CN2544277Y - 分检装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型是一种分检装置，主要包括一上料机构，一量测定位机构及一下料机构，该上料机构可供承载及搬移待测物；该量测定位机构可对待测物进行角度调整及定位动作；该下料机构可将检测完成的已测物搬移并分类置放于定位；藉由各机构的配合连动及量测条件的精密控制，取代人为量测动作，可大幅缩短被测元件检测流程所花时间，提升产能，并减少人为造成的检测疏失，提升量测品质。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种分检装置，尤指一种针对光学镀膜元件的分类检测，可提供较佳量测品质及更大量测产能的分检装置。
背景技术
在全球大力推展资讯高速公路的计划下，光纤通讯以能提供最佳解决方案而受到重视，到目前为止，全球网路主干线光纤已陆续完成，未来光纤铺设至社区乃至家庭也将逐步实现，基于全球电信业的扩展是持续立稳定进行，当光纤大量铺设时，相关光纤零组件也将因而需求量大增，因此光纤零组件在未来将有相当大的市场利基；因为光通讯具备良好的频宽扩充能力，因此成为目前有线通讯的—最佳解决方案；而近来较新一代的光通讯方式所采取的为波长多工，波长多工就是将光讯号在同一条传输介质(光纤)的传输量由一种波长增加为多种波长，以增加单一光纤的通讯容量，而新一代的光通讯方式除了扮演大量傅输的角色外，更被要求兼具网路管理的功能，为了达到通讯网路管理的功能，各种处理光讯号的转换、放大、连接、耦合、衰减、分光等各种光主动、光被动通讯零组被同步开发出来，而与电子零组件相同的是，各种光通讯零组件在制造过程或制造完成后都需经过分类检测，才能出货，以利下游应用，因此检测流程是否顶畅，检测品质定否稳定，将直接影响光学零元件的生产制造成本。
现有镀膜光学零组件的检测仪器主要为光波量测***，藉由扫描波长测试***的分析，将光学零件做等级分类，并将不良品筛检出来，传统的此一量测分检动作，系采用人力作业及人为比对，利用人力将待测零件夹持到测式***的载台，加以定位后并开启雷射光源，再由人力读取分析结果后参考资料库数据将产品分类，此种办法牵涉人力先天上的限制，无法稳定持续提供大量且高品质的分检结果，因此也使生产成本居高不下。
发明内容
本实用新型的主要目的是提供一种分检装置，藉由装置各机构间的配合连动，提供精密的量测条件控制，有效提高待测元件的量测品质，并提升其量测产能，以有效降低生产成本。
本实用新型的上述目的是这样实现的，一种分检装置：主要包括一上料机构，一量测定位机构及一下料机构；其中：上料机构于作业平台一侧设有标准料盘，于标准料盘上方跨设有一可带动上料滑座进行两轴水平移动的平移滑台，上料滑座上固设有复数组吸座；量测定位机构设于上料机构的一侧，于作业平台上设有可置放元件的载台；下料机构于作业平台相对标准料盘的另一侧设有成品料盘，于成品料盘上方跨设有一可带动下料滑座进行两轴水平移动的平移滑台，下料滑座上并固设有复数组吸座。
通过上述各机构的配合连动，及量测条件的精密控制，可提供更稳定精确的分检结果及测试产能，以有效降低生产成本。
下面结合附图以较佳实施例对关本实用新型进行详细说明。此等实例仅供举例说明之用，而非限制本实用新型。
附图说明
图1本实用新型的上视示意图；
图2本实用新型的前视示意图；
图3本实用新型的—侧视示意图。
附图标号说明：10上料机构；11标准料盘；12平移滑台；13上料滑座；14吸座 20量测定位机构；21载台；22定位杆；30下料机构；31成品料盘；32平移滑台；33下料滑座；34吸座；40作业平台。
具体实施方式
参见图1至图3，本实用新型分检装置主要包括一上料机构10， 一量测定位机构20及一下料机构30，分设于一作业平台40上适当位置处，该上料机构10于作业平台40一侧适当位置处设有复数组标准料盘11，可供承载待测元件，另于标准料盘11上方跨设有一平移滑台12，该平移滑台12设有一上料滑座13，上料滑座13上固设有复数组吸座14；该量测定位机构20设于上料机构10的一侧，于作业平台40上设有可调整水平角度的载台21；相对载台21配设有一定位杆22，每一载台21上方配合设有光学测试组；该下料机构30于作业平台40相对标准料盘11的另一侧适当位置处设有复数组成品料盘31，可供承载已测元件，另于成品料盘31上方跨设有平移滑台32，平移滑台32上设有下料滑座33上亦固设有复数组吸座34。
本实用新型上料滑座13及下料滑座33经由平移滑台12、32的带动可进行两轴的水平移动，吸座14、34藉由上料滑座13及下料滑座33的带动则可平移至标准料盘11、载台21或成品料盘31、载台21上方任意位置处。
