CN215300648U - Can总线测试电路及*** - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种CAN总线测试电路及***，该测试电路中测试模式选择电路的控制端与驱动电路的输出端对应连接，测试模式选择电路的各输入端用于对应接入各测试模式对应的测试信号，测试模式选择电路的输出端用于连接被测CAN总线；控制电路输出电信号至驱动电路的输入端，当控制电路输出的电信号变化时，驱动电路驱动测试模式选择电路工作在与当前电信号匹配的目标测试模式，测试模式选择电路将与目标测试模式对应的测试信号接入被测CAN总线。整个过程根据控制电路的输出电信号变化来控制，无需人工介入，效率高，且可靠性高。另外，该电路便于扩展，可以通过扩展测试模式选择电路的输入和内部结构，即可实现多种测试模式下的CAN总线测试。

Description

CAN总线测试电路及***

技术领域

本实用新型涉及CAN总线测试技术领域，特别是涉及一种CAN总线测试电路及***。

背景技术

当前在汽车电子产品开发过程中，经常会应用到CAN芯片进行CAN总线通讯。这也使得工程师们在开发过程中经常需要对产品上的CAN线电路进行检测。

目前的CAN总线测试主要还是依赖人工搭建测试环境，对CAN芯片发送的CAN总线信号进行干扰，从而检测CAN通信质量，并手动记录测试结果，一方面搭建测试环境需要耗费较多的设备，且人工测试效率低、可靠性低。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种CAN总线测试电路及***，以实现对常见的CAN总线故障的多模式测试和测试模式的自动切换，提高测试效率，且提高测试电路的可扩展性。

本申请实施例一方面提供了一种CAN总线测试电路，包括：

驱动电路；

测试模式选择电路，测试模式选择电路的控制端与驱动电路的输出端对应连接，测试模式选择电路的各输入端用于对应接入各测试模式对应的测试信号，测试模式选择电路的输出端用于连接被测CAN总线；

控制电路，控制电路输出电信号至驱动电路的输入端，当控制电路输出的电信号变化时，驱动电路驱动测试模式选择电路工作在与当前电信号匹配的目标测试模式，测试模式选择电路将与目标测试模式对应的测试信号接入被测CAN总线。

本申请实施例提供的CAN总线测试电路，通过控制电路输出不同的电信号，触发驱动电路驱动测试模式选择电路在当前时刻，仅接通一种测试模式下的测试信号，该测试信号加载在被测CAN总线上，进行该测试摸下的CAN总线测试。当测试完成，通过改变控制电路输出电信号，即可改变驱动电路的输出信号，进而触发测试模式选择电路切换到另一种测试模式，并将该测试模式下的测试信号接入被测CAN总线，进行另一种测试模式下的CAN总线测试，根据常见的CAN总线故障原因合理设置测试信号和测试模式，可以实现多种测试信号下的CAN总线测试，整个过程根据控制电路的输出电信号变化来控制，无需人工介入，效率高，且可靠性高。另外，该电路便于扩展，可以通过扩展测试模式选择电路的输入和内部结构，即可实现多种测试模式下的CAN总线测试。

