CN217466709U - 一种纳米晶材料检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种纳米晶材料检测装置，包括相机、检测台、非金属传送带、传送轮及电磁单元；相机与所述检测台相对设置；非金属传送带架设在所述检测台上且围绕所述传送轮呈环形；环形内设置有所述电磁单元；非金属传送带远离所述检测台的一侧用于放置待检测的纳米晶材料；本实用新型能够实现在传送带运行过程中，纳米晶材料被电磁单元吸附在传送带上，非金属的传送带不会被吸附固定，能够持续向前转动带动纳米晶材料运动，使得相机能够在稳定的焦距下获取到纳米晶材料的图像进行检测，相机和传送带都能够自行运转实现检测操作，无需人工参与，实现对纳米晶材料的自动检测。

Description

一种纳米晶材料检测装置

技术领域

本实用新型涉及质量检测领域，尤其涉及一种纳米晶材料检测装置。

背景技术

在无线充电领域，通常将纳米晶带材经过碎磁辊碾压，将纳米晶分割成一个个小的单元。这样能够在利用纳米晶较高磁导率和较高饱和磁感应强度的特性的基础上，避免因纳米晶电阻率小导致的充电过程中的高损耗，提高充电效率。

而纳米晶带材在经过碎磁工艺中碎磁辊的碾压后，会产生少量的碎屑颗粒和碎裂，现有通常采用人工目视检测或CCD(charge coupled device，电荷耦合器件)相机抽样检测的方式，效率低且容易产生漏失，而碎屑颗粒在纳米晶带材多层复合的过程中会形成鼓包。鼓包和碎裂可能刺破接收端线圈的绝缘层导致充电效率降低；可能导致部分部位的厚度超标，从而在充电过程中导致电池***；也可能减弱屏蔽性能并降低散热效率，使得最终的成品不良，影响用户的正常使用。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种纳米晶材料检测装置，实现对纳米晶材料不良的自动检测。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

纳米晶材料检测装置，包括相机、检测台、非金属传送带、传送轮及电磁单元；

所述相机与所述检测台相对设置；

所述非金属传送带架设在所述检测台上且围绕所述传送轮呈环形；

所述环形内设置有所述电磁单元；

所述非金属传送带远离所述检测台的一侧用于放置待检测的纳米晶材料。

进一步地，所述电磁单元包括电磁线圈及电磁磁极；

所述环形内设置有所述电磁线圈及所述电磁磁极，所述电磁磁极设置在所述电磁线圈远离所述检测台的一侧。

进一步地，还包括电磁磁极支架；

所述电磁磁极支架设置在所述环形内，且所述电磁线圈设置在所述电磁磁极支架的一侧；

所述电磁磁极设置在所述电磁磁极支架的另一侧。

进一步地，还包括控制电源线；

所述控制电源线的一端连接所述电磁线圈，另一端用于连接遥控。

进一步地，还包括支撑板，所述检测台的两侧分别设置有所述支撑板，所述传送轮的两端分别穿过所述检测台的两侧的所述支撑板。

进一步地，还包括限位槽，所述限位槽设置在所述支撑板远离所述检测台的一端。

进一步地，所述限位槽平行于所述传送带，且所述限位槽的底端与所述传送带远离所述检测台的一侧位于同一平面上。

本实用新型的有益效果在于：在检测台上设置非金属传送带，相机与检测台相对设置，非金属传送带围绕传送轮呈环形并转动，环形中设置有电磁单元，且非金属传送带远离检测台的一侧用于放置待检测的纳米晶材料，则在传送带运行过程中，纳米晶材料会被电磁单元吸附在传送带上，非金属的传送带不会被吸附固定，能够持续向前转动带动纳米晶材料运动，使得相机能够在稳定的焦距下获取到纳米晶材料的图像进行检测，相机和传送带都能够自行运转实现检测操作，无需人工参与，实现对纳米晶材料的自动检测。

附图说明

图1为本实用新型实施例的一种纳米晶材料检测装置的正视图；

图2为本实用新型实施例的一种纳米晶材料检测装置的电磁单元俯视图；

图3为图2中沿a-a方向的剖视图；

图4为本实用新型实施例的一种纳米晶材料检测装置的左视图；

标号说明：

1、控制电源线；2、支撑板；21、限位槽；3、电机；4、非金属传送带；41、传送轮；5、检测台；61、电磁磁极；62、电磁磁极支架；63、电磁线圈；7、同轴光源；8、镜头；9、相机。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1，一种纳米晶材料检测装置，包括相机、检测台、非金属传送带、传送轮及电磁单元；

