CN211697878U - 一种垂直下压的翻盖结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型旨在提供一种结构简单、使用方便,具备垂直下压功能,能够提高测试效率及其稳定性的垂直下压的翻盖结构。本实用新型包括底板、内翻盖、外翻盖、活动压块模组以及浮动组件,所述内翻盖与所述外翻盖的同一端弹性铰接在所述底板上,所述内翻盖与设置在所述外翻盖上的仿形孔相配合,所述活动压块模组设置在所述内翻盖上并且通过所述浮动组件与所述内翻盖相连接,所述活动压块模组与所述外翻盖限位配合,所述活动压块模组上设置有测试探针且该测试探针穿过所述内翻盖,当下压所述外翻盖时,所述外翻盖带动所述内翻盖水平贴合在所述底板上,所述外翻盖带动所述测试探针垂直下压在所述底板的待测产品上。本实用新型应用于测试领域。
Description
技术领域
本实用新型应用于测试领域,特别涉及一种垂直下压的翻盖结构。
背景技术
在电子产品的生产过程中,保证电子产品的质量是生产过程的重中之重,电子产品的质量直接影响着其销售量,因此在生产过程中必须要对电子产品进行功能性测试。而在现有的大多数电子产品功能性测试都会需要测试探针与电子产品进行电连接后,再进行相关的功能测试。
目前,有一公开号为203376355U的中国专利提出了一种结构简单、使用方便并且能够快速测试的PCB板测试夹具,它包括框体和翻盖结构,框体是由上顶板、下底板和四块侧板围成的容置空间,翻盖结构包括两个固定座和盖板,固定座固定安装在上顶板上,盖板与固定座活动连接,一数据采集针固定在上顶板上,当盖板扣合后,数据采集针与待测PCB板上的测试位置电连接,从而再进行测试。但是,该PCB板测试夹具缺乏垂直下压的功能,因此在翻盖下压的过程中很容易就造成探针变歪,从而导致使用寿命降低,甚至严重的时候会造成测试产品的损坏。如能设计出一种结构简单、使用方便,具备垂直下压功能,能够提高测试效率及其稳定性的垂直下压的翻盖结构,则能很好地解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种结构简单、使用方便,具备垂直下压功能,能够提高测试效率及其稳定性的垂直下压的翻盖结构。
本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括底板、内翻盖、外翻盖、活动压块模组以及浮动组件,所述内翻盖与所述外翻盖的同一端弹性铰接在所述底板上,所述内翻盖与设置在所述外翻盖上的仿形孔相配合,所述活动压块模组设置在所述内翻盖上并且通过所述浮动组件与所述内翻盖相连接,所述活动压块模组与所述外翻盖限位配合,所述活动压块模组上设置有测试探针且该测试探针穿过所述内翻盖,当下压所述外翻盖时,所述外翻盖带动所述内翻盖水平贴合在所述底板上,所述外翻盖带动所述测试探针垂直下压在所述底板的待测产品上。
由上述方案可见,内翻盖与外翻盖的同一端弹性铰接在底板上,由于活动压块模组通过浮动组件与内翻盖相连接,而活动压块模组与外翻盖限位配合,因此在下压外翻盖之前内翻盖与外翻盖之间存在一定的角度,活动压块模组会由于浮动组件的作用弹起在内翻盖上。当一直下压外翻盖时,该外翻盖能够带动内翻盖往下压并且最终水平贴合在底板上,为后续活动压块模组的下压保证了一定的水平性,在活动压块模组逐渐压缩浮动组件的过程中,设置在活动压块模组上的测试探针也会逐渐伸出内翻盖的***,当活动压块模组完全压缩该浮动组件后,该活动压块模组就能够与内翻盖相平行,而该测试探针也就能够在垂直于内翻盖的水平方向上与底板上的待测产品相接触,再进行相关测试。因此,本实用新型通过下压翻盖就能实现垂直下压测试的功能,操作简单,使用方便,而且避免了损坏测试探针以及待测产品,延长了本实用新型的使用寿命,保证了产品的生产质量,大大地提高了测试的稳定性和测试效率。
