CN219757975U - 一种新型icc芯片卡片疲劳测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，其包括机箱，机箱的上侧安装有两个固定座，两个固定座的上侧均沿机箱的长度方向滑动安装有第一安装座，第一安装座的上侧设置有锁紧螺栓，两个第一安装座的相对面均沿其高度方向滑动安装有第一滑块，第一滑块的外侧安装有重力头，重力头的底部安装有测试滚轮，重力头的顶部安装有砝码柱。通过增减砝码来改变测试滚轮的下压力，进而改变施加在卡片上的重力，能反应卡片更真实的工况，测试效果好，且能够同时测试两张卡，提高检测效率，并且通过第一插销孔、第二插销孔以及旋钮柱塞的设置，同时检测的两张卡片也可是不同型号的，换型方便，对卡片的装夹定位调节也更加快捷精准。

Description

一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备

技术领域

本实用新型涉及疲劳测试设备技术领域，具体为一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备。

背景技术

ICC芯片卡片广泛应用在银行卡、社保卡、电话卡等方面，它的使用范围和人群都很广泛，耐用成为了它的重要属性之一，ICC卡片的生产厂家则需要了解ICC卡片使用寿命、受力情况、提高ICC卡片质量。

为了直观的显示出ICC卡片的使用寿命，市面上有了各种对ICC卡片寿命进行测试的设备，有的是对卡片进行滚擦，了解耐磨性能，有的是对卡片进行固定受力的滚压，了解耐磨的同时卡片会受到一个弯矩，模拟了卡片在使用时的受力情况，但固定压力的滚压测试并不能很好的反应出卡片的使用情况，并且目前市面上的测试设备对不同型号的卡片测试时需要更换夹具，且调节摩擦位置比较困难，测试时只能测试一张卡片。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种测试效果好，便于对不同型号的卡片进行测试，并且能同时测试两张卡片的新型ICC芯片卡片疲劳测试设备。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案如下。

一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，包括机箱。

机箱的上侧安装有两个固定座，两个固定座的上侧均沿机箱的长度方向滑动安装有第一安装座，第一安装座的上侧设置有锁紧螺栓，两个第一安装座的相对面均沿其高度方向滑动安装有第一滑块，第一滑块的外侧安装有重力头，重力头的底部安装有测试滚轮，重力头的顶部安装有砝码柱。

第一安装座的外侧安装有安装块，安装块的下侧安装有微分头，且微分头的伸缩端贯穿安装块的内部与第一滑块的下侧抵接。

机箱的上侧沿其宽度方向滑动安装有第二安装座，第二安装座上表面的两侧均沿第二安装座的长度方向滑动安装有第二滑块，第二滑块的上侧设置有压板，第二滑块的上侧安装有导向杆，且导向杆的上端贯穿压板的内部延伸至其外侧，压板的上侧设置有夹紧螺栓。

第二安装座的上侧沿其长度方向安装有侧板，侧板的上侧分别开设有第一插销孔和第二插销孔，第二滑块的外侧安装有两个凸块，两个凸块上均设置有旋钮柱塞，且两个旋钮柱塞分别与第一插销孔和第二插销孔插接配合，并且两个旋钮柱塞之间的距离小于第一插销孔和第二插销孔之间的距离。

机箱的上侧安装有电机，电机输出轴的端部连接有滚珠丝杆，滚珠丝杆的外表面设置有螺母座，其螺母座与第二安装座连接。

机箱的上表面设置有砝码，砝码与砝码柱相适配。

由此可见，通过砝码柱和砝码的设置，可通过增减砝码来改变测试滚轮的下压力，进而改变施加在卡片上的重力，能反应卡片更真实的工况，测试效果好，且能够同时测试两张卡，提高检测效率，并且通过第一插销孔、第二插销孔以及旋钮柱塞的设置，同时检测的两张卡片也可是不同型号的，换型方便，对卡片的装夹定位调节也更加快捷精准，采用电机一拖二的方式，结构紧凑占用空间相对较小。

进一步的，第一安装座的外表面安装有齿板，固定座的上表面转动安装有转杆，转杆的杆体上套接有齿轮，且齿轮与齿板啮合连接。

通过齿轮与齿板的啮合关系，当需要调节测试滚轮的位置时，只需拧动转杆即可，可使调节距离更加精确，待调节好距离后，拧紧锁紧螺栓将第一安装座的位置锁死即可，通过调节测试滚轮的位置，可对应不同规格的卡片上芯片的位置。

进一步的，机箱的上表面安装有砝码盒，砝码放置在砝码盒内。

通过砝码盒的设置，可将砝码统一进行收集，不易丢失，并使工作现场保持整洁，且能够对砝码随拿随用，方便使用。

进一步的，机箱的外表面设置有触控屏，且触控屏与电机电性连接，机箱的外表面设置有四个操作按钮，操作按钮与触控屏电性连接。

通过触控屏可进行各项参数的指令输入，且触控屏上能够显示测试次数、运行速度、限位报警、推进位置等信息，对卡片测试的行程都能直观的显示出来，四个操作按钮分别为启动、停止、复位、急停，方便工人进行操作。