所述相机与所述检测台相对设置；

所述非金属传送带假设在所述检测台上且围绕所述传送轮呈环形；

所述环形内设置有所述电磁单元；

所述非金属传送带远离所述检测台的一侧用于放置待检测的纳米晶材料。

从上述描述可知，本实用新型的有益效果在于：在检测台上设置非金属传送带，相机与检测台相对设置，非金属传送带围绕传送轮呈环形并转动，环形中设置有电磁单元，且非金属传送带远离检测台的一侧用于放置待检测的纳米晶材料，则在传送带运行过程中，纳米晶材料会被电磁单元吸附在传送带上，非金属的传送带不会被吸附固定，能够持续向前转动带动纳米晶材料运动，使得相机能够在稳定的焦距下获取到纳米晶材料的图像进行检测，相机和传送带都能够自行运转实现检测操作，无需人工参与，实现对纳米晶材料的自动检测。

进一步地，所述电磁单元包括电磁线圈及电磁磁极；

所述环形内设置有所述电磁线圈及所述电磁磁极，所述电磁磁极设置在所述电磁线圈远离所述检测台的一侧。

由上述描述可知，由电磁线圈和电磁磁极组成电磁单元，电磁线圈产生磁力，电磁磁极将磁力放大，保证对纳米晶材料的吸附力，保持纳米晶材料与相机之间的相对距离稳定。

进一步地，还包括电磁磁极支架；

所述电磁磁极支架设置在所述环形内，且所述电磁线圈设置在所述电磁磁极支架的一侧；

所述电磁磁极设置在所述电磁磁极支架的另一侧。

由上述描述可知，设置电磁刺激支架，将电磁磁极设置在配套的电磁磁极支架上，能够保证电磁磁极和电磁线圈之间位置的稳定性，并且保证电磁磁极位置的稳定性，维持电磁磁极磁吸力的稳定，保证对纳米晶带材的吸附效果。

进一步地，还包括控制电源线；

所述控制电源线的一端连接所述电磁线圈，另一端用于连接遥控。

由上述描述可知，设置控制电源线连接电磁线圈和遥控，能够调节电磁线圈的磁力大小，实现根据纳米晶材料的不同特性对磁吸力做出调整，能够适应不同场景下的纳米晶材料检测。

进一步地，还包括支撑板，所述检测台的两侧分别设置有所述支撑板，所述传送轮的两端分别穿过所述检测台的两侧的所述支撑板。

由上述描述可知，传送带通过支撑板和传送轮架设在检测台上，保证了传送带可转动的空间。

进一步地，还包括限位槽，所述限位槽设置在所述支撑板远离所述检测台的一端。

由上述描述可知，在支撑板远离检测台的一端设置限位槽，限位槽可对纳米晶材料进行限位，在意外产生外力时防止纳米晶材料出现较大程度的位移影响相机成像的清晰度。

进一步地，所述限位槽平行于所述传送带，且所述限位槽的底端与所述传送带远离所述检测台的一侧位于同一平面上。

由上述描述可知，限位槽平行于传送带且底端与传送带远离检测台的一侧位于同一平面上，则在电磁单元的磁力过大的情况下也能够保证纳米晶材料不会过于与电磁单元贴紧从而影响传送带的运行，同时限制了纳米晶材料在传送带上沿非前进方向的位移。

上述的一种纳米晶材料检测装盒子能适用于纳米晶材料的检测中，如纳米晶带材的检测，以下通过具体的实施方式进行说明：

请参照图1，本实用新型的实施例一为：

一种纳米晶材料检测装置，包括相机9、检测台5、非金属传送带4、传送轮41及电磁单元；

相机9与检测台相5对设置；非金属传送带4架设在检测台5上且围绕传送轮41呈环形；

所述环形内设置有电磁单元；具体的，包括至少两个传送轮41；

在一种可选的实施方式中，传送轮41有两个，两个传送轮间41隔设置，电磁单元设置在两个传送轮41之间；非金属传送带4围绕两个传送轮设置，可通过传送轮41的转动实现转动；

非金属传送带4远离检测台的一侧用于放置待检测的纳米晶材料，在非金属传送带4转动时，其上放置的纳米晶材料会一起向前运动；

还包括同轴光源7和镜头8，同轴光源7设置在相机9和检测台5之间，镜头8设置在同轴光源7和相机9之间，同轴光源7照射检测台5，为相机9成像提供充足的光源；

还包括电机3，电机3与至少一个传送轮41连接；

在一种可选的实施方式中，相机9、镜头8、同轴光源7和非金属传送带4在垂直方向上自上而下依次固定；

还包括支撑板2，所述检测台5的两侧分别设置有所述支撑板2，所述传送轮41的两端分别穿过所述检测台5的两侧的所述支撑板2；还包括限位槽21，限位槽21设置在所述支撑板2远离所述检测台5的一端；所述限位槽21平行于所述传送带4，且所述限位槽21的底端与所述传送带4远离所述检测台5的一侧位于同一平面上；

