CN215728253U - 测试针座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测试针座，包括固定座、浮动设于固定座的定位座以及测试针组，在所述固定座上形成限位槽，所述测试针组设于限位槽内，所述测试针组包括若干隔片和若干测试针，若干所述测试针分布于相邻隔片之间，使若干隔片和若干测试针依次靠紧后放入限位槽内。本实用新型提供的测试针座，维护和调整测试针方便，成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试设备技术领域，具体地说，涉及一种测试针座。
背景技术
测试针座用于对于芯片或连接器进行测试。有中国专利文献公开一种测试针座，包括：固定座，其具有收纳测试针的腔体，使测试针的主体部分配置在腔体内，并使主体部分两端的第一触点和第二触点分别露出所述固定座；以及配置在固定座上与固定座弹性连接的定位座，其中定位座上具有定位被测物的放置框，所述放置框内设有与第一触点相适配的槽口，当对定位座施加荷载的状态下，使第一触点从槽口伸出进入放置框，从而使检测被测物时能够精准定位，同时能够有效对针尖进行防护，提高检测质量。由于不同芯片导电触点的数量和位置不同，测试针座的测试针需要对应调整，而该测试针座无法做出适应性的调整，造成材料的浪费和成本的提升。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种测试针座，维护和调整测试针方便，成本低。
本实用新型公开的测试针座所采用的技术方案是:
一种测试针座，包括固定座、浮动设于固定座的定位座以及测试针组，在所述固定座上形成限位槽，所述测试针组设于限位槽内，所述测试针组包括若干隔片和若干测试针，若干所述测试针分布于相邻隔片之间，使若干隔片和若干测试针依次靠紧后放入限位槽内。
作为优选方案，在相邻的所述隔片之间形成有安装槽，所述测试针设于安装槽内。
作为优选方案，任一相邻的两所述隔片具有一相合面，所述安装槽形开设在其中一所述隔片的相合面上。
作为优选方案，在相邻的所述隔片之间形成有相互分离的两个安装槽，每个所述安装槽内设置至少一测试针。
作为优选方案，所述限位槽的长度尺寸或宽度尺寸与若干所述隔片宽度尺寸之和相等。
作为优选方案，所述隔片顶面包括突出的凸台部以及位于所述凸台部两侧的肩部；所述限位槽顶端的两侧侧向突出形成挡板，所述测试针组设于限位槽内，使所述肩部抵接于所述挡板，所述凸台部自两侧的所述挡板伸出。
作为优选方案，还包括所述转接板，所述固定座设于转接板一面，在所述转接板一面形成若干第一导电触点，所述测试针与第一导电触点电连接；在所述转接板相对另一面上形成若干第二导电触点，所述第二导电触点与第一导电触点导通。
作为优选方案，所述定位座上具有用于定位被测芯片的放置框，所述测试针顶部伸出隔片形成测试触点，所述放置框内设有与测试触点相适配的槽口，当对定位座施加荷载的状态下，所述第一触点从槽口伸出并进入放置框。
作为优选方案，所述固定座上具有一向上凸出的导向凸台，所述限位槽开设于导向凸台；所述定位座上开设有与导向凸台相配合的导向凹口，所述放置框位于导向凹口上方，所述槽口连通导向凹口与放置框。
本实用新型公开的测试针座的有益效果是：将若干测试针分布在相邻隔片之间，将若干隔片和若干测试针依次靠紧后放入限位槽内，需要调整或更换测试针时，仅需要将测试针组自限位槽取出，使待取出的测试针的相邻隔片分离，即可取出测试针，过程简单快捷，降低了维护和更换测试针的成本。
附图说明
图1是本实用新型测试针座的结构示意图。
图2是本实用新型测试针座的剖视图。
图3是本实用新型测试针座的另一剖视图。
图4是本实用新型测试针座的***图。
图5是本实用新型测试针座的另一***图。
图6是本实用新型测试针座的测试针组的结构示意图。
图7是本实用新型测试针座的测试针组的***图。
具体实施方式
下面结合具体实施例和说明书附图对本实用新型做进一步阐述和说明:
请参考图1，一种测试针座，包括固定座10、浮动设于固定座10的定位座20以及测试针组30。
在所述固定座10上形成限位槽11，所述测试针组30设于限位槽11内，所述测试针组30包括若干隔片31和若干测试针32，若干所述测试针32分布于相邻隔片31之间，使若干隔片31和若干测试针32依次靠紧后放入限位槽11内。其中，限位槽11的宽度尺寸与若干所述隔片31宽度尺寸之和相等，以此使相邻隔片31保持抵接。
将若干测试针32分布在相邻隔片31之间，将若干隔片31和若干测试针32依次靠紧后放入限位槽11内，需要调整或更换测试针32时，仅需要将测试针组30自限位槽11取出，使待取出的测试针32的相邻隔片31分离，即可取出测试针32，过程简单快捷，降低了维护和更换测试针32的成本。
在相邻的隔片31之间形成有安装槽311，所述测试针32设于安装槽311内。测试针32的上端和下端分别从安装槽311的两端漏出。其中，任一相邻的两所述隔片31具有一相合面312，所述安装槽311形开设在其中一所述隔片31的相合面312上，以降低成本。
在相邻的隔片31之间形成有相互分离的两个安装槽311，每个所述安装槽311内设置至少一测试针32。该安装槽311的数量需要与实际被侧芯片50匹配。每一安装槽311内的测试针32数量增加，可以提高导电性。
