CN211085131U - 多波段照明双面光学检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种多波段照明双面光学检测设备，其中，所述多波段照明双面光学检测设备包括主体平台、传动装置和两个检测装置，传动装置设于主体平台，用于传送待检测PCB板；两个检测装置分别设于主体平台相对的两侧；每一检测装置包括呈正对设置的光源模组和扫描模组，光源模组和扫描模组与传动装置间隔设置；且每一检测装置的光源模组发射的光的波段不同，两个所述扫描模组与光源模组呈正对中设置；传动装置传送待检测PCB板至两个检测装置之间，以使两个检测装置对待检测PCB板检测。本实用新型技术方案可让两个光源模组及扫描模组对中安装的情况下，不影响对PCB板两面同时扫描。

Description

多波段照明双面光学检测设备

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，特别涉及一种多波段照明双面光学检测设备。

背景技术

目前，市面上的自动光学检测设备虽然可以进行双面图像采集，能提高检测效率。但是，要对PCB板进行双面的图像采集，必然需要对双面进行打光处理，为了使双面的光源互不干涉，通常的做法是将两个光源模组错位安装。当将两个光源模组设置的错位安装距离较大时，该种类型的处理方式会使机构的复杂程度大大增加，而且光源间隔加大会导致采集完一面的图像后另一面未采集的板面与外界接触时间过长，导致静电作用吸附较多的杂质，使得采集出来的图像由于板面杂质过多易报大量假点，使检修效率变慢；当将两个光源模组设置的错位安装距离较小时，则需要在两侧光源处增加遮光板结构，以此来遮挡两侧光源使其互不干扰，而该种做法由于增加了遮光板，使得PCB板质量及遮光板本身的平整度的局限性，会导致PCB板头等与遮光板有摩擦，导致相机采集出来的图像精度有误差，且图像损失的精度误差大小不一，易报假点，且不适宜用于细密线路的精密检测。

上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种多波段照明双面光学检测装置，旨在两个光源模组及扫描模组对中安装的情况下，不影响对PCB板两面同时扫描。

为实现上述目的，本实用新型提出的一种多波段照明双面光学检测设备，所述多波段照明双面光学检测设备包括：

主体平台；

传动装置，设于所述主体平台，用于传送待检测PCB板；

两个检测装置，分别设于所述主体平台相对的两侧；每一所述检测装置包括呈正对设置的光源模组和扫描模组，所述光源模组和所述扫描模组与所述传动装置间隔设置；且每一所述检测装置的所述光源模组发射的光的波段不同；及

滤光装置，设于所述扫描模组，以使所述扫描模组对所述光源模组发射的光进行过滤；

所述传动装置传送所述待检测PCB板至两个所述检测装置之间，以使两个所述检测装置对所述待检测PCB板检测。

在一实施例中，所述多波段照明双面光学检测设备还包括两个第一支架和两个第二支架，两个所述第一支架分别设于所述主体平台的两侧，两个所述第二支架分别设于所述主体平台的两侧，每一所述第一支架与一所述第二支架间隔设置；每一所述光源模组可滑动地连接于一所述第一支架，每一所述扫描模组可滑动地连接于一所述第二支架。

在一实施例中，所述光源模组包括：

光源架，可滑动地连接于所述第一支架，且所述光源架设有安装空间；

同轴光组件，设于所述光源架，并位于所述安装空间内，所述同轴光组件设有扫描槽，所述扫描槽用于供所述扫描模组扫描待检测PCB板；及

两个发散光组件，对称设于所述光源架，并与所述同轴光组件间隔设置。

在一实施例中，所述多波段照明双面光学检测设备还包括设于所述光源架的整平装置，且所述整平装置与所述传动装置呈相对设置，并与所述光源模组呈间隔设置，所述整平装置用于将待检测PCB板压紧在所述传动装置。

