CN2649195Y - 陶瓷晶片分选机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种属于电子元件分选机械技术领域内的陶瓷晶片分选机，包括平振送料器、平振板、调节片和检测装置，平振板一端与平振送料器相连接，调节片固定于平振板上侧边缘，检测装置包括上驱动气缸、下驱动气缸、上检测针和下检测针，所述上驱动气缸连接上检测针，下驱动气缸连接下检测针，上检测针和下检测针垂直于平振板，并分别设置于平振板上、下两侧，平振板上固定有限位块，限位块的工作平面低于平振板的表面，所述限位块上设有通孔，上检测针、下检测针和通孔设于同一轴线上。本实用新型可应用作为陶瓷晶片的分选设备，具有快速、准确、可靠性高的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种陶瓷晶片分选机装置，属于电子元件分选机械技术领域。
背景技术
现有技术中有一种应用广泛的陶瓷晶片，在加工生产成其它电子元件时，需要对陶瓷晶片进行检测和分选，目前常用的是一种陶瓷晶片分选机，包括平振送料器、平振板、调节片、和检测装置，平振板一端与平振送料器相连接，调节片固定于平振板上侧边缘，检测装置包括上驱动气缸、下驱动气缸、上检测针和下检测针，所述上驱动气缸连接上检测针，下驱动气缸连接下检测针，上检测针和下检测针垂直于平振板，并分别设置于平振板上、下两侧，平振板上设有通孔，下检测针外包覆有绝缘套，下检测针和绝缘套设置于通孔轴线下方。使用时，将若干陶瓷晶片放入平振送料器，在振动作用下，陶瓷晶片成为有序队列沿平振板和调节片前进，当经过检测装置时，上驱动气缸、下驱动气缸动作，驱动上检测针和下检测针分别从上、下方向抵触在陶瓷晶片的上、下两电极上，进而得到所检测的陶瓷晶片的各种物理参数，利用所检测的物理参数在随后的分选机构中进行分选，达到分等级和去除残、次品的目的；其不足之处在于：由于检测是在振动中进行的，检测针的夹持部位难以控制；对陶瓷晶片而言，检测部位的准确性会影响其物理参数，进而影响分选准确性；另外，绝缘套在通孔内不断上下运动，易磨损，下检测针易被短接，影响设备的可靠性。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种陶瓷晶片分选机，使其分选精准度高，同时可靠性也能得到提高。
本实用新型的目的是这样实现的：一种陶瓷晶片分选机，包括平振送料器、平振板、调节片、和检测装置，平振板一端与平振送料器相连接，调节片固定于平振板上侧边缘，检测装置包括上驱动气缸、下驱动气缸、上检测针和下检测针，所述上驱动气缸连接上检测针，下驱动气缸连接下检测针，上检测针和下检测针垂直于平振板，并分别设置于平振板上、下两侧，平振板上固定有限位块，限位块的工作平面低于平振板的表面，所述限位块上设有通孔，上检测针、下检测针和通孔设于同一轴线上。
所述限位块可由绝缘材料制成，使用时，将若干陶瓷晶片放入平振送料器，在振动作用下，陶瓷晶片成为有序队列沿平振板和调节片前进，当经过限位块时，陶瓷晶片可以准确地卡入限位块和平振板形成的槽中，此时，上驱动气缸、下驱动气缸同时动作，驱动上检测针和下检测针分别从上、下方向抵触在陶瓷晶片的上、下两电极上，配合不同尺寸的陶瓷晶片采用不同尺寸的限位块，可以精准地使检测针检测于每一陶瓷晶片的相同部位，进而检测得到陶瓷晶片相对准确的物理参数，利用所检测的物理参数在随后的分选机构中进行分选，可以使分选准确率高；又由于下检测针和平振片由绝缘的限位块相隔离，下检测针不会因短路而影响设备的使用可靠性，因而本实用新型的可靠性高。本实用新型可应用作为陶瓷晶片的分选设备，具有快速、准确、可靠性高的优点。
当上检测针、下检测针和通孔分别有两个时，检测的精度更高，分选也会更加准确。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
图2为图1的俯视图。
图3为图2的A-A向剖视图。
其中，1平振送料器，2调节片，3平振板，4限位块，5下驱动气缸，6下检测针，7上检测针，8上驱动气缸，9通孔。
具体实施方案
如图，陶瓷晶片分选机由平振送料器1、平振板3、调节片2、和检测装置等组成，平振板3一端与平振送料器1相连接，调节片2固定于平振板3的下边缘，检测装置包括上驱动气缸8、下驱动气缸5、上检测针7和下检测针6，上检测针7和下检测针6各有两个，所述上驱动气缸8连接上检测针7，下驱动气缸5连接下检测针6，上检测针7和下检测针6垂直于平振板3，并分别设置于平振板3的上、下两侧，平振板3上固定有由绝缘材料制成的限位块4，限位块4的工作平面低于平振板3的上表面，所述限位块4上设有两通孔9，上检测针7、下检测针6和通孔9设于同一轴线上。
Claims (2)
1、一种陶瓷晶片分选机，包括平振送料器、平振板、调节片、和检测装置，平振板一端与平振送料器相连接，调节片固定于平振板上侧边缘，检测装置包括上驱动气缸、下驱动气缸、上检测针和下检测针，所述上驱动气缸连接上检测针，下驱动气缸连接下检测针，上检测针和下检测针垂直于平振板，并分别设置于平振板上、下两侧，其特征在于：平振板上固定有限位块，限位块的工作平面低于平振板的上表面，所述限位块上设有通孔，上检测针、下检测针和通孔设于同一轴线上。
2、根据权利要求1所述的陶瓷晶片分选机，其特征在于：所述上检测针、下检测针和通孔分别有两个。
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