CN216818278U - 一种测试plcc通用治具 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种测试PLCC通用治具，包括底座、上盖和测试板；所述测试板与底座的下表面连接，底座的上表面开设有放置槽，所述放置槽能够放置PLCC封装芯片；所述测试板上设置有若干引脚，所述引脚存在两种及以上的型号；所述上盖压合在底座的上表面上，所述上盖与所述底座配合将PLCC封装芯片压合在放置槽内；所述上盖对应所述放置槽的位置开设有测试口，所述测试口能够让连接PLCC芯片以及测试板的连接线通过。本申请具有能够检测不同接口的PLCC芯片，以及不同尺寸的芯片的效果。

Description

一种测试PLCC通用治具

技术领域

本申请涉及摄像头模组工装治具的技术领域，尤其是涉及一种测试PLCC通用治具。

背景技术

PLCC[Plastic Leaded Chip Carrier(带引线的塑料芯片载体)]，PLCC封装技术是一个复杂的过程，属于表面贴装型封装之一，外形呈正方形，28引脚、32引脚、40引脚封装，引脚从封装的四个侧面引出，是塑胶制品。外形尺寸比DIP封装小得多，PLCC封装适合用在SMT表贴安装技术上，它的优点：外形尺寸小，可靠性高等优点，在整个封装过程中，以PCB的设计布线要求最高，技巧最细，工作量最大。

面对市场自购PLCC封装芯片和自封PLCC半成品，如若直接制样使用，有报废或返修的风险。往往需要对其进行测试，检测自购的PLCC封装芯片是够合格。而目前的方式是直接采用手工对其进行测试，这种方式十分耗时耗力，效率极低。

针对上述问题，相关技术提出了检测PLCC的治具，提高了测试效率，但是由于每款PLCC成品或半成品的接口不同，从而需要针对每一款的PLCC产品制作专用的治具，成本太高，不利于实际生产。

针对上述中的相关技术，发明人认为现有测试PLCC的治具无法对接口不一的PLCC封装芯片进行测试的缺陷。

实用新型内容

为了改善手工对现有测试PLCC的治具无法对接口不一的PLCC封装芯片进行测试的问题，本申请提供一种测试PLCC通用治具。

本申请提供的一种测试PLCC通用治具采用如下的技术方案：

一种测试PLCC通用治具，包括底座、上盖和测试板；所述测试板与底座的下表面连接，底座的上表面开设有放置槽，所述放置槽能够放置PLCC封装芯片；

所述测试板上设置有若干引脚，所述引脚存在两种及以上的型号；

所述上盖压合在底座的上表面上，所述上盖与所述底座配合将PLCC封装芯片压合在放置槽内；

所述上盖对应所述放置槽的位置开设有测试口，所述测试口能够让连接PLCC芯片以及测试板的连接线通过。

通过采用上述技术方案，测试板上的所有引脚构成了测试板的接口，存在不同型号的引脚，即组成不同的接口，这样能够对不同接口的PLCC封装芯片进行测试，很好的改善了现有的治具只能测试一种型号的PLCC封装芯片的弊端，另外减少了成本上的浪费。

可选的，所述放置槽包括侧壁和第一底壁，相对的所述侧壁上均设有缺口，所述缺口之间形成第一容纳槽，所述第一容纳槽能够容纳PLCC封装芯片。

通过采用上述技术方案，放置槽内设置缺口形成第一容纳槽，放置槽与第一容纳槽的大小不一致，所以能够容纳不同长度或宽度的PLCC封装芯片，对其进行测试，提高了治具的适用性。

可选的，所述第一容纳槽包括第二底壁，所述第二底壁的高度高于所述第一底壁。

通过采用上述技术方案，由于第二底壁高于第一底壁，所以第一容纳槽与放置槽可容纳的PLCC封装芯片的厚度不一致，即进一步提高了治具对于不同尺寸的封装芯片的测试适用性。

