CN220772597U - 铜箔取样装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及铜箔制造技术领域，提供了一种铜箔取样装置，包括卷绕机构和检测机构；卷绕机构能够在外力作用下绕自身轴线转动；卷绕机构构造有用于卷收铜箔的卷绕面；检测机构能够发出与卷绕机构轴线平行或趋于平行的检测光线。该铜箔取样装置利用检测机构发出的检测光线作为基准，如果铜箔在卷绕的过程中出现褶皱，铜箔与检测光线之间的间距会发生变化，从而即可提醒操作人员需要调整铜箔卷绕，以满足铜箔的平整卷绕，对后续铜箔的测试性能起到保障。

Description

铜箔取样装置

技术领域

本申请涉及铜箔制造技术领域，特别是涉及一种铜箔取样装置。

背景技术

在铜箔制造过程中，需要将电解铜箔卷绕收纳，且需要对其进行性能测试。相关技术中，从铜箔母卷(即卷绕收纳后的电解铜箔)取样并人工收卷至圆辊上。由于人工取样收卷的不可控性，很容易在缠绕过程中致使铜箔倾斜发生褶皱，从而影响测试性能。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种铜箔取样装置，在对铜箔取样过程中能够确保铜箔不会轻易发生倾斜而出现褶皱，从而提高对铜箔的测试性能。

一种铜箔取样装置，包括卷绕机构和检测机构；所述卷绕机构能够在外力作用下绕自身轴线转动；所述卷绕机构构造有用于卷收铜箔的卷绕面；所述检测机构能够发出与所述卷绕机构轴线平行或趋于平行的检测光线。

上述的铜箔取样装置，铜箔的一端相对卷绕机构固定，而后通过驱动卷绕机构转动，以将从铜箔母卷上取样并缠绕至卷绕机构的卷绕面上。在这个取样过程中，利用检测机构发出的检测光线作为基准，如果铜箔在卷绕的过程中出现褶皱，铜箔与检测光线之间的间距会发生变化，甚至会影响到检测光线的分布。此时，即可提醒操作人员需要调整铜箔的卷绕方式，以满足铜箔的平整卷绕，对后续铜箔的测试性能起到保障。

在其中一些实施例中，所述检测机构具有用于发出所述检测光线的出光孔；沿所述卷绕机构的径向，所述出光孔的轴线与所述卷绕机构的轴线平行或趋于平行。

在其中一些实施例中，沿所述卷绕机构的径向，所述出光孔的轴线与所述卷绕面之间具有收卷间隙，所述收卷间隙的尺寸在2mm-4mm之间。

在其中一些实施例中，所述卷绕机构构造有贯穿至所述卷绕面的固定间隙，且所述固定间隙沿所述卷绕机构的轴向延伸。

在其中一些实施例中，所述卷绕机构包括固定夹和卷筒，所述卷筒的外周面限定为所述卷绕面，所述固定间隙贯穿所述卷筒的筒壁；所述固定夹安装于所述卷筒的筒腔内，并位于靠近所述固定间隙的位置，所述固定夹用于固定伸入所述固定间隙的铜箔。

在其中一些实施例中，所述卷绕机构还包括传感器，所述传感器安装于所述卷筒，所述传感器用于检测所述固定间隙内的铜箔；所述传感器与所述固定夹电连接，所述固定夹被配置为响应于所述传感器的检测信号而闭合。

在其中一些实施例中，所述卷绕机构还包括磁吸组件；所述卷筒沿自身轴向的至少一端安装有所述磁吸组件，所述磁吸组件用于磁吸固定铜箔。

在其中一些实施例中，所述磁吸组件包括第一磁性件和第二磁性件；所述第一磁性件位于所述卷筒的筒腔内，并固定于所述卷筒的内壁；所述第二磁性件可拆卸连接于所述卷筒的外壁，所述第二磁性件被配置为响应于所述第一磁性件的磁吸作用而压紧所述卷绕面的铜箔。