在其中一个实施例中，CAN总线测试电路还包括：

隔离电路，隔离电路的输入端与驱动电路的输出端连接，隔离电路的输出端与测试模式选择电路的控制端对应连接。

在其中一个实施例中，隔离电路包括：

多路隔离开关，各隔离开关的供电端均用于接外部电源，各隔离开关的控制端对应连接驱动电路的各输出端，各隔离开关的输出端对应连接测试模式选择电路的各控制端。

在其中一个实施例中，隔离开关包括：

第一晶体管，第一晶体管的控制端接驱动电路对应的输出端，第一晶体管的公共端接地，第一晶体管的输出端接测试模式选择电路中对应的控制端；

限流电阻，限流电阻串接在第一晶体管的控制端与和控制端对应的驱动电路的输出端之间；

上拉电阻，上拉电阻的一端与第一晶体管的输出端连接，上拉电阻的另一端用于连接外部电源。

在其中一个实施例中，测试模式选择电路包括：

多路开关模块，各开关模块的控制端与驱动电路的输出端对应连接，各开关模块的输入端用于对应接入各测试模式对应的测试信号，各开关模块的输出端用于连接被测CAN总线。

在其中一个实施例中，驱动电路包括：

二四译码器，二四译码器的第一输入端连接控制电路的第一输出端，二四译码器的第二输入端连接控制电路的第二输出端；

二四译码器的四路输出端对应连接测试模式选择电路的控制端。

在其中一个实施例中，各开关模块包括：

第二晶体管，各第二晶体管的控制端与二四译码器对应的输出端连接，第二晶体管的输入端用于接测试信号，第二晶体管的输出端用于接被测CAN总线的CAN_H端；

第三晶体管，各第三晶体管的控制端与二四译码器对应的输出端连接，第三晶体管的输入端用于接测试信号，第三晶体管的输出端用于接被测CAN总线的CAN_L端。

在其中一个实施例中，测试模式选择电路包括四路开关模块，各路开关模块中的第二晶体管的控制端和第三晶体管的控制端电连接，且各路开关模块中的第二晶体管的控制端一一对应连接二四译码器的各输出端；

第一路开关模块中：第二晶体管的输入端用于接第一干扰信号，第三晶体管的输入端用于接第二干扰信号，第一干扰信号的电平高于第二干扰信号的电平；

第二路开关模块中：第二晶体管的输入端和第三晶体管的输入端均用于接高压测试信号；

第三路开关模块中：第二晶体管的输入端用于接第一反接测试信号，第三晶体管的输入端用于接第二反接测试信号，第一反接测试信号的电平低于第二反接测试信号的电平；

第四路开关模块中：第二晶体管的输入端和第三晶体管的输入端均接地；

各路开关模块的第二晶体管的输出端均用于接被测CAN总线的CAN_H端；各路开关模块的第三晶体管的输出端均用于接被测CAN总线的CAN_L端。

在其中一个实施例中，第二晶体管为PMOS管，第二晶体管的输入端为PMOS管的漏极，第二晶体管的控制端为PMOS的栅极，第二晶体管的输出端为PMOS管的源极；

和/或，

第三晶体管为PMOS管，第三晶体管的输入端为PMOS管的漏极，第三晶体管的控制端为PMOS的栅极，第三晶体管的输出端为PMOS管的源极。

另一方面，本申请实施例还提供了一种CAN总线测试***，包括上述CAN总线测试电路和信号发生电路，信号发生电路用于提供各测试模式对应的测试信号。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一实施例的CAN总线测试电路及***的结构示意图；

图2为再一实施例的CAN总线测试电路及***的结构示意图；

图3为另一实施例中CAN总线测试电路及***的结构示意图；

图4为还一实施例中CAN总线测试电路及***的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。

可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一类/个元件与另一类/个元件区分。举例来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一电阻称为第二电阻，且类似地，可将第二电阻称为第一电阻。第一电阻和第二电阻两者都是电阻，但其不是同一电阻。

可以理解，以下实施例中的“连接”，如果被连接的电路、模块、单元等相互之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。

在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。同时，在本说明书中使用的术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。

为解决上述背景技术中的问题，本申请实施例一方面提供了一种CAN总线测试电路，如图1所示，包括：驱动电路100，测试模式选择电路200和控制电路500。测试模式选择电路200的控制端与驱动电路100的输出端对应连接，测试模式选择电路200的各输入端用于对应接入各测试模式对应的测试信号，测试模式选择电路200的输出端用于连接被测CAN总线；控制电路500输出电信号至驱动电路100的输入端，当控制电路500输出的电信号变化时，驱动电路100驱动测试模式选择电路200工作在与当前电信号匹配的目标测试模式，测试模式选择电路200将与目标测试模式对应的测试信号接入被测CAN总线。