可选的，所述第一底壁上设有通孔，在测试板对应通孔的位置开设有通槽。

通过采用上述技术方案，通槽和通孔的存在使得放置槽与外界空气连通，当将PLCC封装芯片放在放置槽中时，将通槽以及通孔的空气抽空，达到真空吸附的作用，使PLCC封装芯片紧紧的被吸附在放置槽内，极大降低了在测试过程中，由于PLCC封装芯片晃动而导致测试不准的概率。

可选的，所述底座的下表面设置有第一安装槽，所述第一安装槽内设置有短路针座；短路针座上设有针孔；

所述第一安装槽的背侧设置有第二安装槽，所述短路针座穿过第一安装槽延伸至第二安装槽内，在所述上盖的下表面对应所述短路针座的位置设有导电块，所述第二安装槽能够容纳所述导电块。

通过采用上述技术方案，当进行测试工作时，底座与上盖是盖合状态，导电块恰好能够被第二安装槽容纳，并与短路针座上的短路针接触，实现测试短路的功能。

可选的，所述上盖的下表面设置有第二容纳槽。

通过采用上述技术方案，在对摄像头模组的PLCC封装芯片进行测试，第一容纳槽和第二容纳槽配合可对摄像头进行容纳和固定。

可选的，所述上盖的上表面设置有转接板，所述转接板设置有第一接口区和第二接口区，所述第一接口区位于测试口的上方，对应第二接口区，在所述上盖和底座上均开设有穿线口。

通过采用上述技术方案，转接板的存在，起到转接PLCC芯片和测试板的作用，在对PLCC芯片测试时需要多次连接插拔芯片接口，可能会导致芯片上的接口损坏，所以设置转接板，第一接口区与PLCC封装芯片连接，第二接口区与测试板连接，通过将测试板与芯片之间的多次插拔连接转移到，测试板与转接板的第二接口区之间的多次插拔连接，保护芯片的接口，也能够顺利完成测试工作。

可选的，所述上盖的上表面设有嵌合槽，所述嵌合槽恰好使转接板嵌合在上盖的上表面。

通过采用上述技术方案，能够将转接板稳固的固定在上盖上，使得其能够稳定转接PLCC芯片与测试板之间的信号。

可选的，所述上盖还设有调焦环，所述调焦环穿设于所述上盖，并能对放置槽内的PLCC封装芯片进行调焦。

通过采用上述技术方案，在测试环节，对被测产品进行调焦，使得被测产品更加清晰。

可选的，所述测试板、底座以及上盖均设有固定槽，所述固定槽用于固定测试板、底座以及上盖。

通过采用上述技术方案，在对芯片进行测试时，需要将测试板固定在底座下表面，以及将芯片通过底座以及上盖固定在放置槽或第一容纳槽内，所以设置固定槽，通过螺栓将其固定在一起，以便完成测试工作。

综上所述，本申请包括以下有益技术效果：能够对具有不同引脚的PLCC封装芯片或者其半成品进行测试；能够对不同长度或宽度以及厚度的PLCC芯片进行测试，还能对摄像头模组的PLCC芯片进行调焦；整个治具结构简单，操作便捷，适用性很高。

附图说明

图1是本申请实施例的一种测试PLCC通用治具的结构示意图；

图2是本申请实施例的一种测试PLCC通用治具的***图；

图3是图2中A处的放大图；

图4是本申请实施例的一种测试PLCC通用治具的底座的结构示意图；

图5是本申请实施例的一种测试PLCC通用治具的上盖的结构示意图；

图6是本申请实施例的一种测试PLCC通用治具的转接板的结构示意图；

附图标记说明：1、底座；10、放置槽；11、第一底壁；110、通孔；111、缺口；1110、第一容纳槽；112、第二底壁；12、短路针座；120、针孔；13、第一安装槽；14、第二安装槽；

