CN217541771U - 一种轴承检测量具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种轴承检测量具，包括外环形固件、内环形底座、固定插栓、测孔柱单元，外环形固件内周圈上部与外周圈上部连接面设置有测量阶梯和凹槽；内环形底座的外周圈与外环形固件的内周圈连接；固定插栓穿过外环形固件和内环形底座左右两侧通孔进行固定；测孔柱单元环形阵列状排布在内环形底座上，方向竖直向上，分高中矮三组测孔柱，检测时，待测轴承沿测孔柱单元自上而下落到外周圈落在测量阶梯上，本实用新型采用三组不同高度的柱体，可以检测轴承的孔径标准程度并能找出有缺陷的孔位；采用环形测量阶梯，可以快速的测出轴承外径的圆度是否合规；采用凹槽便于拿取待测轴承；采用插栓，便于更换内环形底座，适配不同型号以及维护。

Description

一种轴承检测量具

技术领域

本实用新型涉及机械生产领域，尤其是涉及轴承检测领域，具体为一种轴承检测量具。

背景技术

传统的轴承检测才分为人工和机器两种，常使用游标卡尺、手动影像测量仪和圆度测量仪、全自动影像测量仪，但是诸如此类检测方式都有比较大的缺陷，如游标卡尺测量精度不高，相比较其他测量方法效率低；手动影像测量仪虽然测量功能强大但它也不能完成自动批量测量；圆度测量仪相比较手动影像测量仪功能单一，不能满足全尺寸测量；圆度测量仪检测速度也不如手动影像测量仪；三坐标测量机虽然精度很高，但它采用接触式测量，测量速度很缓慢；另外以上设备的成本很高且不能达到较好的效果。

发明内容

鉴于以上现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种轴承检测量具，用于解决现有技术的难点。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种轴承检测量具，包括：

外环形固件10，所述外环形固件10左右两侧设置通孔，所述外环形固件10内周圈上部与外周圈上部连接面设置有测量阶梯11，所述外环形固件10的周圈上部设置有凹槽12，多个所述凹槽12环形阵列排布，检测时，所述待测轴承外周圈落在外环形固件10的测量阶梯11上；

内环形底座2，所述内环形底座2左右两侧设置通孔，所述内环形底座2的外周圈与外环形固件10的内周圈连接；

固定插栓3，所述固定插栓3穿过外环形固件10和内环形底座2左右两侧通孔，横向固定外环形固件10和内环形底座2；

测孔柱单元，所述测孔柱单元环形阵列状排布在内环形底座2上，所述测孔柱单元方向竖直向上，所述测孔柱单元包括高柱一41、高柱二42、中柱一43、中柱二44、矮柱一45和矮柱二46，检测时，待测轴承六个孔洞自上而下依次穿过高柱一41、高柱二42、中柱一43、中柱二44、矮柱一45和矮柱二46。

根据优选方案，测量阶梯11为多个环形阶梯排布，每个环形阶梯直径对应一个型号待测轴承的外环标准直径。

根据优选方案，内环形底座2最高点高于凹槽12最低点且低于外环形固件10内周圈最高点。

根据优选方案，测孔柱单元顶部呈半球形结构。

根据优选方案，高柱一41、高柱二42、中柱一43、中柱二44、矮柱一45和矮柱二46横截面直径均等于待测轴承孔洞内径。

根据优选方案，测孔柱单元中，高柱一41、高柱二42高度高于中柱一43、中柱二44，中柱一43、中柱二44高于矮柱一45、矮柱二46，检测时矮柱一45、矮柱二46高于待测轴承孔洞标准厚度。

根据优选方案，测孔柱单元表面光滑。

根据优选方案，孔柱选用耐磨钢。

本实用新型采用三组不同高度的柱体，可以检测轴承的孔径标准程度并能找出有缺陷的孔位；采用环形测量阶梯，可以快速的测出轴承外径的圆度是否合规；采用凹槽便于拿取待测轴承；采用插栓，便于更换内环形底座，适配不同型号以及维护。

下文中将结合附图对实施本实用新型的最优实施例进行更详尽的描述，以便能容易地理解本实用新型的特征和优点。

附图说明

图1显示为本实用新型的立体结构示意图；

图2显示为本实用新型的主视结构示意图；

图3显示为本实用新型的俯视结构示意图；

图4显示为本实用新型测量时的立体结构示意图；

标号说明

10、外环形固件；11、测量阶梯；12、凹槽；2、内环形底座；3、固定插栓；41、高柱一；42、高柱二；43、中柱一；44、中柱二；45、矮柱一；46、矮柱二。

具体实施方式

为了使得本实用新型的技术方案的目的、技术方案和优点更加清楚，下文中将结合本实用新型具体实施例的附图，对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。附图中相同的附图标记代表相同的部件。需要说明的是，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本实用新型的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

与附图所展示的实施例相比，本实用新型保护范围内的可行实施方案可以具有更少的部件、具有附图未展示的其他部件、不同的部件、不同地布置的部件或不同连接的部件等。此外，附图中两个或更多个部件可以在单个部件中实现，或者附图中所示的单个部件可以实现为多个分开的部件。

