CN219349053U - 微型发光二极管电性测试装置及微型发光二极管检测治具 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种微型发光二极管电性测试装置及微型发光二极管检测治具，涉及微型发光二极管技术领域。微型发光二极管电性测试装置包括电源、连接组件、正极组件及负极组件。所述连接组件与所述电源电连接，所述正极组件和所述负极组件均与所述连接组件电连接；所述正极组件包括与微型发光二极管的正极焊盘接触的正极测试电极；所述负极组件包括与所述微型发光二极管的负极焊盘接触的负极测试电极，所述正极测试电极与所述负极测试电极均采用柔性导电材料制成。本申请采用柔性导电材料制成测试电极来接触焊盘，避免了因电性测试操作导致产品损坏的问题，提高了产品的合格率。

Description

微型发光二极管电性测试装置及微型发光二极管检测治具

技术领域

本申请涉及微型发光二极管技术领域，尤其涉及一种微型发光二极管电性测试装置及微型发光二极管检测治具。

背景技术

现有的微型发光二极管的测试方法是依靠探针台的金属探针接触微型发光二极管的正极和负极焊盘来确定电性。在这过程中，需要长时间调试显微镜的焦距以看清探针与正极和负极焊盘的接触点。在显微镜下用探针接触焊盘的过程中存在人为操作失误导致产品被破坏的问题，比如尖锐的探针容易将焊盘划出痕迹造成损伤，使产品出现漏电和焊接不良，严重影响产品电性判断，降低了产品的合格率。

实用新型内容

有鉴于此，本申请的目的是为了克服现有技术中的不足，本申请提供了一种微型发光二极管电性测试装置及微型发光二极管检测治具，以解决现有技术中微型发光二极管电性检测过程中容易对产品造成破坏而降低产品合格率的技术问题。

本申请提供了：

一种微型发光二极管电性测试装置，包括：

电源；

连接组件，与所述电源电连接；

正极组件，与所述连接组件电连接，所述正极组件包括与微型发光二极管的正极焊盘接触的正极测试电极；

负极组件，与所述连接组件电连接，所述负极组件包括与所述微型发光二极管的负极焊盘接触的负极测试电极，所述正极测试电极与所述负极测试电极均采用柔性导电材料制成。

另外，根据本申请的微型发光二极管电性测试装置，还可具有如下附加的技术特征：

在本申请的一些实施方式中，所述正极测试电极与所述负极测试电极均采用导电橡胶条制成。

在本申请的一些实施方式中，所述正极测试电极的数量为一个，所述正极测试电极呈条状或平板状；和/或所述负极测试电极的数量为一个，所述负极测试电极呈条状或平板状。

在本申请的一些实施方式中在本申请的一些实施方式中，所述微型发光二极管电性测试装置还包括绝缘套，所述绝缘套连接于所述正极测试电极和/或所述负极测试电极上。

在本申请的一些实施方式中，所述正极测试电极的数量为多个，多个所述正极测试电极间彼此分离，每个所述正极测试电极呈圆柱状或者长方体状；

所述负极测试电极的数量为多个，多个所述负极测试电极间彼此分离，每个所述负极测试电极呈圆柱状或者长方体状。

在本申请的一些实施方式中，所述微型发光二极管电性测试装置还包括绝缘衬垫，所述正极测试电极和所述负极测试电极分别设于所述绝缘衬垫上。

在本申请的一些实施方式中，所述正极测试电极和所述负极测试电极交叉设置于所述绝缘衬垫上，相邻所述正极测试电极和所述负极测试电极之间间隔设置。

在本申请的一些实施方式中，所述连接组件包括正极连接线和负极连接线，所述正极连接线与所述正极测试电极电连接，所述负极连接线与所述负极测试电极电连接。

在本申请的一些实施方式中，所述正极连接线设有正极接触连接头，所述正极接触连接头插接或者缠绕在所述正极测试电极上，所述负极连接线设有负极接触连接头，所述负极接触连接头插接或者缠绕在所述负极测试电极上。