其中，驱动电路100是指能够输出电信号，该电信号的变化能够驱动测试模式选择电路200处于不同的测试模式，接入不同测试模式对应的测试信号至被测CAN总线的电路。测试模式选择电路200是指能够实现多路信号传输通路的闭合和关断状态的电路。例如，测试模式选择电路200可以是多输入多输出开关器件，还可以是多输入多输出开关芯片等集成电路。测试模式选择电路200还可以是包括多路晶体管开关的电路。控制电路500是指能够根据测试需要，输出不同电信号，以使驱动电路100驱动测试模式选择电路200选择不同的测试信号接入至被测CAN总线的电路。该控制电路500形态不受限制，可以是集成的单片机，利用单片机现有的周期性波形产生方法，单片机的两个输出端周期性输出高低电平信号至驱动电路100。控制电路500还可以是信号发生器，该信号发生器按照设置好的波形，周期性输出高低电平信号，例如信号发生器的通道1输出周期为T的方波1，通道2输出与方波1相位相同、周期为2T的方波2。在有些实施例中，控制电路可以是单片机最小***，用于进行输出电信号逻辑的程序存储和执行。目标测试模式可以为测试模式中的一种。

被测CAN总线是指被安装在应用环境800中的CAN总线，例如，被测CAN总线可以是指与行车电脑连接的CAN总线，也可以指与OBD(On Board Diagnostics)车载诊断***800连接的CAN总线，具体的，通过CAN总线接口400实现与OBD(On Board Diagnostics)车载诊断***800的CAN通信连接。

具体的，进行测试时，先将控制电路500的输出逻辑提前设置好，测试开始时，控制电路500输出一个特性的电信号，该电信号触发驱动电路100工作，驱动电路100在该电信号作用下驱动测试模式选择电路200选择接通一个测试模式下的测试信号，例如，CAN总线正常通信情况下的，干扰信号对CAN总线通信信号的影响，此时，通过测试模式选择电路200，向CAN模块的CAN_H端接入CAN_H_TEST第一干扰测试信号，向CAN模块的CAN_L端接入CAN_L_TEST第二干扰测试信号。根据被测CAN总线所连接的行车电脑或者OBD在接入干扰测试信号前后的数据变化，可以检验被测CAN总线及其***硬件器件(如OBD或行车电脑等)800物理环境的可靠性。

本申请实施例提供的CAN总线测试电路，通过控制电路500输出不同的电信号，触发驱动电路100驱动测试模式选择电路200在当前时刻，仅接通一种测试模式下的测试信号，该测试信号加载在被测CAN总线上，进行该测试摸下的CAN总线测试。当测试完成，通过改变控制电路500输出电信号，即可改变驱动电路100的输出信号，进而触发测试模式选择电路200切换到另一种测试模式，并将该测试模式下的测试信号接入被测CAN总线，进行另一种测试模式下的CAN总线测试，根据常见的CAN总线故障原因合理设置测试信号和测试模式，可以实现多种测试信号下的CAN总线测试，整个过程根据控制电路500的输出电信号变化来控制，无需人工介入，效率高，且可靠性高。另外，该电路便于扩展，可以通过扩展测试模式选择电路200的输入和内部结构，即可实现多种测试模式下的CAN总线测试。

在其中一个实施例中，如图2所示，CAN总线测试电路还包括：隔离电路600，隔离电路600的输入端与驱动电路100的输出端连接，隔离电路600的输出端与测试模式选择电路200的控制端对应连接。

其中，隔离电路600是指能够对输入和输出两侧的信号进行电气隔离的电路。该隔离电路600可以包括光电耦合器、隔离开关610和/或电压跟随器等，隔离电路600还可以包括晶体管组成的放大电路。通过在驱动电路100和测试模式选择电路200之间增加隔离电路600，可以避免测试模式选择电路200中的信号对驱动电路100的信号造成干扰，从而保证驱动电路100工作稳定性，进而提高CAN总线测试电路的可靠性。另外，该隔离电路600包括放大电路时，可以对驱动电路100的输出信号进行信号隔离和放大，增加驱动能力，使得对测试模式选择电路200的驱动力更强，驱动效果更好，测试模式的切换更加精准。

