CN210322259U - 光学测试***用测试平台 - Google Patents

光学测试***用测试平台 Download PDF

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Abstract

本申请提供光学测试***用测试平台,包括底座平台以及设置在底座平台上的测试平台,底座平台与测试平台之间设置一对第一线性模组;测试平台包括固定平台以及活动平台,固定平台的表面连接在第一线性模组上;底座平台四角分别竖直设置支柱,支柱上设有第二线性模组,第二线性模组上连接有第一电动伸缩杆,第一电动伸缩杆的端部设有第一电控永磁铁;活动平台的四角分别设置水平方向的连接柱。本申请的有益效果是:测试平台通过第一线性模组在底座平台上水平移动,第一电控永磁铁通过第一电动伸缩杆与活动平台的连接柱磁吸连接,并通过第二线性模组实现活动平台的竖直移动,光学测试器件放置在活动平台上。

Description

光学测试***用测试平台
技术领域
本公开涉及光学测试技术领域,具体涉及一种光学测试***用测试平台。
背景技术
在光学测试实验中会应用到测试平台,现有技术中光学测试平台由于自重较大,一般不可移动,在实际应用中,放置在测试平台上的光学测试器件常需要根据实验需要进行移动或旋转。
发明内容
本申请的目的是针对以上问题,提供一种光学测试***用测试平台。
第一方面,本申请提供一种光学测试***用测试平台,包括底座平台以及可活动地设置在所述底座平台上的测试平台,所述底座平台与测试平台之间相对设置一对第一线性模组,一对所述第一线性模组可活动地驱动所述测试平台在所述底座平台上水平移动;所述测试平台包括固定平台以及可活动地设置在所述固定平台上的活动平台,所述固定平台远离所述活动平台的表面连接在所述第一线性模组上;所述底座平台的宽度与所述测试平台的宽度一致;所述底座平台四角分别竖直设置支柱,所述支柱上设有第二线性模组,所述第二线性模组上连接有对应所述测试平台设置的可沿水平方向伸缩的第一电动伸缩杆,所述第二线性模组可活动地驱动所述第一电动伸缩杆竖直移动,所述第一电动伸缩杆靠近所述测试平台的端部设有第一电控永磁铁;所述活动平台的四角对应所述第一电动伸缩杆分别设置水平方向延伸的连接柱,所述第一电动伸缩杆通过所述第一电控永磁铁可活动地与所述连接柱磁吸连接。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述活动平台上设有多个圆形凹槽,所述圆形凹槽内设有可转动的旋转台,所述活动平台内对应所述旋转台设置第一步进电机,所述第一步进电机的输出轴连接在所述旋转台的中部,所述第一步进电机可活动地驱动所述旋转台水平旋转。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述第一步进电机与所述旋转台之间竖直连接有第二电动伸缩杆,所述旋转台通过所述第二电动伸缩杆竖直移动。
根据本申请实施例提供的技术方案,四根所述立柱顶端设有一对与所述测试平台宽度边平行的第三线性模组,一对所述第三线性模组之间连接有与所述第三线性模组垂直的第四线性模组,所述第四线性模组通过所述第三模组水平滑移,所述第四线性模组上竖直设置第五线性模组,所述第五线性模组通过所述第四线性模组竖直滑移,所述第五线性模组上固定有镜头支撑架,光学镜头可活动地安装在所述镜头支撑架上。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述测试平台上还设有PLC控制器,所述活动平台表面对应所述旋转台设置角速度传感器,所述PLC控制器配置用于接收所述角速度传感器的信号,并根据所述信号控制所述第一步进电机的转动速度及转动时间。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述固定平台表面向内凹陷有多个第一凹槽,每个所述第一凹槽内分别设有第二电控永磁铁,所述活动平台通过所述第二电控永磁铁可活动地磁吸在所述固定平台表面。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述活动平台相对两条侧边边缘设有一对第六线性模组,一对所述第六线性模组上相对设置一对第三电动伸缩杆,所述第三电动伸缩杆远离所述第六线性模组的端部设有第三电控永磁铁,一对所述第三电动伸缩杆可活动地调整一对所述第三电控永磁铁之间的间距。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述第三电控永磁铁远离所述第三电动伸缩杆的一侧表面设置为设定形状。
本发明的有益效果:本申请提供一种光学测试***用测试平台,包括底座平台以及可活动地设置在所述底座平台上的测试平台,所述底座平台与测试平台之间相对设置一对第一线性模组,一对所述第一线性模组可活动地驱动所述测试平台在所述底座平台上水平移动;所述测试平台包括固定平台以及可活动地设置在所述固定平台上的活动平台,所述固定平台远离所述活动平台的表面连接在所述第一线性模组上;所述底座平台的宽度与所述测试平台的宽度一致;所述底座平台四角分别竖直设置支柱,所述支柱上设有第二线性模组,所述第二线性模组上连接有对应所述测试平台设置的可沿水平方向伸缩的第一电动伸缩杆,所述第二线性模组可活动地驱动所述第一电动伸缩杆竖直移动,所述第一电动伸缩杆靠近所述测试平台的端部设有第一电控永磁铁;所述活动平台的四角对应所述第一电动伸缩杆分别设置水平方向延伸的连接柱,所述第一电动伸缩杆通过所述第一电控永磁铁可活动地与所述连接柱磁吸连接。