2、上盖；20、测试口；21、第二容纳槽；22、嵌合槽；23、导电块；

3、测试板；31、引脚；32、通槽；

4、转接板；41、第一接口区；42、第二接口区；

5、调焦环；6、穿线口。

具体实施方式

以下结合附图1-6对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开一种测试PLCC通用治具。参照图1和图2，测试PLCC通用治具包括底座1、上盖2和测试板3。底座1的上表面设置有放置槽10，放置槽10能够容纳PLCC芯片，上盖2对应放置槽10的位置设有测试口20；测试板3设有两种以上不同型号的引脚31。在对PLCC封装芯片进行测试时，测试板3与底座1的下表面连接，底座1与上盖2将待测的PLCC封装芯片盖合固定在放置槽10内；测试板3上的不同引脚31可以通过测试口20进和不同接口的PLCC芯片行跳线焊接，从而达到对不同接口的PLCC芯片进行测试的目的。

在测试过程中，要保证待测芯片的稳定性，减少其晃动而导致测试不准确的情况发生。在测试板3、底座1和上盖2均设有固定槽（未标号），使用螺钉（未示出）穿过固定槽将三者固定。

参照图2和图3，放置槽10包括第一底壁11和侧壁，在三个侧壁上设有缺口111。缺口111之间形成第一容纳槽1110。第一容纳槽1110包括第二底壁112，由于缺口111的存在，所以第一容纳槽1110和放置槽10的长度和宽度不一致，故可以放置不同长度和或宽度的PLCC芯片并对其进行测试，第二底壁112的高度高于第一底壁11，第一容纳槽1110的深度小于放置槽10，所以放置槽10和第一容纳槽1110可以容纳不同厚度的PLCC芯片，极大提高了治具的适用性。

参照图2和图3，第一底壁11上开设有若干个通孔110，在测试板3上对应通孔110的位置设有一个通槽32。通槽32与通孔110的存在，使得放置槽10和第一容纳槽1110与大气连通。这样设置的目的在于，在对PLCC芯片测试时，需要将其稳定的固定在放置槽10或第一容纳槽1110内，可以利用将通孔110以及通槽32内的空气抽空，使其产生真空吸附的作用，使得待测的PLCC芯片牢牢的吸附在第一底壁11上。在本实施例中，通孔110可以是1个，也可以是2个，还可以是多个，不对其个数进行限制。

参照图2、图4和图5，底座1的下表面设有第一安装槽13，在第一安装槽13的背侧设有第二安装槽14，第一安装槽13的槽底设有孔，使第一安装槽13和第二安装槽14连通。在第一安装槽13内设置有短路针座12，短路针座12上设有针孔120，针孔120供短路针（未示出）穿过，短路针座12上的短路针穿设第一安装槽13并延伸至第二安装槽14。上盖2的下表面，在对于第二安装槽14的位置设置有导电块23，在底座1和上盖2盖合时，导电块23能够进入第二安装槽14与短路针接触，进而对短路功能进行测试。

参照图2、图3和图5，上盖2的下表面，在对应与放置槽10的位置设有第二容纳槽21，在底座1和上盖2盖合时，第二容纳槽21和第一容纳槽1110或放置槽10配合将待测PLCC芯片进行固定和容纳。

参照图2和图6，上盖2的上表面设有转接板4。具体的，在上盖2上设有嵌合槽22，嵌合槽22的形状与转接板4吻合。在本实施例中，嵌合槽22和转接板4为L形。转接板4的下表面设有第一接口区41和第二接口区42，第一接口区41与测试口20对应，便于PLCC芯片与转接板4连接，对应第二接口区42，在底座1和上盖2上开设有穿线口6，便于转接板4与测试板3连接。比如：在电脑主板生产时，需对PCI这个功能测试，那么就一定需要一个PCI卡***主板的PCI插槽。在长时间的插拔过程中，一定会对频繁***的PCI设备卡产生磨损。此时转接板4就发挥了作用。在使用本身请的治具测试PLCC芯片时，使第一接口区41与PLCC芯片连接，第二接口区42与测试板3连接。

