CN2566452Y

CN2566452Y - 晶片测试机

Info

Publication number: CN2566452Y
Application number: CN 02243054
Authority: CN
Inventors: 卢镜来
Original assignee: All Ring Tech Co Ltd
Current assignee: All Ring Tech Co Ltd
Priority date: 2002-07-30
Filing date: 2002-07-30
Publication date: 2003-08-13
Anticipated expiration: 2012-07-30

Abstract

本实用新型涉及晶片测试机。目的是改进性能提高效率。配合滑块与滑轨的组设，利用盲钮或转轮可使入料组及分类台能作快速的位移及定位，利于平台的操作及故障的排除，且设有侦测及清除装置可适时侦测输送轮上的定位槽是否有残留未及时吹出的晶片予以强制清除，以避免产生重复感测的困扰，成为一种更具有实用性的晶片测试机，用于晶片测试。

Description

晶片测试机

技术领域

本实用新型涉及晶片的测试设备。

背景技术

现有晶片测试设备有如公告第378755号、390441号以及实用新型申请案90217702等均有一定改进。又如公告第482900号用于测试多端点电子元件之设备，有输送轮、压紧器装置，其探针包括多个引线，一端固定在一可移动、弹性的固定基座，引线延伸通过一静止导引段，可准确地导引引线末端向待测试元件侧面的端点及导向轮、压紧装置，该案的入料分配器太细小供应效率不佳；分类台贴近输送轮，不易退开，不便检修并且输送轮无强制出料，容易卡制晶片重复测试，影响测试效率。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种测试效率较高的晶片测试机。

本实用新型的目的是这样实现的：晶片测试机，其包括：一机台、一入料组、一分配器、一输送轮、一测试组、一分类台及侦测及清除装置，其特征是：机台有平台、操作用键盘及控制单元，平台内有分类集中盒；入料组包含入料斗，并与支架连设，衔接导料槽，导料槽下有振动器，与支架组设于滑座上，滑座与固定座组设且由旋钮穿过固定座，滑座由旋钮调整松紧滑移或定位；分配器位于输送轮、导料槽之间并设有容置待测晶片的容室，与输送轮接近的凹弧面两侧具有斜导面；输送轮与机台内的动力源、传动元件相连接，为顺时针转动状，外周缘设有等距分布的定位槽并设有与定位槽相同数目的侦测孔；测试组置于输送轮上，由固定架下连气缸，气缸表面的滑轨组设有内、外滑块，位于输送轮的内、外侧，其中，一组或一组以上的内、外滑块连设有感测晶片的探针；分类台具有内、外弧板，位于输送轮内外侧，且分别连接有吹管及导管，导管连接分类集中盒位在平台上的入口端，分类台固设于可在固定座的滑轨上左右移动的滑块，滑块枢接一连接片，连接片另一端枢接在转轮的凹槽内，转轮使连接片将滑块朝向输送轮处移动并定位，内、外弧板对应于定位槽处，且固定座上具有两相对应的左、右挡块供与滑块上的凸块接触作左、右位移的界定；侦测及清除装置由定位侦测组、晶片侦测组及晶片清除组组成，定位侦测组上的感测器对应于侦测孔处，晶片侦测组的感测器对应于定位槽处，晶片清除组于板架上设有滑轨供组设一滑块，滑块前端具有推针对应于定位槽处。

上述晶片测试机与现有晶片测试设备相比较，具有下列优点：

1、入料组可利用固定座上的滑块配合旋钮的操作，能快速开脱或旋紧定位，可便于排除故障、检修或更换零件；

2、分配器具有大容量供置晶片的容室，待料具有充分的缓冲，配合与输送轮接触的凹弧面的容室两侧设有导斜面，使晶片更容易且顺利一一分配导入输送轮的定位槽内，不易造成缺空未置入晶片；

3、测试组利用气缸连动的内、外滑块，恰可供组设探针作晶片感测，且同时兼具多组，可随连设所需数量的控针作不同感测，有相当良好的应用弹性，可提高工作效率；

4、分类台组设于滑块上，并利用连接片与转轮连设枢接，再配合左、右挡块的限制定位，使之可轻易作靠近定位或脱离，以便检修、排除故障，可更好地维护测试机；

5、利用侦测及清除装置可以测得输送轮的定位槽是否残留未吹出的晶片，并予以适时由推针将之强制清除，不会造成晶片的卡掣或重复循环感测造成的困扰。

附图说明

图1为本实用新型的主视图；

图2为本实用新型的侧视图；

图3为本实用新型的主视部份放大示意图；

图4为本实用新型的俯视部份放大示意图；

图5为本实用新型的分配器俯视图；

图6为本实用新型分配器主视图；

图7为本实用新型的分配器侧视图；

图8为本实用新型的侧视部份放大示意图；

图9为本实用新型的测试组俯视示意图；

图10为本实用新型的测试组主视示意图；

图11为本实用新型的测试组侧视示意图；

图12为本实用新型的分类台主视图；

图13为本实用新型的分类台俯视图

图14为本实用新型的定位侦测组俯视图；

图15为本实用新型的定位侦测组主视图；

图16为本实用新型的定位侦测组侧视图；

图17为本实用新型的侦测及清除装置侧视组合图。

具体实施方式

如图1-17所示：本实用新型包括：一机台1、一入料组2、一分配器3、一输送轮4、一测试组5、一分类台6及侦测及清除装置7，其特征是：机台1有平台11、操作用键盘13及控制单元14，平台11内有分类集中盒12；入料组2包含入料斗21，并与支架211连设，衔接导料槽22，导料槽22下有振动器，与支架211组设于滑座23上，滑座23与固定座24组设且由旋钮25穿过固定座24，滑座23由旋钮25调整松紧滑移或定位；分配器3位于输送轮4、导料槽22之间并设有容置待测晶片的容室31，与输送轮4接近的凹弧面32两侧具有斜导面33；输送轮4与机台1内的动力源42、传动元件43相连接，为顺时针转动状，外周缘设有等距分布的定位槽41并设有与定位槽41相同数目的侦测孔44；测试组5置于输送轮4上，由固定架51下连气缸52，气缸52表面的滑轨53组设有内、外滑块54、55，位于输送轮4的内、外侧，其中，一组或一组以上的内、外滑块54、55连设有感测晶片的探针56；分类台6具有内、外弧板61、62，位于输送轮4内外侧，且分别连接有吹管611及导管621，导管621连接分类集中盒12，位在平台1上的入口端622，分类台6固设于可在固定座64的滑轨65上左右移动的滑块63，滑块63枢接一连接片66，连接片66另一端枢接在转轮67的凹槽671内，转轮67使连接片66将滑块63朝向输送轮4处移动并定位，内、外弧板61、62对应于定位槽41处，且固定座64上具有两相对应的左、右挡块641、642供与滑块63上的凸块631接触作左、右位移的界定；侦测及清除装置7由定位侦测组71、晶片侦测组72及晶片清除组73组成，定位侦测组71上的感测器711对应于侦测孔44处，晶片侦测组72的感测器721对应于定位槽41处，晶片清除组73于板架731上设有滑轨732供组设一滑块733，滑块733前端具有推针734对应于定位槽41处。其中，分配器3配合微调螺杆34及板架35的组合，可微调分配器3的上、下位置。输送轮4的侦测孔44设于转盘45上。

Claims

1、晶片测试机，其包括：一机台、一入料组、一分配器、一输送轮、一测试组、一分类台及侦测及清除装置，其特征是：机台有平台、操作用键盘及控制单元，平台内有分类集中盒；入料组包含入料斗，并与支架连设，衔接导料槽，导料槽下有振动器，与支架组设于滑座上，滑座与固定座组设且由旋钮穿过固定座，滑座由旋钮调整松紧滑移或定位；分配器位于输送轮、导料槽之间并设有容置待测晶片的容室，与输送轮接近的凹弧面两侧具有斜导面；输送轮与机台内的动力源、传动元件相连接，为顺时针转动状，外周缘设有等距分布的定位槽并设有与定位槽相同数目的侦测孔；测试组置于输送轮上，由固定架下连气缸，气缸表面的滑轨组设有内、外滑块，位于输送轮的内、外侧，其中，一组或一组以上的内、外滑块连设有感测晶片的探针；分类台具有内、外弧板，位于输送轮内外侧，且分别连接有吹管及导管，导管连接分类集中盒，位在平台上的入口端，分类台固设于可在固定座的滑轨上左右移动的滑块，滑块枢接一连接片，连接片另一端枢接在转轮的凹槽内，转轮使连接片将滑块朝向输送轮处移动并定位，内、外弧板对应于定位槽处，且固定座上具有两相对应的左、右挡块，供与滑块上的凸块接触作左、右位移的界定；侦测及清除装置由定位侦测组、晶片侦测组及晶片清除组组成，定位侦测组上的感测器对应于侦测孔处，晶片侦测组的感测器对应于定位槽处，晶片清除组于板架上设有滑轨供组设一滑块，滑块前端具有推针对应于定位槽处。