CN218726587U - 一种用于电源芯片质检装置 - Google Patents

一种用于电源芯片质检装置 Download PDF

Info

Publication number
CN218726587U
CN218726587U CN202222857577.7U CN202222857577U CN218726587U CN 218726587 U CN218726587 U CN 218726587U CN 202222857577 U CN202222857577 U CN 202222857577U CN 218726587 U CN218726587 U CN 218726587U
Authority
CN
China
Prior art keywords
chip
base
power chip
adjustable shelf
bottom plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202222857577.7U
Other languages
English (en)
Inventor
鲍奕凯
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ningbo Changhong Electronic Technology Co ltd
Original Assignee
Ningbo Changhong Electronic Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ningbo Changhong Electronic Technology Co ltd filed Critical Ningbo Changhong Electronic Technology Co ltd
Priority to CN202222857577.7U priority Critical patent/CN218726587U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN218726587U publication Critical patent/CN218726587U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种用于电源芯片质检装置,包括底板,所述底板顶部竖向对称设有安装架,所述安装架顶部相对面之间位置处均横向对称铰接有转轴,所述转轴相对面之间位置处横向设有同一放置底座,所述放置底座顶部长度方向两侧均对称开设有多个放置槽,所述放置槽内部均设有电源芯片,所述底板顶部一侧竖向设有活动架,所述活动架顶部设有用于观察电源芯片的电子成像组件,所述活动架底部设有用于控制活动架水平移动的调节组件,所述放置底座中心位置出设有用于夹紧电源芯片的固定组件。本实用新型通过设置的固定组件与伺服电机配合使用,只需装夹一次即可对电源芯片进行双面检测,大大提高了检测效率。

