CN211014071U

CN211014071U - 用于x射线荧光仪的制样装置

Info

Publication number: CN211014071U
Application number: CN201921551222.7U
Authority: CN
Inventors: 李芳�; 陆安祥; 韩平
Original assignee: Beijing Research Center For Agricultural Standards and Testing
Current assignee: Beijing Academy of Agriculture and Forestry Sciences
Priority date: 2019-09-17
Filing date: 2019-09-17
Publication date: 2020-07-14
Anticipated expiration: 2029-09-17

Abstract

本实用新型涉及X射线荧光仪辅助设备技术领域，公开了一种用于X射线荧光仪的制样装置，包括底座、制样内杯、制样外杯和检测薄膜，所述底座设有第一凹槽，所述制样外杯插设于所述第一凹槽内；所述第一凹槽的底部还安装有加热组件；所述制样外杯套设于所述制样内杯外；所述检测薄膜的中部封盖于所述制样内杯的下端面，所述检测薄膜的边缘部分夹设于所述制样内杯和所述制样外杯之间。该用于X射线荧光仪的制样装置结构简单，使用方便，操作过程简单，省时省力，可以保持检测薄膜的平整度，还可以保持样品的湿度适宜，尤其适用于野外制样。

Description

用于X射线荧光仪的制样装置

技术领域

本实用新型涉及X射线荧光仪辅助设备技术领域，尤其涉及一种用于X射线荧光仪的制样装置。

背景技术

X射线荧光光谱仪是一类有效的分析环境、食品、化工、矿产等样品元素的检测仪器。分析时，待测样品通常为压片、熔片或粉末状等，放置在样品杯中进行检测，所以样品杯是不可或缺的辅助设备，样品杯嵌套X射线检测专用薄膜后，表面的平整度会对检测结果产生较大影响。

现有的样品杯安装后存在易松动、表面不平整的问题，此外，多余的部分翘在外侧的薄膜易产生静电，从而导致在装填粉末样品时易产生飞溅，不方便操作使用，而且制取较大湿度的样品时候存在一定难度，湿度过大会直接影响检测结果。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种用于X射线荧光仪的制样装置，用以解决现有的样品杯装载检测薄膜易松动、不平整且无法合理制取湿度较大的样品的问题，以提高检测准确度。

本实用新型实施例提供一种用于X射线荧光仪的制样装置，包括底座、制样内杯、制样外杯和检测薄膜，所述底座设有第一凹槽，所述制样外杯插设于所述第一凹槽内；所述第一凹槽的底部还安装有加热组件；所述制样外杯套设于所述制样内杯外；所述检测薄膜的中部封盖于所述制样内杯的下端面，所述检测薄膜的边缘部分夹设于所述制样内杯和所述制样外杯之间。

其中，所述加热组件包括加热片、温度传感器和温控器，所述加热片贴设与所述第一凹槽的底部，所述温度传感器的测温端固接于所述加热片，所述温度传感器的信号输出端电连接于所述温控器。

其中，所述温控器为电子式温控器，所述电子式温控器包括单片机和继电器，所述单片机的输出端串联接入所述继电器的线圈的通电回路，所述继电器的常闭触点串联接入所述加热片的通电回路；所述温度传感器的信号输出端电连接于所述单片机的输入端。

其中，所述单片机为STM32系列单片机或者MCS-51系列单片机。

其中，所述底座的外壁还嵌设有加热开关，所述加热开关的触点串联接入所述加热片的通电回路。

其中，所述加热片的上表面还贴设有金属导热片。

其中，所述底座包括空心圆管和圆盘，所述空心圆管的底部可拆卸连接于所述圆盘的顶部；所述加热片贴设于所述圆盘的顶面，所述温度传感器和所述温控器均封装于所述圆盘内。

其中，所述温度传感器为热电阻传感器或者热电偶传感器。

其中，所述制样内杯的高度大于所述制样外杯的高度，且高度差为1mm～4mm。

其中，还包括制样杯盖，所述制样杯盖内设有第二凹槽，所述制样内杯的顶部插设于所述第二凹槽内；所述第二凹槽内设有凸柱，所述凸柱的高度大于所述第二凹槽的深度，所述凸柱的底部插设于所述制样内杯内。