本实施例中，隔片31设有五组，测试针32分成八组，五组隔片31相合形成四个相合面，在四个相合面上开设八个安装槽311，将八组测试针32分别放置于八个安装槽311内。在八组测试针32中，位于中部的四组均为单个测试针32，位于两侧的四组均为三个测试针32叠加而成。
所述隔片31顶面包括突出的凸台部313以及位于所述凸台部313两侧的肩部314。所述限位槽11顶端的两侧侧向突出形成挡板111，所述测试针组30设于限位槽11内，使所述肩部314抵接于所述挡板111，所述凸台部313自两侧的所述挡板111伸出。此时，由于隔片31的肩部314抵接在挡板111上，即被挡板111限制了隔片31高度方向上的位移。
该测试针座还包括所述转接板40，所述固定座10设于转接板40一面，在所述转接板40一面形成若干第一导电触点41，所述测试针32与第一导电触点41电连接。具体的，测试针32下端从安装槽311的两端漏出，并与第一导电触点41电连接。
在所述转接板40相对另一面上形成若干第二导电触点42，所述第二导电触点42与第一导电触点41导通。该第二导电触点42上抵接有转接机构的导电部，检测信号通过该第二导电触点42传递至转接机构，并最终进行将检测信号发送至外部的检测机构。
所述定位座20上具有用于定位被测芯片50的放置框21，所述测试针32顶部伸出隔片31形成测试触点，所述放置框21内设有与测试触点相适配的槽口211，当对定位座20施加荷载的状态下，所述第一触点从槽口211伸出并进入放置框21。
所述固定座10上具有一向上凸出的导向凸台12，所述限位槽11开设于导向凸台12。所述定位座20上开设有与导向凸台12相配合的导向凹口22，所述放置框21位于导向凹口22上方，所述槽口211连通导向凹口22与放置框21。
上述方案中，在所述定位座20与固定座10之间设置有导向定位销23和弹簧24，使定位座20与固定座10弹性浮动连接。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
Claims (9)
1.一种测试针座，包括固定座、浮动设于固定座的定位座以及测试针组，其特征在于，在所述固定座上形成限位槽，所述测试针组设于限位槽内，所述测试针组包括若干隔片和若干测试针，若干所述测试针分布于相邻隔片之间，使若干隔片和若干测试针依次靠紧后放入限位槽内。
2.如权利要求1所述的测试针座，其特征在于，在相邻的所述隔片之间形成有安装槽，所述测试针设于安装槽内。
3.如权利要求2所述的测试针座，其特征在于，任一相邻的两所述隔片具有一相合面，所述安装槽开设在其中一所述隔片的相合面上。
4.如权利要求2所述的测试针座，其特征在于，在相邻的所述隔片之间形成有相互分离的两个安装槽，每个所述安装槽内设置至少一测试针。
5.如权利要求1所述的测试针座，其特征在于，所述限位槽的宽度尺寸与若干所述隔片宽度尺寸之和相等。
6.如权利要求1所述的测试针座，其特征在于，所述隔片顶面包括突出的凸台部以及位于所述凸台部两侧的肩部；
所述限位槽顶端的两侧侧向突出形成挡板，所述测试针组设于限位槽内，使所述肩部抵接于所述挡板，所述凸台部自两侧的所述挡板伸出。
7.如权利要求1所述的测试针座，其特征在于，还包括转接板，所述固定座设于转接板一面，在所述转接板一面形成若干第一导电触点，所述测试针与第一导电触点电连接；
在所述转接板相对另一面上形成若干第二导电触点，所述第二导电触点与第一导电触点导通。
8.如权利要求1所述的测试针座，其特征在于，所述定位座上具有用于定位被测芯片的放置框，所述测试针顶部伸出隔片形成测试触点，所述放置框内设有与测试触点相适配的槽口，当对定位座施加荷载的状态下，所述测试触点从槽口伸出并进入放置框。
9.如权利要求8所述的测试针座，其特征在于，所述固定座上具有一向上凸出的导向凸台，所述限位槽开设于导向凸台；
所述定位座上开设有与导向凸台相配合的导向凹口，所述放置框位于导向凹口上方，所述槽口连通导向凹口与放置框。
Priority Applications (1)
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| CN202120989713.0U CN215728253U (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 测试针座 |
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ID=80031229
Family Applications (1)
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| CN202120989713.0U Active CN215728253U (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 测试针座 |
Country Status (1)
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2021
- 2021-05-11 CN CN202120989713.0U patent/CN215728253U/zh active Active
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