在一实施例中，所述整平装置包括：

两个安装座，分别设于所述光源架的两端；和

多个整平压辊，多个所述整平压辊的两端分别连接于两个所述安装座，其中的两个所述整平压辊间隔形成有一过槽，以使所述扫描模组和所述光源模组通过所述过槽对待检测PCB板检测。

在一实施例中，所述扫描模组包括：

扫描架，可滑动地连接于所述第二支架；和

多个扫描组件，间隔设于所述扫描架。

在一实施例中，每一所述扫描组件包括：

安装架，可滑动地连接于所述扫描架；

扫描相机，可转动地连接于所述安装架；且所述扫描相机背向所述安装架的一侧设有一所述滤光装置。

在一实施例中，所述扫描组件还包括设于所述安装架与所述扫描相机之间的隔震件，所述隔震件用于消除振动。

在一实施例中，所述多波段照明双面光学检测设备还包括设于所述第二支架的测厚装置，所述测厚装置与所述扫描模组间隔设置，所述测厚装置用于测量待检测PCB板的厚度。

在一实施例中，所述测厚装置包括：

测厚气缸，所述测厚气缸的伸缩杆与所述第二支架连接；

测厚支架，所述测厚支架与所述测厚气缸背向第二支架的一端连接，所述测厚支架背向所述测厚气缸的一侧设有测厚滚轮，所述测厚滚轮与所述传动装置之间形成测厚空间；

反射板，设于所述第二支架，与所述伸缩杆间隔设置；及

激光头，设于所述测厚支架，并与所述测厚气缸呈间隔设置；

所述测厚气缸驱动所述测厚支架带动所述激光头下降，以使所述激光头与所述反射板形成与待检测PCB厚度一致的间距。

本实用新型技术方案通过在主体平台设置传动装置，传动装置用于传送待检测PCB板；并在所述主体平台相对的两侧各设置一个检测装置，每一所述检测装置包括设于所述主体平台一侧的光源模组和扫描模组，所述光源模组与所述扫描模组呈正对设置，每一所述光源模组和所述扫描模组均与所述传动装置间隔设置；且每一所述检测装置的所述光源模组发射的波段不同，两个所述扫描模组在传动装置上的投影对中，并配合滤光装置使用；如此设置，在两个检测装置的错位距离为零的情况下，当所述传动装置传送所述待检测PCB板至两个所述检测装置之间，即使两个光源模组发射不同的波段的光，使得两个扫描模组同时扫描检测时也不会互相影响成像，从而提升扫描图像精度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型多波段照明双面光学检测设备一实施例的结构示意图；

图2为本实用新型多波段照明双面光学检测设备的部分的结构示意图；

图3为本实用新型多波段照明双面光学检测设备的测厚装置的结构示意图；

图4为本实用新型多波段照明双面光学检测设备的光源模组的结构示意图；

图5为本实用新型多波段照明双面光学检测设备的扫描组件的结构示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				10	主体平台	322c	隔震件
20	传动装置	40	第一支架
				30	检测装置	50	第二支架
31	光源模组	60	整平装置
				311	光源架	61	安装座
312	同轴光组件	62	整平压辊
				313	发散光组件	70	测厚装置
32	扫描模组	71	测厚支架
				321	扫描架	72	测厚气缸
322	扫描组件	73	反射板
				322a	安装架	74	激光头
322b	扫描镜头	75	测厚滚轮
				80	滤光装置	322d	扫描相机

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种多波段照明双面光学检测设备。

在本实用新型实施例中，参照图1至图5，该多波段照明双面光学检测设备包括主体平台10、传动装置20、两个检测装置30及滤光装置80；所述传动装置20设于所述主体平台10，用于传送待检测PCB板；两个检测装置30分别设于所述主体平台10相对的两侧；每一所述检测装置30包括呈正对设置的光源模组31和扫描模组32，所述光源模组31和所述扫描模组32与所述传动装置20间隔设置；且每一所述检测装置30的所述光源模组31发射的光的波段不同；滤光装置80设于所述扫描模组32，以使所述扫描模组32对所述光源模组31发射的光进行过滤；所述传动装置20传送所述待检测PCB板至两个所述检测装置30之间，以使两个所述检测装置30对所述待检测PCB板检测。

