CN213239415U - 一种光学镜头调制传递函数检测设备快速光轴对正*** - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光学镜头调制传递函数检测设备快速光轴对正***，包括摄像头支架、采样摄像头、检测支架、被测物治具、被测镜头、分划板、光源、高精密电动XY轴水平滑台、高精密电动Z轴滑台、驱动器、控制器、主控计算机和自动上料机械臂，所述高精密电动XY轴水平滑台置于高精密电动Z轴滑台与光源之间，所述分划板位于光源上方，高精密电动XY轴水平滑台能够使分划板在水平XY方向上平移，所述被测物治具位于分划板的上方连接支撑于检测支架上，所述被测镜头通过自动上料机械臂放置于被测物治具上，所述摄像头支架位于被测镜头上方。本实用新型与现有技术相比的优点在于：结构简单，成本较低，快速动作，节省测试时间，精度高，一致性好。
Description
技术领域
本实用新型涉及光学***中头的调制传递函数自动检测技术领域，具体是指一种光学镜头调制传递函数检测设备快速光轴对正***。
背景技术
调制传递函数、离焦曲线，是评价光学镜头成像质量的重要参数。自动化测试光学镜头的调制传递函数及离焦曲线，是目前高品质镜头生产必须的工艺和品质要求。在自动检测机应用中，检测重复精度是设备最重要参数。上料过程中，机械手上料精度决定了被测物水平位置的偏差，由于光学***高精密的特性，微小的水平位置偏差，会造成光轴偏差，进而影响重复精度。进一步减小上料过程的水平位置偏差，存在较大难度和较高成本，因此，对光轴偏差进行快速对正，成为提高重复精度的较好方案。
实用新型内容
本实用新型提供一种结构简单，成本较低，快速动作，节省测试时间，精度高，一致性好的一种光学镜头调制传递函数检测设备快速光轴对正***。
本实用新型提供的技术方案为：一种光学镜头调制传递函数检测设备快速光轴对正***，包括摄像头支架、采样摄像头、检测支架、被测物治具、被测镜头、分划板、光源、高精密电动XY轴水平滑台、高精密电动Z轴滑台、驱动器、控制器、主控计算机和自动上料机械臂，所述高精密电动XY轴水平滑台置于高精密电动Z轴滑台与光源之间，所述分划板位于光源上方，高精密电动XY轴水平滑台能够使分划板在水平XY方向上平移，所述被测物治具位于分划板的上方连接支撑于检测支架上，所述被测镜头通过自动上料机械臂放置于被测物治具上，所述摄像头支架位于被测镜头上方，连接安装采样摄像头。
进一步的，所述主控计算机上设有调制传递函数测试程序，所述主控计算机连接控制器，所述控制器连接驱动器，所述驱动器驱动高精密电动XY轴水平滑台和高精密电动Z轴滑台。
进一步的，所述采样摄像头与主控计算机连接，所述驱动器可触发采样摄像头。
本实用新型与现有技术相比的优点在于：
1精密电动XY轴水平滑台置于高精密电动Z轴滑台与光源之间，控制分划板移动进行光轴对正，实现光路对正功能，成本大幅度降低，占用空间面积小，设备紧凑；
2精密电动XY轴水平滑台置于高精密电动Z轴滑台与光源之间，控制分划板移动进行光轴对正，移动距离小，行程要求低；
3能够满足不同被测镜头，不同测试视场要求，不同的判决规格要求，适应性广，切换速度快。
附图说明
图1为本实用新型实施例构造图。
图2为本实用新型动作流程图。
图3为光轴对正之前中央摄像头采集的投影十字线。
图4为光轴对正之前焦点位置中央摄像头采集的投影十字线。
图5为光轴对正之后焦点位置中央摄像头采集的投影十字线。
如图所示：1、摄像头支架，2、采样摄像头，3、检测支架，4、被测物治具，5、被测镜头，6、分划板，7、光源，8、高精密电动XY轴水平滑台，9、高精密电动Z轴滑台，10、驱动器，11、控制器，12、主控计算机，13、自动上料机械臂。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明。
