CN210954118U - 一种集成电路测试载板 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种集成电路测试载板，涉及集成电路领域，包括底板，所述底板的上方前端固定连接有测试载板，所述测试载板的上方设置有集成电路板，所述测试载板的后方中间设置有转盘，所述转盘的顶端固定连接有支撑柱，所述支撑柱的顶端固定连接有连接板，所述连接板远离支撑柱的一侧螺纹连接有丝杆，所述丝杆的底端固定连接有压板。本实用新型通过在集成电路板的上方设置丝杆和压板，在集成电路板测试过程中，旋转丝杆带动压板对集成电路板进行按压固定，有利于测试结果的精确性，减小测试误差，通过压缩弹簧的设置，在压板施压时，压缩弹簧可对集成电路板起到缓冲的效果，对集成电路板起到了有效的保护作用。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路领域，特别涉及一种集成电路测试载板。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，而现在一般的测试载板的接触垫都是固定焊接，暴露在空气中容易氧化和触碰损坏，而接触垫氧化后不能连通，造成一定的经济损失，并且现有的测试载板紧固功能较差，可能造成测试误差，测试不准确。
因此，发明一种集成电路测试载板来解决上述问题很有必要。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试载板，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路测试载板，包括底板，所述底板的上方前端固定连接有测试载板，所述测试载板的上方设置有集成电路板，所述测试载板的后方中间设置有转盘，所述转盘的顶端固定连接有支撑柱，所述支撑柱的顶端固定连接有连接板，所述连接板远离支撑柱的一侧螺纹连接有丝杆，所述丝杆的底端固定连接有压板；
所述底板的上表面固定连接有多个压缩弹簧，所述测试载板的上表面固定安装有多个接头，所述接头的上方固定连接有接触头，所述接触头的外侧设置有下防护罩，所述下防护罩的外侧上方滑动连接有上防护罩，所述上防护罩的顶部中间开设有通孔；
所述下防护罩的左右两侧均开设有活动槽，所述活动槽的内部固定连接有记忆弹簧，所述记忆弹簧远离下防护罩的一端固定连接有卡块，所述上防护罩的内壁左右两侧均开设有滑槽，所述滑槽的上下两端均设置有卡槽。
可选的，所述测试载板的左端转动连接有盖板，所述转盘的底部与底板固定连接。
可选的，所述测试载板通过压缩弹簧与底板固定连接，所述压板由橡胶材料制成。
可选的，所述下防护罩的底部与测试载板固定连接，所述通孔的直径值大于接触头顶部的直径值。
可选的，两个所述活动槽呈水平对称分布，所述卡块的形状呈子弹头状。
可选的，两个所述滑槽呈水平对称分布，所述卡槽开设在上防护罩上。
可选的，所述卡槽的深度值大于滑槽的深度值，所述卡块与卡槽卡接。
本实用新型的技术效果和优点：
1、本实用新型通过在集成电路板的上方设置丝杆和压板，在集成电路板测试过程中，旋转丝杆带动压板对集成电路板进行按压固定，有利于测试结果的精确性，减小测试误差，通过压缩弹簧的设置，在压板施压时，压缩弹簧可对集成电路板起到缓冲的效果，对集成电路板起到了有效的保护作用。
2、本实用新型通过上防护罩、活动槽、记忆弹簧、卡块、滑槽和卡槽的设置，测试载板使用完毕后，将上防护罩向上抬起，卡块移动一定距离卡接在卡槽内部，即可使上防护罩将接触头完全固定包裹，对接触头起到了有效的防护作用，通过盖板的设置，对测试载板起到了有效的防护作用，防止其受到损坏，并起到了有效的防尘效果。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
图2为本实用新型测试载板结构主视示意图。
图3为本实用新型接触头结构剖视示意图。
图4为本实用新型图3中A处局部放大结构示意图。
图中：1、底板；2、测试载板；3、盖板；4、集成电路板；5、转盘；6、支撑柱；7、连接板；8、丝杆；9、压板；10、压缩弹簧；11、接头；12、接触头；13、下防护罩；14、上防护罩；15、通孔；16、活动槽；17、记忆弹簧；18、卡块；19、滑槽；20、卡槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接；可以是机械连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
本实用新型提供了如图1-4所示的一种集成电路测试载板，包括底板1，底板1的上方前端固定连接有测试载板2，测试载板2的左端转动连接有盖板3，通过盖板3的设置，对测试载板2起到了有效的防护作用，防止其受到损坏，并起到了有效的防尘效果，测试载板2的上方设置有集成电路板4，测试载板2的后方中间设置有转盘5，转盘5的底部与底板1固定连接，转盘5的顶端固定连接有支撑柱6，支撑柱6的顶端固定连接有连接板7，连接板7远离支撑柱6的一侧螺纹连接有丝杆8，丝杆8的底端固定连接有压板9，压板9由橡胶材料制成，通过在集成电路板4的上方设置丝杆8和压板9，在集成电路板4测试过程中，旋转丝杆8带动压板9对集成电路板4进行按压固定，有利于测试结果的精确性，减小测试误差；
底板1的上表面固定连接有多个压缩弹簧10，测试载板2通过压缩弹簧10与底板1固定连接，在压板9施压时，压缩弹簧10可对集成电路板4起到缓冲的效果，对集成电路板4起到了有效的保护作用，测试载板2的上表面固定安装有多个接头11，接头11的上方固定连接有接触头12，接触头12的外侧设置有下防护罩13，下防护罩13的底部与测试载板2固定连接，下防护罩13的外侧上方滑动连接有上防护罩14，上防护罩14的顶部中间开设有通孔15，通孔15的直径值大于接触头12顶部的直径值；
下防护罩13的左右两侧均开设有活动槽16，两个活动槽16呈水平对称分布，活动槽16的内部固定连接有记忆弹簧17，记忆弹簧17远离下防护罩13的一端固定连接有卡块18，卡块18的形状呈子弹头状，上防护罩14的内壁左右两侧均开设有滑槽19，两个滑槽19呈水平对称分布，滑槽19的上下两端均设置有卡槽20，卡槽20开设在上防护罩14上，卡槽20的深度值大于滑槽19的深度值，卡块18与卡槽20卡接，通过上防护罩14、活动槽16、记忆弹簧17、卡块18、滑槽19和卡槽20的设置，测试载板2使用完毕后，将上防护罩14向上抬起，卡块18移动一定距离卡接在卡槽20内部，即可使上防护罩14将接触头12完全固定包裹，对接触头12起到了有效的防护作用。
本实用新型工作原理：
在使用时，打开盖板3，将集成电路板4放置在测试载板2上，拉动连接板7，使转盘5带动连接板7旋转至集成电路板4的上方，转动丝杆8带动压板9对集成电路板4进行按压固定，压板9施压时，压缩弹簧10带动测试载板2向下缓冲，对测试载板2和集成电路板4均起到了有效的保护作用，测试完毕后，向上拉动上防护罩14，卡块18从上方的卡槽20中滑出，卡块18从滑槽19内滑动至下方的卡槽20处，记忆弹簧17将卡块18推入卡槽20内进行锁定，使上防护罩14完全将接触头12包裹，对接触头12起到了有效的保护作用。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种集成电路测试载板，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)的上方前端固定连接有测试载板(2)，所述测试载板(2)的上方设置有集成电路板(4)，所述测试载板(2)的后方中间设置有转盘(5)，所述转盘(5)的顶端固定连接有支撑柱(6)，所述支撑柱(6)的顶端固定连接有连接板(7)，所述连接板(7)远离支撑柱(6)的一侧螺纹连接有丝杆(8)，所述丝杆(8)的底端固定连接有压板(9)；
所述底板(1)的上表面固定连接有多个压缩弹簧(10)，所述测试载板(2)的上表面固定安装有多个接头(11)，所述接头(11)的上方固定连接有接触头(12)，所述接触头(12)的外侧设置有下防护罩(13)，所述下防护罩(13)的外侧上方滑动连接有上防护罩(14)，所述上防护罩(14)的顶部中间开设有通孔(15)；
所述下防护罩(13)的左右两侧均开设有活动槽(16)，所述活动槽(16)的内部固定连接有记忆弹簧(17)，所述记忆弹簧(17)远离下防护罩(13)的一端固定连接有卡块(18)，所述上防护罩(14)的内壁左右两侧均开设有滑槽(19)，所述滑槽(19)的上下两端均设置有卡槽(20)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试载板，其特征在于：
所述测试载板(2)的左端转动连接有盖板(3)，所述转盘(5)的底部与底板(1)固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试载板，其特征在于：
所述测试载板(2)通过压缩弹簧(10)与底板(1)固定连接，所述压板(9)由橡胶材料制成。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试载板，其特征在于：
所述下防护罩(13)的底部与测试载板(2)固定连接，所述通孔(15)的直径值大于接触头(12)顶部的直径值。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试载板，其特征在于：
两个所述活动槽(16)呈水平对称分布，所述卡块(18)的形状呈子弹头状。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试载板，其特征在于：
两个所述滑槽(19)呈水平对称分布，所述卡槽(20)开设在上防护罩(14)上。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试载板，其特征在于：
所述卡槽(20)的深度值大于滑槽(19)的深度值，所述卡块(18)与卡槽(20)卡接。
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