ·
(6) Konečně je vykonán proces (prahový proces) určení zda jasová hodnota je nebo není menší než práh T6B nebo ne větší než práh T6D na všech pixelech v kontrolní oblasti v obrazových datech podrobených vyhlazení v (3) . V souladu s procesem pixel jehož jasová hodnota není menší než práh T6B nebo není větší než práh T6D je vyjmut jako vadná část. Tak je možné určit zda existuje nebo ne nějaká vada a dále nalézt polohu vady.
V případě kde původní obrazová data vytvořená obrazovou zachycovací částí (5χ až 5n) obsahují méně šumu, vyhlazovací postup v (3) může být vynechán. Dále v případě kde to není nutné zužovat kontrolní cílovou oblast obrazu přímého světelného zdroje a jeho sousední oblasti, proces v (4) definování kontrolní oblasti může být vynechán a procesy (5) a (6) mohou být vykonány na celých obrazových datech.
Algoritmus C vyhledávání vad může zjistit každý typ tečkovité vady zahrnující mikroskopické vady takové jako jsou bubliny a rybí oka s vysokou jistotou. Avšak algoritmus C vyhledávání vad je nevhodný pro zjišťování čárových vad. S ohledem na dobu zpracování ostatní algoritmy objevování vad vyžadují méně času než algoritmus C vyhledávání vad (zpracovací čas algoritmu C vyhledávání vad je přibližně 4 0 ms na rámec) . Algoritmus C vyhledávání vad je nadále uváděn jako „metoda horní propusti.
[Algoritmus D vyhledávání vad]
Algoritmus D vyhledávání vad je popsán níže s odkazy na obr. 8 a obr. 9. Obr. 8 znázorňuje příklad původních obrazových dat vytvářených kteroukoliv z obrazových zachycovacích částí 5i až 5n. Na obr. 8 horní strana obrazu je strana po směru nosného směru, a spodní strana obrazu je strana proti nosnému směru. Na obr. 8 páskovitá bílá oblast rozkládající se v bočním směru ve středu obrazu je obraz přímkového světelného zdroje; tmavě tečkovaná oblast existující v obrazu přímkového světelného «
zdroje a malá bíle tečkovaná oblast blízko obrazu přímkového světelného zdroje jsou vady. Na obr. 8 zakřivené linky nad a pod obrazem přímého světelného zdroje příslušně označují horní mez a spodní mez inspekční cílové oblasti.
V algoritmu D vyhledávání vad je vykonáváno následujícím postupem na každém z množiny kusů původních obrazových dat vytvářených každou z obrazových zachycovacích částí 5L až 5n.
Nejprve jsou původní obrazová data rozdělena do kusů pixelových sloupcových dat (data na pixelový sloupec) podél svislého směru (nosného směru tvarované vrstvy 2) a vynášecí čára, která znázorňuje změnu v jasových hodnotách v souladu s polohami v každém pixelovém sloupci je získána jako svislý jasový profil. Příklad svislého jasového profilu tak získaného je znázorněn na obr. 9. Tento příklad je svislý jasový profil vztahující se k pixelovému sloupci v poloze znázorněné šipkou na obr. 8,- y je souřadnice y kde směr dolů (směr znázorněný šipkou na obr. 8; směr opačný k nosnému směru tvarované fólie 2) je pokládán za osu y.
Následně je hloubka údolí (viz obr. 8) nalezená v každém ze svislých jasových profilů pixelových sloupců. To znamená, že v každém ze svislých jasových profilů pixelových sloupců, jsou nalezeny všechny maximální body a minimální body. Pak rozdíl mezi jasovou hodnotou (minimální hodnotou) každého z minimálních bodů takto nalezený a jasovou hodnotou (maximální hodnotou) maximálního bodu nej bližšího ke každému z minimálních bodů je nalezen jako hloubka údolí. Jestliže hloubka údolí není menší než práh T7 (T7 je kladné číslo) je určeno, že existuje vada v údolí. Práh T7 může být určen přiměřeně podle přípustné velikosti vady. V případě, kde násobná hodnota dvourozměrných obrazových dat jsou dvourozměrná obrazová data z 256 stupňů, práh T7 je přednostně 0,25 x 255, například.
♦ · · ·
Algoritmus D detekce vad vyžaduje relativně krátký čas zpracování. Algoritmus D detekce vad může detekovat různé typy tečkovitých vad s určitým stupněm jistoty. Zejména algoritmus D detekce vad je vhodný pro detekci tečkované vady, který působí lokální reverzi černé a bílé blízko okraje obrazu přímkového světelného zdroje. Všimněte si však, že obraz obsahující tečkovanou vadu a jeho sousedství by měly mít vysoký kontrast a mikroskopické tečkované vady jako bubliny, rybí oka a únavové značky nemohou být objeveny tak jistě. Na druhé straně algoritmus D detekce vad není vhodný pro detekci lineárních vad. Algoritmus D detekce vad je nadále označován jako „Hrotový způsob.
[Algoritmus E vyhledávání vad]
Algoritmus E vyhledávání vad detekuje vadu následujícím způsobem. To znamená, že jasový profil je vytvořen na základě změny jasu podle polohy podél přímé linie v dvourozměrných obrazových datech. Pak je předpokládán hmotný bod, který se pohybuje mezi diagramy ve skupině diagramů v jasovém profilu v konstantním čase pohybu. Jasová hodnota cílového diagramu je odhadnuta z (i) vektoru rychlosti hmotného bodu mezi dvěma diagramy před tím kdy cílový diagram a (ii) vektoru akcelerace hmotného bodu mezi třemi diagramy před cílovým diagramem. Jestliže rozdíl mezi jasovou hodnotou tak odhadnutou a skutečnou jasovou hodnotou cílového diagramu není menší než práh T8 (třetí práh; T8 je přirozené číslo), část cílového diagramu je detekována jako vada.
Algoritmus E detekce vady je popsán níže s odkazem na obr. 10 a obr. 11. Algoritmus E detekce vady je zlepšený algoritmus vrcholového způsobu v podmínkách přesnosti a detekuje vadu založenou na rozdílu mezi skutečnou hodnotou a odhadovanou hodnotou místo hloubky údolí.
Ί
V algoritmu E detekce vady je prováděna následujícím procesem na každém z množiny kusů původních obrazových dat vytvořených každou z obrazových zachycovacích částí 5i až 5n.
Nejprve podobně jako ve vrcholovém způsobu svislé jasové profily příslušných pixelových sloupců jsou nalezeny. Příklady tak nalezených svislých jasových profilů jsou znázorněný na obr. 10, na kterém osa x znázorňuje jasové hodnoty. Okrouhlá část ve svislém jasovém profilu je profil odpovídající vadě, která má být zjištěna algoritmem E vyhledávání vad.
Pak v každém ze svislých jasových profilů příslušných pixelových sloupců hmotný bod, který se pohybuje od jednoho konce k druhému konci vynesené čáry při konstantním pohybovém čase mezi sousedními polohami bez ohledu na vzdálenosti mezi polohami je odhadován. Předpokládá se, že hmotný bod se pohybuje z polohy c do její sousední polohy b, z polohy b do její sousední polohy a a pak z polohy a do její sousední polohy d {viz obr. 11) . Pak poloha d je považována jako poloha odpovídající cílovému pixelu.
