CN219694390U - 一种探针温度检测装置及探针组件 - Google Patents

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李少华
邓卫华
昝国骥
阮班栋
董雷
高腾
汪洋
黄文章
程航
潘懋舜
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Abstract

本实用新型具体为一种种探针温度检测装置及探针组件,其包括:采样电阻;导热层,其同时覆盖所述采样电阻和探针的表面;电源,其连接所述采样电阻,用于向所述采样电阻提供电压;放大电路,其连接所述采样电阻,用于对电压进行放大;以及电阻计算单元,其连接所述放大电路,用于根据放大后的电压获得所述采样电阻的电阻值。本申请可以通过采样电阻间接获取探针的温度信息,进一步根据探针的温度信息判断探针的使用情况,以决定是否需要进行探针更换。

Description

一种探针温度检测装置及探针组件
技术领域
本实用新型涉及设备检测技术领域,具体为一种探针温度检测装置及探针组件。
背景技术
现有技术中,通常利用探针对产品(如PCB板等)进行检测,以评估其剩余使用寿命,但探针也有其使用寿命,因此需要适时更换探针,以保证检测结果的准确性。
目前,多采用单独对探针通电,然后用电桥测量法计算探针电阻,根据电阻值评估探针寿命,确定是否需要更换探针。但该方法需要设置电桥以及配套的其他设备,如测试夹、检流计等,且操作过程繁琐,如需要将测试夹住待测电阻两端,从最高位开始反复调试,直至检流计归零等,需要耗费大量的时间和人力,无法适应大批量检测的需求。
实用新型内容
本实用新型旨在解决现有技术或相关技术中存在的技术问题,其可以通过采样电阻间接获取探针的温度信息,进一步根据探针的温度信息判断探针的使用情况,以决定是否需要进行探针更换。
为此,本实用新型所采用的技术方案为:
一方面,提供了一种探针温度检测装置,其包括:
采样电阻;
导热层,其同时覆盖所述采样电阻和探针的表面;
电源,其连接所述采样电阻,用于向所述采样电阻提供电压;
放大电路,其连接所述采样电阻,用于对电压进行放大;
以及电阻计算单元,其连接所述放大电路,用于根据放大后的电压获得所述采样电阻的电阻值。
优选的,所述采样电阻为PTC热敏电阻或NTC热敏电阻。
优选的,所述导热层由高导热材料制成。
优选的,所述采样电阻与探针的距离为0.5-3cm。
优选的,所述放大电路300包括:第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4以及运算放大器U1;
所述第一电阻R1的第一端串联采样电阻100,第二端连接运算放大器U1的同相输入端;
所述第一电容C1的第一端连接所述第一电阻R1的第一端、第二端接地;
所述第二电阻R2的第一端连接所述第一电阻R1的第二端、第二端接地;
所述第二电容C2的第一端连接所述第一电阻R1的第二端、第二端接地;
所述第三电阻R3的第一端分别连接运算放大器U1的反相输入端以及输出端、第二端连接所述第四电阻R4的第一端;
所述第三电容C3的第一端连接所述第三电阻R3的第二端、第二端接地;
所述第四电容C4的第一端连接所述第四电阻R4的第二端、第二端接地;
以及所述第四电阻R4的第二端连接电阻计算单元。
优选的,所述放大电路还包括:第五电阻R5以及测试点TP,其中,所述第五电阻R5两端分别对应连接所述第三电阻R3的第二端以及测试点TP。
优选的,所述放大电路还包括:静电保护单元,其分别连接电源以及第四电阻R4的第一端。
优选的,所述静电保护单元为BAV99开关二极管,其第一引脚、第二引脚分别对应连接电源以及接地,第三引脚连接第四电阻R4的第一端。
优选的,所述探针温度检测装置还包括:
报警单元,其连接所述电阻计算单元,用于当电阻计算单元获得的采样电阻电阻值超过阈值时产生报警信号。
另一方面,还提供了一种探针组件,其包括探针以及上述探针温度检测装置。
本实用新型具有如下有益技术效果:
本实用新型中的探针温度检测装置可以通过采样电阻间接获取探针的温度信息,进一步根据探针的温度信息判断探针的使用情况,以决定是否需要进行探针更换。