在本申请还提供了一种微型发光二极管检测治具，包括上述任一实施例中所述的微型发光二极管电性测试装置；

绝缘定位座，用于放置待测试电性的驱动板，所述驱动板上集成了多个微型发光二极管；

施压件，所述施压件设置在所述绝缘定位座上。

在本申请的一些实施方式中，所述施压件包括固定部和转动部，所述转动部与所述固定部转动连接。

相对于现有技术，本申请的有益效果是：本申请提出一种微型发光二极管电性测试装置，将连接组件与电源电连接，正极组件与所述连接组件电连接，负极组件与所述连接组件电连接，再将所述正极组件的正极测试电极与微型发光二极管的正极焊盘接触，所述负极组件的负极测试电极与所述微型发光二极管的负极焊盘接触，所述正极测试电极与所述负极测试电极均采用柔性导电材料制成，使测试电极可以大面积接触焊盘，测试时不会存在接触不良的情况，同时柔性导电材料制成的测试电极是通过挤压接触焊盘，不会划伤焊盘表面也不会破坏焊盘结构，避免了因测试电性操作导致产品损坏的问题，提高了产品的合格率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了现有技术的电性测试原理图(a)和本申请的电性测试原理图(b)；

图2示出了本申请的实施例一的微型发光二极管电性测试装置的结构示意图；

图3示出了本申请的实施例一的集成多个微型发光二极管的驱动板的结构示意图；

图4示出了本申请的实施例一的微型发光二极管电性测试装置的工作原理图；

图5示出了本申请的实施例二的微型发光二极管电性测试装置的结构示意图；

图6示出了本申请的实施例二的绝缘衬垫的示例结构示意图；

图7示出了本申请的一些实施例中微型发光二极管检测治具的原理图；

图8出了本申请的一些实施例中施压件的结构示意图。

主要元件符号说明：

100-微型发光二极管电性测试装置；110-电源；120-连接组件；121-正极连接线；122-负极连接线；131-正极测试电极；141-负极测试电极；150-绝缘衬垫，2000-微型发光二极管。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

实施例一

如图2-图4所示，本申请的实施例提供了一种微型发光二极管电性测试装置100，包括电源110、连接组件120、正极组件(图中未出示)及负极组件(图中未出示)。所述连接组件120与所述电源110电连接，所述正极组件和所述负极组件均与所述连接组件120电连接。

所述正极组件包括正极测试电极131，所述负极组件包括负极测试电极141。所述正极测试电极131与所述负极测试电极141均采用柔性导电材料制成。

更进一步的，在本申请中，所述正极测试电极131与所述负极测试电极141均采用导电橡胶条制成。

导电橡胶条又称斑马条，由导电硅胶和绝缘硅胶交替分层叠加后硫化成型。导电橡胶连接器性能稳定可靠，生产装配简便高效。其可通过压力使其内的导电颗粒接触，从而达到良好的导电性能。如图1所示，图(a)为现有技术中采用金属探针制成测试电极，其工作方式是通过金属探针接触微型发光二极管的正极和负极焊盘来确定电性。图(b)中导电橡胶条制成的测试电极是通过挤压接触焊盘，导电橡胶条相较于金属探针更加轻便，不会划伤焊盘表面也不会破坏焊盘结构，避免了因测试电性操作导致产品损坏的问题，提高了产品的合格率。

在本实施例中，所述正极测试电极131的数量为一个，和/或所述负极测试电极141的数量为一个。所述微型发光二极管电性测试装置100还包括绝缘套(图中未出示)，所述绝缘套连接于所述正极测试电极131和/或所述负极测试电极141上。所述绝缘套用于移动所述正极测试电极131和所述负极测试电极141。

请参阅图2，图2中将多个微型发光二极管2000集成于驱动板3000上，且多个所述微型发光二极管2000的所述正极焊盘2001集成于第一位置2100，负极焊盘2002集成于第二位置2200。所述第一位置2100和所述第二位置2200相互绝缘设置。具体的，可将所述第一位置2100和所述第二位置2200分别嵌设于所述驱动板3000上，且所述第一位置2100和所述第二位置2200间隔设置。