除非另作定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本实用新型所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不必然表示数量限制。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

本实用新型提出一种轴承检测量具，用于轴承检测工艺中，本实用新型对轴承的类型不做限制，但该环形带柱结构特别适用于轴承检测工艺中。

总体上，本实用新型所提出的轴承检测量具主要包括外环形固件10、内环形底座2、固定插栓3和测孔柱单元，其中，可以参见图1，其示出了外环形固件10、内环形底座2、固定插栓3和测孔柱单元的布置关系。

如图1所示，为了可以快速的测出轴承外周圆度和外径长度是否合规，设计在外环形固件10内周圈上部与外周圈上部连接面设置有测量阶梯11环形测量阶梯，检测时，待测轴承外周圈落在外环形固件10的测量阶梯11上，每一阶表示一个型号轴承的标准规格，如出现不吻合则为不合格产品；如图4所示，为了便于拿取待测轴承实现高效化，外环形固件10的周圈上部设置有多个凹槽12且环形阵列排布，凹槽12最低点要结余内环形底座2最高点与外环形固件10内周圈最高点间；如图3所示，为了便于更换内环形底座，适配不同型号以及维护，采用固定插栓3进行固定，使用时固定插栓3穿过外环形固件10和内环形底座2左右两侧通孔进行固定，可适配不同型号轴承，需要更换时拔下固定插栓3就可更换内环形底座2；如图2所示，为了快速检测轴承的孔径标准程度并能找出有缺陷的孔位，设计实用三组不同高度的柱体，竖直向上的测孔柱单元环形阵列状排布在内环形底座2上，每一组测两个孔位，检测时，待测轴承六个孔洞自上而下依次穿过高柱一41、高柱二42、中柱一43、中柱二44、矮柱一45和矮柱二46，如待测轴承穿过高柱而穿不过中柱，则中柱对应孔位有缺陷，如高柱和中柱都能穿过而穿不过矮柱，则矮柱对应孔位有缺陷，如所有孔位都能穿过而待测轴承的外周圈不能落入测量阶梯11，则孔位轴心有缺陷或圆度有缺陷；为了更利于轴承向下安放，测孔柱单元上部均设置半球形结构且表面光滑；为了使测孔柱单元使用寿命更长，测孔柱单元采用耐磨钢。

上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限制本实用新型。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本实用新型所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本实用新型的权利要求所涵盖。

Claims (7)

1.一种轴承检测量具，其特征在于，包括：

外环形固件(10)，所述外环形固件(10)左右两侧设置通孔，所述外环形固件(10)内周圈上部与外周圈上部连接面设置有测量阶梯(11)，所述外环形固件(10)的周圈上部设置有凹槽(12)，多个所述凹槽(12)环形阵列排布，检测时，所述待测轴承外周圈落在外环形固件(10)的测量阶梯(11)上；

内环形底座(2)，所述内环形底座(2)左右两侧设置通孔，所述内环形底座(2)的外周圈与外环形固件(10)的内周圈连接；

固定插栓(3)，所述固定插栓(3)穿过外环形固件(10)和内环形底座(2)左右两侧通孔，横向固定外环形固件(10)和内环形底座(2)；

测孔柱单元，所述测孔柱单元环形阵列状排布在内环形底座(2)上，所述测孔柱单元方向竖直向上，所述测孔柱单元包括高柱一(41)、高柱二(42)、中柱一(43)、中柱二(44)、矮柱一(45)和矮柱二(46)，检测时，待测轴承六个孔洞自上而下依次穿过高柱一(41)、高柱二(42)、中柱一(43)、中柱二(44)、矮柱一(45)和矮柱二(46)。

2.根据权利要求1所述的轴承检测量具，其特征在于，所述测量阶梯(11)为多个环形阶梯排布，每个环形阶梯直径对应一个型号待测轴承的外环标准直径。

3.根据权利要求1所述的轴承检测量具，其特征在于，所述内环形底座(2)最高点高于凹槽(12)最低点且低于外环形固件(10)内周圈最高点。

4.根据权利要求1所述的轴承检测量具，其特征在于，所述测孔柱单元顶部呈半球形结构。

5.根据权利要求1所述的轴承检测量具，其特征在于，所述高柱一(41)、高柱二(42)、中柱一(43)、中柱二(44)、矮柱一(45)和矮柱二(46)横截面直径均等于待测轴承孔洞内径。

6.根据权利要求1所述的轴承检测量具，其特征在于，在所述测孔柱单元中，高柱一(41)、高柱二(42)高度高于中柱一(43)、中柱二(44)，中柱一(43)、中柱二(44)高于矮柱一(45)、矮柱二(46)，检测时矮柱一(45)、矮柱二(46)高于待测轴承孔洞标准厚度。

7.根据权利要求6所述的轴承检测量具，其特征在于，所述测孔柱单元表面光滑。

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