结合图1-5所示，一种光学镜头调制传递函数检测设备快速光轴对正***，包括摄像头支架1、采样摄像头2、检测支架3、被测物治具4、被测镜头5、分划板6、光源7、高精密电动XY轴水平滑台8、高精密电动Z轴滑台9、驱动器10、控制器11、主控计算机12和自动上料机械臂13，所述高精密电动XY轴水平滑台8置于高精密电动Z轴滑台9与光源7之间，所述分划板6位于光源7上方，高精密电动XY轴水平滑台8能够使分划板6在水平XY方向上平移，所述被测物治具4位于分划板6的上方连接支撑于检测支架3上，所述被测镜头5通过自动上料机械臂13放置于被测物治具4上，所述摄像头支架1位于被测镜头5上方，连接安装采样摄像头2。
所述主控计算机12上设有调制传递函数测试程序，所述主控计算机12连接控制器11，所述控制器11连接驱动器10，所述驱动器10驱动高精密电动XY轴水平滑台8和高精密电动Z轴滑台9，所述采样摄像头2与主控计算机12连接，所述驱动器10可触发采样摄像头2。
本实用新型具体实施时，将高精密电动XY轴水平滑台8置于高精密电动Z轴滑台9与光源7之间，分划板6位于光源7上方，高精密电动XY轴水平滑台8能够使分划板6在水平XY方向上平移如图1所示；主控计算机12上的调制传递函数测试程序，控制控制器11，控制器11控制驱动器10驱动高精密电动Z轴滑台9和高精密电动XY轴水平滑台8运动；控制器11可以触发位于摄像头支架1上各视场位置的采样摄像头2拍摄照片，照片传输到主控计算机12上的调制传递函数测试程序，照片上是分划板6通过被测镜头5投影到采样摄像头2的十字线；主控计算机12上的调制传递函数测试程序，通过分析中央采样摄像头2图像投影十字线如图3所示，计算出调制传递函数，控制高精密电动Z轴滑台9运动，在固定间隔的不同Z轴位置上，拍摄多张照片分析计算调制传递函数，找出调制传递函数值最高的图片对应的Z轴位置，即为焦点位置；此位置投影十字线图像的十字中心可能不在图像视野正中如图4所示，运行在主控计算机12上的调制传递函数测试程序，自动识别十字中心位置，计算偏离视野中心的距离像素数，通过其他方式测量得到的被测镜头焦距，已知的采样摄像头焦距，采样摄像头传感器参数等信息，计算出分划板6需要移动的距离mm，控制高精密电动XY轴水平滑台8运动，快速将十字中心移动到视野中心如图5所示；根据精度要求，上述快速对正过程可以重复进行，对正完成后，可正常进行离焦测试。
以上对本实用新型及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本实用新型的保护范围。
Claims (3)
1.一种光学镜头调制传递函数检测设备快速光轴对正***，包括摄像头支架（1）、采样摄像头（2）、检测支架（3）、被测物治具（4）、被测镜头（5）、分划板（6）、光源（7）、高精密电动XY轴水平滑台（8）、高精密电动Z轴滑台（9）、驱动器（10）、控制器（11）、主控计算机（12）和自动上料机械臂（13），其特征在于：所述高精密电动XY轴水平滑台（8）置于高精密电动Z轴滑台（9）与光源（7）之间，所述分划板（6）位于光源（7）上方，高精密电动XY轴水平滑台（8）能够使分划板（6）在水平XY方向上平移，所述被测物治具（4）位于分划板（6）的上方连接支撑于检测支架（3）上，所述被测镜头（5）通过自动上料机械臂（13）放置于被测物治具（4）上，所述摄像头支架（1）位于被测镜头（5）上方，连接安装采样摄像头（2）。
2.根据权利要求1所述的一种光学镜头调制传递函数检测设备快速光轴对正***，其特征在于：所述主控计算机（12）上设有调制传递函数测试程序，所述主控计算机（12）连接控制器（11），所述控制器（11）连接驱动器（10），所述驱动器（10）驱动高精密电动XY轴水平滑台（8）和高精密电动Z轴滑台（9）。
3.根据权利要求2所述的一种光学镜头调制传递函数检测设备快速光轴对正***，其特征在于：所述采样摄像头（2）与主控计算机（12）连接，所述驱动器（10）可触发采样摄像头（2）。
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- 2020-10-21 CN CN202022355775.4U patent/CN213239415U/zh active Active
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