CN217879503U - 一种铁环翻转机构、芯粒测试设备及芯粒测试自动线 - Google Patents

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沈杰
周颖达
刘锋强
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Silicon Electric Semiconductor Equipment Shenzhen Co ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种铁环翻转机构、芯粒测试设备及芯粒测试自动线。一种铁环翻转机构包括,旋转驱动部,连接于枢接轴;用于驱动枢接轴旋转运动;与枢接轴连接的、用于固定铁环的限位部;所述限位部包括双向气缸,以及分别连接于双向气缸且相对设置的止抵部,通过所述双向气缸使相对设置的止抵部靠近止抵于铁环;一种芯粒测试设备,设置有所述的铁环翻转机构;一种芯粒测试自动线包括有多台上述芯粒测试设备;实现铁环从竖直放置到水平放置的切换,结构简单可靠。

Description

一种铁环翻转机构、芯粒测试设备及芯粒测试自动线
技术领域
本实用新型涉及一种铁环翻转机构、芯粒测试设备及芯粒测试自动线。
背景技术
对于LED芯粒测试,需要将LED芯粒粘附于蓝膜,然后将蓝膜粘附于铁环;常规测试为将铁环水平放置并放置到水平设置的测试台,在某些场合需要铁环竖直放置时,常规的转移铁环的机械手不能满足使用要求。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本实用新型提出一种铁环翻转机构、芯粒测试设备及芯粒测试自动线。
本实用新型的技术方案为:一种铁环翻转机构包括,
旋转驱动部,连接于枢接轴;用于驱动枢接轴旋转运动;
与枢接轴连接的、用于固定铁环的限位部;所述限位部包括双向气缸,以及分别连接于双向气缸且相对设置的止抵部,通过所述双向气缸使相对设置的止抵部靠近止抵于铁环。
进一步的,所述双向气缸水平设置;
所述限位部还包括顶托部,所述顶托部靠近枢接轴且位于止抵部连线的下方。
进一步的,所述止抵部设置有V型槽,所述V型槽用于容纳铁环边沿。
进一步的,所述旋转驱动部为旋转气缸。
进一步的,所述铁环翻转机构还包括底座,所述枢接轴通过轴承安装于所述底座。
一种芯粒测试设备,所述芯粒测试设备设置有上述的铁环翻转机构。
进一步的,所述芯粒测试设备包括多个料盒,所述多个料盒分布于铁环翻转机构两侧。
一种芯粒测试自动线,所述芯粒测试自动线包括有多台上述的芯粒测试设备。
本实用新型的有益效果在于:实现铁环从竖直放置到水平放置的切换,结构简单可靠。
附图说明
图1为本实用新型铁环翻转机构示意图;
图2为本实用新型限位部结构示意图;
图3为本实用新型铁环翻转机构竖直放置有铁环示意图;
图4为本实用新型铁环翻转机构水平放置有铁环示意图。
具体实施方式
为便于本领域技术人员理解本实用新型的技术方案,下面将本实用新型的技术方案结合具体实施例作进一步详细的说明。
如图1、图2、图3和图4所示,一种铁环翻转机构100:所述铁环翻转机构100包括,
旋转驱动部20,连接于枢接轴30;用于驱动枢接轴30旋转运动;所述旋转驱动部20为旋转气缸、旋转电机、电机连接涡轮蜗杆等能够实现旋转运动的驱动零部件,在此不做限定;
与枢接轴30连接的、用于固定铁环40的限位部50;所述限位部50包括双向气缸51,以及分别连接于双向气缸51且相对设置的止抵部52,通过所述双向气缸51使相对设置的止抵部52靠近止抵于铁环40;通过所述双向气缸51控制止抵部52夹紧铁环40,从而实现对铁环40的固定;再通过旋转驱动部20控制限位部50旋转,从而实现将铁环40从竖直状态100a切换成水平状态100b;LED芯粒粘附于蓝膜,为便于蓝膜固定将蓝膜贴附于铁环40,本实用新型的技术方案并不限定成铁环40。
采用上述技术方案,用旋转驱动部20驱动固定铁环40的限位部50,从而实现将铁环40从竖直方向切换成水平方向,满足对铁环40上芯粒的测试要求;该技术方案结构简单,使用安全可靠;满足铁环40的放置要求;当然,通过设置旋转驱动部20旋转角度,能够将非水平放置的铁环40均调整成水平放置,本实用新型仅以竖直至水平(旋转角度90°)为例,但旋转的角度在此不做限定。
如图1、图3和图4所述,所述双向气缸51水平设置;
所述限位部50还包括顶托部53,所述顶托部53靠近枢接轴30且位于止抵部52连线的下方,也即当铁环竖直放置时,两个止抵部52从水平方向两侧夹紧铁环40,此时,顶托部53从铁环40的下方支撑铁环40,便于保证铁环40不易掉落,安全可靠。
如图2所示,所述止抵部52设置有V型槽,所述V型槽用于容纳铁环40边沿,且V型槽便于保证铁环40到达预设的固定位置;当然,此处的V形槽也能够等同变换成U形槽等便于定位的结构,在此不做限定。
如图1、图3和图4所示,所述铁环翻转机构100还包括底座60,所述枢接轴30通过轴承安装于所述底座60,所述底座60用于安装固定所述铁环翻转机构100;使结构稳定可靠。
如图1-图4所示,一种芯粒测试设备,所述芯粒测试设备设置有上述的铁环翻转机构100,即将上述的铁环翻转机构100以用于芯粒测试设备;芯粒包括但不限于LED芯粒,将LED芯粒粘附于蓝膜,将所述蓝膜粘附于铁环,从而便于所述LED芯粒的测试;所述芯粒测试设备包括多个料盒,所述多个料盒分布于铁环翻转机构100两侧,也即能够从铁环翻转机构100两侧提供带有LED芯粒的铁环,提高效率,提升空间;此时的放置有铁环的料盒开口向上,便于取出或放入铁环。
如图1-图4所示,一种芯粒测试自动线包括有多台上述的芯粒测试设备,芯粒测试自动线用于实现对LED芯粒的测试;提升LED芯粒的测试效率。
以上是本实用新型的较佳实施例,不用于限定本实用新型的保护范围。应当认可,本领域技术人员在理解了本实用新型技术方案后所作的非创造性变形和改变,应当也属于本实用新型的保护和公开的范围。