Pak vektor rychlosti a vektor zrychlení hmotného bodu mezi třemi polohami a až c, které hmotný bod prosel před polohou d jsou nalezeny. To je založeno na času pohybu a souřadnicích (souřadnici x, souřadnici y) dvou poloh a a b, které hmotný bod prošel před polohou d, je nalezen rychlostní vektor hmotného bodu mezi polohou b a polohou a. Dále na základě času pohybu a souřadnicích (souřadnice x, souřadnice y) polohy b a polohy c, které hmotný bod prošel před polohou d, rychlostní vektor hmotného bodu mezi polohou s a polohou b je nalezen. Následně na základě rychlostního vektoru hmotného bodu mezi polohou b a polohou a a rychlostního vektoru hmotného bodu mezi polohou c a polohou b, vektor zrychlení hmotného bodu mezi polohou c až polohou a je nalezen. Z rychlostního vektoru hmotného bodu mezi ·· ···· ·· ·♦··
polohou b do polohy a vektoru zrychlení hmotného bodu mezi polohou c do polohy a, souřadnice (místo) polohy d je odhadnuta.
Následně rozdíl mezi odhadnutou souřadnicí x (jasová hodnota) místa d a skutečnou (změřenou) souřadnicí x (jasovou hodnotou) místa d je nalezena. Jestliže rozdíl není menší než práh T8, pixel odpovídající místu d je vyjmut jako vadná část. Tímto způsobem může být určeno jestli zde je nebo není nějaká vada a dále poloha vady může být získána. Práh T8 může být přiměřeně určen podle dovolené velikosti vady. V případě kde vícehodnotová dvourozměrná obrazová data jsou dvourozměrná obrazová data z 256 stupňů, práh T8 je například přednostně 20.
Algoritmus E detekce vady může detekovat různé typy tečkovitých vad s vysokou jistotou. Algoritmus E detekce vady je nadále označován jako „Špičkový způsob 2.
[Algoritmus F vyhledávání vad]
Algoritmus F vyhledávání vad je popsán níže s odkazem na obr. 12. Obr. 12(a) ilustruje příklad původních obrazových dat vytvářených jakoukoliv z obrazových zachycovacích částí 5i až 5n. Na obr. 12(a) horní strana je strana po proudu nosného směru a spodní strany obrazu je strana proti proudu nosného směru. Dále na obr. 12 (a) páskovitá bílá oblast rozkládající se v příčném směru u středu obrazu je obraz přímkového světelného zdroje; část, ve které spodní okraj je místně zakřiven (část značně skloněná vzhledem k vodorovné linii) v obrazu přímkového světelného zdroje je vada.
Algoritmus F vyhledávání vad provádí následující postup na každém z množiny dílů původních obrazových dat vytvářených každou z obrazových zachycovacích částí 5i až 5n.
Nejprve alespoň jeden z okrajů obrazu přímkového světelného zdroje je nalezen z původních obrazových dat. Příklad okraje obrazu přímkového světelného zdroje tak nalezený je představován ·· ··♦·
kroužky na obr. 12 (a) . Spodní okraj obrazu přímkového světelného zdroje je nalezen na obr. 12, horní okraj obrazu přímkového mohou být nalezeny jak horní ale míso toho může být nalezen světelného zdroje. Alternativně okraj tak spodní okraj obrazu přímkového světelného zdroje.
Jak nalézt okraje obrazu přímkového světelného zdroje je stejné jak je vysvětleno ve vztahu k algoritmu B vyhledávání vad, a proto to není vysvětleno zde.
Pak y = f(x) , což je zakřivená čára (okrajový profil) okraje obrazu přímkového světelného zdroje, je druhotně diferencována pro nalezení druhotného rozlišujícího profilu kde příčný směr je považován za osu x a svislý směr je považován za osu y. Příklad druhotného rozlišovacího profilu tak nalezeného je znázorněn na obr. 12(b).
Pak každý pixel v okraji obrazu přímkového světelného zdroje je podroben rozhodování zda ano nebo ne jeho druhotná diferenciální hodnota není menší než práh T9 (T9 je kladné číslo). Jestliže druhotná diferenciální hodnota není menší než práh T9, pixel je určen jako vadná část (vysokofrekvenční část). Tak zda nebo ne existuje nějaká vada, která může být nalezena a dále je možné nalézt polohu vady. Práh T9 může být vhodně určen podle přípustné velikosti vady.
Algoritmus F pro vyhledávání vad je vhodný pro zjištění lineární vady, která vypadá jako lokální zakřivení okraj obrazu přímkového světelného zdroje. Schopnost zjištění vady algoritmu F pro vyhledávání vad není tak vysoká. Algoritmus F pro vyhledávání vad je nadále označován jako „Okrajový křivkový způsob 1.
[Algoritmus G vyhledávání vad]
Algoritmus G pro vyhledávání vad vyhledává vadu následujícím způsobem. Je nalezeno zakřivení sousední oblasti (okolní rozsah
2Ν + 1 pixel) každého pixelu v okraji obrazu přímkového světelného zdroje ve dvourozměrných obrazových datech. Část se zakřivením které není menší než práh T10 (druhý práh; T10 je kladné číslo) je určena jako vada.
Algoritmus G pro vyhledávání vad je popsán níže s odkazem na obr. 13 (a) až obr. 13(c).
Algoritmus G pro vyhledávání vad provádí následující postup na každém z množiny kusů původních obrazových dat vytvářených každou z obrazových zachycovacích částí 5i až 5n.
Zpočátku je nalezen z původních obrazových dat alespoň jeden okraj obrazu přímkového světelného zdroje. Příklady okraje obrazu přímkového světelného zdroje tak nalezené jsou znázorněné na obr. 13(a) až obr. 1(c). Jak nalézt okraje obrazu přímkového světelného zdroje je stejné jako je popsáno ve vztahu k algoritmu B vyhledávání vad, a proto to není zde vysvětlováno.
Pak je nalezeno zakřivení každého bodu (každého pixelu) na křivce okraje obrazu přímkového světelného zdroje. Jak nalézt zakřivení není zvláště omezeno a může být způsobem pro výpočet zakřivení použitím výrazu, který je matematicky formulován. Avšak takový způsob může zabírat dlouhý čas. Tak je dávána přednost přibližnému nalezení zakřivení následujícím způsobem.
(1) Rozsah obsahující cílová pixel (černý bod na obr. 13 (a) až obr. 13 (c) ) a N pixelů (bílé body na obr. 13 (a) až obr. 13 (c)) na každé straně cílového pixelu (nebo před a za cílovým pixelem) na okraji (to je rozsah 1N + 1 kolem cílového pixelu) je brán jako cílový rozsah výpočtu (N je přirozené číslo). N může být určeno přiměřeně podle přípustné velikosti vady, ale je přednostně 30. V příkladech z obr. 13 (a) až obr. 13 (c) je N rovno 3.
(2) Pixely na obou koncích v cílovém rozsahu výpočtu jsou spojeny s přímou linií.