在本实施例中，通过在主体平台10相对的两侧分别设置一检测装置30，每一检测装置30包括光源模组31和扫描模组32，其中扫描模组32用于对待检测PCB板进行扫描，光源模组31则是用于为扫描模组32提供扫描光源，以便扫描模组32扫描更清晰；每一检测装置30的光源模组31发射的光源的波段是不同的；可以理解的是，两个检测装置30是设置在主体平台10的上下两侧；当传动装置20将待检测PCB板传送至两个扫描模组31之间时，两个光源模组32分别对待检测PCB板发射不同波段的光，此时呈正对中设置的两个扫描模组32能同时对待检测PCB板的正面和反面在竖直方向的同一位置进行扫描，且两个扫描模组32在不同波段的光照射下通过滤光装置80能形成两个不同的扫描图形，使得两个扫描模组32扫描成像互不干扰，从而提升扫描图像精度，也提高了扫描效率。可以理解的是，利用两个光源模组31发射不同波段的光源并配合滤光装置80的使用即可实现同时扫描互不干扰的目的，由此位于主体平台10的上下两侧的检测装置30无需错开位置，直接呈正对中设置，即两个检测装置30的错开间距为零，进而可简化整个双面光学检测设备的结构。可以理解的是，扫描模组32可接收不同波段的装置，即两个检测装置30的两个扫描模组32接收的光的波段不同。

本实用新型技术方案通过在主体平台设置传动装置20，传动装置20用于传送待检测PCB板；并在所述主体平台10相对的两侧各设置一个检测装置30，每一所述检测装置30包括设于所述主体平台10一侧的光源模组31和扫描模组32，所述光源模组31与所述扫描模组32呈正对设置，每一所述光源模组31和所述扫描模组32均与所述传动装置间隔设置；且每一所述检测装置30的所述光源模组31发射的波段不同；如此设置，在两个检测装置的错位距离为零的情况下，当所述传动装置传送所述待检测PCB板至两个所述检测装置30之间，两个光源模组31发射不同的波段，配合滤光装置80的使用，使得两个扫描模组32同时扫描检测时也不会互相影响成像，从而提升扫描图像精度。

在一实施例中，参照图1和图2，所述多波段照明双面光学检测设备还包括两个第一支架40和两个第二支架50，两个所述第一支架40分别设于所述主体平台10的两侧，两个所述第二支架50分别设于所述主体平台10的两侧，每一所述第一支架40与一所述第二支架50间隔设置；每一所述光源模组31可滑动地连接于一所述第一支架40，每一所述扫描模组32可滑动地连接于一所述第二支架50。

在本实施例中，通过在主体平台10的两侧分别设置一个第一支架40和第二支架50，每一侧的第一支架40用于安装光源模组31，且光源模组31是可滑动地连接在第一支架40；每一侧的第二支架50用于安装扫描模组32，且扫描模组32是可滑动滴连接在第二支架50，且光源模组31靠近主体平台10设置，扫描模组32位于光源模组31背向主体平台10的一侧，并与光源模组31呈上下正对设置；如此设置，光源模组31和扫描模组32在不需要工作或者对不同厚度的PCB板检测时，利用第一支架40和第二支架50可调整光源模组31和扫描模组32与PCB板之间的间距，从而进一步提高双面光学检测设备的检测精度和检测范围。

在一实施例中，参照图1和图4，所述光源模组31包括光源架311、同轴光组件312和两个发散光组件313，所述光源架311可滑动地连接于所述第一支架40，且所述光源架311设有安装空间；所述同轴光组件312设于所述光源架311，并位于所述安装空间内，所述同轴光组件312设有扫描槽，所述扫描槽用于供所述扫描模组扫描待检测PCB板；两个发散光组件313对称设于所述光源架311，并与所述同轴光组件312间隔设置。