测试平台通过第一线性模组可在底座平台上水平移动,第一电控永磁铁通过第一电动伸缩杆与活动平台的连接柱磁吸连接,通过第一电动伸缩杆在第二线性模组上的竖直移动从而带动活动平台竖直移动,光学测试器件可活动地放置在活动平台上。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述活动平台上设有多个圆形凹槽,所述圆形凹槽内设有可转动的旋转台,所述活动平台内对应所述旋转台设置第一步进电机,所述第一步进电机的输出轴连接在所述旋转台的中部。所述第一步进电机可活动地驱动所述旋转台水平旋转。
光学测试器件放置在旋转台上,通过第一步进电机驱动旋转台转动从而带动光学测试器件的角度变换。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述第一步进电机与所述旋转台之间竖直连接有第二电动伸缩杆,所述旋转台通过所述第二电动伸缩杆竖直移动。
通过第二电动伸缩杆可以控制旋转台升高或下降从而实现对旋转台高度的控制。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述固定平台表面向内凹陷有多个第一凹槽,每个所述第一凹槽内分别设有第二电控永磁铁,所述活动平台通过所述第二电控永磁铁可活动地磁吸在所述固定平台表面。
当不需要分离固定平台与活动平台时,启动第二电控永磁铁使得固定平台与活动平台能够牢固磁吸,增加两者接触连接的稳定性;当需要将活动平台从固定平台表面分离时,控制第二电控永磁铁不产生磁性,从而固定平台上的第二电控永磁铁对活动平台不再产生磁吸力,从而实现固定平台与活动平台的顺利分离。
根据本申请实施例提供的技术方案,所述活动平台相对两条侧边边缘设有一对第六线性模组,一对所述第六线性模组上相对设置一对第三电动伸缩杆,所述第三电动伸缩杆远离所述第六线性模组的端部设有第三电控永磁铁,一对所述第三电动伸缩杆可活动地调整一对所述第三电控永磁铁之间的间距。
光学测试器件放置在活动平台上,通过一对相对设置的第三电动伸缩杆进行相对移动将光学测试器件抵接在一对第三电动伸缩杆之间,并且通过设置在第三电动伸缩杆端部的第三电控永磁铁使其磁吸在光学测试器件的金属底座上,增加光学测试器件在活动平台上的稳定性。另外通过第六线性模组控制第三电动伸缩杆的水平位移。
附图说明
图1为本申请第一种实施例的俯视结构示意图;
图2为本申请第一种实施例中带有第四线性模组及第五线性模组的侧视结构示意图;
图3为本申请第一种实施例中旋转台与第一步进电机配合的结构示意图;
图中所述文字标注表示为:100、底座平台;110、第一线性模组;120、支柱;121、第一电动伸缩杆;122、第一电控永磁铁;124、第四线性模组;125、第五线性模组;126;镜头支撑架;200、测试平台;210、固定平台;220、活动平台;221、连接柱;222、圆形凹槽;223、旋转台;224、第一步进电机;225、第二电动伸缩杆;226、角速度传感器;227、第六线性模组;228、第三电动伸缩杆;229、第三电控永磁铁。
具体实施方式
为了使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附图对本申请进行详细描述,本部分的描述仅是示范性和解释性,不应对本申请的保护范围有任何的限制作用。
如图1所示为本申请的第一种实施例的示意图,包括底座平台100以及可活动地设置在所述底座平台100上的测试平台200,所述底座平台100与测试平台200之间相对设置一对第一线性模组110,一对所述第一线性模组110可活动地驱动所述测试平台200在所述底座平台100上水平移动。在本实施例中,所述底座平台100的宽度与所述测试平台200的宽度一致,第一线性模组110驱动测试平台200在底座平台100上沿测试平台200的长度方向左右水平移动。本实施例中,线性模组的现有技术中常见的驱动形式,在此不再赘述。
所述测试平台200包括固定平台210以及可活动地设置在所述固定平台210上的活动平台220,所述固定平台210远离所述活动平台220的表面连接在所述第一线性模组110上。本实施例中,光学测试器件可活动地放置在活动平台220上表面。
在一优选实施例中,所述固定平台210表面向内凹陷有多个第一凹槽,每个所述第一凹槽内分别设有第二电控永磁铁,所述活动平台220通过所述第二电控永磁铁可活动地磁吸在所述固定平台210表面。
在本优选实施例中,活动平台220为可被磁铁磁吸的材质。当不需要分离固定平台210与活动平台220时,启动第二电控永磁铁使得固定平台210与活动平台220能够牢固磁吸,增加两者接触连接的稳定性;当需要将活动平台220从固定平台210表面分离时,控制第二电控永磁铁不产生磁性,从而固定平台210上的第二电控永磁铁对活动平台220不再产生磁吸力,从而实现固定平台210与活动平台220的顺利分离。