在其中一些实施例中，所述卷绕机构还包括卷轴和装配支架；所述卷轴位于所述卷筒的筒腔内，所述装配支架连接于所述卷轴与所述卷筒之间，所述卷轴能够在外力作用下绕自身轴线转动，以带动所述卷筒同步转动。

在其中一些实施例中，各个所述装配支架包括一个支撑柱体，所述支撑柱体的两端分别固设于所述卷轴和所述卷筒；或者，各个所述装配支架包括至少两个支撑柱体，各个所述支撑柱体绕所述卷轴的轴线间隔布置，且各个所述支撑柱体的两端分别固设于所述卷轴和所述卷筒。

在其中一些实施例中，所述铜箔取样装置还包括驱动机构，所述驱动机构与所述卷绕机构传动连接，以驱动所述卷绕机构绕所述卷绕机构的轴线转动，所述检测机构连接于所述驱动机构。

在其中一些实施例中，所述驱动机构包括装配壳体和驱动件；所述装配壳体构造有装配腔，所述驱动件连接于所述装配腔内，所述驱动件的驱动轴与所述卷绕机构连接，以驱动所述卷绕机构转动；所述检测机构安装于所述装配壳体。

在其中一些实施例中，所述驱动机构与所述卷绕机构之间具有装配间隙。

在其中一些实施例中，所述铜箔取样装置还包括固定轴和拉杆，所述固定轴连接于所述卷绕机构，所述拉杆连接于所述固定轴。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一实施例提供的铜箔取样装置的第一示意图；

图2为本申请一实施例提供的铜箔取样装置的第二示意图；

图3为本申请一实施例提供的铜箔取样装置的剖视图。

附图标记：10、驱动机构；11、装配壳体；12、驱动件；13、电机座；14、中部转接轴；20、卷绕机构；21、卷筒；22、磁吸组件；23、卷轴；24、装配支架；25、固定夹；30、检测机构；40、固定轴；50、拉杆；60、控制按钮；100、铜箔取样装置；201、卷绕面；202、固定间隙；221、第一磁性件；222、第二磁性件；241、支撑柱体；1101、装配腔。

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。

需要说明的是，当组件被称为“固定于”或“设置于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。本申请的说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”、“下”可以是第一特征直接和第二特征接触，或第一特征和第二特征间接地通过中间媒介接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

除非另有定义，本申请的说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本申请。本申请的说明书所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

本申请一实施例提供了一种用于铜箔取样测试的铜箔取样装置，能够从铜箔母卷上取样并收卷，在铜箔取样过程中能够确保铜箔不会轻易发生倾斜而出现褶皱，从而提高对铜箔的测试性能。以下针对该铜箔取样装置进行详细描述。

如图1-图3所示，在一些实施例中，该铜箔取样装置100包括卷绕机构20和检测机构30，卷绕机构20能够在外力作用下绕自身轴线转动；卷绕机构20构造有用于卷收铜箔的卷绕面201，检测机构30能够发出与卷绕机构的轴线平行或趋于平行的检测光线。

在实际取样时，从铜箔母卷上拉出的一端固定于卷绕机构20，则该端作为取样收卷时的固定端；而后驱动卷绕机构20绕自身轴线转动，使得铜箔能够缠绕在卷绕机构20的卷绕面201上，以满足取样收卷。在取样收卷过程中，检测机构30能够发出与卷绕机构20的轴线平行的检测光线，因此以该检测光线作为卷绕基准，如果铜箔在卷绕过程中出现褶皱，则沿卷绕机构20的径向，铜箔与检测光线之间的间距大小会发生变化，例如在铜箔卷沿卷绕机构20轴向上各处相对检测光线的间距不同，甚至会影响到检测光线的分布。此时，即可提醒操作人员需要调整铜箔的卷绕方式，以满足铜箔的平整卷绕，对后续铜箔的测试性能起到保障。