在其中一个实施例中，如图3所示，隔离电路600包括：多路隔离开关610，各隔离开关610的供电端均用于接外部电源，各隔离开关610的控制端对应连接驱动电路100的各输出端，各隔离开关610的输出端对应连接测试模式选择电路200的各控制端。隔离电路600中可以包括多路隔离开关610，隔离开关610路数与测试模式的数量相等，且多路隔离开关610的路数还与驱动电路100的输出信号路数相等。驱动电路100可以通过在不同的输出端输出电信号到对应那路的隔离开关610，经过隔离开关610，该路隔离开关610输出驱动信号至测试模式选择电路200的输入端，测试模式选择电路200将与该隔离开关610对应的测试信号接入被测CAN总线。

在其中一个实施例中，隔离开关610包括：第一晶体管，限流电阻和上拉电阻。第一晶体管的控制端接驱动电路100对应的输出端，第一晶体管的公共端接地，第一晶体管的输出端接测试模式选择电路200中对应的控制端；限流电阻串接在第一晶体管的控制端与和控制端对应的驱动电路100的输出端之间；上拉电阻的一端与第一晶体管的输出端连接，上拉电阻的另一端用于连接外部电源。

隔离开关610可以是常见的光电耦合电路、主动隔离开关等，如图4所示，包括第一晶体管、限流电阻和上拉电阻，驱动电路100的多个输出端对应连接各路隔离开关610的第一晶体管的控制端。第一晶体管是指一类晶体管，仅为与下面的第二晶体管和第三晶体管进行区分，每路隔离开关610均可包括第一晶体管。当然，第一晶体管和下面第二晶体管、第三晶体管的选型可以一致也可以不同，根据具体应用环境进行适应性选择，只要是能够实现本申请中电路功能需求的选型都是本申请所要保护的方案。

当驱动电路100的第一路输出端输出信号时，第一路的第一晶体管在该信号驱动下闭合，输出低电平(以第一晶体管为NPN为例进行举例)至测试模式选择电路200的第一路输入端，测试模式选择电路200在该低电平驱动下，将第一路输入端对应的两路CAN_H_TEST和CAN_L_TEST信号对应接入被测CAN总线的CAN_H端和CAN_L端，测试CAN总线正常通信时，干扰信号对于CAN总线和CAN总线***硬件的影响。当驱动电路100的第二路输出端输出信号时，第二路的第一晶体管闭合，第一晶体管输出端输出低电平信号至测试模式选择电路200的第二路输入端，测试模式选择电路200在该低电平驱动下，将第二路输入端对应的两路高压测试信号VCC分别接入被测CAN总线的CAN_H端和CAN_L端，进行CAN总线和CAN总线***硬件的高压测试。其中，高压测试模式下加载的测试信号VCC可以是24V。

当第一晶体管为NPN时，第一晶体管的控制端是指NPN晶体管的基极，第一晶体管的公共端是指NPN晶体管的发射极，第一晶体管的输出端是指NPN晶体管的集电极。

在其中一个实施例中，如图3所示，测试模式选择电路200包括：多路开关模块210，各开关模块210的控制端与驱动电路100的输出端对应连接，各开关模块210的输入端用于对应接入各测试模式对应的测试信号，各开关模块210的输出端用于连接被测CAN总线。

测试模式选择可以通过多路开关模块210来实现，各路开关模块210的输入端接测试信号。测试模式对应的测试信号可以是多路，例如一个测试模式下的测试信号可以包括两路开关模块210的输入端所接入的两路测试信号。