Description

一种用于电源芯片质检装置
技术领域
本实用新型涉及芯片检测装置技术领域,尤其涉及一种用于电源芯片质检装置。
背景技术
芯片缩写作IC;或称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、晶片/芯片(chip)在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备,也包括被动组件等)小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上,电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜(thin-film)集成电路。另有一种厚膜(thick-film)集成电路(hybrid integratedcircuit)是由独立半导体设备和被动组件,集成到衬底或线路板所构成的小型化电路,电源芯片同样也是芯片的一种。
电源管理集成电路(IC)是一种芯片,负责电子设备***中电能的转换、配电、检测和其他电源管理。其主要负责将源电压和电流转换为可由微处理器、传感器等负载使用的电源,电源管理芯片的应用范围十分广泛,发展电源管理芯片对于提高整机性能具有重要意义,对电源管理芯片的选择与***的需求直接相关,而数字电源管理芯片的发展还需跨越成本难关。
随着科技的发展电子产品中所使用的电子芯片体积越来越小,并且在进行焊接组装之前需要进行质检,目前在进行质检时通常是工作人员抽取部分芯片,采用高倍放大镜进行逐一检测,检测的过程中需要使用镊子等物品对芯片进行翻面检查,检测过程中不便精确定位,无法快速准确检测多组电源芯片,双面检查时翻动不方便,并且不便限定电源芯片位置,检测过程中会消耗大量时间,无法提高效率,因此亟需设计一种用于电源芯片质检装置。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种用于电源芯片质检装置。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
一种用于电源芯片质检装置,包括底板,所述底板顶部竖向对称设有安装架,所述安装架顶部相对面之间位置处均横向对称铰接有转轴,所述转轴相对面之间位置处横向设有同一放置底座,所述放置底座顶部长度方向两侧均对称开设有多个放置槽,所述放置槽内部均设有电源芯片,所述底板顶部一侧竖向设有活动架,所述活动架顶部设有用于观察电源芯片的电子成像组件,所述活动架底部设有用于控制活动架水平移动的调节组件,所述放置底座中心位置出设有用于夹紧电源芯片的固定组件。
优选的,固定组件包括均对称滑动设于电源芯片靠近放置底座中心方向一侧的第二楔块,所述第二楔块均滑动设于放置底座内部,所述第二楔块相对面之间位置处均分别滑动连接有同一第一楔块,所述第一楔块两侧斜面均分别与相邻一侧的第二楔块的斜面滑动相抵,所述第一楔块底部中心位置处均竖向设有滑柱,所述滑柱底部均滑动贯穿于放置底座底部,所述放置底座底部中心位置处设有用于控制滑柱运动的气缸组件。
优选的,气缸组件包括设于放置底座底部中心位置处的龙门架,所述龙门架底部中心位置处设有气缸组,所述气缸组顶部设有气缸杆,所述气缸杆顶部滑动贯穿于龙门架,所述气缸杆顶部横向设有连接杆,所述连接杆顶部与滑柱底部相连接。
进一步的,电子成像组件包括设于活动架顶部底面靠近放置底座一端的高清电子显微镜,所述电子成像组件还包括设于底板顶部远离活动架一侧的显示屏,所述显示屏与高清电子显微镜形成电性连接。
再进一步的,调节组件包括设于活动架下部靠近放置底座一侧中间位置处的连接块,所述连接块中心位置处横向转动插设有丝杠,所述丝杠两端对称转动套设有铰接座,所述铰接座底部均连接于同一底板顶部表面,所述丝杠靠近显示屏一端同轴设有手轮,所述活动架底部滑动插设有滑轨,所述滑轨底部连接于底板顶部表面。
优选的,电源芯片靠近安装架方向两侧均对称设有芯片引脚,所述芯片引脚底部均横向设有引脚搭板,所述引脚搭板均分别连接于放置槽靠近安装架方向两侧内壁。
优选的,其中一个所述安装架顶部远离转轴一侧横向设有伺服电机,所述伺服电机输出轴同轴连接于相邻一侧的转轴。
本实用新型的有益效果为:
1.通过设置的电子成像组件配合调节组件使用,可以对观察面上的电源芯片进行快速观察,只需转动手轮即可逐一对电源芯片进行观察,有效提高了检测的速度,降低操作难度,并且有效防止了在观察过程中电源芯片损坏的情况发生;
2.通过设置的固定组件与气缸组件配合使用,可以对电源芯片进行快速固定,进而可以在对电源芯片进行翻转时,防止电源芯片掉落的情况发生;
3.通过设置的固定组件与伺服电机配合使用,只需装夹一次即可对电源芯片进行双面检测,大大提高了检测效率。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述,为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种用于电源芯片质检装置的立体结构示意图;
图2为本实用新型提出的一种用于电源芯片质检装置的放置底座内部结构示意图;
图3为本实用新型提出的一种用于电源芯片质检装置的固定组件结构示意图;
图4为本实用新型提出的一种用于电源芯片质检装置的气缸组件结构示意图;
图5为本实用新型提出的一种用于电源芯片质检装置的调节组件结构示意图。
图中:1、底板;2、安装架;3、转轴;4、放置底座;5、放置槽;6、电源芯片;7、芯片引脚;8、引脚搭板;9、活动架;10、滑轨;11、连接块;12、丝杠;13、手轮;14、第一楔块;15、第二楔块;16、滑柱;17、连接杆;18、气缸组;19、龙门架;20、高清电子显微镜;21、显示屏;22、伺服电机;23、铰接座。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
实施例1,参照图1至图5,一种用于电源芯片质检装置,包括底板1,底板1顶部竖向对称设有安装架2,安装架2顶部相对面之间位置处均横向对称铰接有转轴3,转轴3相对面之间位置处横向设有同一放置底座4,放置底座4顶部长度方向两侧均对称开设有多个放置槽5,放置槽5内部均设有电源芯片6,底板1顶部一侧竖向设有活动架9,活动架9顶部设有用于观察电源芯片6的电子成像组件,活动架9底部设有用于控制活动架9水平移动的调节组件,放置底座4中心位置出设有用于夹紧电源芯片6的固定组件。