示例性的，检测机构30具有用于发出检测光线的出光孔；沿卷绕机构20的径向，出光孔的轴线与卷绕机构20的轴线平行或趋于平行。可以理解的是，这样的设置，才可以满足发射处的检测光线与卷绕机构的轴线平行或趋于平行，便于进行铜箔取样平整度检测。进一步地，沿卷绕机构20的径向，出光孔的轴线与卷绕面201之间具有收卷间隙，该收卷间隙的尺寸在2mm-4mm之间。具体的，由于需要通过观察检测光线与铜箔之间的间距，观察铜箔是否发生褶皱，因此也需要出光孔相对卷绕面201的位置限定。如果出光孔的轴线与卷绕面201之间的间距过小，导致取样厚度不满足测试要求；如果该间距过大，不便于观察检测光线与铜箔之间的间距。具体的，沿卷绕机构20的径向，检测光线与卷绕机构20的轴线之间具有一垂直线，则沿该垂直线的长度方向，检测光线与卷绕面201之间间距即可形成该收卷间隙。在一些具体的实施例中，沿卷绕机构20的径向，收卷间隙的尺寸为2mm、3mm、3.5mm或者4mm。

在可选的实施例中，该检测机构30可以采用激光尺，并可以通过发出红外光的方式，便于观察。

在实际使用时，卷绕机构20构造有固定间隙202，固定间隙202贯穿至卷绕面201，且固定间隙沿卷绕机构的轴向延伸。这样的设置，便于将铜箔的一端穿入固定间隙202进行固定，提高固定效果；且，可以满足铜箔自身结构，便于铜箔沿自身宽度方向的每一处均能够穿入固定间隙实现固定。

在可选的实施例，该铜箔取样装置100还包括驱动机构10，驱动机构10与卷绕机构20传动连接，以驱动卷绕机构20转动，检测机构连接于驱动机构。也就是说，利用驱动机构10实现对卷绕机构20的转动驱动，提高卷绕和取样效率，缩短取样时间，节省人力。由于检测机构连接于驱动机构，避免检测机构与卷绕机构之间的干涉，当更换或是拆装卷绕机构时不会与检测机构造成影响，确保检测机构的装配基准不会改变。其中，驱动机构10可以是伺服电机，亦或是其他可以将直线运动转化成旋转运动的机构，其只要能够实现对卷绕机构20的转动驱动即可。

请结合图2和图3所示，在实际装配时，驱动机构10包括装配壳体11和驱动件12，装配壳体11构造有装配腔1101，驱动件12连接于装配腔1101，驱动件12的驱动轴与卷绕机构20连接，以驱动卷绕机构20绕驱动轴的轴线转动。上述检测机构30安装于装配壳体11的外侧壁上。可以理解的是，利用装配壳体的设置以对驱动件形成保护。其中，驱动件与卷绕机构同轴设置，此时当检测机构安装于装配壳体时，也就相当于相对驱动件的装配基准确定，即便卷绕机构发生更换也能够确保检测光线与卷绕机构的轴线平行或趋于平行。其中，检测机构30安装于装配壳体11的顶部，并位于靠近卷绕机构20的一端，装配壳体11的顶部与卷绕面201的顶部基本平齐。

进一步地，检测机构30可以采用可拆卸连接的方式相对装配壳体11安装，便于拆卸和安装。

再进一步地，驱动机构10与卷绕机构20之间具有装配间隙。这样的设置，便于驱动机构10和卷绕机构20分别组装成型，降低二者装配过程中的干涉。具体的，该装配间隙存在与装配壳体11与卷绕机构20之间，这样的设置，以降低装配壳体11对卷绕机构20的转动干涉。由于装配壳体11用于稳定安装驱动件12，需要静止不动，而卷绕机构20需要转动以满足铜箔取样收卷。故而，此时需要装配壳体11与卷绕机构20不产生物理接触，也就需要该装配间隙的设置。

在实际使用时，装配壳体11的内壁上固定有电机座13，以用于固定驱动件12，提高驱动件12工作时的稳定性。电机座13包括多个绕第一轴线间隔布置的固定块，每个固定块的一端连接于装配壳体11，另一端连接于驱动件12。以至少两个固定块为一组，沿驱动轴的轴向设置有至少两组，提高固定可靠性。在可替换的实施例中，电机座13包括固定块和固定环，固定环套设于驱动件12的外侧，并与固定块固定，固定块与装配壳体11固定，实现驱动件12相对装配壳体11的装配。