所述底座平台100四角分别竖直设置支柱120,所述支柱120上设有第二线性模组,所述第二线性模组上连接有对应所述测试平台200设置的可沿水平方向伸缩的第一电动伸缩杆121,所述第二线性模组可活动地驱动所述第一电动伸缩杆121竖直移动,所述第一电动伸缩杆121靠近所述测试平台200的端部设有第一电控永磁铁122;所述活动平台220的四角对应所述第一电动伸缩杆121分别设置水平方向延伸的连接柱221,所述第一电动伸缩杆121通过所述第一电控永磁铁122可活动地与所述连接柱221磁吸连接。
本实施例中,连接杆为可被磁铁磁吸的材质。当需要将活动平台220从固定平台210上分离时,第一电动伸缩杆121先在第二线性模组上移动至适当高度,然后第一电动伸缩杆121在水平方向上进行伸缩同时启动第一电控永磁铁122使其具有磁性,当第一电控永磁铁122与活动平台220上的连接柱221接触时,连接柱221与第一电控永磁铁122磁吸连接,也即实现活动平台220的四角分别与第一电动伸缩杆121连接在一起,此时同步控制四个第一电动伸缩杆121在第二线性模组上移动上升,从而实现活动平台220的上升移动,因此实现了放置在活动平台220上的光学测试器件的上升移动。
在一优选实施例中,为实现光学测试器件在活动平台220上的旋转:所述活动平台220上设有多个圆形凹槽222,所述圆形凹槽222内设有可转动的旋转台223,所述活动平台220内对应所述旋转台223设置第一步进电机224,所述第一步进电机224的输出轴连接在所述旋转台223的中部,所述第一步进电机224可活动地驱动所述旋转台223水平旋转。
光学测试器件放置在旋转台223上,通过第一步进电机224驱动旋转台223转动从而带动光学测试器件的角度变换。
优选地,在上述优选实施例中,如图3所示,所述第一步进电机224与所述旋转台223之间竖直连接有第二电动伸缩杆225,所述旋转台223通过所述第二电动伸缩杆225竖直移动。
通过第二电动伸缩杆225可以控制旋转台223升高或下降从而实现对旋转台223高度的控制。
优选地,在上述优选实施例中,所述测试平台200上还设有PLC控制器,所述活动平台220表面对应所述旋转台223设置角速度传感器226,所述PLC控制器配置用于接收所述角速度传感器226的信号,并根据所述信号控制所述第一步进电机224的转动速度及转动时间。
在一优选实施例中,如图2所示,四根所述立柱顶端设有一对与所述测试平台200宽度边平行的第三线性模组,一对所述第三线性模组之间连接有与所述第三线性模组垂直的第四线性模组124,所述第四线性模组124通过所述第三模组水平滑移,所述第四线性模组124上竖直设置第五线性模组125,所述第五线性模组125通过所述第四线性模组124竖直滑移,所述第五线性模组125上固定有镜头支撑架126,光学镜头可活动地安装在所述镜头支撑架126上。
本优选实施例中,第三线性模组、第四线性模组124及第五线性模组125组成三轴模组可以调整位于第五线性模组125上的镜头支撑架126在测试平台200上方的空间位置,光学镜头可活动地安装在镜头支撑架126上,通过第三线性模组、第四线性模组124及第五线性模组125的空间位置从而调整对光学测试器件进行图像采集的光学镜头在在测试平台200上方的空间位置。
在一优选实施例中,所述活动平台220相对两条侧边边缘设有一对第六线性模组227,一对所述第六线性模组227上相对设置一对第三电动伸缩杆228,所述第三电动伸缩杆228远离所述第六线性模组227的端部设有第三电控永磁铁229,一对所述第三电动伸缩杆228可活动地调整一对所述第三电控永磁铁229之间的间距。
在本优选实施例中,光学测试器件放置在活动平台220上,通过一对相对设置的第三电动伸缩杆228进行相对移动将光学测试器件抵接在一对第三电动伸缩杆228之间,并且通过设置在第三电动伸缩杆228端部的第三电控永磁铁229使其磁吸在光学测试器件的金属底座上,增加光学测试器件在活动平台220上的稳定性。另外通过第六线性模组227控制第三电动伸缩杆228的水平位移。
优选地,在上述优选实施例中,所述第三电控永磁铁229远离所述第三电动伸缩杆228的一侧表面设置为设定形状。在本优选实施例中,可根据光学测试器件底座的外表轮廓设置第三电控永磁铁229的表面形状,从而使得第三电控永磁铁229紧密地贴合在光学测试器件底座的外表。
本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。以上所述仅是本申请的优选实施方式,应当指出,由于文字表达的有限性,而客观上存在无限的具体结构,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以做出若干改进、润饰或变化,也可以将上述技术特征以适当的方式进行组合;这些改进润饰、变化或组合,或未经改进将申请的构思和技术方案直接应用于其它场合的,均应视为本申请的保护范围。