当进行测试时，控制电路500输出电信号至驱动电路100，驱动电路100的各输出端选择一路输出电信号至对应的开关模块210，使得对应的开关模块210闭合，如上述示例，此处当驱动信号某个输出端输出驱动信号时，可以驱动两路开关模块210闭合，这两路开关模块210连接的测试信号分别对应接入被测CAN总线的CAN_H端和CAN_L端，进行该测试模式下的测量。

在其中一个实施例中，驱动电路100包括：二四译码器，二四译码器的第一输入端连接控制电路500的第一输出端，二四译码器的第二输入端连接控制电路500的第二输出端；二四译码器的四路输出端对应连接测试模式选择电路200的控制端。二四译码器可以实现四路输出的选择，仅需要控制电路500输出高低电平信号即可实现驱动电路100输出的选择，从而影响测试模式选择电路200接通的测试信号，实现测试模式的切换，该电路设置，对器件要求低，且集成化高，体积小，提供一种小体积的CAN总线测试电路。

在其中一个实施例中，各开关模块210包括：第二晶体管和第三晶体管。各第二晶体管的控制端与二四译码器对应的输出端连接，第二晶体管的输入端用于接测试信号，第二晶体管的输出端用于接被测CAN总线的CAN_H端；各第三晶体管的控制端与二四译码器对应的输出端连接，第三晶体管的输入端用于接测试信号，第三晶体管的输出端用于接被测CAN总线的CAN_L端。

如上述实施例中所述，第二晶体管和第三晶体管是指类别，并不局限为数量为1。常见的CAN总线故障原因有通信干扰、接口400短路、反接等，需要实现这些测试，往往需要对CAN总线的CAN_H端和CAN_L端均接入测试信号，所以测试模式选择电路200每路的开关模块210可以包括一组晶体管，第二晶体管的通断状态影响一路测试信号的接入，第三晶体管的通断状态影响另一路测试信号的接入。当其中一路开关模块210被驱动时，该开关模块210中的第二晶体管和第三晶体管均闭合，两个晶体管输入端接入的两路测试信号对应接入CAN总线的CAN_H端和CAN_L端，进行相应测试模式下的CAN总线测试。

在其中一个实施例中，如图3所示，测试模式选择电路200包括四路开关模块210，各路开关模块210中的第二晶体管的控制端和第三晶体管的控制端电连接，且各路开关模块210中的第二晶体管的控制端一一对应连接二四译码器的各输出端；

第一路开关模块210中：第二晶体管Q5的输入端用于接第一干扰信号，第三晶体管Q9的输入端用于接第二干扰信号，第一干扰信号的电平高于第二干扰信号的电平；

第二路开关模块210中：第二晶体管Q6的输入端和第三晶体管Q10的输入端均用于接高压测试信号；

第三路开关模块210中：第二晶体管Q7的输入端用于接第一反接测试信号，第三晶体管Q11的输入端用于接第二反接测试信号，第一反接测试信号的电平低于第二反接测试信号的电平；

第四路开关模块210中：第二晶体管Q8的输入端和第三晶体管Q12的输入端均接地；

各路开关模块210的第二晶体管(Q5、Q6、Q7、Q8)的输出端均用于接被测CAN总线的CAN_H端；各路开关模块210的第三晶体管(Q9、Q10、Q11、Q12)的输出端均用于接被测CAN总线的CAN_L端。

第一干扰信号CAN_H_TEST和第二干扰信号CAN_L_TEST用于测量CAN总线正常通信时，在信号干扰下CAN总线的通信质量。高压测试信号用于测量CAN总线与电源之间的短接情况，该高压测试信号可以是24V。第一反接测试信号CAN_L_TEST和第二反接测试信号CAN_H_TEST是用于测量CAN_H和CAN_L反接时的通信情况。第四路开关模块210中的第二晶体管Q8和第三晶体管Q12的输入端接地，用于测试CAN总线与地短路情况。