在本实施例中，光源架311由三个板块围合形成有安装空间，同轴光组件312的两端分别与光源架311相对的两侧壁连接，并位于安装空间内；两个发散光组件313的两端分别与光源架311相对的两侧壁连接，并位于安装空间内；且两个发散光组件313呈左右对称设于同轴光组件312的两侧，两个发散光组件313和同轴光组件312呈间隔设置；如此设置，通过一个同轴光组件312为扫描模组32提供垂直的光束，两个发散光组件313为扫描模组32提供光截面较大的光束，由此形成照射范围广且亮度较大的光源，进而提升双面光学检测设备的检测精度。可选地，同轴光组件312包括LED灯板、聚光件、扩散片和分光镜，发散光组件313包括LED灯板、扩散片和聚光件。

在一实施例中，参照图1和图2，所述多波段照明双面光学检测设备还包括设于所述光源架311的整平装置60，且所述整平装置60与所述传动装置20呈相对设置，并与所述光源模组31呈间隔设置，所述整平装置60用于将待检测PCB板压平于所述传动装置20。

在本实施例中，通过在光源架311设置整平装置60，利用该整平装置60将待检测PCB板压平于传动装置20，进而让扫描模组32对平整的PCB板进行扫描，从而得到更加准确的扫描图形。

在一实施例中，所述整平装置60包括两个安装座61和多个整平压辊62，两个安装座61分别设于所述光源架311的两端；多个所述整平压辊62的两端分别连接于两个所述安装座61，且其中的两个所述整平压辊62间隔形成有一过槽，以使所述扫描模组32和所述光源模组31通过所述过槽对待检测PCB板检测。在本实施例中，两个安装座61分别设于光源架311的两端，且位于安装空间外，使得多个整平压辊62的两端安装在两个安装座61后，能与同轴光组件312和两个发散光组件313错开位置；为了让光源模组31的光可以穿过整平装置60，由此其中的两个整平胶辊62之间形成有一过槽，且该过槽的宽度与光源模组31的宽度一致。

可选地，为了提高整平装置60的强度，在所述过槽的位置设置一桥接模组，该桥接模组包括桥接板和两个桥接座，两个桥接座分别设于光源架311的两端，且与安装座61间隔设置，桥接板的两端分别与两个桥接座分别连接。桥接板上也对应设有与过槽连通的检测槽，使得扫描模组32可通过检测槽对PCB板检测。可选地，在传动装置20上也对应设有所述过槽，且所述过槽也对应设有桥接模组，该过槽用于让位于主体平台10下方的检测装置30的光源模组31的光可照射，即传动装置20的桥接模组与光源架311上的桥接模组是上下对称设置。

在一实施例中，参照图1、图2和图5，所述扫描模组32包括扫描架321和多个扫描组件322，扫描架321可滑动地连接于所述第二支架50；多个扫描组件322间隔设于所述扫描架321。

在本实施例中，通过扫描架321滑动连接在第二支架50，进而增大安装在扫描架321上的扫描组件322的高度调整范围，使得扫描组件322的扫描范围也增大。同时，设置多个扫描组件322同时对PCB板进行扫描，提升双面光学检测设备的检测效率及检测效果。

可选地，参照图1、图2和图5，每一所述扫描组件322包括安装架322a、扫描相机322d和扫描镜头322b，所述安装架322a可滑动地连接于所述扫描架321，所述扫描相机322d可转动地连接于所述安装架322a；所述扫描镜头322b设于所述扫描相机322d背向所述安装架322a的一侧，且所述扫描镜头322b背向所述扫描相机322d的一侧设有一所述滤光装置80。可选地，所述滤光装置80为滤光片，其设于所述扫描镜头322b上。可选地，滤光装置80还可以是具有特定滤光功能镜头和特定滤光功能的相机。

