CN215415737U - 一种pcb板测试点测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种PCB板测试点测试装置，包括上治具底座、上治具支撑架、上治具借点架、下治具底座、下治具支撑架以及下治具借点架；上治具底座上设置有上连接探针，上治具支撑架上设置有测试针，测试针的数量大于上连接探针的数量，上治具借点架上设置有上借点探针，每一上连接探针分别与测试针电连接，未与上连接探针电连接的测试针则与上借点探针电连接；下治具底座上设置有与自动化测试机台的下测试探针电连接的下连接探针，下治具借点架上设置有下借点探针，下借点探针与下连接探针电连接；当上治具与下治具靠近时，上借点探针适于与下借点探针电连接。本实用新型的PCB板测试点测试装置，更具可靠性，并且占用空间少。

Description

一种PCB板测试点测试装置

技术领域

本实用新型涉及PCB板测试领域，尤其涉及一种PCB板测试点测试装置。

背景技术

PCB板上设置测试点的目的是为了测试电路板上的零组件有没有符合规格以及焊性，比如说想检查一块PCB板上的电阻有没有问题，最简单的方法就是拿万用表测量其两头就可以得知了。但是，在大批量生产的工厂里没有办法用万用表慢慢测量每一块PCB板上的每一颗电阻、电容、电感甚至是IC电路是否正确，所以现有技术中会采用多根探针(一般称之为针床治具)同时接触PCB板上所有需要被量测的零件线路，然后经由程控以序列为主，并列为辅的方式循序量测这些电子零件的特性，通常这样测试一块PCB板的所有零件只需要1～2分钟左右的时间可以完成。

而如果让这些探针直接接触到PCB板上面的电子零件或是其焊脚，很有可能会压毁一些电子零件，反而适得其反，所以就发明了测试点，在零件的两端额外引出一对圆形的小点，上面没有防焊，其可以让测试用的探针接触到这些小点，而不用直接接触到那些被量测的电子零件。

PCB板在使用自动化测试机台进行测试时，一般会配合治具使用，治具用于对PCB板定位以及将PCB板和自动化测试机台电连接。一般来说，自动化测试机台具有上测试探针以及下测试探针。当上测试探针不能满足PCB板顶面的测试点的时候，现有技术中一般会采用排线连接的方式，将PCB板顶面剩余的测试点用排线与下测试探针连接。这样的连接方式，因为上下测试探针需要重复执行分离与靠近的运动，所以排线非常容易损坏，并且测试点过多时，排线的数量也会较多，会占用过多空间，并且排线损坏时需要将排线从治具上拆下，使得维修时间过长，导致生产效率下降。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种PCB板测试点测试装置，其能解决上述背景技术中的问题。

本实用新型的目的采用如下技术方案实现：

一种PCB板测试点测试装置，包括：上治具以及下治具；所述上治具包括上治具底座、上治具支撑架以及上治具借点架；所述上治具底座上设置有与自动化测试机台的上测试探针电连接的上连接探针，所述上治具支撑架上设置有用于与PCB板上测试点配合的测试针，所述测试针的数量大于上连接探针的数量，所述上治具借点架上设置有上借点探针，每一所述上连接探针分别与所述测试针电连接，未与所述上连接探针电连接的测试针则与所述上借点探针电连接；所述下治具包括下治具底座、下治具支撑架以及下治具借点架；所述下治具底座上设置有与自动化测试机台的下测试探针电连接的下连接探针，所述下治具支撑架用于支撑PCB板，所述下治具借点架上设置有下借点探针，所述下借点探针与下连接探针电连接；当所述上治具与下治具靠近时，上借点探针适于与下借点探针电连接。

进一步地，所述上借点探针包括套筒以及探针，所述套筒固定连接于所述上治具借点架，未与所述上连接探针电连接的测试针与所述套筒电连接，所述探针与所述套筒电连接，所述探针套设在所述套筒内，且与所述套筒弹性连接。

进一步地，所述探针与所述套筒通过弹簧连接。

进一步地，所述下借点探针固定连接于所述下治具借点架，且所述下借点探针与所述探针相对设置。

进一步地，所述下借点探针与所述探针相对的一端设置有扩大头，且所述扩大头具有一接触平面。

进一步地，所述探针相对所述下借点探针的一端为锯齿头。

进一步地，每一所述上连接探针分别通过导线与所述测试针电连接。

进一步地，未与所述上连接探针电连接的测试针通过导线与所述上借点探针电连接。

进一步地，下借点探针通过导线与下连接探针电连接。

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：上治具借点架上设置上借点探针，在下治具借点架上设置下借点探针，并且当上治具与下治具靠近时，上借点探针与下借点探针电连接，通过这样的方式，可以将上治具的未与上连接探针电连接的测试针转接到下治具的下连接探针上进行测试，满足PCB板的测试需求，而这相比于现有的排线借点的方式，更具可靠性，并且占用空间少。

