CN219609145U - 一种集成电路检测治具 - Google Patents

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许善伟
王林利
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Jiangsu Longwei Automation Equipment Co ltd
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Abstract

本实用新型涉及治具技术领域,具体为一种集成电路检测治具,包括滑动箱,所述滑动箱顶端固定连接有盖板,所述滑动箱下方滑动连接有固定座,所述滑动箱下端设置有集成电路,所述集成电路下端设置有探针组件,所述探针组件下端固定连接有升降检测机构,所述滑动箱两侧固定连接有两个侧臂,本实用新型通过升降检测机构,可通过侧面的旋钮精准控制探针组件的升降移动,确保连接精确并且不会有挤压集成电路板导致其损坏的风险存在,此外通过螺纹杆与旋钮实现平移运动,保证集成电路移动位置准确,确保连接的精确性。

Description

一种集成电路检测治具
技术领域
本实用新型涉及治具技术领域,具体为一种集成电路检测治具。
背景技术
集成电路板,是载装集成电路的一个载体。集成电路板的测试,包括:开路测试、短路测试。治具,是协助控制工件位置或动作的一种工具,多用于工业以及电控领域。治具可以分为:工艺装配类治具、项目测试类治具、线路板测试类治具,目前,线路板测试类治具是将电路板夹持固定,再进行上电测试。然而,常规的连接方式,依然存在不足之处。
根据公开专利号CN114740333A的一种集成电路测试治具,包括:水平的支撑机构;支撑机构上端固定设有放置机构;放置机构,包括:由下至上依次堆叠放置的下挡板、定位板、上挡板,定位板用以固定集成电路板;放置机构上方设有与支撑机构动连接的平移机构,活动的平移机构以便于放置集成电路板;平移机构和/或支撑机构内设有升降机构,升降机构的电气触发部件由下挡板、上挡板限定。该发明的一种集成电路测试治具,多点测试,无需翻转所测试的集成电路板,通用性好。但是该治具平移完全依靠操作人员经验移动,准确性较差,易导致集成电路与探针错位,探针的升降机构需要电动触发,无法进行精确升降使探针与集成电路相连,过大的作用力可能会导致电路板损坏。
鉴于此,我们提出一种集成电路检测治具。
实用新型内容
为了弥补以上不足,本实用新型提供了一种集成电路检测治具。
本实用新型的技术方案是:
一种集成电路检测治具,其特征在于:包括滑动箱,所述滑动箱顶端固定连接有盖板,所述滑动箱下方滑动连接有固定座,所述滑动箱下端设置有集成电路,所述集成电路下端设置有探针组件,所述探针组件下端固定连接有升降检测机构,所述滑动箱两侧固定连接有两个侧臂。
作为优选的技术方案,所述集成电路上下两端分别设置有八个限位柱,上侧的所述限位柱固定连接在所述滑动箱内壁,下侧的所述限位柱固定连接在所述固定座内壁。
作为优选的技术方案,所述升降检测机构包括基座,所述基座上表面两端对称固定连接有两个支撑座,所述两个支撑座内部贯穿转动连接有丝杆,所述丝杆左端贯穿所述支撑座固定连接有第一旋钮,所述丝杆两侧分别套设螺纹连接有右螺母和左螺母,所述右螺母与左螺母前后侧分别套设转动连接有右连接杆和左连接杆,所述右连接杆与左连接杆另一端贯穿转动连接有固定销,所述固定销两端固定连接有两个固定底座,所述固定底座固定连接在所述探针组件底端。
作为优选的技术方案,所述侧臂底端设置有螺纹凹槽,凹槽内螺纹连接有滑动机构,所述侧臂外端固定连接有固定螺栓。
作为优选的技术方案,所述滑动机构包括第二旋钮,所述第二旋钮右端固定连接有螺纹杆,所述螺纹杆前后端转动连接有固定板,所述固定板固定连接在所述固定座侧壁。
作为优选的技术方案,所述滑动箱下端设置有滑块,所述固定座上端设置有与所述滑动箱上滑块相匹配的滑槽。
作为优选的技术方案,所述滑动箱前端固定连接有上端口,所述固定座前端固定连接有下端口。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本实用新型通过升降检测机构,可通过侧面的旋钮精准控制探针组件的升降移动,确保连接精确并且不会有挤压集成电路板导致其损坏的风险存在。
2、本实用新型通过螺纹杆与旋钮实现平移运动,保证集成电路移动位置准确,确保连接的精确性。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图;
图2为本实用新型的滑动箱结构示意图;
图3为本实用新型的固定座结构示意图;
图4为本实用新型的升降检测机构结构示意图。
图中:1、滑动箱;2、盖板;3、固定座;4、限位柱;5、升降检测机构;501、基座;502、支撑座;503、丝杆;504、第一旋钮;505、右螺母;506、左螺母;507、右连接杆;508、左连接杆;509、固定销;510、固定底座;6、探针组件;7、侧臂;8、固定螺栓;9、滑动机构;91、第二旋钮;92、固定板;93、螺纹杆;10、下端口;11、上端口;12、集成电路。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的若干实施例。但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。
