CN214749820U - 一种观察薄膜表面晶点的检查工具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种观察薄膜表面晶点的检查工具，包括底座，所述底座上表面靠近边缘位置固定安装有立柱，所述立柱外表面开设有限位滑槽，所述立柱内部固定安装有限位杆，向下立柱上表面固定安装有焊接端盖，所述立柱一侧活动安装有一号螺柱，所述底座上方靠近两侧边缘位置均活动安装有限位器，所述限位器和所述限位杆滑动连接，所述限位器外表面开设有螺纹孔。本实用新型所述的一种观察薄膜表面晶点的检查工具，可以对不同型号的薄膜进行有效的夹持，解决设备无法快速调节薄膜夹持时的高度，导致观察时候不方便的问题，还能够解决设备容易受到外界光线影响，导致观察起来晶点不够明显的问题。

Description

一种观察薄膜表面晶点的检查工具

技术领域

本实用新型涉及检查工具领域，特别涉及一种观察薄膜表面晶点的检查工具。

背景技术

观察薄膜表面晶点的检查工具是用来检查薄膜表面晶点的设备，由底座和立柱等组成，具有较好的检查效果，且功耗较低，广泛应用于各个领域；现有的观察薄膜表面晶点的检查工具在使用时存在一定的弊端，如现有的观察薄膜表面晶点的检查工具，在使用时，无法对不同型号的薄膜进行有效的夹持，导致观察的时候薄膜容易抖动，还无法快速调节薄膜夹持时的高度，导致观察时候不方便，另外现有设备容易受到外界光线影响，导致观察起来晶点不够明显。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种观察薄膜表面晶点的检查工具，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种观察薄膜表面晶点的检查工具，包括底座，所述底座上表面靠近边缘位置固定安装有立柱，所述立柱外表面开设有限位滑槽，所述立柱内部固定安装有限位杆，向下立柱上表面固定安装有焊接端盖，所述立柱一侧活动安装有一号螺柱，所述底座上方靠近两侧边缘位置均活动安装有限位器，所述限位器和所述限位杆滑动连接，所述限位器外表面开设有螺纹孔，所述限位器侧表面开设有限位槽，所述限位槽侧壁活动安装有滚轴，所述滚轴两端均嵌套安装有连接轴套，所述限位器上表面靠近两侧边缘位置螺纹安装有二号螺柱，所述二号螺柱下端固定安装有轴承，所述底座上方靠近中心位置活动安装有升降条，升降条外表面螺纹安装有三号螺柱，所述升降条内侧表面靠近中心位置固定安装有固定框，所述固定框内侧表面靠近中心位置活动安装有转轴，所述转轴外表面靠近一端位置活动安装有调节杆，所述转轴一端固定安装有观察透镜，所述固定框外表面靠近两侧边缘位置活动安装有转杆，所述转杆一端固定安装有反光罩，所述反光罩下方固定安装有照明灯。

优选的，所述螺纹孔和所述一号螺柱螺纹连接，所述二号螺柱和所述轴承外圈部分固定连接，所述轴承内圈部分和所述连接轴套固定连接，所述滚轴通过所述连接轴套和所述限位槽侧壁活动连接。

优选的，所述升降条和所述限位杆滑动连接。

优选的，所述立柱的数量为六个。

优选的，所述调节杆和所述固定框连接位置嵌套安装有活动轴套。

优选的，所述反光罩另一端和所述固定框滑动连接，且连接位置嵌套安装有活动轴套。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型中，通过设置的限位器和立柱，旋转二号螺柱，在螺纹的推动下，二号螺柱下移，且轴承使连接轴套在水平方向保持静止，即可使连接轴套竖直向下移动，即可调节滚轴之间的距离，从而可以对不同型号的薄膜进行有效的夹持，旋转一号螺柱可以使限位器和限位杆之间的距离可调，通过减小接触面使两者间的摩擦力消失，进一步可以调节限位器的高度，即可调节限位器的高度，解决设备无法快速调节薄膜夹持时的高度，导致观察时候不方便的问题，通过设置的升降条，在检测时，掰动调节杆，使转轴转动，即可带动观察透镜转动，打开照明灯开关，旋转转杆，在转杆和固定框之间摩擦力的作用下，调整并固定反光罩的位置，使光线斜着照射在薄膜上，从而解决设备容易受到外界光线影响，导致观察起来晶点不够明显的问题。