附图说明
图1为本实用新型中探针温度检测装置的整体结构示意图;
图2为本实用新型中放大电路的电路图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了,下面结合具体实施方式并参照附图,对本实用新型进一步详细说明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本实用新型的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面结合附图描述本实用新型的一些实施例提供的一种探针温度检测装置。
实施例1:
结合图1-2所示,本实用新型提供了一种探针温度检测装置,其包括:
采样电阻100,且所述采样电阻100可以为PTC(Positive TemperatureCoefficient)热敏电阻或NTC(Negative Temperature Coefficient)热敏电阻;
导热层200,其同时覆盖所述采样电阻100和探针201的表面;
电源,其连接所述采样电阻100,用于向所述采样电阻100提供电压(如3.3V电压);
放大电路300,其连接所述采样电阻100,用于对电压进行放大;
以及电阻计算单元400,其连接所述放大电路300,用于根据放大后的电压获得所述采样电阻100的电阻值。
进一步的,所述导热层200由高导热材料,如高导热碳纤维等制成,且所述采样电阻100与探针201的距离为0.5-3cm,由此,所述探针201所产生的热量可通过导热层200传递至采样电阻100,使得二者的温度基本相同,可以认为采样电阻100的温度即为探针201的温度。
在此基础上,由于采样电阻100的电阻值与其温度值具有对应关系,可通过查询采样电阻的器件规格书,即可确定当前电阻值对应的温度,该温度即为采样电阻100此时的温度。
进一步的,探针201使用过程中会因为磨损等原因导致接触电阻阻值变大,导致其发热量增加,温度升高,因此,若探针201温度超过阈值,则说明该探针201磨损情况严重,需要更换。而如上所述,探针201、采样电阻100的温度相同,采样电阻100的温度又可以通过其电阻值确定,因此可间接获取探针201的温度信息。
由此,本实施例中的探针温度检测装置结构设计简单、巧妙,无需设置复杂设备,且操作简单,其可以通过采样电阻100间接获取探针201的温度信息,进一步根据探针201的温度信息判断探针201的使用情况,以决定是否需要进行探针更换。
实施例2:
本实施例与实施例1的不同之处仅在于,所述放大电路300包括:第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4以及运算放大器U1;
其中,所述第一电阻R1的第一端串联采样电阻100,第二端连接运算放大器U1的同相输入端;
所述第一电容C1的第一端连接所述第一电阻R1的第一端、第二端接地;
所述第二电阻R2的第一端连接所述第一电阻R1的第二端、第二端接地;
所述第二电容C2的第一端连接所述第一电阻R1的第二端、第二端接地;
所述第三电阻R3的第一端分别连接运算放大器U1的反相输入端以及输出端、第二端连接所述第四电阻R4的第一端;
所述第三电容C3的第一端连接所述第三电阻R3的第二端、第二端接地;
所述第四电容C4的第一端连接所述第四电阻R4的第二端、第二端接地;
以及所述第四电阻R4的第二端连接电阻计算单元400(即图2中的DSP_TEMP_S1)。
由此,本实施例中的放大电路300可对采样电阻100电压进行同向放大,便于后续电阻计算单元400精确获取采样电阻100的电压值,进一步得出采样电阻100的电阻值。
进一步的,所述电阻计算单元400可以为基于DSP(digital singnal processor)的处理单元,其可以从放大电路300处获取采样电阻100的电压,并计算出采样电阻100的电阻值。
实施例3:
本实施例与实施例1或2的不同之处仅在于,本实施例中,所述放大电路300还包括:第五电阻R5以及测试点TP,其中,所述第五电阻R5两端分别对应连接所述第三电阻R3的第二端以及测试点TP,由此可通过该第五电阻R5以及测试点TP完成相应电子元器件的测试,如检测电子元器件是否满足规格要求、焊点是否牢固等。
实施例4:
本实施例与实施例1-3任一项的不同之处仅在于,本实施例中,所述放大电路300还包括:
静电保护单元500,其分别连接电源以及第四电阻R4的第一端。
优选的,本实施例中,所述静电保护单元为BAV99开关二极管,其包括两个串联的二极管,且第一引脚、第二引脚分别对应连接电源以及接地,第三引脚连接第四电阻R4的第一端。
实施例5:
本实施例与实施例1-4任一项的不同之处仅在于,所述探针温度检测装置还包括:
报警单元600,其连接所述电阻计算单元400,用于当电阻计算单元400获得的采样电阻电阻值超过阈值时产生报警信号。
实施例6:
本实施例提供了一种探针组件,其包括探针201以及实施例1-5任一项所述的探针温度检测装置。
综上所述,本申请中的探针温度检测装置结构设计简单、巧妙,无需设置复杂设备,且操作简单,其可以通过采样电阻间接获取探针的温度信息,并产生报警信号,进一步根据探针的温度信息判断探针的使用情况,以决定是否需要进行探针更换。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,本领域的普通技术人员可以理解,在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种探针温度检测装置,其特征在于,包括:
采样电阻;
导热层,其同时覆盖所述采样电阻和探针的表面;
电源,其连接所述采样电阻,用于向所述采样电阻提供电压;
放大电路,其连接所述采样电阻,用于对电压进行放大;
以及电阻计算单元,其连接所述放大电路,用于根据放大后的电压获得所述采样电阻的电阻值。
2.如权利要求1所述的探针温度检测装置,其特征在于,所述采样电阻为PTC热敏电阻或NTC热敏电阻。
3.如权利要求2所述的探针温度检测装置,其特征在于,所述导热层由高导热材料制成。
4.如权利要求1所述的探针温度检测装置,其特征在于,所述采样电阻与探针的距离为0.5-3cm。
5.如权利要求1所述的探针温度检测装置,其特征在于,所述放大电路(300)包括:第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4以及运算放大器U1;
所述第一电阻R1的第一端串联采样电阻(100),第二端连接运算放大器U1的同相输入端;
所述第一电容C1的第一端连接所述第一电阻R1的第一端、第二端接地;
所述第二电阻R2的第一端连接所述第一电阻R1的第二端、第二端接地;
所述第二电容C2的第一端连接所述第一电阻R1的第二端、第二端接地;
所述第三电阻R3的第一端分别连接运算放大器U1的反相输入端以及输出端、第二端连接所述第四电阻R4的第一端;
所述第三电容C3的第一端连接所述第三电阻R3的第二端、第二端接地;
所述第四电容C4的第一端连接所述第四电阻R4的第二端、第二端接地;
以及所述第四电阻R4的第二端连接电阻计算单元。
6.如权利要求5所述的探针温度检测装置,其特征在于,所述放大电路还包括:第五电阻R5以及测试点TP,其中,所述第五电阻R5两端分别对应连接所述第三电阻R3的第二端以及测试点TP。
7.如权利要求5所述的探针温度检测装置,其特征在于,所述放大电路还包括:静电保护单元,其分别连接电源以及第四电阻R4的第一端。
8.如权利要求7所述的探针温度检测装置,其特征在于,所述静电保护单元为BAV99开关二极管,其第一引脚、第二引脚分别对应连接电源以及接地,第三引脚连接第四电阻R4的第一端。
9.如权利要求1所述的探针温度检测装置,其特征在于,所述探针温度检测装置还包括:
报警单元,其连接所述电阻计算单元,用于当电阻计算单元获得的采样电阻电阻值超过阈值时产生报警信号。
10.一种探针组件,其特征在于,包括探针以及权利要求1-9任一项所述的探针温度检测装置。
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