在本实施例中，通过在扫描架321设置一滑轨和驱动旋钮，并在滑轨上设置一滑块，且所述驱动旋钮的螺旋杆与所述滑块连接；安装架322a则与所述滑块连接，由此实现安装架322a滑动连接在扫描架321，进而使得安装在安装架322a上的扫描镜头322b及扫描相机322d可调节高度。安装架322a设有水平滑轨和滑动连接在水平滑轨的水平滑块，扫描相机322d与水平滑块连接，使得扫描相机322d可相对安装架322a调整水平位移；水平滑块背向水平滑轨的一面凸设有导向环槽，扫描组件322还包括旋转块，所述旋转块设有环状凸起，所述环状凸起与导向环槽配合，以使旋转块相对于所述水平滑块转动，且水平滑块上设有穿槽，所述扫描相机322d穿过所述穿槽与所述旋转块连接，且水平滑块移动时，扫描相机322d可在穿槽的槽壁限位下带动移动。为了实现扫描相机322d可对光源模组31发射的光进行过滤形成不同波段的光成像后的图形，因此在扫描镜头322b的前设置滤光装置80，利用滤光装置80将光源模组31发射的光进行过滤，使得扫描相机322b可根据滤光装置80过滤后的结果成像形成扫描图像。可选地，可将滤光装置80取消，即可将现有的检测装置变成带验孔功能的PCB板图形缺陷检测装置或者更改不同波段的组合光源以及配合不同波段的滤光装置，以满足客户不同的PCB板的特殊板面的检测要求。

在一实施例中，参照图1、图2和图5，所述扫描组件322还包括设于所述安装架322a与所述扫描镜头322b之间的隔震件322c，所述隔震件322c用于消除振动。如此设置，通过设置隔震件322d消除扫描镜头322b的抖动，以得到更清晰的扫描图像。隔震件322c可采用陀螺仪传感器及光轴补偿光学元件组合形成的隔震装置，或者采用图像稳定器等。

在一实施例中，参照图1、图2和图5，所述多波段照明双面光学检测设备还包括设于所述第二支架50的测厚装置70，所述测厚装置70与所述扫描模组32间隔设置，所述测厚装置70用于测量待检测PCB板的厚度。在本实施例中，测厚装置70将传动装置20传送PCB板至测厚装置70的下方，此时测厚装置70对PCB板测量厚度，并将得到的厚度数值传送至控制***，控制***根据厚度数值控制两个检测装置30的光源模组31、扫描模组32和整平装置60的高度，使得整平装置60能对PCB板施加合适的压力，整平PCB板，以便让扫描模组32对PCB板的正反两面进行扫描检测。

在一实施例中，参照图1至图3，所述测厚装置70包括测厚支架71、测厚气缸72、反射板73、激光头74和测厚滚轮75，所述测厚气缸72的伸缩杆与所述第二支架50下方的浮动连接板连接；所述测厚支架71背向所述测厚气缸72的一侧设有测厚滚轮75，所述测厚滚轮75与所述传动装置20之间形成测厚空间；所述反射板73设于所述第二支架50下方的浮动连接板上，与所述伸缩杆间隔设置；所述激光头74设于所述测厚支架71，并与所述测厚气缸72呈间隔设置；所述测厚气缸驱动所述浮动连接板带动所述反射板73下降，以使所述激光头与所述反射板形成与待检测PCB厚度一致的间距。

在本实施例中，在第二支架50下方有一浮动连接板，而测厚气缸72的伸缩杆实际与该浮动连接板连接；当传动装置20将PCB板传送至测厚滚轮75的下方时，测厚气缸72的伸缩杆缩回，使得测厚气缸72可相对于测厚支架下降，进而也让与测厚气缸72连接的浮动连接板下降，浮动连接板带动测厚滚轮75也下降，并与传动装置20的滚轮形成夹紧关系，即测厚滚轮75与传动装置20的间距与PCB板的厚度一致；在浮动连接板下降时，设于测厚支架71上的激光头74发射激光，且该激光在反射板73上截止，用户可通过读取激光头74与反射板73的间距或者读取激光的长度均可得到当前PCB板的厚度。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的发明构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，所述多波段照明双面光学检测设备包括：

