CN212300309U - 一种检测机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电子产品检测技术领域，具体公开一种检测机构。该检测机构包括承载组件、探针检测组件和基准检测组件，承载组件用于承载待检测工件，探针检测组件包括至少一个可升降地设置于承载组件上方的检测探针，检测探针能够抵接于待检测工件的表面并对其表面平整度进行检测，基准检测组件包括三个基准探针，三个基准探针可升降地环设于探针检测组件的周围，且能够抵接于待检测工件的表面。本实用新型提供的检测机构，操作简便快捷，可以实现对待检测工件进行高精度的表面平整度检测，检测效率高，检测结果准确，且能够确保出厂产品的良品率，提高客户体验感。

Description

一种检测机构

技术领域

本实用新型涉及电子产品检测技术领域，尤其涉及一种检测机构。

背景技术

随着各类电子产品普及率的不断提高，用户对电子产品的充电需求也越来越高，无线充电技术凭借其更加便利的特点逐渐成为对电子产品进行充电的新趋势。无线充电技术要求电子产品中设置有无线充电接收线圈，用于接收无线充电器上无线充电发射线圈所产生的电磁波，从而进行充电。因此，线圈是实现无线充电技术的关键性部件。

在线圈的生产过程中，通常需要对线圈的表面平整对进行检测，现有技术中通常采用人工检测，即操作人员通过观察线圈的表面及用手抚摸线圈的表面，来判断该线圈是否符合平整度要求。但是人工检测不仅效率低，且由于操作人员的个体差异，检测结果不够精确，容易产生误差，不适合大批量生产。此外，现有技术中，有些厂商采用检测探针进行检测，为了减小随机误差，通常在线圈表面选择多个测量点，检测探针依次对多个测量点的高度进行测量，但是由于没有基准平面，如果线圈的下表面也不平整，那么在检测的过程中，线圈可能会发生偏斜，且在测量不同的测量点时，线圈偏斜的方向不同，从而造成检测结果不准确。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种检测机构，可以实现对线圈进行高精度的表面平整度检测，检测效率高，检测结果准确。

如上构思，本实用新型所采用的技术方案是：

一种检测机构，包括：

承载组件，其用于承载待检测工件；

探针检测组件，其包括至少一个可升降地设置于所述承载组件上方的检测探针，所述检测探针能够抵接于所述待检测工件的表面并对其表面平整度进行检测；

基准检测组件，其包括三个基准探针，三个所述基准探针可升降地环设于所述探针检测组件的周围，且能够抵接于所述待检测工件的表面。

作为一种检测机构的优选方案，所述探针检测组件还包括：

检测安装件，所述检测探针设置于所述检测安装件上；

第一升降驱动件，其输出端与所述检测安装件相连接，所述第一升降驱动件能够驱动所述检测安装件沿竖直方向升降。

作为一种检测机构的优选方案，所述承载组件包括：

承载支架；

载板，其设置于所述承载支架上；

吸附部，其设置于所述载板上，所述吸附部用于吸附所述待检测工件。

作为一种检测机构的优选方案，所述吸附部的数量为多个，多个所述吸附部间隔设置于所述载板上，每个所述吸附部能够吸附一个所述待检测工件。

作为一种检测机构的优选方案，所述承载组件还包括检测相机，所述载板采用玻璃材质制成，所述检测相机设置于所述承载支架上，并位于所述载板的下方，所述检测相机用于获取所述载板上的所述待检测工件的图像。

作为一种检测机构的优选方案，所述检测机构还包括盖板组件，所述盖板组件上设置有检测孔，所述检测探针和所述基准探针均能够穿过所述检测孔与所述待检测工件的表面抵接。

作为一种检测机构的优选方案，所述盖板组件包括：

盖板，其能够位于所述承载组件的上方，所述检测孔设置于所述盖板上；

盖板水平驱动件，其被配置为驱动所述盖板运动，以在水平方向上靠近或者远离所述承载组件。

作为一种检测机构的优选方案，所述盖板组件还包括：

检测移动平台，其与所述盖板水平驱动件的输出端相连；

盖板升降驱动件，其设置于所述检测移动平台，所述盖板升降驱动件的输出端与所述盖板相连，用于驱动所述盖板升降，以在竖直方向上靠近或者远离所述承载组件。

作为一种检测机构的优选方案，所述检测孔包括：

第一检测孔，所述第一检测孔与所述检测探针一一对应；

第二检测孔，所述第二检测孔的数量为三个，三个所述第二检测孔环设于所述第一检测孔的周围，三个所述第二检测孔与三个所述基准探针一一对应。

作为一种检测机构的优选方案，所述基准检测组件还包括第二升降驱动件，所述第二升降驱动件用于驱动三个所述基准探针沿竖直方向升降。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型提出一种检测机构，该检测机构包括承载组件、探针检测组件和基准检测组件，承载组件用于承载待检测工件，探针检测组件包括至少一个检测探针，检测探针能够抵接于待检测工件的表面并对其进行表面平整度的检测，基准检测组件包括三个基准探针，根据三个点确定一个平面的原理，在对待检测工件进行检测之前，首先使三个基准探针向下运动，以抵接于待检测工件的表面，并将三个基准探针与待检测工件表面的交点确定的平面定义为基准面，然后使检测探针向下运动以抵接于待检测工件的表面，记录检测探针与待检测工件表面的交点的高度，判断该高度与基准平面的高度差是否处预设高度范围内即可，如果处于预设高度范围内，则该工件为合格工件，操作简便快捷，可以实现对待检测工件进行高精度的表面平整度检测，检测效率高，检测结果准确，且能够确保出厂产品的良品率，提高客户体验感。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的检测机构的结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的检测机构的承载组件与盖板组件相分离时的结构示意图；

图3是本实用新型实施例提供的检测机构的盖板组件位于承载组件上方时的结构示意图。

图中：

1-承载组件；11-承载支架；12-载板；13-吸附部；14-直线驱动源；

2-探针检测组件；21-检测安装件；22-检测探针；

3-基准检测组件；31-基准探针；

4-盖板组件；41-盖板；411-第一检测孔；412-第二检测孔；42-盖板升降驱动件；43-检测移动平台；

5-机架。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。

如图1所示，本实施例提供了一种检测机构，该检测机构包括承载组件1、探针检测组件2、基准检测组件3和机架5，其中，承载组件1、探针检测组件2和基准检测组件3均设置于机架5上，机架5起到了整体支撑的作用。具体地，承载组件1用于承载待检测工件，探针检测组件2包括至少一个可升降地设置于承载组件1上方的检测探针22，检测探针22能够抵接于待检测工件的表面并对其表面平整度进行检测，基准检测组件3包括三个基准探针31，三个基准探针31可升降地环设于探针检测组件2的周围，且能够抵接于待检测工件的表面。在本实施例中，待检测工件主要是指线圈，当然，在其他实施例中，待检测工件还可以是其他需要进行表面平整度检测的工件。

本实施例提供的检测机构，承载组件1用于承载待检测工件，根据三个点确定一个平面的原理，在对待检测工件进行检测之前，首先使三个基准探针31向下运动，以抵接于待检测工件的表面，并将三个基准探针31与待检测工件表面的交点确定的平面定义为基准面，然后使检测探针22向下运动以抵接于待检测工件的表面，记录检测探针22与待检测工件表面的交点的高度，判断该高度与基准平面的高度差是否处预设高度范围内即可，如果处于预设高度范围内，则该工件为合格工件，操作简便快捷，可以实现对待检测工件进行高精度的表面平整度检测，检测效率高，检测结果准确，且能够确保出厂产品的良品率，提高客户体验感。

进一步地，探针检测组件2还包括检测安装件21和第一升降驱动件，检测探针22设置于检测安装件21上，检测安装件21滑动设置于机架5上，第一升降驱动件的输出端与检测安装件21相连接，第一升降驱动件能够驱动检测安装件21沿竖直方向升降。优选地，在检测安装件21上设置有导向滑块，在机架5上设置有沿竖直方向延伸的导向滑轨，导向滑块滑动配合于导向滑轨，通过设置相互滑动配合的导向滑轨和导向滑块，能够为检测安装件21沿机架5的升降运动提供导向，并保证检测安装件21升降过程的稳定性。其中，第一升降驱动件具体为第一升降驱动气缸。

在本实施例中，检测探针22的数量为十五个，十五个检测探针22呈阵列分布于检测安装件21上，可以对待检测工件上的十五个点进行测量，减少随机误差，保证检测结果的准确性。当然，在其他实施例中，检测探针22的数量也可以根据实际情况进行调整，以精确测量待检测工件表面的平整度。

优选地，在本实施例中，由于待检测工件的截面形状为圆形，检测安装件21的截面形状为圆形，且检测安装件21在水平面上的投影面积大于待检测工件上表面的面积，多个检测探针22同时对待检测工件的表面的高度进行测量，以准确判断待检测工件表面的平整度，减少随机误差。

进一步地，基准检测组件3还包括第二升降驱动件，第二升降驱动件用于驱动三个基准探针31沿竖直方向升降。具体地，第二升降驱动件为第二升降驱动气缸。第二升降驱动件的数量可以是一个，一个第二升降驱动件同时驱动三个基准探针31升降，第二升降驱动件的数量也可以是三个，每个第二升降驱动件对应一个基准探针31，均可实现上述效果。

具体而言，在对待检测工件的表面平整度进行检测时，首先利用第二升降驱动件驱动三个基准探针31下降以抵接待检测工件的表面，此时，将三个基准探针31与待检测工件表面的交点确定的平面定义为基准面，该基准面的高度定义为D0，且定义D0＝0，然后第一升降驱动件驱动检测安装件21并带动多个检测探针22向下运动，以使多个检测探针22抵接于待检测工件的表面，并分别测出各个点的高度D1，最后，根据各个点的高度D1的最大值D1_max和最小值D1_min，计算D＝D1_max-D1_min，判断D是否处于预设高度范围内，如果D处于预设高度范围内，则该待检测工件符合平整度要求，该工件为合格产品，否则为不合格产品。采用这种方式，可以提高产品的良品率，增加客户的满意度。

进一步地，如图2-图3所示，该检测机构还包括盖板组件4，盖板组件4上设置有检测孔，检测探针22和基准探针31均能够穿过检测孔与待检测工件的表面抵接，检测探针22和基准探针31穿过检测孔与待检测工件的表面抵接，能够为检测探针22和基准探针31提供导向，使得检测探针22和基准探针31均能够在预设的位置与待检测工件进行抵接，提高测量精度。其中待检测工件上的预设位置是指操作人员预先设定的在待检测工件上具有代表性的点。

进一步地，盖板组件4包括盖板41、盖板升降驱动件42、检测移动平台43和盖板水平驱动件，盖板41能够位于承载组件1的上方，检测孔设置于盖板41上，检测移动平台43滑动设置于机架5上，检测移动平台43与盖板水平驱动件的输出端相连，盖板水平驱动件能够驱动检测移动平台43运动，以使盖板41在水平方向上靠近或者远离承载组件1，盖板升降驱动件42设置于检测移动平台43，盖板升降驱动件42的输出端与盖板41相连，用于驱动盖板41升降，以在竖直方向上靠近或者远离承载组件1。

通过设置盖板升降驱动件42和盖板水平驱动件，可以方便承载组件1上对待检测工件的上料和下料操作，当需要在承载组件1上放置或者取下待检测工件时，实现利用盖板升降驱动件42驱动盖板41向上运动，以在竖直方向上远离承载组件1，防止在盖板41进行水平方向上的运动时与待检测工件发生干涉，然后利用盖板水平驱动件驱动盖板41运动，以在水平方向上远离承载组件1，从而使承载组件1与盖板41相分离，方便对待检测工件的上料和下料。其中，盖板升降驱动件42具体为盖板升降驱动气缸，盖板水平驱动件具体为盖板水平驱动气缸或者盖板水平驱动直线电机。

进一步地，检测孔包括第一检测孔411和第二检测孔412，第一检测孔411与检测探针22一一对应，第二检测孔412的数量为三个，三个第二检测孔412环设于第一检测孔411的周围，三个第二检测孔412与三个基准探针31一一对应。第一检测孔411和第二检测孔412分别对检测探针22和基准探针31起到了导向的作用，可以保证检测探针22在待检测工件的预设位置进行精确检测。

进一步地，承载组件1包括承载支架11、载板12和吸附部13，载板12设置于承载支架11上，吸附部13设置于载板12上，吸附部13用于吸附待检测工件。通过在载板12上设置吸附部13，利用吸附部13吸附待检测工件，能够保证待检测工件在载板12上的稳定性，防止在检测过程中待检测工件的位置发生偏移，导致测量结果存在误差。

进一步地，吸附部13的数量为多个，多个吸附部13间隔设置于载板12上，每个吸附部13能够吸附一个待检测工件。具体地，每个吸附部13包括多个承载吸盘，多个承载吸盘呈阵列分布于载板12上，且多个承载吸盘围设形成的结构形状与待检测工件的下表面形状相匹配，保证吸附部13与待检测工件之间的稳定固定。

进一步地，如图1所示，承载组件1还包括直线驱动源14，直线驱动源14具体为直线驱动电机，直线驱动电机的输出端与承载支架11相连，以驱动承载支架11在水平方向上运动，以使每个待检测工件依次经过探针检测组件2，经过一次上料即可实现对多个待检测工件的表面平整度的检测，检测效率较高。

进一步地，承载组件1还包括检测相机，载板12采用玻璃材质制成，检测相机设置于承载支架11上，并位于载板12的下方，检测相机用于获取载板12上的待检测工件的图像，以判断载板12上是否放置有待检测工件，以及在载板12上的哪些位置上放置有待检测工件，以使直线驱动源14能够驱动承载支架11运动至探针检测组件2与待检测工件正对，防止检测探针22和基准探针31落下却没有抵接到待检测工件上的情况发生。

以上实施方式只是阐述了本实用新型的基本原理和特性，本实用新型不受上述实施方式限制，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还有各种变化和改变，这些变化和改变都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (10)

1.一种检测机构，其特征在于，包括：

承载组件(1)，其用于承载待检测工件；

探针检测组件(2)，其包括至少一个可升降地设置于所述承载组件(1)上方的检测探针(22)，所述检测探针(22)能够抵接于所述待检测工件的表面并对其表面平整度进行检测；

基准检测组件(3)，其包括三个基准探针(31)，三个所述基准探针(31)可升降地环设于所述探针检测组件(2)的周围，且能够抵接于所述待检测工件的表面。

2.根据权利要求1所述的检测机构，其特征在于，所述探针检测组件(2)还包括：

检测安装件(21)，所述检测探针(22)设置于所述检测安装件(21)上；

第一升降驱动件，其输出端与所述检测安装件(21)相连接，所述第一升降驱动件能够驱动所述检测安装件(21)沿竖直方向升降。

3.根据权利要求1所述的检测机构，其特征在于，所述承载组件(1)包括：

承载支架(11)；

载板(12)，其设置于所述承载支架(11)上；

吸附部(13)，其设置于所述载板(12)上，所述吸附部(13)用于吸附所述待检测工件。

4.根据权利要求3所述的检测机构，其特征在于，所述吸附部(13)的数量为多个，多个所述吸附部(13)间隔设置于所述载板(12)上，每个所述吸附部(13)能够吸附一个所述待检测工件。

5.根据权利要求3所述的检测机构，其特征在于，所述承载组件(1)还包括检测相机，所述载板(12)采用玻璃材质制成，所述检测相机设置于所述承载支架(11)上，并位于所述载板(12)的下方，所述检测相机用于获取所述载板(12)上的所述待检测工件的图像。

6.根据权利要求1-5任一项所述的检测机构，其特征在于，所述检测机构还包括盖板组件(4)，所述盖板组件(4)上设置有检测孔，所述检测探针(22)和所述基准探针(31)均能够穿过所述检测孔与所述待检测工件的表面抵接。

7.根据权利要求6所述的检测机构，其特征在于，所述盖板组件(4)包括：

盖板(41)，其能够位于所述承载组件(1)的上方，所述检测孔设置于所述盖板(41)上；

盖板水平驱动件，其被配置为驱动所述盖板(41)运动，以在水平方向上靠近或者远离所述承载组件(1)。

8.根据权利要求7所述的检测机构，其特征在于，所述盖板组件(4)还包括：

检测移动平台(43)，其与所述盖板水平驱动件的输出端相连；

盖板升降驱动件(42)，其设置于所述检测移动平台(43)，所述盖板升降驱动件(42)的输出端与所述盖板(41)相连，用于驱动所述盖板(41)升降，以在竖直方向上靠近或者远离所述承载组件(1)。

9.根据权利要求6所述的检测机构，其特征在于，所述检测孔包括：

第一检测孔(411)，所述第一检测孔(411)与所述检测探针(22)一一对应；

第二检测孔(412)，所述第二检测孔(412)的数量为三个，三个所述第二检测孔(412)环设于所述第一检测孔(411)的周围，三个所述第二检测孔(412)与三个所述基准探针(31)一一对应。

10.根据权利要求1所述的检测机构，其特征在于，所述基准检测组件(3)还包括第二升降驱动件，所述第二升降驱动件用于驱动三个所述基准探针(31)沿竖直方向升降。

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