•· ·ί·» • b ··
• · b ♦ (3) Z přímé linie, jsou nalezeny odhadnuté jasové hodnoty všech pixelů v cílovém rozsahu výpočtu. Pak přírůstky skutečných jasových hodnot (jasové hodnoty na okrajové křivce) jsou nalezeny vzhledem k odhadovaným jasovým hodnotám, a přírůstky nebo absolutní hodnoty přírůstků jsou přičteny. Integrovaná hodnota získaná výpočtem může se dostatečně přiblížit zakřivení rozsahu 2N + 1 pixelů kolem cílového pixelu (jinými slovy je možné obdržet hodnotu zakřivení přibližně rovnou zakřivení vypočítanému použitím výrazu matematicky formulovanému). V uspořádání používajícím integrovanou hodnotu přírůstků, jestli existuje mírná změna v jasových hodnotách, které jdou nahoru dolů podél přímé linie v cílovém rozsahu výpočtu jako na obr. 13(c) , přibližná hodnota zakřivení je nalezena s takovou vyváženou a zanedbanou změnou. Na druhé straně v uspořádání používajícím integrovanou hodnotu absolutních hodnot přírůstků, dokonce jestliže takové změny nastanou přibližná hodnota zakřivení je nalezena, včetně změny. Jestliže taková mírná změna v jasových hodnotách, která jde nahoru a dolů přímá linie v cílovém rozsahu výpočtu jak je znázorněna na obr. 13 (c) by měla být detekována jako vady, uspořádání používající integrovanou hodnotu absolutních hodnot přírůstků může být využito. Jinak, jestliže taková změna by měla být považována za přípustnou a ne označována za vady, může být použito uspořádání používající integrovanou hodnotu přírůstků.
(4) Pixely jsou cíleny jeden po druhém od konce do druhého konce okraje obrazu přímkového světelného zdroje a integrované hodnoty všech pixelů na okraji jsou počítány. Tak je tvořen profil (zkřivení profilu) přibližných hodnot zakřivení.
Následně je určeno zda ano nebo ne zakřivení každého z pixelů v okraji obrazu přímkového světelného zdroje v profilu zakřivení není menší než práh T10. Pixel jehož zakřivení není menší než práh T10 je určen jako vadná část (nebo potenciální vada) . Tak může být určeno zda ano nebo ne existuje nějaká vada * · ···· • ··· *· ♦ »··
-VYa dále je možné nalézt polohu vady. Okraj obrazu přímkového světelného zdroje je mírně zakřiven, protože tvarovaná fólie 2 se mírně deformuje. Z tohoto hlediska zakřivení pixelu na okraji obrazu přímkového světelného zdroje je na určité úrovni., pixel by měl být přípustný jako část bez vady. Na základě toho práh T10 by měl být poměrně vysoký. Práh T10 může být určen přiměřeně podle přípustné velikosti vady. V případě kde vícehodnotová dvourozměrná obrazová data jsou dvourozměrná obrazová data 256 stupňů, práh T10 je přednostně například 110.
Algoritmus G pro vyhledávání vad může zjistit různé typy lineárních vad s vysokou jistotou. Algoritmus G pro vyhledávání vad je nadále označován jako „Okrajový křivkový způsob 2.
V přítomném provedení kombinace algoritmu zjišťování lineárních vad a algoritmu zjišťování tečkových vad pro příslušné použití v analytických sekcích 61i až 6j.n lineárních obrazových vad a analytických sekcích 62Ί až 62n tečkových obrazových vad je kterákoliv z následujících kombinací.
(A) Zjišťovací algoritmus pro použití v analytických sekcích 61i až 61n lineárních obrazových vad je okrajový profilový způsob 2 nebo okrajový křivkový způsob 2, zatímco zjišťovací algoritmus tečkového způsobu pro použití v analytických sekcích 62i až 62n tečkových obrazových vad je způsob vysokopropustného filtru nebo špičkový způsob 2.
(B) Zjišťovací algoritmus pro použití v analytických sekcích 61i až 61n lineárních obrazových vad je okrajový profilový způsob 2 nebo okrajový křivkový způsob 2 a zjišťovací algoritmus tečkového způsobu pro použití v analytických sekcích 62i až 62n tečkových obrazových vad je zjišťovací algoritmus vad jiný než způsob vysokopropustného filtru a špičkový způsob 2.
(C) Zjišťovací algoritmus pro použití v analytických sekcích 61i 61n lineárních obrazových vad je zjišťovací algoritmus vad ·*·* »
jiný než algoritmus okrajového profilového způsobu 2 a okrajového křivkového způsobu 2 a zjišťovací algoritmus tečkové vady pro použití v analytických sekcích 62i až 62n tečkových obrazových vad je způsob vysokoprůchodného filtru nebo špičkového způsobu 2.
Mezi těmito kombinacemi (A) až (C) je kombinace (A) nejpřednostnější. V případě kombinace (A) je možné jistě zjistit jak lineární vadu tak tečkovou vadu. V případě kombinace (B) je možné jistě zjistit lineární vadu. V případě kombinace (C) je možné jistě zjistit tečkovou vadu.
[Provedení 2]
Další provedení přítomného vynálezu je popsáno níže s odkazem na obr. 14. Pro výhodnost vysvětlení prvek mající stejnou funkci jako kterýkoliv z prvků popsaných v Provedení 1 má stejnou vztahovou značku jako odpovídající prvek v Provedení 1 a není vysvětlen zde.
Zařízení pro kontrolu vad podle přítomného provedení má téměř stejné uspořádání jako zařízení pro kontrolu vad 1 podle Provedení 1 kromě toho, že zařízení pro kontrolu vad podle přítomného provedení obsahuje analyzační prostředek 6A znázorněný na obr. 14 místo analyzačního prostředku znázorněného na obr. 1. Analyzační prostředek 6A znázorněný na obr, 14 je uspořádán tak, že analytické sekce 62! až 62n tečkových obrazových vad jsou vynechány analyzačním prostředkem 6 znázorněném na obr. 1.
V přítomném provedení, zjišťovací algoritmus lineárních vad pro použití v analytických sekcích 61i až 61n lineárních obrazových vad je okrajový profilový způsob 2 nebo okrajový křivkový způsob 2. V přítomném provedení je možné jistě objevit lineární vadu.
·· ·* *··· * ·
• · 9 · • · • 9 ··
·«· · r * *
• · · « ·
9 · ·
·· 9 ·· · *·· *··
Zařízení na kontrolu vad. podle přítomného provedení může být použito samostatně, ale je přednostně používáno v kombinaci se zařízením na kontrolu vad, které může zjišťovat bodové vady. Takové uspořádání umožňuje zjišťovat nejen lineární vady ale také bodové vady. Zařízení na zjišťování vad schopné zjišťovat bodové vady použitelné v kombinaci se zařízením pro zjišťování vad podle přítomného provedení může být jakékoliv z různých typů zařízení pro zjišťování vad, která jsou veřejně známá. Mezi nimi později zmíněné zařízení pro kontrolu vad podle Provedení 3 je přednostní. Toto uspořádání umožňuje jistě zjistit vadu jak lineární vadu tak bodovou vadu.
[Provedení 3]
Další jiné provedení přítomného vynálezu je popsáno níže s odkazem na obr. 15. Pro výhodné vysvětlení díl mající stejnou funkci jako kterýkoliv z dílů popsaných v Provedení 1 má stejnou vztahovou značku jako odpovídající díl v Provedení 1 a není zde vysvětlován.
