CN210280977U - 一种纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置 - Google Patents

Abstract

本申请属于生物学实验检测设备技术领域，具体涉及一种分子生物学研究中纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置专利申请事宜。该装置包括：作为基座的滑轨，滑轨上所设一对电极滑块，以及一对电极滑块中间所设的膜固定块；所述滑轨，为一个类“凸”形的长条状块体，边缘设有固定滑轨的的固定孔；所述电极滑块，为一对设在滑轨上的块体，块体上设有基本杆架，在基本杆架上设有可上下活动调节的接杆，同时接杆上设有用于固定打孔电极的万向交叉杆架；所述膜固定块，为设在滑轨上的一个块体，块体上部设有基本杆架，基本杆架上设置有用来固定待打孔膜的膜固定架。本申请装置大幅提高了膜加工的可操作性，表现出较好的应用效果。

Description

一种纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置

技术领域

本申请属于生物学实验检测设备技术领域，具体涉及一种分子生物学研究中纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置专利申请事宜。

背景技术

分子生物学研究中，通过检测分子流动方向、电压、电流等变化情况，可以直接或间接用来分析生物信号传递变化过程或者判定生物体的变化情况，因此纳米通道检测装置是现有分子生物学研究中一种较为常用的检测装置，而此类实验装置中，能够通过使待测分子通过的纳米膜是关键部件之一。

由于分子大小不同，因此纳米膜孔径也是有所不同的，因此通常采用一种打孔机装置来对纳米膜进行打孔操作。其中双电极电火花打孔机因其在深度穿孔加工中所具有独特的优势，也是现有技术中所主要采用的装置。

现有双电极电火花打孔机在深度穿孔加工过程中，由于电极与膜之间的放电间隙仅为0.01mm，因此在加工深小孔时，必须要确保电极和膜稳定，使电极精准定位才能确保加工的精准。通常定位操作是采用一种单独的导向装置对电火花打孔机的电极进行定位，但是由于这种导向装置与待加工纳米膜是分别独立操作的，因此实际应用时还需进一步人工辅助校正，这种操作方式不仅需要耗费大量时间进行校正操作，而且对正精度较差，因此一定程度上影响了后续的实际实验进度。

发明内容

本申请目的在于提供一种纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，从而为纳米膜的精准加工奠定一定技术基础。

本申请所采取的技术方案详述如下。

一种纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，该装置包括：

作为基座的滑轨，滑轨上所设一对电极滑块，以及一对电极滑块中间所设的膜固定块；

所述滑轨，为一个类“凸”形的长条状块体，边缘设有固定滑轨的的固定孔；优选设计中，滑轨上设计有长度刻度，便于确定滑轨上所设滑块的移动距离；

所述电极滑块，为一对设在滑轨上的块体，块体上设有基本杆架，为便于调节打孔电极高度，在基本杆架上设有可上下活动调节的接杆，同时接杆上设有用于固定打孔电极的万向交叉杆架；

所述万向交叉杆架，为一类“三通”性结构的块体，一侧为圆筒状通腔，腔体直径与接杆直径对应，用来使万向交叉杆架整体固定于接杆上；万向交叉杆架上部为电极固定用固定体，固定体一侧套设于接杆上，另一侧设有通孔，穿设有固定电极用电极筒，电极筒内穿设有打孔用打孔电极，而为便于打孔电极固定，在固定体对应电极筒上方设有固定螺栓，从而可以调整电极筒的固定位置，进而调整打孔电极与待打孔纳米膜之间的距离；

具体设计中，基本杆架侧壁设有固定螺栓，用来调节接杆高度；万向交叉杆架套设在接杆上，在万向交叉杆架与接杆套设段外部的万向交叉杆架的圆筒状通腔外部设有圆环状的固定座，固定座通过侧壁所设固定螺栓来实现万向交叉杆架在接杆上的固定；

实际设计中，所述电极滑块，至少一个电极滑块采用可滑动式设计，从而可以调节电极之间距离、以及与待打孔膜之间距离；进一步地，针对可滑动的电极滑块，在滑块侧壁通过固定螺栓来实现电极滑块与滑轨之间的固定；