Claims (8)

1.一种铁环翻转机构,其特征在于:所述铁环翻转机构包括,
旋转驱动部,连接于枢接轴;用于驱动枢接轴旋转运动;
与枢接轴连接的、用于固定铁环的限位部;所述限位部包括双向气缸,以及分别连接于双向气缸且相对设置的止抵部,通过所述双向气缸使相对设置的止抵部靠近止抵于铁环。
2.根据权利要求1所述的铁环翻转机构,其特征在于:
所述双向气缸水平设置;
所述限位部还包括顶托部,所述顶托部靠近枢接轴且位于止抵部连线的下方。
3.根据权利要求1所述的铁环翻转机构,其特征在于:
所述止抵部设置有V型槽,所述V型槽用于容纳铁环边沿。
4.根据权利要求1所述的铁环翻转机构,其特征在于:
所述旋转驱动部为旋转气缸。
5.根据权利要求1所述的铁环翻转机构,其特征在于:
所述铁环翻转机构还包括底座,所述枢接轴通过轴承安装于所述底座。
6.一种芯粒测试设备,其特征在于:所述芯粒测试设备设置有上述权利要求1-5任意一项所述的铁环翻转机构。
7.根据权利要求6所述的芯粒测试设备,其特征在于:所述芯粒测试设备包括多个料盒,所述多个料盒分布于铁环翻转机构两侧。
8.一种芯粒测试自动线,其特征在于:所述芯粒测试自动线包括有多台上述权利要求6-7任意一项所述的芯粒测试设备。
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