Zařízení pro kontrolu vad podle přítomného provedení má téměř stejné uspořádání jako zařízení 1 pro kontrolu vad podle Provedení 1 kromě toho, že zařízení pro kontrolu vad podle přítomného provedení obsahuje analyzační prostředek 6B znázorněný na obr. 15 místo analyzačního prostředku 6 znázorněného na obr. 1. Analyzační prostředek 6B znázorněný na obr. 15 je uspořádán tak, že analytické sekce 61i až 61n lineárních obrazových vad jsou v analyzačním prostředku 6 znázorněném na obr. 1 vynechány.
V přítomném provedení, detekční algoritmus tečkové vady pro použití v analytických sekcích 62i až 62n tečkových obrazových vad je vysokopropustný filtrační způsob nebo špičkový způsob 2. V přítomném provedení je možné jistě detekovat tečkovou vadu.
· · ♦ · · · ·· · • · · · « · · * * · · · · · · «» * · · * · · * ······· ·· · ··· · · ·
-V?Zařízení pro kontrolu vad. podle přítomného provedení může být použito samostatně ale je přednostně použito v kombinaci se zařízením pro kontrolu vad, které může zjistit lineární vadu. Takové uspořádání umožňuje detekovat nejen tečkovou vadu ale také lineární vadu. Zařízení pro kontrolu vad schopné detekovat lineární vadu a použitelné v kombinaci se zařízením pro kontrolu vad podle přítomného provedení může být jakékoliv z různých typů zařízení pro kontrolu vad, které byly veřejně známy. Mezi nimi výše uvedené zařízení pro inspekci vad podle Provedení 2 je přednostní. Toto uspořádání umožňuje jistě detekovat jak lineární vadu tak tečkovou vadu.
[Příklady]
Pro ověření účinku přítomného vynálezu byly vedeny zkoušky použitím 14 typů pokusných prostředků pro kontrolu vad, z nichž každý měl nějaké z výše uvedených uspořádání prostředků pro kontrolu vad vysvětlených ve výše uvedených provedeních. Výsledky zkoušek jsou uvedeny níže.
První až sedmé experimentální zařízení pro kontrolu vad jsou uspořádány tak, že obrazové zachycovací sekce 52 až 5n jsou vynechány ze zařízení pro kontrolu vad podle Provedení 3 a dopravník, na kterém má být umístěna a nesena tvarovací fólie 2 je použito nosné zařízení 3 místo nosného válce. První a sedmé experimentální zařízení pro kontrolu vad zjišťuje bodové vady ze vzorků majících bodové vady.
První experimentální zařízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 62T až 62n bodových obrazových vad, které využívají okrajový profilový způsob 1; druhé experimentální zařízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 62], až 62n bodových obrazových vad, které využívají okrajový profilový způsob 2; třetí experimentální zařízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 62Ί až 62n bodových obrazových vad, které využívají vysokoprůchodný filtr; čtvrté experimentální
-7/zařízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 62± až 62n bodových obrazových vad, které využívají špičkový způsob; páté experimentální zařízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 62χ až 62n bodových obrazových vad, které využívají špičkový způsob 2; šesté experimentální zařízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 62T až 62n bodových obrazových vad, které využívají okrajový křivkový způsob 1; sedmé experimentální zařízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 62i až 62n bodových obrazových vad, které využívají okrajový křivkový způsob 2 (způsob používající integrovanou hodnotu přírůstků).
Osmé až čtrnácté experimentální zařízení pro kontrolu vad jsou uspořádány tak, že obrazové zachycovací sekce 52 až 5n jsou vynechány ze zařízení pro kontrolu vad podle Provedení 2 a dopravník, na kterém tvarovaná fólie 2 má být umístěna a nesena je použit jako nosný prostředek 3 místo nosného válce. Osmé až čtrnácté experimentální zřízení pro kontrolu vad zjišťuje lineární vady ze vzorků majících lineární vady.
Osmé experimentální zřízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 61j až 61n lineárních obrazových vad, které využívají okrajový profilový způsob 1; deváté experimentální zřízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 61i až 61n lineárních obrazových vad, které využívají okrajový profilový způsob 2; desáté experimentální zřízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 61! až 61n lineárních obrazových vad, které využívají vysokoprůchodný filtrační způsob; jedenácté experimentální zřízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 61χ až 61n lineárních obrazových vad, které využívají špičkový způsob; dvanácté experimentální zařízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 61i až 61n lineárních obrazových vad, které využívají špičkový způsob 2; třinácté experimentální zařízení pro kontrolu vad obsahuje analytické sekce 61χ až 61n lineárních obrazových vad, které využívají okrajový křivkový způsob 1; a čtrnácté experimentální zařízení pro kontrolu vad
obsahuje analytické sekce 61i až 61n lineárních obrazových vad, které využívají okrajový křivkový způsob 2 (způsob využívající integrovanou hodnotu přírůstků).
V přítomných příkladech, jako tvarovaná fólie byly použity 2 typy až 10 typů vzorků polarizačního filmu mající různé typy bodových vad a 6 typů vzorků polarizačního filtru mající různé typy lineárních vad. Z 10 typů vzorků majících bodové vady jsou následující: vzorek 01 mající bubliny; vzorek 02 mající rybí oka; vzorek 03 mající první cizí materiál; vzorek 04 mající druhý cizí materiál odlišný od prvního cizího materiálu; vzorek mající první únavovou známku; vzorek mající druhé únavové známky odlišné od první únavové známky; vzorek 08 mající první vrub; vzorek 09 mající druhý vrub odlišný od prvního zubu, vzorek 11 mající první jizvu a vzorek 12 mající druhou jizvu odlišnou od první jizvy. 6 typů vzorků majících lineární vady jsou následující: vzorek 10 mající zářez (lineární vadu); vzorek 13 mající druhý zářez (lineární vadu) odlišný od prvního zářezu; vzorek 51 mající rýhování podél nosného směru tvarované fólie 2; vzorek 52 mající silné rýhování kolmé k nosnému směru tvarované fólie 2; vzorek 53 mající slabé rýhování kolmé k nosnému směru tvarované fólie 2 a vzorek 54 mající rýhování v šikmém směru vzhledem k nosnému směru tvarované fólie 2.
První až čtrnáctá experimentální vyšetřovací zařízení vad používá, jako obrazovou zachycovací část 51( progresivní skenovací plošný snímač, který využívá
CCD prvek, který může zachytit dvourozměrný obraz a vytvořit dvourozměrná obrazová data z 256 stupňů s 512 pixely na šířku a 480 pixely na délku.
První až čtrnácté experimentální používáj í jako lineární světelný vyšetřovací zařízení vad zdroj 4 vysokofrekvenční fluorescenční světlo, ke kterému je připevněn tvarový okrajový kryt (kryt pro zostření zdroje). Dále v prvním až okraje obrazu lineárního světelného čtrnáctém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad, nosná rychlost tvarované fólie 2 v dopravníku je nastavena na 20 mm/sec (= 1,2 m/min) . Dále poloha 145 mm směrem dovnitř od konce(konce na přední straně na obr. 2) dopravníku je nastavena aby byla středem oblasti zachycování obrazu, který má být zachycen obrazovou zachycovací částí 5!. Dále pro měření vzdálenosti 145 mm je používáno kovové pravítko a vzdálenost od kovového pravítka k vadě je 55 mm.
V prvním až sedmém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad pro detekování bodových vad poloha a úhel obrazové zachycovací části 51 jsou nastaveny tak, že zachycovací obrazová oblast (pole pohledu) na tvarované fólii 2 je 51,2 mm široké (podél směru svislého k nosnému směru tvarované fólie 2 a svislé ke směru tloušťky tvarované fólie 2) a 48 mm dlouhé (podél nosného směru tvarované fólie 2). Všimněte si, že poloha a úhel zachycovací části 5! obrazu jsou nastaveny tak, že 512 pixelů stranově vyrovnaných v dvěstěčtyřicáté pixelové poloze od vršku (tj . uprostřed podél směru s vrchu do spodu) v 512 pixelech x 480 pixelech postupného skenovacího plošného snímače, který zachycuje obraz oblasti o šířce 51,2 mm na povrchu tvarované fólie 2. To znamená, že poloha obrazové zachycovací oblasti 5i je nastavena tak, že vzdálenost od tvarované fólie 2 k obrazové zachycovací oblasti 5L je 190 mm. Mezitím úhel obrazové zachycovací 5j je nastaven tak, že úhel vytvořený mezi obrazovým zachycovacím směrem (směr ze středu sběrné čočky obrazové zachycovací části 51 směrem ke středu oblasti, která má být zachycena obrazovou zachycovací částí 5i) obrazové zachycovací části 51 a povrchem tvarované fólie 2 je 40°. V tomto případě obrazová zachycovací část 5T má rozlišení 100 μπι/pixel . Dále první až sedmnácté vyšetřovací zařízení pro zjišťování bodové vady využívají progresivní skenovací snímač plochy, ve kterém je k hlavnímu tělesu progresivního skanovacího snímače plochy přichycena čočka s montáží C mající ohniskovou vzdálenost 25 mm, minimální F hodnotu 1,4 a pracovní vzdálenost čočky 270 mm. Clona čočky je nastavena přibližně na 11.
Dále v prvním až sedmém experimentálním vyšetřovacím prostředku vad pro vyšetřování tečkové vady, přímkový světelný zdroj 4 je umístěn tak, že podélný směr přímkového světelného zdroje 4 je kolmý k nosnému směru tvarované fólie 2, vzdálenost od tvarované fólie 2 k přímkovému světelnému zdroji 4 je 240 mm a přímá linie spojující střed zachycovací obrazové oblasti na tvarované fólii 2 střed přímkového světelného zdroje 4 tvoří úhel 37° vzhledem k povrchu tvarované fólie 2.
V osmém až čtrnáctém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad pro vyšetřování lineární vady, poloha a úhel obrazové zachycovací části 5i jsou nastaveny tak, aby zachycovací obrazová oblast na tvarované fólii byla 204,8 mm široká a 192 mm dlouhá. Všimněte sí, že poloha a úhel obrazové zachycovací části
5i jsou nastaveny tak, že 512 pixelů příčně vyrovnaných na 240té pixelové poloze od vrchu (tj . uprostřed podél směru vršek spodek) v 512 pixelech x 480 pixelech progresivního snímače skenovací plochy zachycuje obraz oblasti o šířce 204,8 mm na povrchu tvarované fólie 2. To znamená, že poloha obrazové zachycovací části 5: je nastavena tak, aby vzdálenost od tvarované fólie 2 k obrazové zachycovací části 5i byla 400 mm.
Úhel obrazové zachycovací části 5i je nastaven tak, aby úhe 1 vytvořený mezi obrazovým zachycovacím směrem obrazové zachycovací části
5: a povrchem tvarované fólie 2 byl 15°.
V tomto případě obrazové zachycovací část
5i má rozlišení
200 pm/pixel. Dále osmé až čtrnácté experimentální vyšetřovací zařízení vad pro vyšetřování lineární vady využívá postupný skenovací plošný snímač, ve kterém čočka s montáží C mající ohniskovou vzdálenost 25 mm, minimální hodnotu F 1,4 a pracovní vzdálenost čočky 490 mm je upevněna k hlavnímu tělesu progresivního skenovacího plošného snímače. Clona čočky je nastavena na přibližně 5,6 až 8.
Dále v osmém až čtrnáctém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad pro vyšetřování lineární vady je přímkový světelný « · t ··!
zdroj 4 je umístěn, tak aby podélný směr přímkového světelného zdroje 4 tvořil úhel 25° vzhledem k nosnému směru tvarované fólie 2. Pracovní vzdálenost přímkového světelného zdroje 4 je 900 mm.
Při zkoumání jsou parametry vyhledávacího algoritmu vad nastaveny tak aby jistě zjišťovaly tečkovou vadu mající průměr 0,5 mm. V prvním a osmém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad, je práh T3 v okrajovém profilovém způsobu 1 nastaven na 3.
V druhém a devátém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad, je práh T5 v okrajovém profilovém způsobu 2 nastaven na 4. V třetím a desátém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad je k v okrajovém profilovém způsobu 2 nastaveno na 4,5 a příčný vyhlazovací filtr pro použití v okrajovém profilovém způsobu 2 je filtr o 1 řadě x 3 sloupce. Ve čtvrtém a jedenáctém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad je práh T7 ve špičkovém způsobu nastaven na 25% maximální jasové hodnoty (tj. 255 x 0,25). V pátém a dvanáctém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad je práh T8 ve špičkovém způsobu 2 nastaven na 20.
V šestém a třináctém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad vzdálenost, která je parametrem, který má být použit v okrajové křivce 1 je nastavena na 15 a k je nastaveno na 5. V sedmém a čtrnáctém experimentálním vyšetřovacím zařízení vad je využit způsob pro přibližné získání zakřivení jako okrajová křivková metoda 2. V metodě cílový rozsah výpočtu je nastaven na rozsah obsahující 30 pixelů před a za cílovým pixelem (to je N = 15) a práh T1Q je 110.
S použitím prvního až sedmého experimentálního vyšetřovacího zařízení vad, byly vykonány zkoušky zda by mohly nebo nemohly být zjištěny bodové vady z 10 typů vzorků, z nichž každý má tečkovou vadu. Dále s použitím osmého až čtrnáctého experimentálního vyšetřovacího zařízení vad, byly provedeny zkoušky zda mohou být lineární vady detekovány nebo ne z 6 typů
vzorků z nichž každý má lineární vadu. Výsledky zkoušek jsou znázorněny v tabulce 1.
····
(Tabulka 1]
«I r l CL CL CL a CL CL CL a. LU a.
w fa ψ O O O o G> O o o w> o
§i § o - a. CL - CL UJ CL
£ *1’ <*> - - o O CM CM - O
r* § i UJ OJ UJ UJ UJ UJ LU UJ UJ UJ
ih ** í s H- OD u> Φ Τ» r*. S, 8 CM T 8 o
i t CL _ LU LU - CL UJ o UJ e
1. * i I O 04 O O Ol O o T“ eo 49 r·
1 l LU LU UJ LU LU LU UJ LU UJ UJ
Φ S- CM **“ CO 40 <*> r- CM β» 8 o
o. £2 á i O- - O. - a. CL - CL UJ o.
j|í o - o - o O - O 8 o
li F i - - o UJ LU LU LU e tu e>
ΛΙ - - LO h- O O CM K 40
g: w 4 ' u í § | $ £ CM d rb E »1 h 1 40 « 1 4· <r* £ s CM
tp«AtutMng·!
·· ·«*· • · * ·
2 KJ I UJ LU LU LU UJ LU -
LQ § § 8 B
e Ό i LU - Cl UJ o. 0 fs. un
Ψ w - O § o
w UJ CL Q- LU EL CL «0
i|l £ O O 3 O O
Špičkový způsob Ú. CL a LU a a. CO
Φ 0 O Q 3 0 0
1' l UJ CL CL u □- CO
i|l 8 - O O 0 O
OKRAJOVÝ PROFILOVÝ ZPŮSOB 2 LU UJ LU 1U U1 LU 0
1 Ψ ĚO § § § §
l - ÍL CL W cl Q. OJ
φ - O 0 3 ς? 0
0 «*> ** ls Ji
iptAtu^min
Zkratky: vytiodn znamená vyhodnoceni; E znamená výborné; G znamená dobré, i znamená nedostatečné a P znamená chabé ·♦ ··♦*
V prvním až sedmém experimentálním vyšetřovacím zařízení, počet všech snímků (počet všech zachycených snímků) pohyblivého obrazu tvarované fólie 2 je 150. Avšak obrazová zachycovací část 5i zachycuje pohyblivý obraz tvořený 30 snímky během periody, ve které jednotlivý vadu zjišťovací cílový bod bodové vady přichází do obrazové zachycovací oblasti 5i a vychází ven z obrazové zachycovací části obrazové zachycovací sekce 5χ. Jestliže se vada vždy objeví, 30 kusů (30 snímků) dvourozměrných obrazových dat zachycených během periody, mezi všemi kusy dvourozměrných obrazových dat snímaných obrazovou zachycovací sekcí 5χ, obsahuje obraz vady. Počet snímků (kolikrát byla vada zjištěna), ve kterých vada byla zjištěna každým z experimentálních vyšetřovacích prostředků vad, mezi 30 snímky dvourozměrných obrazových dat zachycených během periody, je znázorněn v odpovídajícím poli „Počet zjištěných snímků v každé z řad na tabulce 1 „bodových vad.
V osmém až čtrnáctém experimentálním vyšetřovacím zařízení, obrazová zachycovací oblast 5χ zachycuje pohyblivý obraz tvořený 300 snímky během periody, ve které jeden vady vyšetřující cílový bod přichází do zachycovací obrazové oblasti obrazové zachycovací sekce 5χ a vychází ze zachycovací obrazové oblasti obrazové zachycovací sekce 5χ. Počet snímků, ve kterých byla vada zjištěna každým z experimentálních vyšetřovacích prostředků vad, mezi 300 snímky dvourozměrných obrazových dat zachycených během periody, je uveden v odpovídajícím poli „Počet vyšetřovaných snímků v každé z řad „lineární vada na tabulce 1.
V tabulce 1, že počet zjištěných snímků je 0 označuje, že vada nemohla být snímků je Například, ukazuj e v případě zjištěna. Jak velký nebo malý počet zjištěných nebo jistotu zjišťování vad. zjištěných snímků je přesnost kde počet tak malé číslo jako snímky, zjišťování vad je nízká. Jak je nebo se předpokládá, že znázorněno v tabulce 1, přesnost přesnost
zjišťování vad bylo vyhodnoceno na základě standardu, který je původně určen přihlašovatelem přítomného vynálezu jak následuje: „P označuje „nízký (počet objevených snímků je □) ,- „I označuje „neuspokojivý (počet objevených snímků je 1 až 2); „G označuje „dobrý (počet objevených snímků 3 až 6) a „E označuje „výtečný (počet objevených snímků je 7 nebo více). Vyhodnocení jsou uvedena v příslušných polích „vyhodn.
uvádí v kolika
Dále v tabulce 1, řada „nesprávná informace (dezinformace) rámcích (snímcích) mezi 1800 snímky nastala dezinformace.
Z výsledků tabulce je předvedeno, že vyšetřovací prostředky vad (třetí a pátý experimentální vyšetřovací prostředek vad) které příslušně využívají hornopropustný filtrační způsob a špičkový způsob tečkové vady s vysokou přesností.
To mohou zjišťovat každý typ znamená, ve vyšetřovacím prostředku podle jakéhokoliv z výše uvedených provedení,
62n jestliže analytické sekce 62! až hornoprůchodný filtrační způsob nebo algoritmus zjišťování tečkových vad, tečkových vad využívají špičkový způsob 2 jako pak je možné zjišťovat každý typ tečkové vady s vysokou přesností.
Dále z výsledků tabulky 1 je demonstrováno, že prostředky vyšetřování vad (devátý a čtrnáctý experimentální vyšetřovací které využívají okrajový profilový způsob 2 a prostředek), okrajový křivkový způsob 2 mohou zjišťovat každý typ lineárních vad vad
611 s vysokou přesností. To podle jakéhokoliv z výše až 61n obrazové analýzy znamená, v zařízení pro vyšetřování uvedených provedení, jestliže sekce využívají okrajový profilový způsob nebo okrajový křivkový způsob 2 jako algoritmus zjišťování lineárních vad, pak je možné zjišťovat každý typ lineární vady s vysokou přesností.
Dále ve většině případů v tabulce 1 počet zjištěných snímků je menší než maximální hodnota (3 0 pro tečkovou vadu a 3 00 pro
-ς?~ lineární vadu) . To znamená, že mohou být možnosti, že vada nemůže být zjištěna takovým způsobem, že vada je zjištěna na základě pouze jednoho kusu dvourozměrného obrazového údaje (nehybného obrazového údaje) mezi množinou kusů dvourozměrných obrazových dat (pohyblivých obrazových dat) použitých pro zjišťování vad v přítomném příkladě. Například, předpokládejme, že jediný kus dvourozměrných obrazových dat je vybrán náhodně z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat, která pro zjištění vad v přítomném příkladě a zjištění zářezu obsaženého ve vzorku 13 má být vykonáno pouze na základě na jednom kusu dvourozměrných obrazových dat. V tomto případě i kdyby algoritmus zjištění vady (okrajový křivkový způsob 2) kterým může být zářez zjištěn nej jistěji byl použit, zářez může být zjištěn pouze s pravděpodobností 8/300.
Přítomný vynález není omezen na výše uvedený popis provedení, ale může být měněn zkušenou osobou v rozsahu nároků. Provedení založené na vhodné kombinaci technických prostředků popsaných v různých provedeních je zahrnuto v technickém rozsahu přítomného vynálezu.