附图说明

图1为本实用新型PCB板测试点测试装置的示意图；

图2为图1中A处的放大图。

图中：1、上治具；11、上治具底座；111、上连接探针；12、上治具支撑架；121、测试针；13、上治具借点架；131、上借点探针；1311、套筒；1312、探针；2、下治具；21、下治具底座；211、下连接探针；22、下治具支撑架；23、下治具借点架；231、下借点探针；31、导线。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳的实施例。但是，本实用新型可以用许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1-2所示，示出了本实用新型实施例提供的PCB板测试点测试装置，其至少包括上治具1以及下治具2。上治具1包括上治具底座11、上治具支撑架12以及上治具借点架13；上治具底座11上设置有与自动化测试机台的上测试探针电连接的上连接探针111，上治具支撑架12上设置有用于与PCB板上测试点配合的测试针121，测试针121的数量大于上连接探针111的数量，上治具借点架13上设置有上借点探针131，每一上连接探针111分别与测试针121电连接，未与上连接探针111电连接的测试针121则与上借点探针131电连接。下治具2包括下治具底座21、下治具支撑架22以及下治具借点架23；下治具底座21上设置有与自动化测试机台的下测试探针电连接的下连接探针211，下治具支撑架22用于支撑PCB板，下治具借点架23上设置有下借点探针231，下借点探针231与下连接探针211电连接；当上治具1与下治具2靠近时，上借点探针131适于与下借点探针231电连接。具体地，每一上连接探针111分别通过导线31与测试针121电连接。未与上连接探针111电连接的测试针121通过导线31与上借点探针131电连接。下借点探针231通过导线31与下连接探针211电连接。

需要说明的是，上治具支撑架12上设置的测试针121一般与PCB板测试点的数量相等，以方便一次性将PCB板测试点测试完。当PCB板测试点的数量大于上连接探针111的数量时(即测试针121的数量大于上连接探针111的数量)，本实用新型即可通过上治具借点架13上设置的上借点探针131与下治具借点架23上设置的下借点探针231电连接，从而将上治具1上未与上连接探针111电连接的测试针121转接到下治具2的下连接探针211上进行测试，满足PCB板的测试需求。实际使用时，当自动化测试机台压合时，上治具1与下治具2会相互靠近，从而上借点探针131会与下借点探针231接触，从而实现电连接，完成借点动作。上述的借点方式，避免了排线的使用，并且仅在需要对测试点测试时，上借点探针131和下借点探针231才会因为自动化测试机台的压合而导通，使用起来更加稳定可靠，减少了故障率，并且占用空间小。

作为优选地实施方式，上借点探针131包括套筒1311以及探针1312，套筒1311固定连接于上治具借点架13，未与上连接探针111电连接的测试针121与套筒1311电连接，探针1312与套筒1311电连接，探针1312套设在套筒1311内，且与套筒1311弹性连接。具体地，探针1312与套筒1311通过弹簧连接，下借点探针231固定连接于下治具借点架23，且下借点探针231与探针1312相对设置。通过这样的设置方式，当自动化测试机台压合时，与套筒1311弹性连接的探针1312可以起到一定的缓冲作用，避免了上借点探针131与下借点探针231的刚性接触，进一步保证了使用的可靠性。

优选地，下借点探针231与探针1312相对的一端设置有扩大头，且扩大头具有一接触平面。通过这样的设置方式，可以保证上借点探针131与下借点探针231在接触时的可靠性。

优选地，探针的相对下借点探针231的一端为锯齿头。同样，通过这样的设置方式，可以使得上借点探针131在于下借点探针231接触时更加可靠。同时也保证了本实用新型PCB板测试点测试装置使用时的可靠性。

以上仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种PCB板测试点测试装置，其特征在于，包括：上治具以及下治具；所述上治具包括上治具底座、上治具支撑架以及上治具借点架；所述上治具底座上设置有与自动化测试机台的上测试探针电连接的上连接探针，所述上治具支撑架上设置有用于与PCB板上测试点配合的测试针，所述测试针的数量大于上连接探针的数量，所述上治具借点架上设置有上借点探针，每一所述上连接探针分别与所述测试针电连接，未与所述上连接探针电连接的测试针则与所述上借点探针电连接；所述下治具包括下治具底座、下治具支撑架以及下治具借点架；所述下治具底座上设置有与自动化测试机台的下测试探针电连接的下连接探针，所述下治具支撑架用于支撑PCB板，所述下治具借点架上设置有下借点探针，所述下借点探针与下连接探针电连接；当所述上治具与下治具靠近时，上借点探针适于与下借点探针电连接。

2.如权利要求1所述的PCB板测试点测试装置，其特征在于：所述上借点探针包括套筒以及探针，所述套筒固定连接于所述上治具借点架，未与所述上连接探针电连接的测试针与所述套筒电连接，所述探针与所述套筒电连接，所述探针套设在所述套筒内，且与所述套筒弹性连接。

3.如权利要求2所述的PCB板测试点测试装置，其特征在于：所述探针与所述套筒通过弹簧连接。

4.如权利要求2所述的PCB板测试点测试装置，其特征在于：所述下借点探针固定连接于所述下治具借点架，且所述下借点探针与所述探针相对设置。

5.如权利要求4所述的PCB板测试点测试装置，其特征在于：所述下借点探针与所述探针相对的一端设置有扩大头，且所述扩大头具有一接触平面。

6.如权利要求4所述的PCB板测试点测试装置，其特征在于：所述探针相对所述下借点探针的一端为锯齿头。

7.如权利要求1所述的PCB板测试点测试装置，其特征在于：每一所述上连接探针分别通过导线与所述测试针电连接。

8.如权利要求1所述的PCB板测试点测试装置，其特征在于：未与所述上连接探针电连接的测试针通过导线与所述上借点探针电连接。

9.如权利要求1所述的PCB板测试点测试装置，其特征在于：下借点探针通过导线与下连接探针电连接。

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