本实用新型实施例提供的用于X射线荧光仪的制样装置，包括底座、制样内杯、制样外杯和检测薄膜，底座设有第一凹槽，制样外杯插设于第一凹槽内，可以稳定地支承制样外杯；制样外杯套设于制样内杯外，检测薄膜的中部封盖于制样内杯的下端面，检测薄膜的边缘部分夹设于制样内杯和制样外杯之间，制样内杯和制样外杯嵌套紧实，使得检测薄膜固定后表面紧绷光滑，避免产生褶皱，并可避免多余的薄膜翘出的静电干扰，同时还可以避免因移动、手握或夹取等外力影响导致的薄膜不平整，并可在承受较大挤压力还原后，仍保持检测薄膜原有的表面平整度。第一凹槽的底部还安装有加热组件，可以放置于制样内杯中的样品进行烘干，降低样品湿度。该用于X射线荧光仪的制样装置结构简单，使用方便，操作过程简单，省时省力，可以保持检测薄膜的平整度，还可以保持样品的湿度适宜，尤其适用于野外制样。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例中的一种用于X射线荧光仪的制样装置的结构示意图；

图2是本实用新型实施例中的制样内杯和制样外杯的剖视图；

图3是本实用新型实施例中的底座的剖视图；

图4是本实用新型实施例中的加热组件的结构示意图；

附图标记说明：

1：底座； 11：第一凹槽； 12：空心圆管；

13：圆盘； 14：加热开关； 2：制样内杯；

3：制样外杯； 4：制样杯盖； 41：第二凹槽；

42：凸柱； 5：加热片； 6：温控器；

7：金属导热片。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“第一”“第二”是为了清楚说明产品部件进行的编号，不代表任何实质性区别。“上”“下”“左”“右”均以附图所示方向为准。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型实施例中的具体含义。

需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”应做广义理解，例如，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在实用新型实施例中的具体含义。

图1是本实用新型实施例中的一种用于X射线荧光仪的制样装置的结构示意图，图2是本实用新型实施例中的制样内杯和制样外杯的剖视图，如图1～图2所示，本实用新型实施例提供的一种用于X射线荧光仪的制样装置，包括底座1、制样内杯2、制样外杯3和检测薄膜(图中未示出)，底座1设有第一凹槽11，制样外杯3插设于第一凹槽11内。第一凹槽11的底部还安装有加热组件。制样外杯3套设于制样内杯2外，检测薄膜的中部封盖于制样内杯2的下端面，检测薄膜的边缘部分夹设于制样内杯2和制样外杯3之间。

具体地，底座1的截面为U形，底座1的材料为非金属材料，且坚固耐用、不易碎、不易变形。制样内杯2和制样外杯3均为两端贯通的管状体，可由聚乙烯等适用于X射线荧光分析的材料制成。检测薄膜为一圆形或者方形的塑料薄膜，用于盛装样品。

更具体地，制样内杯2和制样外杯3的杯壁厚度可以为1mm～2mm，制样外杯3的外径可以根据实际需要选择，范围在20mm～40mm之间，制样内杯2的外径与制样外杯3的内径相当，两者的差值可以在0～1mm之间，既能完成嵌套，又不至于松脱。底座1的高度比制样外杯3的高度小2mm～3mm，底座1的内径比制样外杯3的外径大0～20mm，底座1的壁厚为8mm～15mm。底座1的内径足够大，可满足不同型号的制样外杯3的装杯需求。

使用时，将制样外杯3放置在底座1的第一凹槽11中，把检测薄膜平整地轻轻放在制样外杯3的顶端，尽量保持制样外杯3位于检测薄膜的中央位置，之后将制样内杯2从检测薄膜的上方从上到下慢慢压入制样外杯3中，为保证制样外杯3的下端边缘、检测薄膜、制样内杯2的下端边缘在同一平面上，可在压入一段距离后，将底座1和制样外杯3的位置上下翻转，用手按住底座1的底部向下慢慢压，直到制样外杯3的下端边缘、检测薄膜、制样内杯2的下端边缘处于同一平面内。然后再将底座1和制样外杯3转正，向制样内杯2中放入样品。若样品湿度过大，可以启动加热组件对样品进行烘干。

本实施例提供的一种用于X射线荧光仪的制样装置，包括底座、制样内杯、制样外杯和检测薄膜，底座设有第一凹槽，制样外杯插设于第一凹槽内，可以稳定地支承制样外杯；制样外杯套设于制样内杯外，检测薄膜的中部封盖于制样内杯的下端面，检测薄膜的边缘部分夹设于制样内杯和制样外杯之间，制样内杯和制样外杯嵌套紧实，使得检测薄膜固定后表面紧绷光滑，避免产生褶皱，并可避免多余的薄膜翘出的静电干扰，同时还可以避免因移动、手握或夹取等外力影响导致的薄膜不平整，并可在承受较大挤压力还原后，仍保持检测薄膜原有的表面平整度。第一凹槽的底部还安装有加热组件，可以放置于制样内杯中的样品进行烘干，降低样品湿度。该用于X射线荧光仪的制样装置结构简单，使用方便，操作过程简单，省时省力，可以保持检测薄膜的平整度，还可以保持样品的湿度适宜，尤其适用于野外制样。

进一步地，如图3和图4所示，加热组件包括加热片5、温度传感器(图中未示出)和温控器6，加热片5贴设与第一凹槽11的底部，温度传感器的测温端固接于加热片5，温度传感器的信号输出端电连接于温控器6，以将加热片5的温度测量信号传送至温控器6。当加热片5的温度过高时，通过温控器6及时停止加热片5工作，避免超温。具体地，加热片5可以采用电加热片，将电阻发热丝缠绕在云母板(或云母片)上，以云母板(或云母片)为骨架和绝缘层，辅以镀锌板或不锈钢板作支持保护。电阻发热丝电连接于电源，电源可以是内置于底座1内的电源模块或者电池，也可以通过导线连接于外部电源。

更进一步地，温控器6为电子式温控器，电子式温控器包括单片机和继电器(图中均未示出)，单片机的输出端串联接入继电器的线圈的通电回路，继电器的常闭触点串联接入加热片5的通电回路；温度传感器的信号输出端电连接于单片机的输入端。更进一步地，单片机可以采用STM32系列单片机或者MCS-51系列单片机。温度传感器可以采用热电阻传感器或者热电偶传感器。继电器可以采用施耐德RXM系列或者欧姆龙MY2N系列。

具体地，可以通过单片机将加热片5的最高温度设置为60℃～70℃，当加热片5的温度等于或者低于最高温度值时，单片机输出低电平给继电器的线圈的通电回路，继电器不通电，加热片5的通电回路导通，开始加热；当加热片5的温度高于最高温度值时，单片机输出高电平给继电器的线圈的通电回路，继电器通电，继电器的常闭触点动作，断开加热片5的通电回路，加热停止。

进一步地，如图1所示，底座1的外壁还嵌设有加热开关14，加热开关14的触点串联接入加热片5的通电回路。通过加热开关14来控制加热片5的通电回路是否进入工作状态。

更进一步地，如图4所示，加热片5的上表面还贴设有金属导热片7。通过设置金属导热片7可以将加热片5的热量迅速导出至样品，加热更加均匀。

更进一步地，如图3所示，底座1包括空心圆管12和圆盘13，空心圆管12的底部可拆卸连接于圆盘13的顶部。加热片5贴设于圆盘13的顶面，温度传感器和温控器6均封装于圆盘13内。具体地，空心圆管12的底部可以螺纹连接于圆盘13，也可以通过卡扣卡接于圆盘13，方便拆卸加热组件。

进一步地，制样内杯2的高度大于制样外杯3的高度，且高度差为1mm～4mm。

进一步地，如图1所示，还包括制样杯盖4，制样杯盖4内设有第二凹槽41，制样内杯2的顶部插设于第二凹槽41内。第二凹槽41内设有凸柱42，凸柱42的高度大于第二凹槽41的深度，凸柱42的底部插设于制样内杯2内。装粮食样品的时候利用凸柱42可以压紧样品，若样品为土壤样品，则制样杯盖4可以起到防尘的作用。

通过以上实施例可以看出，本实用新型提供的用于X射线荧光仪的制样装置，包括底座、制样内杯、制样外杯和检测薄膜，底座设有第一凹槽，制样外杯插设于第一凹槽内，可以稳定地支承制样外杯；制样外杯套设于制样内杯外，检测薄膜的中部封盖于制样内杯的下端面，检测薄膜的边缘部分夹设于制样内杯和制样外杯之间，制样内杯和制样外杯嵌套紧实，使得检测薄膜固定后表面紧绷光滑，避免产生褶皱，并可避免多余的薄膜翘出的静电干扰，同时还可以避免因移动、手握或夹取等外力影响导致的薄膜不平整，并可在承受较大挤压力还原后，仍保持检测薄膜原有的表面平整度。第一凹槽的底部还安装有加热组件，可以放置于制样内杯中的样品进行烘干，降低样品湿度。该用于X射线荧光仪的制样装置结构简单，使用方便，操作过程简单，省时省力，可以保持检测薄膜的平整度，还可以保持样品的湿度适宜，尤其适用于野外制样。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims

1.一种用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，包括底座、制样内杯、制样外杯和检测薄膜，所述底座设有第一凹槽，所述制样外杯插设于所述第一凹槽内；所述第一凹槽的底部还安装有加热组件；所述制样外杯套设于所述制样内杯外；所述检测薄膜的中部封盖于所述制样内杯的下端面，所述检测薄膜的边缘部分夹设于所述制样内杯和所述制样外杯之间。

2.根据权利要求1所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述加热组件包括加热片、温度传感器和温控器，所述加热片贴设与所述第一凹槽的底部，所述温度传感器的测温端固接于所述加热片，所述温度传感器的信号输出端电连接于所述温控器。

3.根据权利要求2所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述温控器为电子式温控器，所述电子式温控器包括单片机和继电器，所述单片机的输出端串联接入所述继电器的线圈的通电回路，所述继电器的常闭触点串联接入所述加热片的通电回路；所述温度传感器的信号输出端电连接于所述单片机的输入端。

4.根据权利要求3所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述单片机为STM32系列单片机或者MCS-51系列单片机。

5.根据权利要求3所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述底座的外壁还嵌设有加热开关，所述加热开关的触点串联接入所述加热片的通电回路。

6.根据权利要求2所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述加热片的上表面还贴设有金属导热片。

7.根据权利要求2所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述底座包括空心圆管和圆盘，所述空心圆管的底部可拆卸连接于所述圆盘的顶部；所述加热片贴设于所述圆盘的顶面，所述温度传感器和所述温控器均封装于所述圆盘内。

8.根据权利要求2所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述温度传感器为热电阻传感器或者热电偶传感器。

9.根据权利要求1所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述制样内杯的高度大于所述制样外杯的高度，且高度差为1mm～4mm。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，还包括制样杯盖，所述制样杯盖内设有第二凹槽，所述制样内杯的顶部插设于所述第二凹槽内；所述第二凹槽内设有凸柱，所述凸柱的高度大于所述第二凹槽的深度，所述凸柱的底部插设于所述制样内杯内。