CN219810973U - 一种测试转接模组 - Google Patents
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Abstract
本实用新型旨在提供一种整体结构紧凑、更换探针较为简单方便、有利于提高功能测试稳定性的测试转接模组。本实用新型包括安装块、转接板、通讯接口以及若干双头针，所述转接板设置在所述安装块上，所述安装块开设有若干上下贯通的第一通孔，若干所述双头针对应设置在所述第一通孔上，若干所述双头针的上端与所述转接板的触点接触，所述通讯接口与所述转接板的通讯端口连接，外部测试机经所述通讯接口与所述转接板通讯连接，当外部驱动机构驱动主板产品移动至所述安装块的底部时，主板产品的信号端口与若干所述双头针的下端接触导通。本实用新型应用于PCBA电路测试的技术领域。
Description
技术领域
本实用新型应用于PCBA电路测试的技术领域,特别涉及一种测试转接模组。
背景技术
PCBA是PCB空板经过SMT上件，再经过DIP插件的整个制程，将一些零件拼在PCB上后就制成PCBA。笔记本主板在出厂前需要经过功能性测试和电源测试，测试机通过探针与笔记本主板的触点进行接触导通，实现信号的传递。传统的转接模组是用普通的探针绕线将产品的信号转出后另外接到一个模组，进而与测试机通讯。传统设计的结构较为复杂，当探针损坏时更换探针较为困难，排查异常问题点也存在困难。占用大量的维护时间，加大了生产产值的损失。因此有必要提供一种整体结构紧凑、更换探针较为简单方便、有利于提高功能测试稳定性的测试转接模组。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种整体结构紧凑、更换探针较为简单方便、有利于提高功能测试稳定性的测试转接模组。
本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括安装块、转接板、通讯接口以及若干双头针，所述转接板设置在所述安装块上，所述安装块开设有若干上下贯通的第一通孔，若干所述双头针对应设置在所述第一通孔上，若干所述双头针的上端与所述转接板的触点接触，所述通讯接口与所述转接板的通讯端口连接，外部测试机经所述通讯接口与所述转接板通讯连接，外部驱动机构驱动所述测试转接模组下压于主板产品，主板产品的信号端口与若干所述双头针的下端接触导通。
由上述方案可见，所述测试转接模组通过转板的方式将主板产品部分PAD点的信号和测试机直接通讯，实现主板产品的功能测试，提高了主板产品功能测试的稳定性。易于排查异常问题，容易更换金属探针，相比传统的转接模组是用普通的探针绕线将产品的信号转出后另外接到一个模组，进而与测试机通讯。所述测试转接模组具有较好的实用性。
一个优选方案是，所述测试转接模组还包括若干电池针，所述安装块开设有若干上下贯通的第二通孔，若干所述电池针对应设置在所述第二通孔上，若干所述电池针的上端与所述转接板的触点接触，主板产品的电源端口与若干所述电池针的下端接触配合。
一个优选方案是，所述测试转接模组还包括固定块和第一螺栓，所述固定块设置在所述转接板上，所述第一螺栓穿过所述固定块、所述转接板与所述安装块螺纹配合。
一个优选方案是，所述测试转接模组还包括定位块和第二螺栓，所述安装块上设置有定位销，所述定位块开设有与所述定位销配合的定位孔，所述定位块通过所述第二螺栓定位在所述安装块上。
一个优选方案是，所述定位块为U形结构，所述转接板、所述通讯接口以及所述固定块均位于所述U形结构的凹处。
附图说明
图1是本实用新型的立体结构示意图；
图2是本实用新型另一角度的立体结构示意图；
图3是本实用新型的第一截面图；
图4是本实用新型的第二截面图；
图5是本实用新型的立体结构分解示意图。
具体实施方式
如图1、图3以及图5所示，在本实施例中，本实用新型包括安装块1、转接板2、通讯接口3以及若干双头针4，所述转接板2设置在所述安装块1上，所述安装块1开设有若干上下贯通的第一通孔，若干所述双头针4对应设置在所述第一通孔上，若干所述双头针4的上端与所述转接板2的触点接触，所述通讯接口3与所述转接板2的通讯端口连接，外部测试机经所述通讯接口3与所述转接板2通讯连接，外部驱动机构驱动所述测试转接模组下压于主板产品，主板产品的信号端口与若干所述双头针4的下端接触导通。