本实施例中,固定组件包括均对称滑动设于电源芯片6靠近放置底座4中心方向一侧的第二楔块15,第二楔块15均滑动设于放置底座4内部,第二楔块15相对面之间位置处均分别滑动连接有同一第一楔块14,第一楔块14两侧斜面均分别与相邻一侧的第二楔块15的斜面滑动相抵,第一楔块14底部中心位置处均竖向设有滑柱16,滑柱16底部均滑动贯穿于放置底座4底部,放置底座4底部中心位置处设有用于控制滑柱16运动的气缸组件2,气缸组件包括设于放置底座4底部中心位置处的龙门架19,龙门架19底部中心位置处设有气缸组18,气缸组18顶部设有气缸杆,气缸杆顶部滑动贯穿于龙门架19,气缸杆顶部横向设有连接杆17,连接杆17顶部与滑柱16底部相连接,电子成像组件包括设于活动架9顶部底面靠近放置底座4一端的高清电子显微镜20,电子成像组件还包括设于底板1顶部远离活动架9一侧的显示屏21,显示屏21与高清电子显微镜20形成电性连接,调节组件包括设于活动架9下部靠近放置底座4一侧中间位置处的连接块11,连接块11中心位置处横向转动插设有丝杠12,丝杠12两端对称转动套设有铰接座23,铰接座23底部均连接于同一底板1顶部表面,丝杠12靠近显示屏21一端同轴设有手轮13,活动架9底部滑动插设有滑轨10,滑轨10底部连接于底板1顶部表面,电源芯片6靠近安装架2方向两侧均对称设有芯片引脚7,芯片引脚7底部均横向设有引脚搭板8,引脚搭板8均分别连接于放置槽5靠近安装架2方向两侧内壁,其中一个安装架2顶部远离转轴3一侧横向设有伺服电机22,伺服电机22输出轴同轴连接于相邻一侧的转轴3。
本实施例的工作原理:使用时,将待检测的电源芯片6放置于放置槽5内,需要注意的是,要将芯片引脚7的两端与引脚搭板8位于同一侧放置,否则电源芯片6无法获得支撑会自动掉落,当电源芯片6全部放置完成后,启动高清电子显微镜20,高清电子显微镜20将画面实时传输至显示屏21进行显示,操作人员通过显示屏21观察检测电源芯片6的质量问题,在观察时由于高清电子显微镜20的视角有限,因此需要将高清电子显微镜20进行移动,以便于观察到每一个电源芯片6,只需转动手轮13,在铰接座23的配合下使得丝杠12同时转动,丝杠12转动时通过连接块11的配合驱动活动架9沿着滑轨10的方向水平移动,移动至合适位置时即可继续进行观察;
以上方法只能一次性观察电源芯片6的一个面,因此还需要对其进行翻转检测,此时只需要通过气缸组18将连接杆17拉紧,连接杆17被拉动时带动滑柱16同时运动,滑柱16带动第一楔块14同时向下运动,第一楔块14运动时两侧斜面同时挤压第二楔块15,第二楔块15受到挤压将压力传递至电源芯片6的一侧,电源芯片6受到挤压与放置槽5的内壁形成夹力作用将电源芯片6进行固定,接着通过伺服电机22驱动转轴3转动,转轴3通过安装架2的配合驱动放置底座4整体翻转,放置底座4水平翻转一百八十度时即可,此时重复以上步骤即可再次进行质检操作,通过以上方法可以快速对电源芯片6进行固定并且通过快速的翻转,可以在短时间内进行双面检测,有效提高检测效率的同时降低操作难度。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种用于电源芯片质检装置,包括底板(1),其特征在于,所述底板(1)顶部竖向对称设有安装架(2),所述安装架(2)顶部相对面之间位置处均横向对称铰接有转轴(3),所述转轴(3)相对面之间位置处横向设有同一放置底座(4),所述放置底座(4)顶部长度方向两侧均对称开设有多个放置槽(5),所述放置槽(5)内部均设有电源芯片(6),所述底板(1)顶部一侧竖向设有活动架(9),所述活动架(9)顶部设有用于观察电源芯片(6)的电子成像组件,所述活动架(9)底部设有用于控制活动架(9)水平移动的调节组件,所述放置底座(4)中心位置出设有用于夹紧电源芯片(6)的固定组件。
2.根据权利要求1所述的一种用于电源芯片质检装置,其特征在于,所述固定组件包括均对称滑动设于电源芯片(6)靠近放置底座(4)中心方向一侧的第二楔块(15),所述第二楔块(15)均滑动设于放置底座(4)内部,所述第二楔块(15)相对面之间位置处均分别滑动连接有同一第一楔块(14),所述第一楔块(14)两侧斜面均分别与相邻一侧的第二楔块(15)的斜面滑动相抵,所述第一楔块(14)底部中心位置处均竖向设有滑柱(16),所述滑柱(16)底部均滑动贯穿于放置底座(4)底部,所述放置底座(4)底部中心位置处设有用于控制滑柱(16)运动的气缸组件。
3.根据权利要求2所述的一种用于电源芯片质检装置,其特征在于,所述气缸组件包括设于放置底座(4)底部中心位置处的龙门架(19),所述龙门架(19)底部中心位置处设有气缸组(18),所述气缸组(18)顶部设有气缸杆,所述气缸杆顶部滑动贯穿于龙门架(19),所述气缸杆顶部横向设有连接杆(17),所述连接杆(17)顶部与滑柱(16)底部相连接。
4.根据权利要求3所述的一种用于电源芯片质检装置,其特征在于,所述电子成像组件包括设于活动架(9)顶部底面靠近放置底座(4)一端的高清电子显微镜(20),所述电子成像组件还包括设于底板(1)顶部远离活动架(9)一侧的显示屏(21),所述显示屏(21)与高清电子显微镜(20)形成电性连接。
5.根据权利要求4所述的一种用于电源芯片质检装置,其特征在于,所述调节组件包括设于活动架(9)下部靠近放置底座(4)一侧中间位置处的连接块(11),所述连接块(11)中心位置处横向转动插设有丝杠(12),所述丝杠(12)两端对称转动套设有铰接座(23),所述铰接座(23)底部均连接于同一底板(1)顶部表面,所述丝杠(12)靠近显示屏(21)一端同轴设有手轮(13),所述活动架(9)底部滑动插设有滑轨(10),所述滑轨(10)底部连接于底板(1)顶部表面。
6.根据权利要求5所述的一种用于电源芯片质检装置,其特征在于,所述电源芯片(6)靠近安装架(2)方向两侧均对称设有芯片引脚(7),所述芯片引脚(7)底部均横向设有引脚搭板(8),所述引脚搭板(8)均分别连接于放置槽(5)靠近安装架(2)方向两侧内壁。
7.根据权利要求6所述的一种用于电源芯片质检装置,其特征在于,其中一个所述安装架(2)顶部远离转轴(3)一侧横向设有伺服电机(22),所述伺服电机(22)输出轴同轴连接于相邻一侧的转轴(3)。
CN202222857577.7U 2022-10-28 2022-10-28 一种用于电源芯片质检装置 Active CN218726587U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202222857577.7U CN218726587U (zh) 2022-10-28 2022-10-28 一种用于电源芯片质检装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202222857577.7U CN218726587U (zh) 2022-10-28 2022-10-28 一种用于电源芯片质检装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN218726587U true CN218726587U (zh) 2023-03-24