主体平台；

传动装置，设于所述主体平台，用于传送待检测PCB板；

两个检测装置，分别设于所述主体平台相对的两侧；每一所述检测装置包括呈正对设置的光源模组和扫描模组，所述光源模组和所述扫描模组与所述传动装置间隔设置；且每一所述检测装置的所述光源模组发射的光的波段不同；及

所述传动装置传送所述待检测PCB板至两个所述检测装置之间，以使两个所述检测装置对所述待检测PCB板检测。

2.如权利要求1所述的多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，所述多波段照明双面光学检测设备还包括两个第一支架和两个第二支架，两个所述第一支架分别设于所述主体平台的两侧，两个所述第二支架分别设于所述主体平台的两侧，每一所述第一支架与一所述第二支架间隔设置；每一所述光源模组可滑动地连接于一所述第一支架，每一所述扫描模组可滑动地连接于一所述第二支架。

3.如权利要求2所述的多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，所述光源模组包括：

光源架，可滑动地连接于所述第一支架，且所述光源架设有安装空间；

同轴光组件，设于所述光源架，并位于所述安装空间内，所述同轴光组件设有扫描槽，所述扫描槽用于供所述扫描模组扫描待检测PCB板；及

两个发散光组件，对称设于所述光源架，并与所述同轴光组件间隔设置。

4.如权利要求3所述的多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，所述多波段照明双面光学检测设备还包括设于所述光源架的整平装置，且所述整平装置与所述传动装置呈相对设置，并与所述光源模组呈间隔设置，所述整平装置用于将待检测PCB板压紧在所述传动装置。

5.如权利要求4所述的多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，所述整平装置包括：

两个安装座，分别设于所述光源架的两端；和

多个整平压辊，多个所述整平压辊的两端分别连接于两个所述安装座，其中的两个所述整平压辊间隔形成有一过槽，以使所述扫描模组和所述光源模组通过所述过槽对待检测PCB板检测。

6.如权利要求2至5中任一所述的多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，所述扫描模组包括：

扫描架，可滑动地连接于所述第二支架；和

多个扫描组件，间隔设于所述扫描架。

7.如权利要求6所述的多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，每一所述扫描组件包括：

安装架，可滑动地连接于所述扫描架；

扫描相机，可转动地连接于所述安装架；及

扫描镜头，设于所述扫描相机背向所述安装架的一侧，且所述扫描镜头背向所述扫描相机的一侧设有一滤光装置。

8.如权利要求7所述的多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，所述扫描组件还包括设于所述安装架与所述扫描相机之间的隔震件，所述隔震件用于消除振动。

9.如权利要求3至5中任一所述的多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，所述多波段照明双面光学检测设备还包括设于所述第二支架的测厚装置，所述测厚装置与所述扫描模组间隔设置，所述测厚装置用于测量待检测PCB板的厚度。

10.如权利要求9所述的多波段照明双面光学检测设备，其特征在于，所述测厚装置包括：

测厚气缸，所述测厚气缸的伸缩杆与所述第二支架连接；

测厚支架，所述测厚支架与所述测厚气缸背向第二支架的一端连接，所述测厚支架背向所述测厚气缸的一侧设有测厚滚轮，所述测厚滚轮与所述传动装置之间形成测厚空间；

反射板，设于所述第二支架，与所述伸缩杆间隔设置；及

激光头，设于所述测厚支架，并与所述测厚气缸呈间隔设置；

所述测厚气缸驱动所述测厚支架带动所述激光头下降，以使所述激光头与所述反射板形成与待检测PCB厚度一致的间距。

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