附图说明

图1为本实用新型一种观察薄膜表面晶点的检查工具的整体结构示意图；

图2为本实用新型一种观察薄膜表面晶点的检查工具的立柱拆分结构示意图；

图3为本实用新型一种观察薄膜表面晶点的检查工具的限位器拆分结构示意图；

图4为本实用新型一种观察薄膜表面晶点的检查工具的升降条结构示意图。

图中：1、底座；2、立柱；201、限位滑槽；202、一号螺柱；203、限位杆；204、焊接端盖；3、限位器；301、限位槽；302、滚轴；303、二号螺柱；304、轴承；305、连接轴套；306、螺纹孔；4、升降条；401、三号螺柱；402、固定框；403、转轴；404、调节杆；405、转杆；406、反光罩；5、观察透镜。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

如图1-4所示，一种观察薄膜表面晶点的检查工具，包括底座1，底座1上表面靠近边缘位置固定安装有立柱2，立柱2外表面开设有限位滑槽201，立柱2内部固定安装有限位杆203，向下立柱2上表面固定安装有焊接端盖204，立柱2一侧活动安装有一号螺柱202，底座1上方靠近两侧边缘位置均活动安装有限位器3，限位器3和限位杆203滑动连接，限位器3外表面开设有螺纹孔306，限位器3侧表面开设有限位槽301，限位槽301侧壁活动安装有滚轴302，滚轴302两端均嵌套安装有连接轴套305，限位器3上表面靠近两侧边缘位置螺纹安装有二号螺柱303，二号螺柱303下端固定安装有轴承304，底座1上方靠近中心位置活动安装有升降条4，升降条4外表面螺纹安装有三号螺柱401，升降条4内侧表面靠近中心位置固定安装有固定框402，固定框402内侧表面靠近中心位置活动安装有转轴403，转轴403外表面靠近一端位置活动安装有调节杆404，转轴403一端固定安装有观察透镜5，固定框402外表面靠近两侧边缘位置活动安装有转杆405，转杆405一端固定安装有反光罩406，反光罩406下方固定安装有照明灯，滚轴302夹持薄膜，在这个过程中，旋转二号螺柱303，在螺纹的推动下，二号螺柱303下移，且轴承304使连接轴套305在水平方向保持静止，即可使连接轴套305竖直向下移动，即可调节滚轴302之间的距离，从而可以对不同型号的薄膜进行有效的夹持，旋转一号螺柱202可以使限位器3和限位杆203之间的距离可调，通过减小接触面使两者间的摩擦力消失，进一步可以调节限位器3的高度，即可调节限位器3的高度，解决设备无法快速调节薄膜夹持时的高度，导致观察时候不方便的问题，在检测时，掰动调节杆404，使转轴403转动，即可带动观察透镜5转动，打开照明灯开关，旋转转杆405，在转杆405和固定框402之间摩擦力的作用下，调整并固定反光罩406的位置，使光线斜着照射在薄膜上，从而解决设备容易受到外界光线影响，导致观察起来晶点不够明显的问题。

螺纹孔306和一号螺柱202螺纹连接，二号螺柱303和轴承304外圈部分固定连接，轴承304内圈部分和连接轴套305固定连接，滚轴302通过连接轴套305和限位槽301侧壁活动连接；升降条4和限位杆203滑动连接；立柱2的数量为六个；调节杆404和固定框402连接位置嵌套安装有活动轴套；反光罩406另一端和固定框402滑动连接，且连接位置嵌套安装有活动轴套。