需要说明的是,当元件被称为“固设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
请参阅图1-4,本实用新型提供一种技术方案:
一种集成电路检测治具,其特征在于:包括滑动箱1,滑动箱1顶端固定连接有盖板2,滑动箱1下方滑动连接有固定座3,滑动箱1下端设置有集成电路12,集成电路12下端设置有探针组件6,探针组件6下端固定连接有升降检测机构5,滑动箱1两侧固定连接有两个侧臂7。
需要补充的是,侧臂7用于集成电路12的水平移动。
作为本实施例的优选,集成电路12上下两端分别设置有八个限位柱4,上侧的限位柱4固定连接在滑动箱1内壁,下侧的限位柱4固定连接在固定座3内壁。
作为本实施例的优选,升降检测机构5包括基座501,基座501上表面两端对称固定连接有两个支撑座502,两个支撑座502内部贯穿转动连接有丝杆503,丝杆503左端贯穿支撑座502固定连接有第一旋钮504,丝杆503两侧分别套设螺纹连接有右螺母505和左螺母506,右螺母505与左螺母506前后侧分别套设转动连接有右连接杆507和左连接杆508,右连接杆507与左连接杆508另一端贯穿转动连接有固定销509,固定销509两端固定连接有两个固定底座510,固定底座510固定连接在探针组件6底端。
作为本实施例的优选,侧臂7底端设置有螺纹凹槽,凹槽内螺纹连接有滑动机构9,侧臂7外端固定连接有固定螺栓8。
值得说明的是,通过旋钮旋转可以手动控制探针组件6的升降。
作为本实施例的优选,滑动机构9包括第二旋钮91,第二旋钮91右端固定连接有螺纹杆93,螺纹杆93前后端转动连接有固定板92,固定板92固定连接在固定座3侧壁。
作为本实施例的优选,滑动箱1下端设置有滑块,固定座3上端设置有与滑动箱1上滑块相匹配的滑槽。
具体使用过程中,通过旋转旋钮带动螺纹杆93的旋转从而使滑动箱1平稳的平移。
作为本实施例的优选,滑动箱1前端固定连接有上端口11,固定座3前端固定连接有下端口10。
本实用新型的一种集成电路检测治具在使用时,升降检测机构5可通过侧面的旋钮精准控制探针组件6的升降移动,确保连接精确并且不会有挤压集成电路12导致其损坏的风险存在,螺纹杆93与旋钮实现平移运动,保证集成电路12移动位置准确,确保连接的精确性。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例,并不用来限制本实用新型,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.一种集成电路检测治具,其特征在于:包括滑动箱(1),所述滑动箱(1)顶端固定连接有盖板(2),所述滑动箱(1)下方滑动连接有固定座(3),所述滑动箱(1)下端设置有集成电路(12),所述集成电路(12)下端设置有探针组件(6),所述探针组件(6)下端固定连接有升降检测机构(5),所述滑动箱(1)两侧固定连接有两个侧臂(7)。
2.如权利要求1所述的一种集成电路检测治具,其特征在于:所述集成电路(12)上下两端分别设置有八个限位柱(4),上侧的所述限位柱(4)固定连接在所述滑动箱(1)内壁,下侧的所述限位柱(4)固定连接在所述固定座(3)内壁。
3.如权利要求1所述的一种集成电路检测治具,其特征在于:所述升降检测机构(5)包括基座(501),所述基座(501)上表面两端对称固定连接有两个支撑座(502),所述两个支撑座(502)内部贯穿转动连接有丝杆(503),所述丝杆(503)左端贯穿所述支撑座(502)固定连接有第一旋钮(504),所述丝杆(503)两侧分别套设螺纹连接有右螺母(505)和左螺母(506),所述右螺母(505)与左螺母(506)前后侧分别套设转动连接有右连接杆(507)和左连接杆(508),所述右连接杆(507)与左连接杆(508)另一端贯穿转动连接有固定销(509),所述固定销(509)两端固定连接有两个固定底座(510),所述固定底座(510)固定连接在所述探针组件(6)底端。
4.如权利要求1所述的一种集成电路检测治具,其特征在于:所述侧臂(7)底端设置有螺纹凹槽,凹槽内螺纹连接有滑动机构(9),所述侧臂(7)外端固定连接有固定螺栓(8)。
5.如权利要求4所述的一种集成电路检测治具,其特征在于:所述滑动机构(9)包括第二旋钮(91),所述第二旋钮(91)右端固定连接有螺纹杆(93),所述螺纹杆(93)前后端转动连接有固定板(92),所述固定板(92)固定连接在所述固定座(3)侧壁。
6.如权利要求1所述的一种集成电路检测治具,其特征在于:所述滑动箱(1)下端设置有滑块,所述固定座(3)上端设置有与所述滑动箱(1)上滑块相匹配的滑槽。
7.如权利要求1所述的一种集成电路检测治具,其特征在于:所述滑动箱(1)前端固定连接有上端口(11),所述固定座(3)前端固定连接有下端口(10)。
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