在进行纳米晶材料的检测时，待检测的纳米晶材料穿过限位槽21，则电磁单元会吸附纳米晶材料，同时在限位槽21的限位作用下纳米晶材料不会过于压紧非金属传送带4影响传送带转动，同时相机9间隔预设时间段进行图像采集并进行图像处理，若图像处理结果判定有缺陷则进行报警并控制电机3停转，从而使得非金属传送带4停止，排查出有缺陷的纳米晶材料并剔除，避免缺陷物料流入下游加工步骤，实现对纳米晶材料的自动检测。

本实用新型的实施例二为：

一种纳米晶材料检测装置，其与实施例的不同之处在于：

电磁单元包括电磁线圈63、电磁磁极61及电磁磁极支架62；

在非金属传送带4围绕成的环形内设置有电磁线圈63、电磁磁极61及电磁磁极支架62；其中，电磁磁极支架62设置在所述环形内，电磁磁极61设置在电磁磁极支架62远离检测台5的一侧，电磁线圈63设置在所述电磁磁极支架62的另一侧；

还包括控制电源线1；

所述控制电源线1的一端连接电磁线圈63，另一端用于连接遥控；

电磁磁极支架62能够支撑传送带，避免传送轮41之间的距离过大时传送带的表面不平整导致传送带上不同位置的纳米晶材料与相机之间的距离不相同的问题，电磁线圈63使得对纳米晶原材料的吸附力可调整，能够根据实际情况调整吸附力的大小达到更好的检测效果，同时设置电磁磁极62扩大了电磁线圈63的磁力影响范围，使得吸附力能够在一定范围内的纳米晶原材料上较均匀地分布，使得在相机9获取图像的范围内保持相机和待检测的纳米晶原材料之间的距离稳定。

综上所述，本实用新型提供的一种纳米晶材料检测装置，检测台的两侧分别设置有支撑板，传送轮架设在支撑板上，传送带围绕传送轮成环形，电磁磁极支架通过支撑板设置在环形中，电磁磁极支架远离检测台的一侧设置有电磁磁极，另一侧设置有电磁线圈，电磁线圈通电后产生磁力，通过电磁磁极均匀预设范围内的磁力吸附传送带上设置的待检测的纳米晶材料，则同时传送带无需停止运转保持运动经过相机下方，相机以与传送带转速匹配的间隔获取图像，通过分析图像进行对待检测的纳米晶材料的检测，实现全自动的检测；并且是在纳米晶原材料运动状态下的动态自动检测，提高了检测效率；同时设置控制电源线，一端连接电磁线圈，另一端用于连接遥控，能够调整通过电磁线圈的电流从而调整电磁线圈的磁力，实现对待检测的纳米晶材料的吸附力的调整。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种纳米晶材料检测装置，其特征在于，包括相机、检测台、非金属传送带、传送轮及电磁单元；

所述相机与所述检测台相对设置；

所述非金属传送带架设在所述检测台上且围绕所述传送轮呈环形；

所述环形内设置有所述电磁单元；

所述非金属传送带远离所述检测台的一侧用于放置待检测的纳米晶材料。

2.根据权利要求1所述的一种纳米晶材料检测装置，其特征在于，所述电磁单元包括电磁线圈及电磁磁极；

所述环形内设置有所述电磁线圈及所述电磁磁极，所述电磁磁极设置在所述电磁线圈远离所述检测台的一侧。

3.根据权利要求2所述的一种纳米晶材料检测装置，其特征在于，还包括电磁磁极支架；

所述电磁磁极支架设置在所述环形内，且所述电磁线圈设置在所述电磁磁极支架的一侧；

所述电磁磁极设置在所述电磁磁极支架的另一侧。

4.根据权利要求2所述的一种纳米晶材料检测装置，其特征在于，还包括控制电源线；

所述控制电源线的一端连接所述电磁线圈，另一端用于连接遥控。

5.根据权利要求1所述的一种纳米晶材料检测装置，其特征在于，还包括支撑板，所述检测台的两侧分别设置有所述支撑板，所述传送轮的两端分别穿过所述检测台的两侧的所述支撑板。

6.根据权利要求5所述的一种纳米晶材料检测装置，其特征在于，还包括限位槽，所述限位槽设置在所述支撑板远离所述检测台的一端。

7.根据权利要求6所述的一种纳米晶材料检测装置，其特征在于，所述限位槽平行于所述传送带，且所述限位槽的底端与所述传送带远离所述检测台的一侧位于同一平面上。

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