待测元件系置放于标准料盘11上，元件经由吸座14的吸附搬送取放至载台21，相应的定位杆22将元件推移定位，载台21并同步与光学测试组发射光源配合比对进行水平角度的自动调整，以取得最佳的量测角度，当光学测试组完成待测元件的检测，检测数据经软体解读后再与资料库内容进行比对，可得出该待测元件的等级，并释出讯号至下料机构30，吸座34于接收讯号后作动工载台21上方，将已量测元件依比对结果分类放至相应成品料盘31上，上述各机构动作的连动及相关对应位置的决定则经由可程控器的设定而达成。
传统光学元件的分类检测系以人力方式将的取放于光学测试组的检测头下，再加以定位后启动发射光束，使光束穿过待测元件，并将接受器所测得的各类光学数据经比对后以人为方式分类，此等方式皆使分检产能与量测品质无法有效提升；本实用新型藉由各机构的相对作动，可大幅缩短被测-元件检测流程所需花费的时间，并有效避免人力动作造成的疏失，使产能及量测品质能同时有所增益。
虽然本实用新型实施例仅显示一种态样，但以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，不能用来限定本实用新型实施的范围，凡依本实用新型所述内容所作的等效变化与修饰，皆应属于本实用新型涵盖的范围。
Claims (3)
1、一种分检装置：主要包括一上料机构，—量测定位机构及一下料机构；其特征在于：
上料机构于作业平台一侧设有标准料盘，于标准料盘上方跨设有一可带动上料滑座进行两轴水平移动的平移滑台，上料滑座上固设有复数组吸座；
量测定位机构设于上料机构的一侧，于作业平台上设有可置放元件的载台；
下料机构于作业平台相对标准料盘的另一侧设有成品料盘，于成品料盘上方跨设有一可带动下料滑座进行两轴水平移动的平移滑台，下料滑座上并固设有复数组吸座。
2.如权利要求1所述的分检装置，其特征在于量测定位机构的载台是可调整水平角度的载台。
3.如权利要求1所述的分检装置，其特征在于量测定位机构的载台设有可对置放于载台的元件进行定位的相应定位杆。
Priority Applications (1)
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| CN 02239344 CN2544277Y (zh) | 2002-06-21 | 2002-06-21 | 分检装置 |
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| CN 02239344 CN2544277Y (zh) | 2002-06-21 | 2002-06-21 | 分检装置 |
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| CN2544277Y true CN2544277Y (zh) | 2003-04-09 |
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Family Applications (1)
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| CN 02239344 Expired - Fee Related CN2544277Y (zh) | 2002-06-21 | 2002-06-21 | 分检装置 |
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| CN (1) | CN2544277Y (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102059219A (zh) * | 2010-11-29 | 2011-05-18 | 德昌电机（南京）有限公司 | 磁瓦分检装置及其分检方法 |
| CN104360255A (zh) * | 2014-11-03 | 2015-02-18 | 宁波斗士油压有限公司 | 一种橡胶护套的自动检测装置 |
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2002
- 2002-06-21 CN CN 02239344 patent/CN2544277Y/zh not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN104360255A (zh) * | 2014-11-03 | 2015-02-18 | 宁波斗士油压有限公司 | 一种橡胶护套的自动检测装置 |
| CN104360255B (zh) * | 2014-11-03 | 2017-02-15 | 宁波斗士油压有限公司 | 一种橡胶护套的自动检测装置 |
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