Seznam vztahových značek prostředek pro vyšetření vad tvarovaná fólie nosný prostředek (přenašeči prostředek) přímkový světelný zdroj
5i až 5n obrazová zachycující část
analyzující prostředek
6A analyzující prostředek
6B analyzuj ící prostředek
611 až 61n analyzuj ící část obrazových lineárních vad
(zj iš-ťuj ící prostředky lineárních vad)
6 21 a z 6 2 „ analyzuj ící část obrazových bodových vad
(zjišťující prostředky bodových vad)

Claims (1)

  1. PATENTOVÉ NÁROKY
    Nárok 1
    Prostředek pro zjišťování vady na tvarované fólii, přičemž uvedený prostředek pro zjišťování vady obsahuje:
    obrazový zachycující prostředek pro zachycení množiny dvourozměrných obrazů tvarované fólie tak, aby vytvářel množinu kusů dvourozměrných obrazových dat;
    přímkový světelný zdroj pro osvětlování tvarované fólie tak, aby přímkový světelný zdroj byl promítnut na část obrazové zachycovací oblasti na tvarované fólii;
    přenosový prostředek pro přenos alespoň jednoho z tvarované fólie a přímkového světelného zdroje ve směru protínajícím se s podélným směrem přímkového světelného zdroje a kolmým ke směru tloušťky tvarované fólie, tak aby obraz přímkového světelného zdroje byl promítán na různé polohy na tvarované fólii; a lineární vady zjišťující prostředek pro zjišťování lineární vady z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat vytvářených obrazovými zachycujícími prostředky, lineární vady zjišťující prostředek zjišťující lineární vadu podle kteréhokoliv z následujících lineární vadu zjišťujících algoritmů:
    a) lineární vady zjišťující algoritmus zjišťující lineární vadu takovým způsobem, že je prováděno lícování podle funkční křivky na okraji obrazu přímkového zdroje v každé z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat a část ve které okraj obrazu přímkového světelného zdroje je vzdálen od funkční křivky o alespoň první práh je detekována jako lineární vada; a ·· ···· • · · · ♦ · ···· ··** · · · ·· * ♦ · · · · * » • · ♦ · · ·« ···· ··· ·· · ·»· ··· ~(Λb) lineární vady zjišťující algoritmus zjišťující lineární vadu takovým způsobem, že jsou nalezena zakřivení v sousedních oblastech příslušných pixelů v okraji obrazu přímého světelného zdroje v každém z množiny kusů dvourozměrných dat a část mající zakřivení, které není menší než druhý práh je zjištěna jako lineární vada.
    Nárok 2
    Vady zjišťující prostředek jak je uveden v nároku 1, dále obsahující zjišťující prostředek bodových vad pro zjišťování bodové vady z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat vytvářených obraz zachycujícími prostředky
    Nárok 3
    Vady zjišťující prostředek jak je uveden v nároku 2, kde: prostředek pro podle kteréhokoliv zjišťování bodových vad zjišťuje bodovou vadu z následujících algoritmů zjišťujících bodové vady:
    a) algoritmus pro zjišťování bodových zjišťující bodovou vadu takovým způsobem, že: jasový profil je vytvořen ze změn jasu podle poloh podél přímé linie v každém z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat; je vypočítáno těžiště, které se pohybuje mezi grafy ve skupině grafů v jasovém profilu v konstantním pohybovém čase, takže vyhodnocená jasová hodnota cílového diagramu je nalezena z (i) rychlostního vektoru hmotného bodu mezi dvěma diagramy právě před cílovým diagramem a (ii) vektor zrychlení hmotného bodu mezi třemi diagramy právě před cílovým diagramem; a část, ve které rozdíl mezi odhadnutou jasovou hodnotou a skutečnou jasovou hodnotou cílového diagramu není menší než třetí práh je zjištěna j ako bodová vada; a
    b) algoritmus zjišťující bodovou zjištění pro zj išťování bodových vad vadu takovým způsobem že:
    j e provedeno vyhlazení na každém z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat, tak aby se obdržela vyhlazená dvourozměrná obrazová data; rozdíl mezi vyhlazenými dvourozměrnými obrazovými daty a každým z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat je nalezen jako rozdílová obrazová data; a část v rozdílových obrazových datech, která má jasovou hodnotu ne menší než čtvrtý práh a ta část v rozdílových obrazových datech, která má jasovou hodnotu ne větší než pátý práh (pátý práh je menší než čtvrtý práh) jsou zjištěny jako bodové vady.
    Nárok 4
    Prostředek pro zjišťování vady na tvarované fólii, přičemž uvedený prostředek pro zjišťování vady obsahuje:
    obrazový zachycující prostředek pro zachycení množiny dvourozměrných obrazů tvarované fólie tak, aby vytvářel množinu kusů dvourozměrných obrazových dat;
    přímkový světelný zdroj pro osvětlování tvarované fólie tak, aby přímkový světelný zdroj byl promítnut na část obrazové zachycovací oblasti na tvarované fólii;
    přenosový prostředek pro přenos alespoň jednoho z tvarované fólie a přímkového světelného zdroje ve směru protínajícím se s podélným směrem přímkového světelného zdroje a kolmým ke směru tloušťky tvarované fólie, tak aby obraz přímkového světelného zdroje byl promítán na různé polohy na tvarované fólii; a zjišťovací prostředek tečkové vady pro zjišťování tečkové vady z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat vytvářených obraz zachycujícími prostředky, zjišťovací prostředek tečkové vady zjišťující tečkovou vadu v souladu s kterýmkoliv z následujících tečkovou vadu zjišťujících algoritmů:
    • ··· ·* ·«·· (a) algoritmus zjišťující tečkovou vadu ze zjišťování tečkové vady takovým způsobem, že: je vytvořen jasový profil z jasových změn podle polohy podél přímé linie v každém z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat; je předpokládán hmotný bod, který se pohybuje mezi diagramy ve skupině diagramů v jasovém profilu v konstantním čase pohybu, takže odhadnutá jasová hodnota cílového diagramu je nalezena z (i) rychlostního vektoru hmotného bodu mezi dvěma diagramy právě před cílovým diagramem a (ii) a vektor zrychlení hmotného bodu mezi třemi diagramy právě před cílovým diagramem; a část, ve které rozdíl mezi odhadnutou hodnotou jasu a skutečnou hodnotou jasu cílového diagramu není menší než třetí práh je detekován jako tečková vada; a (b) zjišťovací algoritmus tečkové vady zjišťování tečkové vady takovým způsobem, že je provedeno vyhlazení na každém z množiny kusů dvourozměrných obrazových údajů tak aby se získala vyhlazená dvourozměrná obrazová data; rozdíl mezi vyhlazenými dvourozměrnými obrazovými daty a každým z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat je nalezen jako rozdílová obrazová data,- a ta část v rozdílových obrazových datech, která má jasovou hodnotu, která není menší než čtvrtý práh a ta část
    v rozdílových obrazových datech není větší než pátý práh (pátý jsou detekovány jako bodové vady která má práh je jasovou hodnotu, menší než čtvrtý která práh) Nárok 5 Prostředek pro zj išťování vady j ak j e uveden v nároku 4,
    dále obsahující zjišťovací prostředky lineární vady do zjišťování lineární vady z množiny kusů dvourozměrných obrazových dat vytvářených obrazových zachycovacích prostředků.