在一个具体的实施例中，驱动件12采用电机，电机与卷绕机构20传动连接时，还可以连接有减速器，以满足卷绕时的转速；同时，可以利用中部转接轴14，促使电机的电机轴(即驱动件12的驱动轴)与卷绕机构20连接。

以下针对卷绕机构20进行详细描述。

请结合图2和图3所示，在一些实施例中，卷绕机构20包括卷筒21和固定夹25，卷筒21的周侧壁限定为卷绕面201，固定间隙202贯穿卷筒21的筒壁设置，固定夹25安装于卷筒21的筒腔内，并位于靠近固定间隙202的位置，固定夹25用于固定伸入固定间隙202的铜箔。

具体的，当铜箔的固定端沿固定间隙202伸入至卷筒21内，固定夹25即可夹紧伸入的部分，以使铜箔相对卷筒21固定，便于后续的收卷操作。其中，固定夹25包括第一夹板和第二夹板，第一夹板固定于卷筒21的腔壁，第二夹板的中部与第一夹板的中部铰接，且二者之间连接有扭簧。卷筒21的筒腔内安装电磁铁，该电磁铁位于第二夹板远离第一夹板的一侧，以通过磁性吸附作用，实现第二夹板顺时针转动。以第一夹板和第二夹板夹持铜箔的一端为首端，电磁铁位于第二夹板的尾端。使用时，未夹持状态时，电磁铁断电，第二夹板相对第一夹板基本平行，二者的首端之间为张开状态。当铜箔经固定间隙伸入至第一夹板和第二夹板之间时，电磁铁通电，以磁性吸附第二夹板的尾端靠近，则第二夹板的首端朝向第一夹板的首端靠近，即第二夹板顺时针转动，以与第一夹板配合夹紧铜箔；此时，扭簧发生形变。当电磁铁断电后，第二夹板在扭簧的作用下逆时针转动，以解除对铜箔的固定。

示例性的，卷绕机构20还包括传感器，传感器安装于卷筒21，传感器用于检测固定间隙202内的铜箔；传感器与固定夹25电连接，固定夹25被配置为响应于传感器的检测信号而闭合。具体的，该传感器为光电传感器，安装在固定间隙202处，且发射端和接收端沿固定间隙202的开口宽度分设。当铜箔伸入时会遮挡住发射端的光线，促使接收端不能接收到光线，则会传递检测信号至控制器，以使控制器向电磁铁发出启动指令。当收卷完成后，可以手动关闭电磁铁。

进一步地，卷筒21沿自身轴向的两端均为敞口，以便于安装固定夹25、电磁铁、传感器等结构。

在可选的实施例中，卷绕机构20还包括磁吸组件22，卷筒21沿自身轴向的至少一端安装有磁吸组件22，磁吸组件22用于磁吸固定铜箔。具体的，通过磁吸组件22的设置，能够固定在铜箔卷绕取样的固定端，提高对铜箔的固定效果，促使铜箔在卷绕过程中尽可能始终处于受力均匀的状态，从而改善了因固定不稳而出现受力不均导致的褶皱问题。其中，驱动轴的轴线与卷筒21的轴线重合，即二者同轴设置，提高卷绕稳定性，避免偏心波动。同时，在卷筒21轴向两端分别设置磁吸组件22，对铜箔形成双点固定，提高固定效果。当然，若只有一组磁吸组件22时，也可以将其安装在背离驱动机构10的一端。

请结合图2和图3所示，示例性的，磁吸组件22包括第一磁性件221和第二磁性件222，第一磁性件221位于卷筒21的筒腔内，并固定与卷筒21的内壁，第二磁性件222可拆卸连接于卷筒21的外壁，第二磁性件222被配置为响应于第一磁性件221的磁吸作用而压紧卷绕面201的铜箔。在铜箔固定前，可以手动将第二磁性件222取下，待铜箔的固定端相对卷筒21固定后，将第二磁性件222放置于卷筒21以与第一磁性件221磁性吸附，即可固定铜箔。亦或者，第一磁性件221采用电磁铁，在固定前断电以便取下第二磁性件222，待铜箔通过固定夹25固定后，通电以磁性吸附第二磁性件222。