请参阅图3，所述微型发光二极管电性测试装置100的工作原理如下：

将所述正极测试电极131设置于所述第一位置2100，使所述正极测试电极131与所有所述正极焊盘2001电连接，所述负极测试电极141设置于所述第二位置2200，使所述负极测试电极141与所有所述负极焊盘2002电连接，以实现多个所述微型发光二极管2000并联。

所述正极测试电极131、所述正极连接线121和所述电源110电连接；所述负极测试电极141、所述负极连接线122和所述电源110电连接。

打开所述电源110，合格的所述微型发光二极管2000将被点亮并显示正常亮度，不合格所述微型发光二极管2000未被点亮或者显示亮度偏暗。这样的电性测试方式，相较于现有的通过金属探针点接触微型发光二极管的正极和负极焊盘来确定电性方式，本申请的所述正极测试电极131和所述负极测试电极141通过面接触的方式接触所述正极焊盘2001和所述负极焊盘2002，测试时不会存在接触不良的情况。

所述正极测试电极131呈条状或平板状，所述负极测试电极141呈条状或平板状。在本实施例中，所述正极测试电极131呈条状，所述负极测试电极141呈条状。更具体的，所述正极测试电极131和所述负极测试电极141的形状应与所述正极焊盘2001和所述负极焊盘2002的集成的形状相匹配。

例如，当多个所述正极焊盘2001呈圆形集成于所述第一位置2100，所述正极测试电极131可设置呈圆盘状或圆环状；多个所述负极焊盘2002呈四边形集成于所述第二位置2200，所述负极测试电极141可设置成平板状或四边形。只要所述正极测试电极131可以连接所有所述正极焊盘2001，以实现所述正测试电极131与所有所述正极焊盘2001电连接的形状均应属于本申请的保护范围内。所述负极测试电极141的形状保护方式同所述正极测试电极131。这样的结构，可以同时检测多个所述微型发光二极管2000的电性，提高所述微型发光二极管电性测试装置100的产品的检测效率。

可以理解的是，当所述正极测试电极131覆盖于所述正极焊盘2001的表面，所述负极测试电极141覆盖于所述负极焊盘2002的表面时，设置所述正极测试电极131和所述负极测试电极141相互绝缘。这样可以防止两测试电极之间形成电连接而发生短路，提高了所述微型发光二极管电性测试装置100的可靠性。

所述连接组件120包括正极连接线121和负极连接线122，所述正极连接线121与所述正极测试电极131电连接，所述负极连接线122与所述负极测试电极141电连接。

具体的，所述正极连接线121设有正极接触连接头1211，所述正极接触连接头1211插接或者缠绕在所述正极测试电极131上，所述负极连接线122设有负极接触连接头1221，所述负极接触连接头1221插接或者缠绕在所述负极测试电极141上。这样的结构使所述微型发光二极管电性测试装置100的结构更加简单，并且在所述微型发光二极管电性测试装置100出现断路时，可以快速确定开路位置，进行维修。

实施例二

如图5所示，本实施例与实施例一的不同之处在于：

1.本实施例的所述微型发光二极管电性测试装置100还包括绝缘衬垫150，所述正极测试电极131和所述负极测试电极141均设于所述绝缘衬垫150上；

2.本实施例的所述正极测试电极131的数量为多个，所述负极测试电极141的数量为多个。另外，本实施例中的一个所述正极测试电极131仅接触一个所述正极焊盘2001，一个所述负极测试电极141仅接触一个所述负极焊盘2002。

具体的，所述微型发光二极管2000的数量为多个，且多个所述正极焊盘2001和多个负极焊盘2002没有各自集成于一处时，只用一个所述正极测试电极131连接所有所述正极焊盘2001，一个所述负极测试电极141连接所有所述负极焊盘2002，则所述正极测试电极131和所述负极测试电极141容易出现接触，造成所述微型发光二极管电性测试装置100短路。

故采用所述正极测试电极131仅接触一个正极焊盘2001，一个所述负极测试电极141仅接触一个负极焊盘2002，多个所述正极测试电极131间彼此分离，多个所述负极测试电极141间彼此分离。