CZ20110295A 2008-11-21 2009-11-17 Zarízení pro kontrolu vad tvarované fólie CZ2011295A3 (cs)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008298680A JP5619348B2 (ja) 2008-11-21 2008-11-21 成形シートの欠陥検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CZ2011295A3 true CZ2011295A3 (cs) 2011-11-09

Family

ID=42198000

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CZ20110295A CZ2011295A3 (cs) 2008-11-21 2009-11-17 Zarízení pro kontrolu vad tvarované fólie

Country Status (8)

Country Link
JP (1) JP5619348B2 (cs)
KR (1) KR20110095344A (cs)
CN (1) CN102224412A (cs)
CZ (1) CZ2011295A3 (cs)
PL (1) PL396135A1 (cs)
SK (1) SK50342011A3 (cs)
TW (1) TW201033602A (cs)
WO (1) WO2010058557A1 (cs)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101939206B1 (ko) * 2010-12-23 2019-01-16 피렐리 타이어 소시에떼 퍼 아찌오니 타이어 성형 공정에서 생산 제어 및 반제품들의 이송을 위한 방법 및 기구
KR102023231B1 (ko) 2012-08-28 2019-09-19 스미또모 가가꾸 가부시끼가이샤 결함 검사 장치 및 결함 검사 방법
CN102854193A (zh) * 2012-08-30 2013-01-02 苏州天准精密技术有限公司 一种用于图像瑕疵检测的检测方法和检测***
TWI607211B (zh) * 2013-01-16 2017-12-01 住友化學股份有限公司 Image generation device, defect inspection device, and defect inspection method
CN104919306B (zh) * 2013-01-16 2017-11-21 住友化学株式会社 图像生成装置、缺陷检查装置以及缺陷检查方法
KR102168143B1 (ko) 2013-01-30 2020-10-20 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 화상 생성 장치, 결함 검사 장치 및 결함 검사 방법
TWI451076B (zh) * 2013-02-08 2014-09-01 Benq Materials Corp 光學鏡片髒汙檢測方法
JP6250317B2 (ja) * 2013-07-08 2017-12-20 住友化学株式会社 欠陥検査方法
TWI493177B (zh) * 2013-10-15 2015-07-21 Benq Materials Corp 一種檢測具週期性結構光學薄膜的瑕疵檢測方法及其檢測裝置
US9909953B2 (en) * 2013-11-05 2018-03-06 Compagnie Generale Des Etablissements Michelin Method and apparatus for non-destructive detection of tire anomalies
CN107003251B (zh) * 2014-11-18 2020-08-28 三菱化学株式会社 金属板的修补方法和铸模的制造方法
JP6590653B2 (ja) * 2014-11-19 2019-10-16 首都高技術株式会社 点群データ利用システム
CN105785604A (zh) * 2014-12-24 2016-07-20 台湾动力检测科技股份有限公司 显示设备的光学层件的缺陷检测方法
KR102670599B1 (ko) 2015-06-26 2024-05-29 이이쟈 가부시키가이샤 전해 경질 금 도금액용 치환 방지제 및 그것을 포함하는 전해 경질 금 도금액
JP6628185B2 (ja) * 2016-03-11 2020-01-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 透明体の検査方法
JP2017211325A (ja) * 2016-05-27 2017-11-30 株式会社ニレコ 欠点検査方法及び欠点検査装置
JP2017215277A (ja) * 2016-06-02 2017-12-07 住友化学株式会社 欠陥検査システム、フィルム製造装置及び欠陥検査方法
JP2017217649A (ja) * 2016-06-02 2017-12-14 国立大学法人九州大学 キャッピングシートの破損被疑箇所検出装置、キャッピングシートの破損被疑箇所検出方法、コンピュータプログラム
JP6622679B2 (ja) * 2016-10-26 2019-12-18 川崎重工業株式会社 サークルスクラッチ検査装置
KR102438892B1 (ko) * 2017-03-03 2022-08-31 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법
WO2019039331A1 (ja) * 2017-08-24 2019-02-28 日本電気硝子株式会社 板ガラスの製造方法
JP7048342B2 (ja) * 2018-02-15 2022-04-05 株式会社島精機製作所 延反方法と延反システム
JP7389321B2 (ja) * 2018-07-31 2023-11-30 住友金属鉱山株式会社 基板の検査装置、基板の検査方法
CN110857920A (zh) * 2018-08-24 2020-03-03 东华大学 一种卷装长丝的成型不良缺陷检测方法
US11748874B2 (en) * 2018-10-15 2023-09-05 3M Innovative Properties Company Automated inspection for sheet parts of arbitrary shape from manufactured film
HUE063619T2 (hu) * 2019-03-05 2024-01-28 Philip Morris Products Sa Vizsgálóállomás és lapanyag vizsgálatára szolgáló eljárás
JP2020190441A (ja) * 2019-05-20 2020-11-26 セーレン株式会社 皺検査装置、皺判定装置及び皺検査方法
CN116993719A (zh) * 2023-09-25 2023-11-03 惠州艺都宇正数码科技有限公司 一种oca光学薄膜表面缺陷视觉检测方法及***

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09159622A (ja) * 1995-12-05 1997-06-20 Kawasaki Steel Corp 表面欠陥検査装置
JP4507533B2 (ja) * 2003-08-29 2010-07-21 凸版印刷株式会社 周期性パターンにおけるスジ状ムラの検査方法
JP4882204B2 (ja) * 2004-03-05 2012-02-22 凸版印刷株式会社 周期性パターンにおけるスジ状ムラの検査方法
JP5006551B2 (ja) * 2006-02-14 2012-08-22 住友化学株式会社 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP5367292B2 (ja) * 2008-03-31 2013-12-11 古河電気工業株式会社 表面検査装置および表面検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201033602A (en) 2010-09-16
KR20110095344A (ko) 2011-08-24
WO2010058557A1 (ja) 2010-05-27
JP5619348B2 (ja) 2014-11-05
PL396135A1 (pl) 2011-12-05
CN102224412A (zh) 2011-10-19
JP2010122192A (ja) 2010-06-03
SK50342011A3 (sk) 2011-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CZ2011295A3 (cs) Zarízení pro kontrolu vad tvarované fólie
JP5825278B2 (ja) 欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP4793266B2 (ja) 透明板状体の欠陥検査方法および装置
US10489901B2 (en) System and method for inspection of wet ophthalmic lens
US11238303B2 (en) Image scanning method for metallic surface and image scanning system thereof
KR101298957B1 (ko) 목재의 옹이 탐사 방법, 장치, 및 프로그램
WO2016158873A1 (ja) 溶融めっき鋼板の表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法
JP5006551B2 (ja) 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2006242886A (ja) 表面疵検査装置
CN105745523A (zh) 用于检查缠绕的光纤的***和方法
JP2013140050A (ja) 欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP2008304306A (ja) 疵検査装置及び疵検査方法
EP2057609A1 (en) Method and apparatus for raised material detection
WO2006137385A1 (ja) フィルム検査装置およびフィルム検査方法
JP6788837B2 (ja) ガラス板の検査方法及びその製造方法並びにガラス板の検査装置
JP5842373B2 (ja) 表面欠陥検出方法、および表面欠陥検出装置
KR20150104611A (ko) 화상 생성 장치, 결함 검사 장치 및 결함 검사 방법
US20120133761A1 (en) Uneven area inspection system
JP6566903B2 (ja) 表面欠陥検出方法および表面欠陥検出装置
JP2012237585A (ja) 欠陥検査方法
TWI435069B (zh) 葉片狀薄膜檢測裝置及葉片狀薄膜檢測方法
JP2014052339A (ja) 表面凹凸検査装置及び表面凹凸検査方法
JP5787668B2 (ja) 欠陥検出装置
JP3917431B2 (ja) 光学部材検査方法
JP2014186030A (ja) 欠点検査装置