在一些具体的实施例中，第一磁性件221呈环形设置。如此，即可确保绕卷筒21的一周都具有磁性吸附的固定区域，提高固定效果和固定范围。在实际装配时，卷筒21的内壁构造有环形槽，第一磁性件221安装于环形槽内，以满足第一磁性件221相对卷筒21的定位安装。

请结合图2和图3所示，在可选的实施例中，卷绕机构20还包括卷轴23和装配支架24，卷轴23位于卷筒21的筒腔内，装配支架24连接于卷轴23和卷筒21之间，卷轴23的一端与驱动件12的驱动轴连接。也就是说，卷筒21并不直接与驱动件12驱动轴连接，而是通过卷轴23和装配支架24的转接，满足卷筒21的驱动。这样的设置，提高对卷筒21的保护性，避免在装配过程中因与驱动件12的直接接触而导致卷筒21受损。其中，卷轴23与卷筒21同轴设置，即，驱动件12的驱动轴、卷轴23以及卷筒21，这三者均同轴装配。

进一步地，装配支架24的数量为至少两个，各个装配支架24沿卷轴23的轴向间隔布置，以提高卷轴23与卷筒21之间的连接可靠性；且，这样的设置，满足卷轴23与卷筒21之间受力均匀分布，降低旋转剪力影响。在一些实施例中，装配支架24包括一个支撑柱体241，该支撑柱体241的两端分别固设于卷轴23和卷筒21；那么，沿卷轴23的轴向，具有多个间隔布置的支撑柱体241，且多个支撑柱体241可以呈螺旋状分布，以便受力均匀。而且，这样的设置，能够满足卷绕机构20的轻量化设计，降低驱动件12的驱动负载，提高转动稳定性。

在可替换的实施例中，各个装配支架24包括至少两个支撑柱体241，各个支撑柱体241绕卷轴23的轴线间隔布置，且各个支撑柱体241的两端分别固设于卷轴23和卷筒21。如此，也可以提高卷筒21与卷轴23之间的连接可靠性。例如，各个装配支架24包括四个支撑柱体241，任意相邻的两个支撑柱体241之间间隔90度分布。沿卷轴23的轴线，安装有两个装配支架24。

请参照图1-图3所示，在一些实施例中，铜箔取样装置100还包括固定轴40和拉杆50，固定轴40的数量为两个，其中一个固定轴40连接在装配壳体11背离卷筒21的一端，另一个固定轴40连接于卷轴23背离装配壳体11的一端，拉杆50的两端分别连接于相同侧的固定轴40，以便于拉动驱动装置。为便于描述，分别为第一固定轴和第二固定轴。其中，第一固定轴与装配壳体11可以固定连接，也可以转动连接；第二固定轴与卷轴23为转动连接，以便于卷轴23转动，具体的，卷轴23开设有轴孔以通过轴承与第二固定轴连接。

进一步地，在拉杆50上还可以设置各个控制按钮60，例如，用于控制驱动件12启动的电机按钮、用于控制固定夹25的固定夹按钮、用于控制第一磁性件221的磁吸按钮以及用于控制检测机构30的检测按钮。各个控制按钮60可以利用导线与对应的控制端连接，也可以是无线电信号控制。其中，检测机构30也可以是自身具有控制按钮60，此时无需在拉杆50上设置对应的控制按钮60。

需要补充的是，关于电机的启动控制、电磁铁的启动控制以及激光尺的启动控制，均为现有成熟技术，且并不属于本申请的发明点，故而不再赘述。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的专利保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (14)

1.一种铜箔取样装置，其特征在于，所述铜箔取样装置(100)包括：

卷绕机构(20)，能够在外力作用下绕自身轴线转动；所述卷绕机构(20)构造有用于卷收铜箔的卷绕面(201)；

检测机构(30)，所述检测机构(30)能够发出与所述卷绕机构(20)轴线平行或趋于平行的检测光线。

2.根据权利要求1所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述检测机构(30)具有用于发出所述检测光线的出光孔；

