CN217469890U - 一种iv测试探针排 - Google Patents

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段高武
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Abstract

本实用新型提供一种IV测试探针排,其特征在于:包括固定框和若干排探针组件,固定框中间开设有探针窗口,探针组件平行排列于探针窗口区域,两端连接抓手部件并活动的设置在固定框的框体上,可在移动抓手部件的时候调整探针组件在固定框上的位置。使用该测试探针排在检测不同尺寸规格的电池片产品时,可根据产品上栅极的分布直接调整探针组的位置,无需停机再更换安装、调整探针组位置。

Description

一种IV测试探针排
技术领域
本实用新型属于太阳能电池测试技术领域,具体涉及一种IV测试探针排。
背景技术
在晶硅太阳能电池加工生产过程中,印刷烧结后的电池片需要通过探针排测的测试装置对成品电池片进行IV电性能分档和EL成像缺陷筛选。目前产线普遍使用的探针排测试装置都是分体结构,且每一组探针排间距和位置固定不可调节,那么在产线上针对不同规格尺寸的电池片产品切换时,就需要停机进行探针排组的调整更换,此过程费时费力,不利于整体检测效率的提升,同时局部缺陷的检测能力较弱,难以保证稳定的EL成像效果。
发明内容
鉴于以上,本实用新型提供一种IV测试探针排,使用该测试探针排可以适应不同尺寸规格的电池片产品检测,同时还能提高局部缺陷的检测能力,保证稳定的EL成像效果。具体技术方案如下。
一种IV测试探针排,其特征在于:包括固定框和若干排探针组件,固定框中间开设有探针窗口,探针组件平行排列于探针窗口区域,两端连接抓手部件并活动的设置在固定框的框体上,可在移动抓手部件的时候调整探针组件在固定框上的位置。
进一步,所述固定框底部两侧平行的设置有导轨,所述抓手部件通过滑块适配的设置在导轨上。
进一步,探针组件包括探针架和若干探针,探针架为长杆状,探针均匀的排列固定在探针架上,抓手部件连接在探针架的两端。
进一步,在探针架的一端设置有定值电阻,定值电阻与探针架上的探针电性连接。
进一步,所述滑块为自锁滑块,可以锁固在导轨的任意位置。
进一步,所述固定框的两侧设置有标记刻度尺。
本实用新型的IV测试探针排,优化结构设计,可移动式探针组件的设计对不同尺寸、不同栅极的电池片极具兼容性,方便栅极的切换对准,从而实现提高机台的稼动时间和对局部EL缺陷的检测能力,将对电池片的生产具有很大的积极意义。
本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中进一步给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1所示为IV测试探针排结构示意图:
其中,1-固定框,10-探针窗口,2-抓手部件,3-探针架,4-探针,5-定值电阻,6-导轨,7-滑块,8-标记刻度尺。
具体实施方式
下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本实用新型,而不能解释为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,指示的方位或位置关系的术语为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
术语“连接”等应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通,对于本领域的技术人员而言,是可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义的。
参照图1,本实施例的IV测试探针排,包括固定框1和若干排探针组件,固定框1中间开设有探针窗口10,探针组件平行排列于探针窗口10的区域内,两端连接抓手部件2并活动的设置在固定框1的框体上,可在移动抓手部件2的时候调整探针组件在固定框1上的位置。
进一步,探针组件包括探针架3和若干探针4,探针架3为长杆状,探针4均匀的排列固定在探针架3上,成排的探针4能多点压设至被测电池片的主栅上形成多点导电接触,抓手部件2连接在探针架的两端。固定框1底部两侧平行的设置有导轨6,抓手部件2通过滑块7适配的设置在导轨6上。滑块7优选自锁型滑块,可以锁固在导轨6的任意位置。对于更换不同规格的电池片时,则无需停机拆卸下探针组再更换安装新的,直接移动抓手部件2就可以改变探针间的间距和探针组的位置。
进一步,固定框1的两侧设置有标记刻度尺8,为探针组件的移动提供对位参照,从而实现精准定位。
另外,在探针架3的一端设置有定值电阻5,定值电阻5与探针架3上的探针4电性连接。每排探针架3均连接设置有一个阻值相同的定值电阻5,探针架3的一端通过定值电阻5串联至电源的一个电极,电源的另一个电极电连接至探针架3的另一端,从而可以使得外部电流较为均匀地注入太阳能电池中,受太阳能电池本身性能不均匀影响较小,能够有效避免边缘异常区域未被显示出来导致漏判的情况发生,进而提高对局部缺陷的检测能力。
尽管参照本实用新型的示意性实施例对本实用新型的具体实施方式进行了详细的描述,但是必须理解,本领域技术人员可以设计出多种其他的改进和实施例,这些改进和实施例将落在本实用新型原理的精神和范围之内。具体而言,在前述公开、附图以及权利要求的范围之内,可以在零部件和/或者从属组合布局的布置方面作出合理的变型和改进,而不会脱离本实用新型的精神。除了零部件和/或布局方面的变型和改进,其范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种IV测试探针排,其特征在于:包括固定框和若干排探针组件,固定框中间开设有探针窗口,探针组件平行排列于探针窗口区域,两端连接抓手部件并活动的设置在固定框的框体上,可在移动抓手部件的时候调整探针组件在固定框上的位置;探针组件包括探针架和若干探针,在探针架的一端设置有定值电阻,定值电阻与探针架上的探针电性连接。
2.根据权利要求1所述的IV测试探针排,其特征在于,所述固定框底部两侧平行的设置有导轨,所述抓手部件通过滑块适配的设置在导轨上。
3.根据权利要求2所述的IV测试探针排,其特征在于,所述探针架为长杆状,探针均匀的排列固定在探针架上,抓手部件连接在探针架的两端。
4.根据权利要求2所述的IV测试探针排,其特征在于,所述滑块为自锁滑块,可以锁固在导轨的任意位置。
5.根据权利要求1-4任一所述的IV测试探针排,其特征在于,所述固定框的两侧设置有标记刻度尺。
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