CN212749146U - 一体式性能测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型旨在提供一种既能够节省空间、便于维护，又能够大大提高测试效率的一体式性能测试装置。本实用新型包括机座、载板模组、针板测试模组、下压机构以及连接器测试模组，所述针板测试模组和所述下压机构均设置在所述机座上，所述下压机构位于所述针板测试模组的上方，所述连接器测试模组设置在所述下压机构上，所述载板模组滑动配合在所述机座上，当所述载板模组上的待测电路板位于所述针板测试模组和所述下压机构之间时，所述下压机构将待测电路板下压至所述针板测试模组上，所述连接器测试模组的作用端适配在待测电路板的接口上。本实用新型应用于电路板的测试领域。

Description

一体式性能测试装置

技术领域

本实用新型应用于电路板的测试领域，特别涉及一种一体式性能测试装置。

背景技术

目前，在各类主板、驱动板、PCB板等电路板的测试中，除了需要通过探针扎到电路板上预留的接触点来导通电路进行电路性能的测试，还需要通过连接器导通电路进行电路性能的测试，而传统的测试方法都要依次通过两个单独的测试设备分别对电路板进行探针导通测试和连接器导通测试，测试效率比较低，而且两个单独的测试设备占地面积比较大，维护不方便。如能设计出一种既能够节省空间、便于维护，又能够大大提高测试效率的一体式性能测试装置，则能够很好地解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种既能够节省空间、便于维护，又能够大大提高测试效率的一体式性能测试装置。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括机座、载板模组、针板测试模组、下压机构以及连接器测试模组，所述针板测试模组和所述下压机构均设置在所述机座上，所述下压机构位于所述针板测试模组的上方，所述连接器测试模组设置在所述下压机构上，所述载板模组滑动配合在所述机座上，当所述载板模组上的待测电路板位于所述针板测试模组和所述下压机构之间时，所述下压机构将待测电路板下压至所述针板测试模组上，所述连接器测试模组的作用端适配在待测电路板的接口上。

由上述方案可见，待测电路板放置在载板模组上，当载板模组移动到针板测试模组和下压机构之间时，下压机构将待测电路板下压至针板测试模组上，使针板测试模组上的探针与待测电路板上的测试点相接触，从而实现电路导通进行性能测试，与此同时连接器测试模组上的插头适配在待测电路板的接口上，从而也实现电路导通进行性能测试，因此本实用新型实现了探针导通测试和连接器导通测试的一体化，大大地提高了测试效率，并且节省了占地面积，便于后期的维护。

进一步地，所述针板测试模组包括上针板、下针板、PCB转接板、压板、加强钢板以及若干根探针，所述下针板设置在所述机座上，所述上针板设置在所述下针板上，若干根探针均匀设置在所述上针板上，所述PCB转接板与所述下针板相适配，若干根探针均与所述PCB转接板电性连接，所述PCB转接板设置在所述压板与所述加强钢板之间。由此可见，上针板上的若干根探针与待测电路板上的若干个测试点相适配，从而进行性能测试，PCB转接板能够通过探针接收待测电路板上的测试数据，PCB转接板设置在压板与加强钢板之间，有利于保护PCB转接板。

进一步地，所述下压机构包括下压块、安装板以及两个驱动组件，所述下压块固定在所述安装板的下端，两个所述驱动组件对称设置在所述安装板的左右两端，所述驱动组件包括第一气缸、第一固定座以及两根导向轴，所述第一固定座设置在所述机座上，所述第一气缸与所述安装板传动连接，所述导向轴穿过所述第一固定座后固定在所述安装板上。由此可见，第一气缸驱动安装板向下移动，而安装板带动下压块向下移动，直至下压块将待测电路板压合到针板测试模组上，导向轴能够为下压块的移动提供导向作用，保证下压块与待测电路板的精准对位。

进一步地，所述连接器测试模组包括安装块、滑台气缸、第二固定座、第一固定块、第二固定块以及连接器，所述安装块设置在所述安装板上，所述滑台气缸设置在所述安装块上，所述第二固定座设置在所述滑台气缸的活动端，所述第一固定块设置在所述第二固定座上，所述第二固定块设置在所述第一固定块上，所述连接器设置在所述第二固定块上。由此可见，所述连接器为插接件，能够传输电流或信号。在待测电路板下压到位与探针接触后，滑台气缸驱动连接器***待测电路板的接口中，使电路接通连接器，进一步测试电路的性能。

进一步地，所述载板模组包括载板和两个滑动组件，两个所述滑动组件对称设置在所述载板的两端，所述滑动组件包括第二气缸、滑块、滑轨、连接块、第三固定块、等高螺丝以及弹簧，所述滑轨和所述第二气缸均设置在所述机座上，所述滑块与所述第二气缸传动连接后滑动配合在所述滑轨上，所述第三固定块设置在所述滑块上，所述弹簧套设在所述等高螺丝上，所述等高螺丝穿过所述连接块后与所述第三固定块螺纹配合，两个所述连接块通过所述载板相连。由此可见，待测电路板放置在载板上，通过第二气缸的驱动，能够带动载板上的待测电路板移动到针板测试模组与下压机构之间，当下压机构下压待测电路板时，弹簧能够起到缓冲的作用，有利于保护待测电路板，而且当完成测试后，下压机构不再下压待测电路板时，载板能够在弹簧的作用下复位。