作为示例，多个所述正极焊盘2001和多个负极焊盘2002交叉分布，所述正极测试电极131和所述负极测试电极141的数量和所述微型发光二极管2000的数量相等。

相应的，如图5所示，所述正极测试电极131和所述负极测试电极141分别设于所述绝缘衬垫150上。更进一步的，所述正极测试电极131和所述负极测试电极141分别对应所述正极焊盘2001和所述负极焊盘2002交叉分布在所述绝缘衬垫150上。相邻所述正极测试电极131和所述负极测试电极141之间间隔设置，以使所述正极测试电极131和所述负极测试电极141之间相互绝缘，避免接触形成短路。

在本实施例中，每个所述负极测试电极呈圆柱状或者长方体状；每个所述正极测试电极呈圆柱状或者长方体状。

可以理解，矩形和圆形是焊盘最常见的两种形状，所述正极测试电极131呈圆柱状或者长方体状使所述正极测试电极131的横截面对应设为矩形或圆形；每个所述负极测试电极141呈圆柱状或者长方体状使所述负极测试电极141的横截面对应设为矩形或圆形。这样的结构，相较于现有的通过金属探针点接触微型发光二极管的正极和负极焊盘来确定电性方式，本申请的所述正极测试电极131和所述负极测试电极141通过面接触的方式接触所述正极焊盘2001和所述负极焊盘2002，测试时不会存在接触不良的情况。

相邻所述正极测试电极131和所述负极测试电极141间隔设置，所述正极测试电极131和所述负极测试电极141在所述绝缘衬垫150上相互绝缘。当多个所述正极测试电极131和所述负极测试电极141交叉分布在所述绝缘衬垫150上时，相邻测试电极间隔距离短，须使相邻测试电极之间相互绝缘，避免出现因相邻测试电极接触而造成短路的情况，使本实施例的所述微型发光二极管电性测试装置100更加安全可靠。

作为优选的，所述绝缘衬垫150的形状与多个所述微型发光二极管2000的所述正极焊盘2001和所述负极焊盘2002的分布路径相同。例如，当所述正极焊盘2001和所述负极焊盘2002呈圆形分布，则所述绝缘衬垫150对应设置成圆形，且所述绝缘衬垫150上的所述正极测试电极131和所述负极测试电极141的位置与所述正极焊盘2001和所述负极焊盘2002一一对应。

如图6所示，(d)图为正极焊盘和负极焊盘的分布路径图，(c)图为绝缘衬垫的形状，(e)图为设置了正极测试电极和所述负极测试电极的绝缘衬垫；(f)图为正极焊盘和负极焊盘与设置了正极测试电极和所述负极测试电极的绝缘衬垫的结合图。从图中不难看出，所述绝缘衬垫150的形状与多个所述微型发光二极管2000的所述正极焊盘2001和所述负极焊盘2002的分布路径相同，且所述绝缘衬垫150上的所述正极测试电极131和所述负极测试电极141的位置与所述正极焊盘2001和所述负极焊盘2002一一对应。

这样的结构，可以同时检测多个所述微型发光二极管2000的电性，提高所述微型发光二极管电性测试装置100的产品的检测效率。

如图7所示，本申请还提供了一种微型发光二极管检测治具，包括如上述的微型发光二极管电性测试装置100、绝缘定位座200和施压件300。

所述微型发光二极管检测治具的检测原理如下：

所述绝缘定位座200用于放置所述驱动板3000，所述驱动板3000上集成了多个待测试电性的所述微型发光二极管2000；所述施压件300设置在所述绝缘定位座200上。

所述绝缘衬垫150设于所述施压件300上，进而使所述正极测试组件和所述负极测试组件均设于所述施压件300上。

如图8所示，所述施压件300包括固定部310和转动部320，所述固定部310用于固定所述绝缘衬垫150，所述转动部320可带着所述固定部310转动。

所述绝缘衬垫150的数量为多个，多个所述绝缘衬垫150设于所述固定部310上，相邻两个绝缘衬垫150在所述固定部310上相互绝缘设置。

每个所述绝缘衬垫150上设有所述正极测试电极131和所述负极测试电极141，两种测试电极的分布方式对应一种待测试电性产品的焊盘设置。

下压所述施压件300前，先转动所述固定部310，调出对应待测试电性产品的绝缘衬垫150，其上的所述正极测试电极131和所述负极测试电极141与待测试电性产品的焊盘位置对应；