需要说明的是，本实用新型为一种观察薄膜表面晶点的检查工具，在使用时，首先，将设备放到指定的工作场所，之后将薄膜穿过限位器3，此时，滚轴302夹持薄膜，在这个过程中，旋转二号螺柱303，在螺纹的推动下，二号螺柱303下移，且轴承304使连接轴套305在水平方向保持静止，即可使连接轴套305竖直向下移动，即可调节滚轴302之间的距离，从而可以对不同型号的薄膜进行有效的夹持，旋转一号螺柱202可以使限位器3和限位杆203之间的距离可调，通过减小接触面使两者间的摩擦力消失，进一步可以调节限位器3的高度，即可调节限位器3的高度，解决设备无法快速调节薄膜夹持时的高度，导致观察时候不方便的问题，在检测时，掰动调节杆404，使转轴403转动，即可带动观察透镜5转动，打开照明灯开关，旋转转杆405，在转杆405和固定框402之间摩擦力的作用下，调整并固定反光罩406的位置，使光线斜着照射在薄膜上，从而解决设备容易受到外界光线影响，导致观察起来晶点不够明显的问题。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (6)

1.一种观察薄膜表面晶点的检查工具，其特征在于：包括底座(1)，所述底座(1)上表面靠近边缘位置固定安装有立柱(2)，所述立柱(2)外表面开设有限位滑槽(201)，所述立柱(2)内部固定安装有限位杆(203)，向下立柱(2)上表面固定安装有焊接端盖(204)，所述立柱(2)一侧活动安装有一号螺柱(202)，所述底座(1)上方靠近两侧边缘位置均活动安装有限位器(3)，所述限位器(3)和所述限位杆(203)滑动连接，所述限位器(3)外表面开设有螺纹孔(306)，所述限位器(3)侧表面开设有限位槽(301)，所述限位槽(301)侧壁活动安装有滚轴(302)，所述滚轴(302)两端均嵌套安装有连接轴套(305)，所述限位器(3)上表面靠近两侧边缘位置螺纹安装有二号螺柱(303)，所述二号螺柱(303)下端固定安装有轴承(304)，所述底座(1)上方靠近中心位置活动安装有升降条(4)，升降条(4)外表面螺纹安装有三号螺柱(401)，所述升降条(4)内侧表面靠近中心位置固定安装有固定框(402)，所述固定框(402)内侧表面靠近中心位置活动安装有转轴(403)，所述转轴(403)外表面靠近一端位置活动安装有调节杆(404)，所述转轴(403)一端固定安装有观察透镜(5)，所述固定框(402)外表面靠近两侧边缘位置活动安装有转杆(405)，所述转杆(405)一端固定安装有反光罩(406)，所述反光罩(406)下方固定安装有照明灯。

2.根据权利要求1所述的一种观察薄膜表面晶点的检查工具，其特征在于：所述螺纹孔(306)和所述一号螺柱(202)螺纹连接，所述二号螺柱(303)和所述轴承(304)外圈部分固定连接，所述轴承(304)内圈部分和所述连接轴套(305)固定连接，所述滚轴(302)通过所述连接轴套(305)和所述限位槽(301)侧壁活动连接。

3.根据权利要求2所述的一种观察薄膜表面晶点的检查工具，其特征在于：所述升降条(4)和所述限位杆(203)滑动连接。

4.根据权利要求3所述的一种观察薄膜表面晶点的检查工具，其特征在于：所述立柱(2)的数量为六个。

5.根据权利要求4所述的一种观察薄膜表面晶点的检查工具，其特征在于：所述调节杆(404)和所述固定框(402)连接位置嵌套安装有活动轴套。

6.根据权利要求5所述的一种观察薄膜表面晶点的检查工具，其特征在于：所述反光罩(406)另一端和所述固定框(402)滑动连接，且连接位置嵌套安装有活动轴套。

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