进一步地，所述第一固定块的左右两端均设置有第一导向销，所述上针板上设置有两个第一定位孔，所述第一导向销与所述第一定位孔定位配合。由此可见，通过第一导向销与第一定位孔定位配合，保证连接器与待测电路板的接口精准对位。

进一步地，所述上针板的左右两端均设置有第二导向销，所述下压块的左右两端均设置有第二定位孔，所述第二导向销与所述第二定位孔定位配合。由此可见，通过第二导向销与第二定位孔定位配合，保证探针与待测电路板测的试点精准对位。

进一步地，所述一体式性能测试装置还包括显示组件，所述显示组件包括底板、支撑座以及显示器，所述机座和所述支撑座均设置在所述底板上，所述显示器设置在所述支撑座上，所述PCB转接板和所述连接器均与所述显示器电性连接。由此可见，显示器能够显示待测电路板在探针或者连接器的导通下所测试出来的性能数据。

附图说明

图1是本实用新型的立体图；

图2是针板测试模组的立体图；

图3是下压机构的立体图；

图4是连接器测试模组的立体图；

图5是载板模组的立体图。

具体实施方式

如图1至图5所示，在本实施例中，本实用新型包括机座1、载板模组2、针板测试模组3、下压机构4以及连接器测试模组5，所述针板测试模组3和所述下压机构4均设置在所述机座1上，所述下压机构4位于所述针板测试模组3的上方，所述连接器测试模组5设置在所述下压机构4上，所述载板模组2滑动配合在所述机座1上，当所述载板模组2上的待测电路板位于所述针板测试模组3和所述下压机构4之间时，所述下压机构4将待测电路板下压至所述针板测试模组3上，所述连接器测试模组5的作用端适配在待测电路板的接口上。

在本实施例中，所述针板测试模组3包括上针板31、下针板32、PCB转接板33、压板34、加强钢板35以及若干根探针36，所述下针板32设置在所述机座1上，所述上针板31设置在所述下针板32上，若干根探针36均匀设置在所述上针板31上，所述PCB转接板33与所述下针板32相适配，若干根探针36均与所述PCB转接板33电性连接，所述PCB转接板33设置在所述压板34与所述加强钢板35之间。

在本实施例中，所述下压机构4包括下压块41、安装板42以及两个驱动组件，所述下压块41固定在所述安装板42的下端，两个所述驱动组件对称设置在所述安装板42的左右两端，所述驱动组件包括第一气缸43、第一固定座44以及两根导向轴45，所述第一固定座44设置在所述机座1上，所述第一气缸43与所述安装板42传动连接，所述导向轴45穿过所述第一固定座44后固定在所述安装板42上。

在本实施例中，所述连接器测试模组5包括安装块51、滑台气缸52、第二固定座53、第一固定块54、第二固定块55以及连接器56，所述安装块51设置在所述安装板42上，所述滑台气缸52设置在所述安装块51上，所述第二固定座53设置在所述滑台气缸52的活动端，所述第一固定块54设置在所述第二固定座53上，所述第二固定块55设置在所述第一固定块54上，所述连接器56设置在所述第二固定块55上。

在本实施例中，所述载板模组2包括载板21和两个滑动组件，两个所述滑动组件对称设置在所述载板21的两端，所述滑动组件包括第二气缸22、滑块23、滑轨24、连接块25、第三固定块26、等高螺丝27以及弹簧28，所述滑轨24和所述第二气缸22均设置在所述机座1上，所述滑块23与所述第二气缸22传动连接后滑动配合在所述滑轨24上，所述第三固定块26设置在所述滑块23上，所述弹簧28套设在所述等高螺丝27上，所述等高螺丝27穿过所述连接块25后与所述第三固定块26螺纹配合，两个所述连接块25通过所述载板21相连。

在本实施例中，所述第一固定块54的左右两端均设置有第一导向销6，所述上针板31上设置有两个第一定位孔7，所述第一导向销6与所述第一定位孔7定位配合。

在本实施例中，所述上针板31的左右两端均设置有第二导向销8，所述下压块41的左右两端均设置有第二定位孔13，所述第二导向销8与所述第二定位孔13定位配合。

在本实施例中，所述一体式性能测试装置还包括显示组件，所述显示组件包括底板9、支撑座10以及显示器11，所述机座1和所述支撑座10均设置在所述底板9上，所述显示器11设置在所述支撑座10上，所述PCB转接板33和所述连接器56均与所述显示器11电性连接。