进一步的，机箱的上侧铰接安装有防护罩，防护罩上设置有透明观察窗。

通过防护罩的设置，可在本设备不使用时起到遮挡灰尘的作用，并且避免卡片崩断误伤到操作工人，安全性高，通过透明观察窗可对内部操作进行观察。

进一步的，重力头的外侧安装有安装螺栓，安装螺栓的端部与第一滑块螺纹连接。

通过拧动安装螺栓可快速将重力头、测试滚轮以及砝码柱进行快速拆卸，能够更方便的进行维修维护。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图。

图2为本实用新型的局部俯视结构示意图。

图3为本实用新型的局部结构立体示意图。

图4为本实用新型中第一安装座的区域结构示意图。

图5为图2中A的放大示意图。

图6为图2中B的放大示意图。

图7为本实用新型中第二滑块区域的侧视结构示意图。

图中：100、机箱；101、侧板；102、固定座；103、第一安装座；104、第一滑块；105、重力头；106、测试滚轮；107、砝码柱；108、第二滑块；109、压板；110、夹紧螺栓；111、第一插销孔；112、第二插销孔；113、旋钮柱塞；114、导向杆；115、电机；116、滚珠丝杆；117、第二安装座；118、凸块；119、锁紧螺栓；200、安装块；201、微分头；300、齿板；301、转杆；400、砝码；401、砝码盒；500、触控屏；501、操作按钮；600、防护罩；700、安装螺栓。

实施方式

以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。

如图1-7所示，一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，包括机箱100。

机箱100的上侧安装有两个固定座102，两个固定座102的上侧均沿机箱100的长度方向滑动安装有第一安装座103，第一安装座103的上侧设置有锁紧螺栓119，两个第一安装座103的相对面均沿其高度方向滑动安装有第一滑块104，第一滑块104的外侧安装有重力头105，重力头105的底部安装有测试滚轮106，重力头105的顶部安装有砝码柱107。

第一安装座103的外侧安装有安装块200，安装块200的下侧安装有微分头201，且微分头201的伸缩端贯穿安装块200的内部与第一滑块104的下侧抵接。

机箱100的上侧沿其宽度方向滑动安装有第二安装座117，第二安装座117上表面的两侧均沿第二安装座117的长度方向滑动安装有第二滑块108，第二滑块108的上侧设置有压板109，第二滑块108的上侧安装有导向杆114，且导向杆114的上端贯穿压板109的内部延伸至其外侧，压板109的上侧设置有夹紧螺栓110。

第二安装座117的上侧沿其长度方向安装有侧板101，侧板101的上侧分别开设有第一插销孔111和第二插销孔112，第二滑块108的外侧安装有两个凸块118，两个凸块118上均设置有旋钮柱塞113，且两个旋钮柱塞113分别与第一插销孔111和第二插销孔112插接配合，并且两个旋钮柱塞113之间的距离小于第一插销孔111和第二插销孔112之间的距离。

机箱100的上侧安装有电机115，电机115输出轴的端部连接有滚珠丝杆116，滚珠丝杆116的外表面设置有螺母座，其螺母座与第二安装座117连接。

机箱100的上表面设置有砝码400，砝码400与砝码柱107相适配。

在使用本设备进行卡片的疲劳测试时，先根据所测试卡片的型号调节第二滑块108的位置，其中第一插销孔111和第二插销孔112分别对应6pin卡片和8pin卡片，根据卡片的型号通过旋钮柱塞113进行快速定位，随后通过旋紧夹紧螺栓110对卡片进行固定，随后调节第一安装座103的位置，使测试滚轮106对应卡片上芯片的位置，然后拧紧锁紧螺栓119对第一安装座103以及测试滚轮106的位置进行固定，然后旋转微分头201，使其伸缩端上下伸缩，进而调节测试滚轮106的最低下压高度，最后启动电机115带动滚珠丝杆116旋转，使得螺母座能够带动第二安装座117移动，通过电机115带动螺母座不断的往复移动，进而可带动被固定的卡片往测试滚轮106的方向往复移动，使得测试滚轮106对卡片上的芯片位置进行往复滚压，实现对卡片疲劳强度的测试，并且可通过增减砝码400改变施加在卡片上的重力，能反应卡片更真实的工况，测试效果好，且能够同时测试两张卡，提高检测效率，后续若想更换卡片测试的正反面或更换卡片型号，可直接利用旋钮柱塞113***相应的孔位即可，不需要再对卡片进行横向或高度的定位，使用更加方便。

具体的，第一安装座103的外表面安装有齿板300，固定座102的上表面转动安装有转杆301，转杆301的杆体上套接有齿轮，且齿轮与齿板300啮合连接，通过齿轮与齿板300的啮合关系，当需要调节测试滚轮106的位置时，只需拧动转杆301即可，可使调节距离更加精确，待调节好距离后，拧紧锁紧螺栓119将第一安装座103的位置锁死即可，通过调节测试滚轮106的位置，可对应不同规格的卡片上芯片的位置。