在其中一个实施例中，第二晶体管为PMOS管，第二晶体管的输入端为PMOS管的漏极，第二晶体管的控制端为PMOS的栅极，第二晶体管的输出端为PMOS管的源极；和/或，第三晶体管为PMOS管，第三晶体管的输入端为PMOS管的漏极，第三晶体管的控制端为PMOS的栅极，第三晶体管的输出端为PMOS管的源极。

为了更好的说明本申请实施例提供的CAN总线测试电路的实施过程，以图4中的具体实施例进行说明。根据CAN总线常见的故障原因，设置四种测试模式，分别为高压测试模式，正常通信时的抗干扰测试，反接测试和短路测试。根据此采用二四译码器进行驱动电路100实现，控制电路500的两个输出端输出00、01、10、11四种状态的输入组合，使得二四译码器的四个输出端每次只有一个输出端有输出量。

以图4中反相器和与门构成的二四译码器为例，当控制电路500的输出端输出00时，反相器P1和P2的输出端均输出1，与门G1的输出为1，与门G2、G3和G4的输出均为0，G1输出高电平，高电平信号经过限流电阻R1输入至第一晶体管Q1的基极，第一晶体管Q1满足导通条件，Q1导通，经过上拉电阻R5分压，第一晶体管Q1和上拉电阻R5连接端的电平被拉到地，即第一晶体管Q1输出低电平至第二晶体管Q5的栅极和第三晶体管Q9的栅极，第二晶体管Q5的栅极和第三晶体管Q9的栅极由上拉电阻所接的外部电源电压VCC拉至低电平后导通，第二晶体管Q5漏极所接第一干扰信号CAN_H_TEST接入被测CAN总线的CAN_H端，第三晶体管Q9漏极所接第二干扰信号CAN_L_TEST接入被测CAN总线的CAN_L端，向CAN模块发送的CAN总线信号进行干扰，从而进行检测CAN通信质量。

当控制电路500的输出端输出01时，即反相器P1和P2的输入端分别输入0和1，此时，反相器P1和P2的输出端分别输出1和0，与门G2的输出为1，与门G1、G3和G4的输出均为0，G2输出高电平，高电平信号经过限流电阻R2输入至第一晶体管Q2的基极，第一晶体管Q2满足导通条件，Q2导通，经过上拉电阻R6分压，第二晶体管Q6的栅极和第三晶体管Q10的栅极由上拉电阻所接的外部电源电压VCC拉至低电平后导通，第二晶体管Q6漏极所接高压测试信号VCC(24V)接入被测CAN总线的CAN_H端，第三晶体管Q10漏极所接高压测试信号VCC接入被测CAN总线的CAN_L端，测试CAN总线与电源短路情况。

当控制电路500的输出端输出10时，即反相器P1和P2的输入端分别输入1和0，此时，反相器P1和P2的输出端分别输出0和1，与门G3的输出为1，与门G2、G1和G4的输出均为0，G3输出高电平，高电平信号经过限流电阻R3输入至第一晶体管Q3的基极，第一晶体管Q3满足导通条件，Q3导通，经过上拉电阻R7分压，第一晶体管Q3和上拉电阻R7连接端的电平被拉到地，即第一晶体管Q3输出低电平至第二晶体管Q7的栅极和第三晶体管Q11的栅极，第二晶体管Q7的栅极和第三晶体管Q11的栅极由上拉电阻所接的外部电源电压VCC拉至低电平后导通，第二晶体管Q7漏极所接第一反接测试信号CAN_L_TEST接入被测CAN总线的CAN_H端，第三晶体管Q11漏极所接第二反接测试信号CAN_H_TEST接入被测CAN总线的CAN_L端，向CAN模块的CAN总线接入与正常工作时相反的高低电平信号，从而进行CAN总线接口400反接测试。

