CN220490983U - 一种高速集成电路动态参数测试*** - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种高速集成电路动态参数测试***，包括：测试电路板，包括ATE接口、示波器接口和测试接口，ATE接口与测试接口的输入端连接，示波器接口与测试接口的输出端连接，测试接口用于连接待测器件；示波器，与示波器接口连接，用于将待测器件从测试接口的输出端输出的第一信号显示为第一结果；ATE测试机，与ATE接口连接，用于向测试电路板发送测试信号；以及与示波器连接，用于回读第一结果到ATE测试机上。利用示波器进行准确测量，干扰小和ATE测试设备更高效率的测试方式，将示波器的测量结果回读到ATE测试机的上进行显示，结合二者的优点实现了高速高精度的动态参数测量。

Description

一种高速集成电路动态参数测试***

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种高速集成电路动态参数测试***。

背景技术

相关技术中，对高速集成电路的动态参数测量方法包括ATE时间测量单元直接测试和连接示波器读取两种，但是在ATE测试设备的时间测量单元集成在测试***中，经试验发现在高速集成电路的时间测量上(如ns及以上的量级)ATE测试设备的板卡电路的设计或其他元件的干扰会造成信号的反射，而且板卡与被测器件之间往往会有很长的线缆，这样也会影响测量的准确度，无法抓取到真实的信号。并且动态参数测量的精度依赖于设备板卡的精度。而连接示波器由于此类参数的测量需要使器件工作再进行波形的抓取，所以要给器件信号使器件工作，这种测量方法需要复杂的外接设备如电源、信号发生器、示波器等。测量后将结果手动记录下来，效率上远远低于ATE设备的测试方法而且容易记录错误，但是这个方法的测试结果是最准确的，因为是采用示波器直接连接到器件的引脚上采集信号。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的高速集成电路动态参数测试***。

基于上述目的，本实用新型提供了一种高速集成电路动态参数测试***，包括：

测试电路板，包括ATE接口、示波器接口和测试接口，所述ATE接口与所述测试接口的输入端连接，所述示波器接口与所述测试接口的输出端连接，所述测试接口用于连接待测器件；

示波器，与所述示波器接口连接，用于将所述待测器件从所述测试接口的输出端输出的第一信号显示为第一结果；

ATE测试机，与所述ATE接口连接，用于向所述测试电路板发送测试信号；以及与所述示波器连接，用于回读所述第一结果到所述ATE测试机上。

可选的，所述ATE测试机和所述示波器之间连接有数字转换器，用于将所述示波器可读的第一信号转换成所述ATE测试机可读的第二信号。

可选的，所述测试电路板上设有滤波电容，所述滤波电容与所述测试接口的输入端和输出端连接。

可选的，所述测试电路板上设有阻抗匹配电阻，所述阻抗匹配电阻设置在所述测试接口和所述ATE接口之间。

可选的，所述ATE接口与所述测试接口之间设有继电器，用于控制所述ATE接口与所述测试接口的通断。

可选的，所述ATE测试机设有显示屏幕和控制器，所述显示屏幕用于将所述可读的第二信号显示为第二结果，所述控制器用于记录所述第二结果。

可选的，所述ATE接口设置在所述测试电路板的第一面，所述示波器接口和所述测试接口设置在所述测试电路板的第二面，所述第一面和所述第二面相对设置。

可选的，所述示波器设有量程控制按钮，用于控制所述示波器的测试量程以匹配所述待测器件的默认量程参数。

可选的，所述示波器设有放大倍数按钮，用于控制所述示波器对于所述第一结果的放大显示。

可选的，所述示波器设有触发电平按钮，用于控制所述示波器工作的触发电平值。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的一种高速集成电路动态参数测试***，避免相关技术中在进行ATE测试机测试的时候，ATE测试机内部板卡电路或其他原件干扰造成的信号反射，利用示波器进行准确测量，干扰小和ATE测试设备更高效率的测试方式，将示波器的测量结果回读到ATE测试机的上进行显示，结合二者的优点实现了高速高精度的动态参数测量，测试结果准确性高，稳定可靠。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型测试***的连接示意图；

图2为本实用新型测试电路板示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

需要说明的是，除非另外定义，本实用新型实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

为了增加对于待测器件的测试结果的准确性，同时减小原有的ATE测试机中内部办卡电路的涉及或其他原件造成的信号干扰，同时满足示波器连接的便捷性，申请人利用示波器进行准确测量以及利用ATE测试机对示波器的读数进行回读显示，自动记录。

基于此，参考图1、图2所示，本实用新型提供一种高速集成电路动态参数测试***，包括：

测试电路板1，包括ATE接口11、示波器接口12和测试接口13，所述ATE接口11与所述测试接口13的输入端连接，所述示波器接口12与所述测试接口13的输出端连接。可以理解的是，ATE接口11与测试接口13的输入端以及示波器接口12与测试接口13的输出端都是通过设置在测试电路板1上的连接电路进行连接，同时测试接口13用于连接待测器件4，需要说明的是，测试接口13用于夹持待测器件4的引脚对待测器件4进行固定。

示波器2，与所述示波器接口12连接，用于将所述待测器件4从所述测试接口13的输出端输出的第一信号显示为第一结果。通过示波器2与测试电路板1的示波器接口12直接进行连接，避免相关技术中需要单独对待测器件4外接如电源、信号发生器等，直接连接示波器接口12即可获取到示波器2需要抓取的波形，通过示波器2的显示波形能够有效显示待测器件4的动态参数如时间间隔、上升时间、下降时间等，但是示波器2的测量结果需要手动记录，也就是说，示波器2中显示的波形中所包含的时间间隔、上升时间、下降时间等只能通过波形显示，同时想要准确的参数，那么就需要手动通过示波器2中显示的波形来记录，为了将示波器2中显示的波形直观地进行显示，还包括ATE测试机3，与所述ATE接口11连接，用于向所述测试电路板1发送测试信号；以及与所述示波器2连接，用于回读所述第一结果到所述ATE测试机3上。对于示波器2显示的第一结果(显示波形)回读到ATE测试机3上，直接进行上述时间间隔、上升时间、下降时间等的计算与记录。通过比对ATE测试机3的测试结果，与待测器件4的标定参数进行对比，如果测试结果优于待测器件4的标定参数，那么待测器件4检测合格，反之，则待测器件4不合格。

可以理解的是，ATE测试机3的中内置的存储单元可以对回读到ATE测试机3上的第一结果进行记录。

在一些实施例中，所述ATE测试机3和所述示波器2之间连接有数字转换器，用于将所述示波器2可读的第一信号转换成所述ATE测试机3可读的第二信号。可以理解的是，将示波器2显示的第一结果直接连接在ATE测试机3上，ATE测试机3显示的动态数据可能包括需要不需要测量的干扰数据，为了只在ATE测试机3上显示想要的动态数据，利用数字转换器进行转换，消除其中的干扰数据，需要说明的是，数字转换器可以是一个硬件，其中预设提前烧录好的程序对干扰信号进行滤除，同样也可以是一个软件，设置在ATE测试机3中。

在一些实施例中，所述测试电路板1上设有滤波电容，所述滤波电容与所述测试接口13的输入端和输出端连接。待测器件4通过测试接口13的输入端和输出端与滤波电容连接，可以有效的滤除待测期间的输入端和输出端的外界杂波，使得施加在待测器件4上的电压/电流安全无干扰，同时过滤待测期间向示波器2的输出信号中的杂波干扰信号，避免干扰测试结果。

在一些实施例中，测试电路板1上设有阻抗匹配电阻，阻抗匹配电阻设置在测试接口13和ATE接口11之间。具体地，测试接口13通过阻抗匹配电阻与ATE接口11连接，ATE测试机3对测试电路板1发送测试信号，阻抗匹配电阻配合ATE测试机3的测试信号，避免反射，避免测试信号的阻抗匹配。

在一些实施例中，所述ATE接口11与所述测试接口13之间设有继电器14，用于控制所述ATE接口11与所述测试接口13的通断。

在一些实施例中，所述ATE测试机3设有显示屏幕和控制器，所述显示屏幕用于将所述可读的第二信号显示为第二结果。通过上述描述，第二结果即为时间间隔、上升时间、下降时间等参数，直接在显示屏幕上进行显示，便于使参数可视化。