在本实施例中，本实用新型的工作原理如下：

将待测电路板12放置在所述载板21上，通过所述第二气缸22的驱动，能够带动所述载板21上的待测电路板12移动到所述针板测试模组3与所述下压机构4之间，所述第一气缸43驱动所述下压块41向下移动，直至所述下压块41将待测电路板12压合到所述上针板31上，所述上针板31上的若干根探针36与待测电路板12上的若干个测试点相适配，从而进行性能测试，与此同时所述滑台气缸52驱动所述连接器56***待测电路板12的接口中，使电路接通所述连接器56，进一步测试电路的性能，而所述显示器11能够显示待测电路板12在所述探针36或者所述连接器56的导通下所测试出来的性能数据。

Claims (8)

1.一体式性能测试装置，其特征在于：它包括机座（1）、载板模组（2）、针板测试模组（3）、下压机构（4）以及连接器测试模组（5），所述针板测试模组（3）和所述下压机构（4）均设置在所述机座（1）上，所述下压机构（4）位于所述针板测试模组（3）的上方，所述连接器测试模组（5）设置在所述下压机构（4）上，所述载板模组（2）滑动配合在所述机座（1）上，当所述载板模组（2）上的待测电路板位于所述针板测试模组（3）和所述下压机构（4）之间时，所述下压机构（4）将待测电路板下压至所述针板测试模组（3）上，所述连接器测试模组（5）的作用端适配在待测电路板的接口上。

2.根据权利要求1所述的一体式性能测试装置，其特征在于：所述针板测试模组（3）包括上针板（31）、下针板（32）、PCB转接板（33）、压板（34）、加强钢板（35）以及若干根探针（36），所述下针板（32）设置在所述机座（1）上，所述上针板（31）设置在所述下针板（32）上，若干根探针（36）均匀设置在所述上针板（31）上，所述PCB转接板（33）与所述下针板（32）相适配，若干根探针（36）均与所述PCB转接板（33）电性连接，所述PCB转接板（33）设置在所述压板（34）与所述加强钢板（35）之间。

3.根据权利要求2所述的一体式性能测试装置，其特征在于：所述下压机构（4）包括下压块（41）、安装板（42）以及两个驱动组件，所述下压块（41）固定在所述安装板（42）的下端，两个所述驱动组件对称设置在所述安装板（42）的左右两端，所述驱动组件包括第一气缸（43）、第一固定座（44）以及两根导向轴（45），所述第一固定座（44）设置在所述机座（1）上，所述第一气缸（43）与所述安装板（42）传动连接，所述导向轴（45）穿过所述第一固定座（44）后固定在所述安装板（42）上。

4.根据权利要求3所述的一体式性能测试装置，其特征在于：所述连接器测试模组（5）包括安装块（51）、滑台气缸（52）、第二固定座（53）、第一固定块（54）、第二固定块（55）以及连接器（56），所述安装块（51）设置在所述安装板（42）上，所述滑台气缸（52）设置在所述安装块（51）上，所述第二固定座（53）设置在所述滑台气缸（52）的活动端，所述第一固定块（54）设置在所述第二固定座（53）上，所述第二固定块（55）设置在所述第一固定块（54）上，所述连接器（56）设置在所述第二固定块（55）上。

5.根据权利要求1所述的一体式性能测试装置，其特征在于：所述载板模组（2）包括载板（21）和两个滑动组件，两个所述滑动组件对称设置在所述载板（21）的两端，所述滑动组件包括第二气缸（22）、滑块（23）、滑轨（24）、连接块（25）、第三固定块（26）、等高螺丝（27）以及弹簧（28），所述滑轨（24）和所述第二气缸（22）均设置在所述机座（1）上，所述滑块（23）与所述第二气缸（22）传动连接后滑动配合在所述滑轨（24）上，所述第三固定块（26）设置在所述滑块（23）上，所述弹簧（28）套设在所述等高螺丝（27）上，所述等高螺丝（27）穿过所述连接块（25）后与所述第三固定块（26）螺纹配合，两个所述连接块（25）通过所述载板（21）相连。

6.根据权利要求4所述的一体式性能测试装置，其特征在于：所述第一固定块（54）的左右两端均设置有第一导向销（6），所述上针板（31）上设置有两个第一定位孔（7），所述第一导向销（6）与所述第一定位孔（7）定位配合。

7.根据权利要求3所述的一体式性能测试装置，其特征在于：所述上针板（31）的左右两端均设置有第二导向销（8），所述下压块（41）的左右两端均设置有第二定位孔（13），所述第二导向销（8）与所述第二定位孔（13）定位配合。

8.根据权利要求4所述的一体式性能测试装置，其特征在于：所述一体式性能测试装置还包括显示组件，所述显示组件包括底板（9）、支撑座（10）以及显示器（11），所述机座（1）和所述支撑座（10）均设置在所述底板（9）上，所述显示器（11）设置在所述支撑座（10）上，所述PCB转接板（33）和所述连接器（56）均与所述显示器（11）电性连接。

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