所述膜固定块，为设在滑轨上的一个块体，可采用滑动式或固定式的设计（滑动式设计时，与可滑动电极滑块类似设计，通过设在块体外部的固定螺栓来实现在滑轨上的固定），块体上部设有基本杆架，基本杆架再设置用来固定待打孔膜的膜固定架；

所述膜固定架为一槽体结构，槽体用来放置待打孔膜；优选设计中，所述槽体一侧设计有固定夹片，夹片通过外部所设固定螺栓来实现在槽体内部的横向移动，进而来实现对槽体内所放置的待打孔膜的固定，从而可以使膜固定架来适应不同厚度、不同规格的待打孔膜的应用。

实际应用中，万向交叉杆架的电极筒内穿设固定有打孔电极，打孔电极分别为正、负两极，并分别连接有电源导线；所述打孔电极的正极具体例如采用1mm的银丝制备而成，应用时，通过调整万向交叉杆架的方向，确保正负电极的轴线一致。

实际应用中，所述待打孔膜，一般为PTEF膜（Teflon膜）。

总体上，本申请通过对固定装置结构的设计优化，一方面便于相关结构部件的调整，另一方面确保了电极打孔过程中的定位精度，便于对膜表面进行精确的深小孔加工，从而确保相关实验的有效开展。初步应用效果表明，采用本申请所提供的固定装置后，大幅提高了膜加工的可操作性，而且在膜表面所加工的孔口规整，孔形、孔径一致，可较好满足实验中150μm圆形小孔规格要求，且孔口偏移量非常小，表现出较好的应用效果，因此具有较好的实用价值和推广应用意义。

附图说明

图1为本申请所提供装置结构示意图。

具体实施方式

下面结合实施例对本申请做进一步的解释说明。

实施例

如图1所示，本申请所提供的纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，包括作为基座的滑轨5，滑轨上所设一对电极滑块4，以及一对电极滑块中间所设的膜固定块9；

所述滑轨5，为一个类“凸”形的长条状块体，边缘设有固定滑轨的的固定孔；优选设计中，滑轨上设计有长度刻度，便于确定滑轨上所设滑块的移动距离；

所述电极滑块4，为一对设在滑轨上的块体，块体上设有基本杆架1，为便于调节打孔电极高度，在基本杆架上设有可上下活动调节的接杆2，同时接杆上设有用于固定打孔电极的万向交叉杆架3；

所述万向交叉杆架3，为一类“三通”性结构的块体，一侧为圆筒状通腔，腔体直径与接杆2直径对应，用来使万向交叉杆架整体固定于接杆上；万向交叉杆架上部为电极固定用固定体，固定体一侧套设于接杆2上，另一侧设有通孔，穿设有固定电极用电极筒7，电极筒7内穿设有打孔用打孔电极，而为便于打孔电极固定，在固定体对应电极筒上方设有固定螺栓，从而可以调整电极筒的固定位置，进而调整打孔电极与待打孔纳米膜之间的距离；

具体设计中，基本杆架1侧壁设有固定螺栓10，用来调节接杆2高度；万向交叉杆架3套设在接杆2上，在万向交叉杆架3与接杆2套设段外部的万向交叉杆架3的圆筒状通腔外部设有圆环状的固定座11，固定座通过侧壁所设固定螺栓来实现万向交叉杆架3在接杆2上的固定；

实际设计中，所述电极滑块4，至少一个电极滑块采用可滑动式设计，从而可以调节电极之间距离、以及与待打孔膜之间距离；进一步地，针对可滑动的电极滑块，在滑块侧壁通过固定螺栓来实现电极滑块与滑轨之间的固定；

所述膜固定块9，为设在滑轨上的一个块体，可采用滑动式或固定式的设计（滑动式设计时，与可滑动电极滑块类似设计，通过设在块体外部的固定螺栓来实现在滑轨上的固定），块体上部设有基本杆架1，基本杆架再设置用来固定待打孔膜的膜固定架6；