当控制电路500的输出端输出11时，即反相器P1和P2的输入端分别输入1和1，此时，反相器P1和P2的输出端分别输出0和0，与门G4的输出为1，与门G1、G3和G2的输出均为0，G4输出高电平，高电平信号经过限流电阻R4输入至第一晶体管Q4的基极，第一晶体管Q4满足导通条件，Q4导通，经过上拉电阻R8分压，第二晶体管Q8的栅极和第三晶体管Q12的栅极由上拉电阻所接的外部电源电压VCC拉至低电平后导通，第二晶体管Q8漏极所接地信号GND接入被测CAN总线的CAN_H端，第三晶体管Q12漏极所接地信号GND接入被测CAN总线的CAN_L端，测试CAN总线与地短路情况。因为二四译码器的逻辑判断，同一时间仅存在一组通道导通，从而可以实现不同的测试模式间的切换。

在其中一个实施例中，如图2-3所示，该CAN总线测试电路还包括数据采集模块700，该数据采集模块700用于采集CAN总线应用的设备800的输出信号，例如采集与CAN总线连接的OBD800的信号，通过在测试前后应用设备800的输出信号变化情况可以得到测试结果。

另一方面，如图1-4所示，本申请实施例还提供了一种CAN总线测试***，包括上述CAN总线测试电路1和信号发生电路300，信号发生电路300用于提供各测试模式对应的测试信号。

其中，该测试***总的CAN总线测试电路1工作实现过程均与上述CAN总线测试电路1实施例中一致，在此不再赘述。该CAN总线测试***，可以通过信号发生电路300提供不同的测试信号，配合CAN总线测试电路1，实现不同测试模式下CAN总线的自动测试，整个过程无需人工操作。本申请实施例提供的CAN总线测试***，采用模块化设计，能够自动快速的进行测试模式切换，自动依据控制电路500的设置进行测试与判断，提高了测试开发效率。

另外，本申请实施例提供的CAN总线测试电路及***，选用的元件简单易得，便于大批量生产和应用。可选用小型封装提高集成度，提高板上空间的利用率。减小CAN总线测试电路1及***的体积。

本申请实施例提供的CAN总线测试电路及***，具备产品物理环境测试功能，通过各种信号源直接对CAN线接口400进行极限测试，测试过程中信号会直接冲击至被测产品(例如行车电脑、OBD等车载设备)元件上，能够真实的检验设备CAN线及***器件800物理环境的可靠性。

在其他实施例中，该CAN总线测试***中的控制电路500还可以对测试结果进行判断，例如，在进行CAN总线正常通信下的抗干扰能力测试时，若控制电路500根据数据采集模块700采集的数据发现CAN总线仍能正常通信，则控制电路500自动切换输出电信号，改变测试模式，例如，控制进入高压测试模式，测试CAN总线与电源的短接情况。若在进行CAN总线正常通信下的抗干扰能力测试时，控制电路500根据数据采集模块700采集的数据发现CAN总线不能正常通信，则说明CAN总线及其***器件800有故障，此时测试结束，控制电路500输出测试结果，并停止输出电信号至驱动电路100。其中，控制电路500实现通信是否正常的判断实现可参考现有技术中的实施方式。

在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种CAN总线测试电路，其特征在于，包括：

驱动电路；

测试模式选择电路，所述测试模式选择电路的控制端与所述驱动电路的输出端对应连接，所述测试模式选择电路的各输入端用于对应接入各测试模式对应的测试信号，所述测试模式选择电路的输出端用于连接被测CAN总线；

控制电路，所述控制电路输出电信号至所述驱动电路的输入端，当控制电路输出的电信号变化时，所述驱动电路驱动所述测试模式选择电路工作在与当前电信号匹配的目标测试模式，所述测试模式选择电路将与所述目标测试模式对应的测试信号接入被测CAN总线。