参照图2和图3，上盖2的上表面还设有调焦环5，具体的，调焦环5为一喇叭形环，在第二容纳槽21的背侧开设安装孔，供调焦环5穿设其中，使得调焦环5能够与第一容纳槽1110或放置槽10内的PLCC芯片接触，进而对其进行调焦。

本申请实施例一种测试PLCC通用治具的实施原理为：通过设置测试板3，并在测试板3上设置不同的引脚31，适配不同的PLCC芯片，使其能够跳线焊接，从而达到测试不同接口的PLCC芯片；另外通过设置第一容纳槽1110和放置槽10，可以容纳不同尺寸的PLCC芯片，从而对其进行检测，提高了治具的适用性。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试PLCC通用治具，其特征在于：包括底座（1）、上盖（2）和测试板（3）；所述测试板（3）与底座（1）的下表面连接，底座（1）的上表面开设有放置槽（10），所述放置槽（10）能够放置PLCC封装芯片；所述测试板（3）上设置有若干引脚（31），所述引脚（31）存在两种及以上的型号；所述上盖（2）压合在底座（1）的上表面上，所述上盖（2）与所述底座（1）配合将PLCC封装芯片压合在放置槽（10）内；所述上盖（2）对应所述放置槽（10）的位置开设有测试口（20），所述测试口（20）能够让连接PLCC芯片以及测试板（3）的连接线通过。

2.根据权利要求1所述的测试PLCC通用治具，其特征在于：所述放置槽（10）包括侧壁和第一底壁（11），相对的所述侧壁上均设有缺口（111），所述缺口（111）之间形成第一容纳槽（1110），所述第一容纳槽（1110）能够容纳PLCC封装芯片。

3.根据权利要求2所述的测试PLCC通用治具，其特征在于：所述第一容纳槽（1110）包括第二底壁（112），所述第二底壁（112）的高度高于所述第一底壁（11）。

4.根据权利要求2或3所述的测试PLCC通用治具，其特征在于：所述第一底壁（11）上设有通孔（110），在测试板（3）对应通孔（110）的位置开设有通槽（32）。

5.根据权利要求1所述的测试PLCC通用治具，其特征在于：所述底座（1）的下表面设置有第一安装槽（13），所述第一安装槽（13）内设置有短路针座（12）；短路针座（12）上设有针孔（120）；所述第一安装槽（13）的背侧设置有第二安装槽（14），所述短路针座（12）穿过第一安装槽（13）延伸至第二安装槽（14）内，在所述上盖（2）的下表面对应所述短路针座（12）的位置设有导电块（23），所述第二安装槽（14）能够容纳所述导电块（23）。

6.根据权利要求1所述的测试PLCC通用治具，其特征在于：所述上盖（2）的下表面设置有第二容纳槽（21）。

7.根据权利要求1所述测试PLCC通用治具，其特征在于：所述上盖（2）的上表面设置有转接板（4），所述转接板（4）设置有第一接口区（41）和第二接口区（42），所述第一接口区（41）位于测试口（20）的上方，对应第二接口区（42），在所述上盖（2）和底座（1）上均开设有穿线口（6）。

8.根据权利要求1所述的测试PLCC通用治具，其特征在于：所述上盖（2）的上表面设有嵌合槽（22），所述嵌合槽（22）恰好使转接板（4）嵌合在上盖（2）的上表面。

9.根据权利要求6所述的测试PLCC通用治具，其特征在于：所述上盖（2）还设有调焦环（5），所述调焦环（5）穿设于所述上盖（2），并能对放置槽（10）内的PLCC封装芯片进行调焦。

10.根据权利要求1所述的测试PLCC通用治具，其特征在于：所述测试板（3）、底座（1）以及上盖（2）均设有固定槽，所述固定槽用于固定测试板（3）、底座（1）以及上盖（2）。

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