Claims (8)

1.光学测试***用测试平台,其特征在于,包括底座平台(100)以及可活动地设置在所述底座平台(100)上的测试平台(200),所述底座平台(100)与测试平台(200)之间相对设置一对第一线性模组(110),一对所述第一线性模组(110)可活动地驱动所述测试平台(200)在所述底座平台(100)上水平移动;
所述测试平台(200)包括固定平台(210)以及可活动地设置在所述固定平台(210)上的活动平台(220),所述固定平台(210)远离所述活动平台(220)的表面连接在所述第一线性模组(110)上;
所述底座平台(100)的宽度与所述测试平台(200)的宽度一致;
所述底座平台(100)四角分别竖直设置支柱(120),所述支柱(120)上设有第二线性模组,所述第二线性模组上连接有对应所述测试平台(200)设置的可沿水平方向伸缩的第一电动伸缩杆(121),所述第二线性模组可活动地驱动所述第一电动伸缩杆(121)竖直移动,所述第一电动伸缩杆(121)靠近所述测试平台(200)的端部设有第一电控永磁铁(122);所述活动平台(220)的四角对应所述第一电动伸缩杆(121)分别设置水平方向延伸的连接柱(221),所述第一电动伸缩杆(121)通过所述第一电控永磁铁(122)可活动地与所述连接柱(221)磁吸连接。
2.根据权利要求1所述的光学测试***用测试平台,其特征在于,所述活动平台(220)上设有多个圆形凹槽(222),所述圆形凹槽(222)内设有可转动的旋转台(223),所述活动平台(220)内对应所述旋转台(223)设置第一步进电机(224),所述第一步进电机(224)的输出轴连接在所述旋转台(223)的中部,所述第一步进电机(224)可活动地驱动所述旋转台(223)水平旋转。
3.根据权利要求2所述的光学测试***用测试平台,其特征在于,所述第一步进电机(224)与所述旋转台(223)之间竖直连接有第二电动伸缩杆(225),所述旋转台(223)通过所述第二电动伸缩杆(225)竖直移动。
4.根据权利要求1所述的光学测试***用测试平台,其特征在于,四根所述支柱顶端设有一对与所述测试平台(200)宽度边平行的第三线性模组,一对所述第三线性模组之间连接有与所述第三线性模组垂直的第四线性模组(124),所述第四线性模组(124)通过所述第三线性模组水平滑移,所述第四线性模组(124)上竖直设置第五线性模组(125),所述第五线性模组(125)通过所述第四线性模组(124)竖直滑移,所述第五线性模组(125)上固定有镜头支撑架(126),光学镜头可活动地安装在所述镜头支撑架(126)上。
5.根据权利要求2所述的光学测试***用测试平台,其特征在于,所述测试平台(200)上还设有PLC控制器,所述活动平台(220)表面对应所述旋转台(223)设置角速度传感器(226),所述PLC控制器配置用于接收所述角速度传感器(226)的信号,并根据所述信号控制所述第一步进电机(224)的转动速度及转动时间。
6.根据权利要求1所述的光学测试***用测试平台,其特征在于,所述固定平台(210)表面向内凹陷有多个第一凹槽,每个所述第一凹槽内分别设有第二电控永磁铁,所述活动平台(220)通过所述第二电控永磁铁可活动地磁吸在所述固定平台(210)表面。
7.根据权利要求1所述的光学测试***用测试平台,其特征在于,所述活动平台(220)相对两条侧边边缘设有一对第六线性模组(227),一对所述第六线性模组(227)上相对设置一对第三电动伸缩杆(228),所述第三电动伸缩杆(228)远离所述第六线性模组(227)的端部设有第三电控永磁铁(229),一对所述第三电动伸缩杆(228)可活动地调整一对所述第三电控永磁铁(229)之间的间距。
8.根据权利要求7所述的光学测试***用测试平台,其特征在于,所述第三电控永磁铁(229)远离所述第三电动伸缩杆(228)的一侧表面设置为设定形状。
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