2.根据权利要求1所述的CAN总线测试电路，其特征在于，还包括：

隔离电路，所述隔离电路的输入端与所述驱动电路的输出端连接，所述隔离电路的输出端与所述测试模式选择电路的控制端对应连接。

3.根据权利要求2所述的CAN总线测试电路，其特征在于，所述隔离电路包括：

多路隔离开关，各所述隔离开关的供电端均用于接外部电源，各所述隔离开关的控制端对应连接所述驱动电路的各输出端，各所述隔离开关的输出端对应连接所述测试模式选择电路的各控制端。

4.根据权利要求3所述的CAN总线测试电路，其特征在于，所述隔离开关包括：

第一晶体管，所述第一晶体管的控制端接所述驱动电路对应的输出端，所述第一晶体管的公共端接地，所述第一晶体管的输出端接所述测试模式选择电路中对应的控制端；

限流电阻，所述限流电阻串接在所述第一晶体管的控制端与和所述控制端对应的驱动电路的输出端之间；

上拉电阻，所述上拉电阻的一端与所述第一晶体管的输出端连接，所述上拉电阻的另一端用于连接外部电源。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的CAN总线测试电路，其特征在于，所述测试模式选择电路包括：

多路开关模块，各所述开关模块的控制端与所述驱动电路的输出端对应连接，各所述开关模块的输入端用于对应接入各测试模式对应的测试信号，各所述开关模块的输出端用于连接被测CAN总线。

6.根据权利要求5所述的CAN总线测试电路，其特征在于，所述驱动电路包括：

二四译码器，所述二四译码器的第一输入端连接所述控制电路的第一输出端，所述二四译码器的第二输入端连接所述控制电路的第二输出端；

所述二四译码器的四路输出端对应连接所述测试模式选择电路的控制端。

7.根据权利要求6所述的CAN总线测试电路，其特征在于，各所述开关模块包括：

第二晶体管，各所述第二晶体管的控制端与所述二四译码器对应的输出端连接，所述第二晶体管的输入端用于接测试信号，所述第二晶体管的输出端用于接所述被测CAN总线的CAN_H端；

第三晶体管，各所述第三晶体管的控制端与所述二四译码器对应的输出端连接，所述第三晶体管的输入端用于接测试信号，所述第三晶体管的输出端用于接所述被测CAN总线的CAN_L端。

8.根据权利要求7所述的CAN总线测试电路，其特征在于，所述测试模式选择电路包括四路开关模块，各路开关模块中的第二晶体管的控制端和第三晶体管的控制端电连接，且各路开关模块中的第二晶体管的控制端一一对应连接二四译码器的各输出端；

第一路开关模块中：第二晶体管的输入端用于接第一干扰信号，第三晶体管的输入端用于接第二干扰信号，所述第一干扰信号的电平高于所述第二干扰信号的电平；

第二路开关模块中：第二晶体管的输入端和第三晶体管的输入端均用于接高压测试信号；

第三路开关模块中：第二晶体管的输入端用于接第一反接测试信号，第三晶体管的输入端用于接第二反接测试信号，所述第一反接测试信号的电平低于所述第二反接测试信号的电平；

第四路开关模块中：第二晶体管的输入端和第三晶体管的输入端均接地；

各路开关模块的第二晶体管的输出端均用于接所述被测CAN总线的CAN_H端；各路开关模块的第三晶体管的输出端均用于接所述被测CAN总线的CAN_L端。

9.根据权利要求8所述的CAN总线测试电路，其特征在于，所述第二晶体管为PMOS管，所述第二晶体管的输入端为PMOS管的漏极，所述第二晶体管的控制端为PMOS的栅极，所述第二晶体管的输出端为PMOS管的源极；

和/或，

所述第三晶体管为PMOS管，所述第三晶体管的输入端为PMOS管的漏极，所述第三晶体管的控制端为PMOS的栅极，所述第三晶体管的输出端为PMOS管的源极。

10.一种CAN总线测试***，其特征在于，包括权利要求1-9中任一项所述的CAN总线测试电路和信号发生电路，所述信号发生电路用于提供各测试模式对应的测试信号。

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