下压所述施压件300，所述正极测试电极131压在所述驱动板3000的上的正极焊盘2001，所述负极测试电极141也会压在负极焊盘2002上。

这样的结构相较于现有的通过金属探针点接触微型发光二极管的正极和负极焊盘来确定电性方式，在进行电性检测操作时，只需简单的将所述施压件300下压即可，大大缩短了检测时间，降低了操作难度，提高了产品的检测效率。同时，导电橡胶条制成的测试电极相较于金属探针更加轻便，且导电橡胶条制成的测试电极是通过挤压接触焊盘，不会划伤焊盘表面也不会破坏焊盘结构，避免了因测试电性操作导致产品损坏的问题，提高了产品的合格率。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (11)

1.一种微型发光二极管电性测试装置，其特征在于，包括：

电源；

连接组件，与所述电源电连接；

正极组件，与所述连接组件电连接，所述正极组件包括与微型发光二极管的正极焊盘接触的正极测试电极；

负极组件，与所述连接组件电连接，所述负极组件包括与所述微型发光二极管的负极焊盘接触的负极测试电极，所述正极测试电极与所述负极测试电极均采用柔性导电材料制成。

2.根据权利要求1所述的微型发光二极管电性测试装置，其特征在于，所述正极测试电极与所述负极测试电极均采用导电橡胶条制成。

3.根据权利要求1所述的微型发光二极管电性测试装置，其特征在于，所述正极测试电极的数量为一个，所述正极测试电极呈条状或平板状；和/或所述负极测试电极的数量为一个，所述负极测试电极呈条状或平板状。

4.根据权利要求3所述的微型发光二极管电性测试装置，其特征在于，所述微型发光二极管电性测试装置还包括绝缘套，所述绝缘套连接于所述正极测试电极和/或所述负极测试电极上。

5.根据权利要求1所述的微型发光二极管电性测试装置，其特征在于，所述正极测试电极的数量为多个，多个所述正极测试电极间彼此分离，每个所述正极测试电极呈圆柱状或者长方体状；

所述负极测试电极的数量为多个，多个所述负极测试电极间彼此分离，每个所述负极测试电极呈圆柱状或者长方体状。

6.根据权利要求5所述的微型发光二极管电性测试装置，其特征在于，所述微型发光二极管电性测试装置还包括绝缘衬垫，所述正极测试电极和所述负极测试电极分别设于所述绝缘衬垫上。

7.根据权利要求6所述的微型发光二极管电性测试装置，其特征在于，所述正极测试电极和所述负极测试电极交叉设置于所述绝缘衬垫上，相邻所述正极测试电极和所述负极测试电极之间间隔设置。

8.根据权利要求1所述的微型发光二极管电性测试装置，其特征在于，所述连接组件包括正极连接线和负极连接线，所述正极连接线与所述正极测试电极电连接，所述负极连接线与所述负极测试电极电连接。

9.根据权利要求8所述的微型发光二极管电性测试装置，其特征在于，所述正极连接线设有正极接触连接头，所述正极接触连接头插接或者缠绕在所述正极测试电极上，所述负极连接线设有负极接触连接头，所述负极接触连接头插接或者缠绕在所述负极测试电极上。

10.一种微型发光二极管检测治具，其特征在于，包括权利要求1至9中任一项所述的微型发光二极管电性测试装置；

绝缘定位座，用于放置待测试电性的驱动板，所述驱动板上集成了多个微型发光二极管；

施压件，所述施压件设置在所述绝缘定位座上。

11.根据权利要求10所述的微型发光二极管检测治具，其特征在于，所述施压件包括固定部和转动部，所述转动部与所述固定部转动连接。

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