所述膜固定架6为一槽体结构，槽体用来放置待打孔膜；优选设计中，膜固定架6设计为可在基本杆架上上下活动调节的结构设计，从而便于调节打孔位置；进一步优选设计中，所述槽体一侧设计有固定夹片（由于待打孔膜一般为PTEF膜，因此夹片材质一般采用亚克力材质，从而避免对待打孔膜的损害），夹片通过外部所设固定螺栓来实现在槽体内部的横向移动，进而来实现对槽体内所放置的待打孔膜的固定，从而可以使膜固定架来适应不同厚度、不同规格的待打孔膜的应用。

实际应用中，万向交叉杆架的电极筒内穿设固定有打孔电极，打孔电极分别为正、负两极，并分别连接有电源导线8；电火花打孔操作时，由正负两极通过电极射出高压电火花从而完成PTFE膜的穿孔工作；为确保打孔加工效果，所述打孔电极的正极、负极具体例如均采用1mm的银丝制备而成针状，应用时，通过调整万向交叉杆架3的方向，确保正负电极的轴线一致。

具体设计中，基本杆架1可采用圆柱形的空心设计，可固定或活动连接在滑块上。

初步应用效果表明，采用本申请装置后，在PTEF膜表面可较好加工出150μm规格圆形小孔，而且孔口规整，孔形、孔径一致，并且重复性较好，可为后续纳米通道检测实验奠定较好的材料基础。

Claims (10)

1.一种纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，该装置包括：

作为基座的滑轨，滑轨上所设一对电极滑块，以及一对电极滑块中间所设的膜固定块；

所述滑轨，为一个类“凸”形的长条状块体，边缘设有固定滑轨的固定孔；

所述电极滑块，为一对设在滑轨上的块体，块体上设有基本杆架，在基本杆架上设有可上下活动调节的接杆，同时接杆上设有用于固定打孔电极的万向交叉杆架；

所述万向交叉杆架，为一类“三通”性结构的块体，一侧为圆筒状通腔，腔体直径与接杆直径对应，用来使万向交叉杆架整体固定于接杆上；万向交叉杆架上部为电极固定用固定体，固定体一侧套设于接杆上，另一侧设有通孔，穿设有固定电极用电极筒，电极筒内穿设有打孔用打孔电极；

所述膜固定块，为设在滑轨上的一个块体，块体上部设有基本杆架，基本杆架上设置有用来固定待打孔膜的膜固定架；

所述膜固定架为一槽体结构，槽体用来放置待打孔膜。

2.如权利要求1所述纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，万向交叉杆架的固定体对应电极筒上方设有固定螺栓，用以调整电极筒的固定位置。

3.如权利要求1所述纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，基本杆架侧壁设有固定螺栓，用来调节接杆高度。

4.如权利要求1所述纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，在万向交叉杆架与接杆套设段外部的万向交叉杆架的圆筒状通腔外部设有圆环状的固定座，固定座通过侧壁所设固定螺栓来实现万向交叉杆架在接杆上的固定。

5.如权利要求1所述纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，所述电极滑块，至少一个电极滑块采用可滑动式设计。

6.如权利要求5所述纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，针对可滑动的电极滑块，在滑块侧壁通过固定螺栓来实现电极滑块与滑轨之间的固定。

7.如权利要求1所述纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，膜固定块的膜固定架中，槽体一侧设计有固定夹片，夹片通过外部所设固定螺栓来实现在槽体内部的横向移动，进而来实现对槽体内所放置的待打孔膜的固定。

8.如权利要求1所述纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，万向交叉杆架的电极筒内穿设固定有打孔电极；所述打孔电极的正极、负极均采用1mm的银丝制备而成。

9.如权利要求1所述纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，所述膜固定块为滑动式或固定式设计。

10.如权利要求1所述纳米通道检测装置中电火花打孔电极用固定装置，其特征在于，该装置应用对象中的待打孔膜，为PTEF膜。

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