沿所述卷绕机构(20)的径向，所述出光孔的轴线与所述卷绕机构(20)轴线平行或趋于平行。

3.根据权利要求2所述的铜箔取样装置，其特征在于，沿所述卷绕机构(20)的径向，所述出光孔的轴线与所述卷绕面(201)之间具有收卷间隙，所述收卷间隙的尺寸在2mm-4mm之间。

4.根据权利要求1所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述卷绕机构(20)构造有贯穿至所述卷绕面(201)的固定间隙(202)，且所述固定间隙(202)沿所述卷绕机构(20)的轴向延伸。

5.根据权利要求4所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述卷绕机构(20)包括固定夹(25)和卷筒(21)；

所述卷筒(21)的外周面限定为所述卷绕面(201)，所述固定间隙(202)贯穿所述卷筒(21)的筒壁设置，所述固定夹(25)安装于所述卷筒(21)的筒腔内，并位于靠近所述固定间隙(202)的位置，所述固定夹(25)用于固定伸入所述固定间隙(202)的铜箔。

6.根据权利要求5所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述卷绕机构(20)还包括传感器，所述传感器安装于所述卷筒(21)，所述传感器用于检测所述固定间隙(202)内的铜箔；

所述传感器与所述固定夹(25)电连接，所述固定夹(25)被配置为响应于所述传感器的检测信号而闭合。

7.根据权利要求5所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述卷绕机构(20)还包括磁吸组件(22)；

所述卷筒(21)沿自身轴向的至少一端安装有所述磁吸组件(22)，所述磁吸组件(22)用于磁吸固定铜箔。

8.根据权利要求7所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述磁吸组件(22)包括第一磁性件(221)和第二磁性件(222)；

所述第一磁性件(221)位于所述卷筒(21)的筒腔内，并固定于所述卷筒(21)的内壁；所述第二磁性件(222)可拆卸连接于所述卷筒(21)的外壁，所述第二磁性件(222)被配置为响应于所述第一磁性件(221)的磁吸作用而压紧所述卷绕面(201)的铜箔。

9.根据权利要求5所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述卷绕机构(20)还包括卷轴(23)和装配支架(24)；

所述卷轴(23)位于所述卷筒(21)的筒腔内，所述装配支架(24)连接于所述卷轴(23)与所述卷筒(21)之间，所述卷轴(23)能够在外力作用下绕自身轴线转动，以带动所述卷筒(21)同步转动。

10.根据权利要求9所述的铜箔取样装置，其特征在于，各个所述装配支架(24)包括一个支撑柱体(241)，所述支撑柱体(241)的两端分别固设于所述卷轴(23)和所述卷筒(21)；或者

各个所述装配支架(24)包括至少两个支撑柱体(241)，各个所述支撑柱体(241)绕所述卷轴(23)的轴线间隔布置，且各个所述支撑柱体(241)的两端分别固设于所述卷轴(23)和所述卷筒(21)。

11.根据权利要求1所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述铜箔取样装置(100)还包括驱动机构(10)，所述驱动机构(10)与所述卷绕机构(20)传动连接，以驱动所述卷绕机构(20)转动，所述检测机构(30)连接于所述驱动机构(10)。

12.根据权利要求11所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述驱动机构(10)包括装配壳体(11)和驱动件(12)；

所述装配壳体(11)构造有装配腔(1101)，所述驱动件(12)连接于所述装配腔(1101)内；所述驱动件(12)的驱动轴与所述卷绕机构(20)连接，以驱动所述卷绕机构(20)转动；

所述检测机构(30)安装于所述装配壳体(11)的外侧。

13.根据权利要求11所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述驱动机构(10)与所述卷绕机构(20)之间具有装配间隙。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的铜箔取样装置，其特征在于，所述铜箔取样装置(100)还包括固定轴(40)和拉杆(50)；

所述固定轴(40)连接于所述卷绕机构(20)，所述拉杆(50)连接于所述固定轴(40)。