具体的，机箱100的上表面安装有砝码盒401，砝码400放置在砝码盒401内，通过砝码盒401的设置，可将砝码400统一进行收集，不易丢失，并使工作现场保持整洁，且能够对砝码400随拿随用，方便使用。

具体的，机箱100的外表面设置有触控屏500，且触控屏500与电机115电性连接，机箱100的外表面设置有四个操作按钮501，操作按钮501与触控屏500电性连接，通过触控屏500可进行各项参数的指令输入，对卡片测试的行程都能直观的显示出来，且触控屏500上能够显示测试次数、运行速度、限位报警、推进位置等信息，四个操作按钮501分别为启动、停止、复位、急停，方便工人进行操作。

具体的，机箱100的上侧铰接安装有防护罩600，防护罩600上设置有透明观察窗，通过防护罩600的设置，可在本设备不使用时起到遮挡灰尘的作用，并且避免卡片崩断误伤到操作工人，安全性高，通过透明观察窗可对内部操作进行观察。

具体的，重力头105的外侧安装有安装螺栓700，安装螺栓700的端部与第一滑块104螺纹连接，通过拧动安装螺栓700可快速将重力头105、测试滚轮106以及砝码柱107进行快速拆卸，能够更方便的进行维修维护。

以上是结合具体的实施例对本实用新型所作的详细说明，不能认定本发明的具体实施方式只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本实用新型由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。

Claims (6)

1.一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，包括机箱（100），其特征在于：

所述机箱（100）的上侧安装有两个固定座（102），两个所述固定座（102）的上侧均沿所述机箱（100）的长度方向滑动安装有第一安装座（103），所述第一安装座（103）的上侧设置有锁紧螺栓（119），两个所述第一安装座（103）的相对面均沿其高度方向滑动安装有第一滑块（104），所述第一滑块（104）的外侧安装有重力头（105），所述重力头（105）的底部安装有测试滚轮（106），所述重力头（105）的顶部安装有砝码柱（107）；

所述第一安装座（103）的外侧安装有安装块（200），所述安装块（200）的下侧安装有微分头（201），且所述微分头（201）的伸缩端贯穿所述安装块（200）的内部与所述第一滑块（104）的下侧抵接；

所述机箱（100）的上侧沿其宽度方向滑动安装有第二安装座（117），所述第二安装座（117）上表面的两侧均沿所述第二安装座（117）的长度方向滑动安装有第二滑块（108），所述第二滑块（108）的上侧设置有压板（109），所述第二滑块（108）的上侧安装有导向杆（114），且所述导向杆（114）的上端贯穿所述压板（109）的内部延伸至其外侧，所述压板（109）的上侧设置有夹紧螺栓（110）；

所述第二安装座（117）的上侧沿其长度方向安装有侧板（101），所述侧板（101）的上侧分别开设有第一插销孔（111）和第二插销孔（112），所述第二滑块（108）的外侧安装有两个凸块（118），两个所述凸块（118）上均设置有旋钮柱塞（113），且两个所述旋钮柱塞（113）分别与所述第一插销孔（111）和所述第二插销孔（112）插接配合，并且两个所述旋钮柱塞（113）之间的距离小于所述第一插销孔（111）和所述第二插销孔（112）之间的距离；

所述机箱（100）的上侧安装有电机（115），所述电机（115）输出轴的端部连接有滚珠丝杆（116），所述滚珠丝杆（116）的外表面设置有螺母座，其所述螺母座与所述第二安装座（117）连接；

所述机箱（100）的上表面设置有砝码（400），所述砝码（400）与所述砝码柱（107）相适配。

2.根据权利要求1所述的一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，其特征在于：

所述第一安装座（103）的外表面安装有齿板（300），所述固定座（102）的上表面转动安装有转杆（301），所述转杆（301）的杆体上套接有齿轮，且所述齿轮与所述齿板（300）啮合连接。

3.根据权利要求2所述的一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，其特征在于：

所述机箱（100）的上表面安装有砝码盒（401），所述砝码（400）放置在所述砝码盒（401）内。

4.根据权利要求3所述的一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，其特征在于：

所述机箱（100）的外表面设置有触控屏（500），且所述触控屏（500）与所述电机（115）电性连接，所述机箱（100）的外表面设置有四个操作按钮（501），所述操作按钮（501）与所述触控屏（500）电性连接。

5.根据权利要求4所述的一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，其特征在于：

所述机箱（100）的上侧铰接安装有防护罩（600），所述防护罩（600）上设置有透明观察窗。

6.根据权利要求5所述的一种新型ICC芯片卡片疲劳测试设备，其特征在于：

所述重力头（105）的外侧安装有安装螺栓（700），所述安装螺栓（700）的端部与所述第一滑块（104）螺纹连接。