Family

ID=85592347

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202222857577.7U Active CN218726587U (zh) 2022-10-28 2022-10-28 一种用于电源芯片质检装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN218726587U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116586327A (zh) * 2023-06-07 2023-08-15 芯朋半导体科技(如东)有限公司 一种芯片框架三光检测及标定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116586327A (zh) * 2023-06-07 2023-08-15 芯朋半导体科技(如东)有限公司 一种芯片框架三光检测及标定装置
CN116586327B (zh) * 2023-06-07 2024-05-10 芯朋半导体科技(如东)有限公司 一种芯片框架三光检测及标定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6396296B1 (en) Method and apparatus for electrical characterization of an integrated circuit package using a vertical probe station
KR100295376B1 (ko) 수직평면에유지도킹된집적회로내장웨이퍼용소형인터페이스를갖춘프로버및테스터
DE102005032520B4 (de) Konfigurierbarer Prober zum Testen eines TFT LCD Arrays
CN218726587U (zh) 一种用于电源芯片质检装置
CN106501610A (zh) 一种开关柜母线全自动检测设备
CN105445643A (zh) 一种全自动探针台图像定位***
CN115274484A (zh) 一种晶圆检测装置及其检测方法
CN216696100U (zh) 一种aoi检测装置
CN112051266A (zh) 一种机器人视觉检测装置
CN113687111B (zh) 一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置
CN208810592U (zh) 一种igbt模块全自动测试一贯机
CN113289910A (zh) 一种线路板光学检测机
CN219039288U (zh) 一种集成电路测试装置
CN220120931U (zh) 一种半导体测试设备
CN205246712U (zh) 全自动探针台图像定位装置
KR20020044155A (ko) 일체식 테스트 셀
CN216449623U (zh) 一种用于高精密芯片测试的探针台
CN216747969U (zh) 一种芯片测试检测设备
CN109047006A (zh) 一种igbt模块全自动测试一贯机
CN114200175A (zh) 一种采用摄像移动定位***的治具检测机
CN212965015U (zh) 一种ict测试功能治具
CN212255133U (zh) 一种平板玻璃气泡检测装置
CN114689592A (zh) 一种aoi检测装置
CN211043438U (zh) 一种集成电路板测试分选机用测试夹具
CN207528878U (zh) 一种自动化芯片条测试机

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant