CN210665954U - 一种继电器耐久性测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种继电器耐久性测试装置，包括若干继电器、第一电源、第二电源、MCU及霍尔传感器；每个继电器包括线圈、第一触点及第二触点并设有一对连接线圈的输入端和一对连接第一触点与第二触点的输出端，每个继电器还在一个输入端设有与第一电源相连的开关；第一电源经输入端与开关将若干继电器并联；第二电源经输出端将若干继电器与霍尔传感器串联成输出回路；霍尔传感器感应输出回路中是否有电流并将结果传给MCU，MCU控制每个开关的通断与记录每个开关的通断次数，与现有技术相比，本实用新型通过MCU来控制开关的通断与记录开关的通断次数，并能连续测试多个继电器的耐久性，有效节省人力成本并有效提高测试效率。
Description
【技术领域】
本实用新型涉及继电器领域，具体的涉及一种继电器耐久性测试装置。
【背景技术】
继电器是一种电控制器件，具有控制***(又称输入回路)和被控制***(又称输出回路)之间的互动关系，通常应用于自动化的控制电路中，它实际上是用小电流去控制大电流运作的一种“自动开关”，故在电路中起着自动调节、安全保护、转换电路等作用。现有技术中，每种继电器都需做耐久性测试来确定该种继电器的使用周期，以利于维护使用该继电器的设备，然而，目前继电器在做耐久性测试时，仍采用人工测试方法，测试周期长效率低，人工成本高。
鉴于此，实有必要提供一种新型的继电器耐久性测试装置以克服现有技术的不足。
【实用新型内容】
本实用新型的目的是提供一种继电器耐久性测试装置，能自动对多个继电器进行耐久性测试。
为了实现上述目的，本实用新型提供一种继电器耐久性测试装置，包括若干继电器、第一电源、第二电源、MCU及霍尔传感器；每个继电器包括线圈、第一触点及第二触点并设有一对分别连接线圈两端的输入端和一对分别连接第一触点与第二触点的输出端，且每个继电器还在一个输入端设有与第一电源相连的开关；所述第一电源经每个继电器的输入端与开关将若干继电器并联，使得每个继电器经对应的一对输入端及开关与第一电源形成一个输入回路；所述第二电源经继电器的输出端将若干继电器与霍尔传感器串联成输出回路；所述霍尔传感器用于感应输出回路中是否有电流并将结果传给MCU，MCU还与每个开关电连接并控制每个开关的通断与记录每个开关的通断次数。
作为本实用新型继电器耐久性测试装置的一种改进，所述第一电源为0-32V直流电源，所述第二电源为50-700V直流电源。
作为本实用新型继电器耐久性测试装置的一种改进，所述第二电源通过带有阻抗的动力导线将若干继电器与霍尔传感器串联。
作为本实用新型继电器耐久性测试装置的一种改进，所述开关为MOS管。
作为本实用新型继电器耐久性测试装置的一种改进，所述MCU控制每个开关按照一定的频率进行通断。
作为本实用新型继电器耐久性测试装置的一种改进，所述MCU控制若干继电器的开关连续循环通断。
作为本实用新型继电器耐久性测试装置的一种改进，还包括一个人机交互的显示屏，该显示屏与MCU相连。
与现有技术相比，本实用新型提供的继电器耐久性测试装置的有益效果在于：通过MCU来控制开关的通断与记录开关的通断次数，并能连续测试多个继电器的耐久性，有效节省人力成本并有效提高测试效率。
【附图说明】
图1为本实用新型提供的继电器耐久性测试装置的结构示意图；
图2为图1所示继电器耐久性测试装置的原理框图。
【具体实施方式】
为了使本实用新型的目的、技术方案和有益技术效果更加清晰明白，以下结合附图和具体实施方式，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解的是，本说明书中描述的具体实施方式仅仅是为了解释本实用新型，并不是为了限定本实用新型。
本实用新型提供一种继电器耐久性测试装置100，能自动的对多个继电器10进行耐久性测试。
请参考图1，在本实用新型的实施例中，继电器耐久性测试装置100包括若干继电器10、第一电源20、第二电源30、MCU(Microcontroller Unit，微控制单元，又称单片微型计算机或者单片机)40及霍尔传感器50。
其中，每个继电器10包括线圈101、第一触点102及第二触点103并设有一对分别连接线圈101两端的输入端1011和一对分别连接第一触点102与第二触点103的输出端1021，且每个继电器10还在一个输入端1011设有与第一电源20相连的开关104。第一电源20为0-32V直流电源并经继电器10的输入端1011与开关104将若干继电器10并联，使得每个继电器10经对应的一对输入端1011及开关104与第一电源20形成一个输入回路，第一电源20用于给继电器10的线圈101供电以将对应的第一触点102与第二触点103导通，即每个继电器10的开关104闭合使得线圈101得电并产生吸合对应第一触点102与第二触点103的磁场，以将对应的第一触点102与第二触点103导通。第二电源30为50-700V直流电源并经继电器10的输出端1021将若干继电器10与霍尔传感器50串联成输出回路，且第二电源30通过带有阻抗的动力导线将若干继电器10与霍尔传感器50串联以模拟输出回路带载测试，霍尔传感器50则用于感应输出回路中是否有电流并将结果传给MCU 40，且MCU 40还与每个开关104电连接并控制每个开关104的通断与记录每个开关104的通断次数。
应当理解是的，当霍尔传感器50感应到输出回路中有电流时，每个继电器10的第一触点102与第二触点103均处于导通状态，即每个继电器10的开关104均处于闭合状态，此时如断开任意一个继电器10的开关104均能导致输出回路的断开，并使得霍尔传感器50无法感应到输出回路中的电流，从而通过MCU 40对其中一个继电器10的开关104进行连续通断直至该继电器10出现粘连故障(即该继电器10线圈101不得电时对应的第一触点102仍与第二触点103导通)后，再同时通过MCU 40记录该开关104的通断次数便能获取该继电器10的耐久性能参数，进而本实施例中的继电器耐久性测试装置100能实现自动对多个继电器进行耐久性测试的目的。
进一步的，在某些实施例中，MCU 40可以控制每个继电器10的开关104按照一定的频率进行通断，即每个开关104的两次连续通断的时间间隔可以按照需求通过MCU 40进行设置以获得该继电器10相应的耐久性能参数，从而更全面的测试继电器10的耐久性。优选的，开关104为MOS管，以方便MCU 40控制。本实施方式中，MOS管的栅极与MCU 40相连，MOS管的源极与第一电源20的正极相连，MOS管的漏极经对应继电器10的一对输入端1011与第一电源20的负极相连接。
请参考图2，进一步的，在一个实施例中，继电器耐久性测试装置100的MCU 40控制若干继电器10的开关104连续循环通断以将每个继电器10同时进行耐久性测试，即每一次循环通断中，MCU 40控制每个继电器10的开关104各通断一次。
具体的，首先MCU 40控制每个继电器10的开关104闭合，然后MCU 40断开第一个继电器10的开关，如霍尔传感器50无法感应到输出回路中的电流，则MCU 40累加一个第一个继电器10的通断次数，再延时闭合第一个继电器10的开关104，如霍尔传感器50感应到输出回路中的电流，则MCU 40判断第一个继电器10出现粘连故障并在延时后断开第二个继电器10的开关以跳过第一个继电器10的测试，同理通过霍尔传感器50判断第二个继电器10是否出现故障以累加第二个继电器10的通断次数或跳过第二个继电器10的测试，如此直至第N个继电器10(即最后一个继电器10)为止以完成一次循环通断，最后连续重复以上循环通断直至每个继电器10出现故障后，MCU 40统计每个继电器10出现故障需要的通断次数并完成耐久性测试。
进一步的，在更为具体的实施例中，继电器耐久性测试装置100还包括一个人机交互的显示屏60，该显示屏60与MCU 40相连以操作继电器耐久性测试装置100，例如，显示屏60可以设定MCU 40通断开关104的频率，显示屏60也可以显示每个继电器10的测试状态(即与继电器10对应的开关104的通断次数，继电器10是否出现故障，继电器10出现故障需要的通断次数)。
本实用新型的继电器耐久性测试装置100通过MCU 40来控制开关104的通断与记录开关104的通断次数，并能连续测试多个继电器10的耐久性，有效节省人力成本并有效提高测试效率。
本实用新型并不仅仅限于说明书和实施方式中所描述，因此对于熟悉领域的人员而言可容易地实现另外的优点和修改，故在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念的精神和范围的情况下，本实用新型并不限于特定的细节、代表性的设备和这里示出与描述的图示示例。
Claims (7)
1.一种继电器耐久性测试装置，其特征在于：包括若干继电器、第一电源、第二电源、MCU及霍尔传感器；每个继电器包括线圈、第一触点及第二触点并设有一对分别连接线圈两端的输入端和一对分别连接第一触点与第二触点的输出端，且每个继电器还在一个输入端设有与第一电源相连的开关；所述第一电源经每个继电器的输入端与开关将若干继电器并联，使得每个继电器经对应的一对输入端及开关与第一电源形成一个输入回路；所述第二电源经继电器的输出端将若干继电器与霍尔传感器串联成输出回路；所述霍尔传感器用于感应输出回路中是否有电流并将结果传给MCU，MCU还与每个开关电连接并控制每个开关的通断与记录每个开关的通断次数。
2.根据权利要求1所述的继电器耐久性测试装置，其特征在于：所述第一电源为0-32V直流电源，所述第二电源为50-700V直流电源。
3.根据权利要求1所述的继电器耐久性测试装置，其特征在于：所述第二电源通过带有阻抗的动力导线将若干继电器与霍尔传感器串联。
4.根据权利要求1所述的继电器耐久性测试装置，其特征在于：所述开关为MOS管。
5.根据权利要求1所述的继电器耐久性测试装置，其特征在于：所述MCU控制每个开关按照一定的频率进行通断。
6.根据权利要求1所述的继电器耐久性测试装置，其特征在于：所述MCU控制若干继电器的开关连续循环通断。
7.根据权利要求1所述的继电器耐久性测试装置，其特征在于：还包括一个人机交互的显示屏，该显示屏与MCU相连。
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|---|---|---|---|
| CN201920795980.7U CN210665954U (zh) | 2019-05-28 | 2019-05-28 | 一种继电器耐久性测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN201920795980.7U CN210665954U (zh) | 2019-05-28 | 2019-05-28 | 一种继电器耐久性测试装置 |
Publications (1)
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Family Applications (1)
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111551800A (zh) * | 2020-04-17 | 2020-08-18 | 歌尔光学科技有限公司 | 测试装置及测试方法 |
| CN113866619A (zh) * | 2021-09-18 | 2021-12-31 | 浙江省计量科学研究院 | 一种继电器耐久性测试装置及方法 |
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