进一步地,所述活动压块模组包括固定块、活动块以及压头,所述活动块通过所述浮动组件与所述内翻盖相连接,所述测试探针固定在所述压头上并且外露于所述压头的下端,所述固定块设置在所述压头的上方并且所述固定块与所述压头之间设置有若干根第一弹簧,所述固定块与所述压头一并配合在所述活动块的凹槽中并且所述压头的下端穿过所述内翻盖,所述固定块与所述活动块固定连接。由此可见,活动压块模组包括固定块、活动块以及压头,活动块通过浮动组件与内翻盖弹性连接,固定块与压头一并配合在活动块的凹槽中,测试探针固定在压头上并外露于压头的下端,因此在下压外翻盖时,通过带动压头伸出内翻盖的***以致使测试探针与待测产品相接触,而固定块与压头之间通过设置有若干根第一弹簧,为测试探针在下压的过程中提供了一定的缓冲作用,避免了测试探针与待测产品硬性接触而损坏待测产品。
进一步地,所述浮动组件包括第一等高螺丝、若干个导销、若干个导套以及若干个第二弹簧,若干个所述导套均设置在所述活动块中,若干个所述导销分别与若干个所述导套相配合,若干个所述导销的下端均穿过所述内翻盖,若干个所述第二弹簧均设置在所述导套与所述内翻盖之间并且分别套设在若干个所述导销上,所述活动块上设有一阶梯孔,所述第一等高螺丝穿过所述阶梯孔后与所述内翻盖螺纹连接。由此可见,通过设置有导销,而第二弹簧一一套设在导销上,为弹簧的压缩过程确保了导向性。而活动块设有阶梯孔,第一等高螺丝穿过阶梯孔后与内翻盖螺纹连接,既保证了活动压块模组与内翻盖之间的连接性又能够保证第一等高螺丝在该阶梯孔中的伸缩性,避免了活动压块模组的脱落,因此在活动压块模组下压的过程中,第二弹簧会逐渐被压缩直至测试探针与待测产品相接触。
进一步地,所述外翻盖的两侧均设置有限位块,所述活动块的两侧均设置有轴承和第二等高螺丝,所述限位块设置有限位孔,所述轴承配合在所述限位孔中,所述第二等高螺丝穿过所述轴承后与所述活动块螺纹连接。由此可见,两轴承分别配合在设置在外翻盖两侧的限位块的限位孔中,第二等高螺丝穿过轴承后与活动块螺纹连接,能够使活动压块模组与外翻盖限位配合,保证了外翻盖在下压的过程中能够带动活动压块模组往下压。
进一步地,所述底板上设置有卡扣,当下压所述外翻盖时,所述外翻盖在远离所述铰接处的一端扣合在所述卡扣上。由此可见,外翻盖在下压后最终扣合在底板的卡扣上,保证了测试探针与待测产品能够长时间稳定接触。
进一步地,所述内翻盖在远离所述铰接处的一端设置有定位销,当下压所述外翻盖时,所述定位销与设置在所述底板上的定位孔相配合。由此可见,外翻盖在下压扣合的过程中,首先通过内翻盖上的定位销与底板上的定位孔之间的定位配合后,外翻盖再扣合在底板上,确保了测试探针下压的精准度,保证测试的精确性。
进一步地,所述底板上还设置有缓冲块并且该缓冲块位于所述铰接处的后方。由此可见,由于内外翻盖的同一端弹性铰接在底板上,在测试完之后,当外翻盖脱离卡扣时,本实用新型会由于弹力的作用而突弹起来,因此在该铰接处的后方设置有一缓冲块,通过吸收弹性冲击力从而为本实用新型在弹起的过程中提供一个缓冲作用,避免本实用新型受到损坏。
附图说明
图1是本实用新型的立体结构示意图;
图2是本实用新型的第一剖视结构示意图;
图3是本实用新型的第二剖视结构示意图;
图4是本实用新型未下压扣合时的结构示意图;
图5是本实用新型已下压扣合后的结构示意图。
具体实施方式
如图1至图5所示,在本实施例中,本实用新型包括底板1、内翻盖2、外翻盖3、活动压块模组4以及浮动组件,所述内翻盖2与所述外翻盖3的同一端弹性铰接在所述底板1上,所述内翻盖2与设置在所述外翻盖3上的仿形孔相配合,所述活动压块模组4设置在所述内翻盖2上并且通过所述浮动组件与所述内翻盖2相连接,所述活动压块模组4与所述外翻盖3限位配合,所述活动压块模组4上设置有测试探针6且该测试探针6穿过所述内翻盖2,当下压所述外翻盖3时,所述外翻盖3带动所述内翻盖2水平贴合在所述底板1上,所述外翻盖3带动所述测试探针6垂直下压在所述底板1的待测产品上。