在一些实施例中，所述ATE接口11设置在所述测试电路板1的第一面，所述示波器接口12和所述测试接口13设置在所述测试电路板1的第二面，所述第一面和所述第二面相对设置。通过ATE接口11设置在测试电路板1的第一面与ATE测试机3进行连接，同时ATE接口11插接在ATE测试机3上，对测试电路板1起到固定作用，为了能够方便进行测试电路板1与示波器2的连接，通过在测试电路板1的第二面设置示波器接口12和测试接口13，可以理解的是，结合ATE测试机3，进行安装的时候，测试电路板1的第一面朝下与ATE测试机3连接，测试电路板1的第二面朝上方便与示波器2和测试器件的连接。

在一些实施例中，所述示波器2设有量程控制按钮，用于控制所述示波器2的测试量程以匹配待测器件的默认量程参数。用于更精准确地对待测器件4的参数进行测量，例如待测器件4中预设的时间间隔为10ns，那么示波器2通过量程按钮，将示波器2的工作量程设置在10ns的量程上，示波器2的测量值更加精确，如果待测器件4中预设的时间间隔为100ns，而示波器2的量程为10ns，显然不能对待测期间的时间间隔进行准确有效的显示。

在一些实施例中，所述示波器2设有放大倍数按钮，用于控制所述示波器2对于所述第一结果的放大显示。让示波器2显示的第一结果(波形)更加清晰，避免波形由于太小显示不够清晰，同时，可以利用示波器2的第一结果与ATE测试机3的第二结果进行比对，双重保障测试结果的准确性。

在一些实施例中，所述示波器2设有触发电平按钮，用于控制所述示波器2工作的触发电平值。通过触发电平按钮设置的示波器2的触发电平值与待测器件4的预设触发电平，以使测试电路板1的测试电路一到达示波器2的触发电平值，示波器2开始工作，显示到达触发电平值之后测试接口13输出端输出的第一信号显示的第一结果。当然，可以理解的是，同样可以在测试接口13与示波器接口12之间设置继电器，同样可以起到相应的效果。

使用本申请的测试***对待测器件4的动态参数进行测试的时候，先将测试电路板1安装至ATE测试机3的负载板上，测试电路板1上的ATE接口11与ATE测试机3连接，示波器接口12与示波器2连接，同时ATE测试机3与示波器2连接，ATE测试机3发送测试信号，通过通断继电器14操作测试，需要测试待测器件4时，将待测器件4的引脚与测试接口13连接即可。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。

本实用新型的实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种高速集成电路动态参数测试***，其特征在于，包括：

测试电路板，包括ATE接口、示波器接口和测试接口，所述ATE接口与所述测试接口的输入端连接，所述示波器接口与所述测试接口的输出端连接，所述测试接口用于连接待测器件；

示波器，与所述示波器接口连接，用于将所述待测器件从所述测试接口的输出端输出的第一信号显示为第一结果；

ATE测试机，与所述ATE接口连接，用于向所述测试电路板发送测试信号；以及与所述示波器连接，用于回读所述第一结果到所述ATE测试机上。

2.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述ATE测试机和所述示波器之间连接有数字转换器，用于将所述示波器可读的第一信号转换成所述ATE测试机可读的第二信号。

3.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述测试电路板上设有滤波电容，所述滤波电容与所述测试接口的输入端和输出端连接。

4.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述ATE接口与所述测试接口之间设有继电器，用于控制所述ATE接口与所述测试接口的通断。

5.根据权利要求2所述的***，其特征在于，所述ATE测试机设有显示屏幕，所述显示屏幕用于将所述可读的第二信号显示为第二结果。

6.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述ATE接口设置在所述测试电路板的第一面，所述示波器接口和所述测试接口设置在所述测试电路板的第二面，所述第一面和所述第二面相对设置。

7.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述示波器设有量程控制按钮，用于控制所述示波器的测试量程以匹配所述待测器件的默认量程参数。

8.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述示波器设有放大倍数按钮，用于控制所述示波器对于所述第一结果的放大显示。

9.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述示波器设有触发电平按钮，用于控制所述示波器工作的触发电平值。