所述双头针4贯穿于所述安装块1，所述双头针4的上端与所述转接板2的触点接触，所述转接板2通过所述通讯接口3与外部测试机通讯连接，外部驱动机构驱动所述测试转接模组下压于主板产品，主板产品的信号端口与若干所述双头针4的下端接触导通，实现主板产品的功能测试。
如图4所示，在本实施例中，所述测试转接模组还包括若干电池针5，所述安装块1开设有若干上下贯通的第二通孔，若干所述电池针5对应设置在所述第二通孔上，若干所述电池针5的上端与所述转接板2的触点接触，主板产品的电源端口与若干所述电池针5的下端接触配合。所述电池针5贯穿于所述安装块1，所述电池针5的上端与所述转接板2的触点接触，所述转接板2通过所述通讯接口3与外部测试机通讯连接，外部驱动机构驱动所述测试转接模组下压于主板产品，主板产品的电源端口与若干所述电池针5的下端接触导通，实现主板产品的电源测试。
如图3、图4所示，在本实施例中，所述测试转接模组还包括固定块6和第一螺栓7，所述固定块6设置在所述转接板2上，所述第一螺栓7穿过所述固定块6、所述转接板2与所述安装块1螺纹配合。所述固定块6通过所述第一螺栓7固定在所述安装块1上，实现所述转接板2的定位，当需要更换所述双头针4或所述电池针5时，拆除所述固定块6和所述转接板2即可更换，解决了更换探针困难的问题。
如图1所示，在本实施例中，所述测试转接模组还包括定位块8和第二螺栓9，所述安装块1上设置有定位销10，所述定位块8开设有与所述定位销10配合的定位孔，所述定位块8通过所述第二螺栓9定位在所述安装块1上。所述定位销10用于所述定位块8的精准定位，所述定位块8的底部与所述安装块1连接，所述定位块8的顶部与外部驱动机构的动作端连接。
如图1所示，在本实施例中，所述定位块8为U形结构，所述转接板2、所述通讯接口3以及所述固定块6均位于所述U形结构的凹处，有利于所述通讯接口3导通的稳定性，避免外部因素造成干扰，同时有利于所述测试转接模组的紧凑型。
本实用新型的工作原理：外部驱动机构驱动所述定位块移动至主板产品的上方，并且驱动所述安装块下压于主板产品，主板产品的信号端口与若干所述双头针的下端接触导通，主板产品的电源端口与若干所述电池针的下端接触导通，实现主板产品的功能测试和电源测试。
Claims (5)
1.一种测试转接模组，其特征在于：它包括安装块（1）、转接板（2）、通讯接口（3）以及若干双头针（4），所述转接板（2）设置在所述安装块（1）上，所述安装块（1）开设有若干上下贯通的第一通孔，若干所述双头针（4）对应设置在所述第一通孔上，若干所述双头针（4）的上端与所述转接板（2）的触点接触，所述通讯接口（3）与所述转接板（2）的通讯端口连接，外部测试机经所述通讯接口（3）与所述转接板（2）通讯连接，外部驱动机构驱动所述测试转接模组下压于主板产品，主板产品的信号端口与若干所述双头针（4）的下端接触导通。
2.根据权利要求1所述的一种测试转接模组，其特征在于：所述测试转接模组还包括若干电池针（5），所述安装块（1）开设有若干上下贯通的第二通孔，若干所述电池针（5）对应设置在所述第二通孔上，若干所述电池针（5）的上端与所述转接板（2）的触点接触，主板产品的电源端口与若干所述电池针（5）的下端接触配合。
3.根据权利要求1所述的一种测试转接模组，其特征在于：所述测试转接模组还包括固定块（6）和第一螺栓（7），所述固定块（6）设置在所述转接板（2）上，所述第一螺栓（7）穿过所述固定块（6）、所述转接板（2）与所述安装块（1）螺纹配合。
4.根据权利要求3所述的一种测试转接模组，其特征在于：所述测试转接模组还包括定位块（8）和第二螺栓（9），所述安装块（1）上设置有定位销（10），所述定位块（8）开设有与所述定位销（10）配合的定位孔，所述定位块（8）通过所述第二螺栓（9）定位在所述安装块（1）上。
5.根据权利要求4所述的一种测试转接模组，其特征在于：所述定位块（8）为U形结构，所述转接板（2）、所述通讯接口（3）以及所述固定块（6）均位于所述U形结构的凹处。
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