在本实施例中,所述活动压块模组4包括固定块41、活动块42以及压头43,所述活动块42通过所述浮动组件与所述内翻盖2相连接,所述测试探针6固定在所述压头43上并且外露于所述压头43的下端,所述固定块41设置在所述压头43的上方并且所述固定块41与所述压头43之间设置有若干根第一弹簧7,所述固定块41与所述压头43一并配合在所述活动块42的凹槽中并且所述压头43的下端穿过所述内翻盖2,所述固定块41与所述活动块42固定连接。
在本实施例中,所述浮动组件包括第一等高螺丝81、若干个导销82、若干个导套83以及若干个第二弹簧84,若干个所述导套83均设置在所述活动块42中,若干个所述导销82分别与若干个所述导套83相配合,若干个所述导销82的下端均穿过所述内翻盖2,若干个所述第二弹簧84均设置在所述导套83与所述内翻盖2之间并且分别套设在若干个所述导销82上,所述活动块42上设有一阶梯孔,所述第一等高螺丝81穿过所述阶梯孔后与所述内翻盖2螺纹连接。
在本实施例中,所述外翻盖3的两侧均设置有限位块9,所述活动块42的两侧均设置有轴承10和第二等高螺丝11,所述限位块9设置有限位孔,所述轴承10配合在所述限位孔中,所述第二等高螺丝11穿过所述轴承10后与所述活动块42螺纹连接。
在本实施例中,所述底板1上设置有卡扣12,当下压所述外翻盖3时,所述外翻盖3在远离所述铰接处的一端扣合在所述卡扣12上。
在本实施例中,所述内翻盖2在远离所述铰接处的一端设置有定位销13,当下压所述外翻盖3时,所述定位销13与设置在所述底板1上的定位孔相配合。
在本实施例中,所述底板1上还设置有缓冲块14并且该缓冲块14位于所述铰接处的后方。
在本实施例中,本实用新型的工作原理如下:
所述内翻盖2与所述外翻盖3的同一端弹性铰接在所述底板1上,由于所述活动压块模组4通过所述浮动组件与所述内翻盖2相连接,而所述活动压块模组4与所述外翻盖3限位配合,因此在下压所述外翻盖3之前所述内翻盖2与所述外翻盖3之间存在一定的角度,所述活动压块模组4会由于所述浮动组件的作用弹起在所述内翻盖2上。当一直下压所述外翻盖3时,所述外翻盖3能够带动所述内翻盖2往下压并且最终水平贴合在所述底板1上,为后续所述活动压块模组4的下压保证了一定的水平性,在所述活动压块模组4逐渐压缩所述浮动组件的过程中,设置在所述活动压块模组4上的所述测试探针6也会逐渐伸出所述内翻盖2的***,当所述活动压块模组4完全压缩所述浮动组件后,所述活动压块模组4就能够与所述内翻盖2相平行,而所述测试探针6也就能够在垂直于所述内翻盖2的水平方向上与所述底板1上的待测产品相接触,再进行相关测试。
Claims (7)
1.一种垂直下压的翻盖结构,其特征在于:它包括底板(1)、内翻盖(2)、外翻盖(3)、活动压块模组(4)以及浮动组件,所述内翻盖(2)与所述外翻盖(3)的同一端弹性铰接在所述底板(1)上,所述内翻盖(2)与设置在所述外翻盖(3)上的仿形孔相配合,所述活动压块模组(4)设置在所述内翻盖(2)上并且通过所述浮动组件与所述内翻盖(2)相连接,所述活动压块模组(4)与所述外翻盖(3)限位配合,所述活动压块模组(4)上设置有测试探针(6)且该测试探针(6)穿过所述内翻盖(2),当下压所述外翻盖(3)时,所述外翻盖(3)带动所述内翻盖(2)水平贴合在所述底板(1)上,所述外翻盖(3)带动所述测试探针(6)垂直下压在所述底板(1)的待测产品上。
2.根据权利要求1所述的一种垂直下压的翻盖结构,其特征在于:所述活动压块模组(4)包括固定块(41)、活动块(42)以及压头(43),所述活动块(42)通过所述浮动组件与所述内翻盖(2)相连接,所述测试探针(6)固定在所述压头(43)上并且外露于所述压头(43)的下端,所述固定块(41)设置在所述压头(43)的上方并且所述固定块(41)与所述压头(43)之间设置有若干根第一弹簧(7),所述固定块(41)与所述压头(43)一并配合在所述活动块(42)的凹槽中并且所述压头(43)的下端穿过所述内翻盖(2),所述固定块(41)与所述活动块(42)固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种垂直下压的翻盖结构,其特征在于:所述浮动组件包括第一等高螺丝(81)、若干个导销(82)、若干个导套(83)以及若干个第二弹簧(84),若干个所述导套(83)均设置在所述活动块(42)中,若干个所述导销(82)分别与若干个所述导套(83)相配合,若干个所述导销(82)的下端均穿过所述内翻盖(2),若干个所述第二弹簧(84)均设置在所述导套(83)与所述内翻盖(2)之间并且分别套设在若干个所述导销(82)上,所述活动块(42)上设有一阶梯孔,所述第一等高螺丝(81)穿过所述阶梯孔后与所述内翻盖(2)螺纹连接。
4.根据权利要求3所述的一种垂直下压的翻盖结构,其特征在于:所述外翻盖(3)的两侧均设置有限位块(9),所述活动块(42)的两侧均设置有轴承(10)和第二等高螺丝(11),所述限位块(9)设置有限位孔,所述轴承(10)配合在所述限位孔中,所述第二等高螺丝(11)穿过所述轴承(10)后与所述活动块(42)螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种垂直下压的翻盖结构,其特征在于:所述底板(1)上设置有卡扣(12),当下压所述外翻盖(3)时,所述外翻盖(3)远离与所述底板(1)相铰接的一端扣合在所述卡扣(12)上。
6.根据权利要求1所述的一种垂直下压的翻盖结构,其特征在于:所述内翻盖(2)在远离与所述底板(1)相铰接的一端设置有定位销(13),当下压所述外翻盖(3)时,所述定位销(13)与设置在所述底板(1)上的定位孔相配合。
7.根据权利要求1所述的一种垂直下压的翻盖结构,其特征在于:所述底板(1)上还设置有缓冲块(14)并且该缓冲块(14)位于所述底板(1)与所述内翻盖(2)相铰接的点的后方。
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CN201922134648.9U CN211697878U (zh) | 2019-12-03 | 2019-12-03 | 一种垂直下压的翻盖结构 |
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CN201922134648.9U CN211697878U (zh) | 2019-12-03 | 2019-12-03 | 一种垂直下压的翻盖结构 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113301491A (zh) * | 2021-05-27 | 2021-08-24 | 珠海市精实测控技术有限公司 | 一种针对麦克风的定位检测装置及测试平台 |
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2019
- 2019-12-03 CN CN201922134648.9U patent/CN211697878U/zh active Active
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