CN210072390U - 一种多通道串口通讯测试电机的控制*** - Google Patents
一种多通道串口通讯测试电机的控制*** Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型涉及电机技术领域,具体公开了一种多通道串口通讯测试电机的控制***,包括主控MCU和多个串口扩展IC,所述主控MCU通过SPI通讯控制多个串口扩展IC;所述多个串口扩展IC中,每个串口扩展IC控制4个串口,所述每个串口连接有一个电机,本实用新型的主控MCU通过SPI通讯控制多个串口扩展IC,串口扩展IC的每个串口控制一个电机,实现了一个主控MCU可以测试多个电机的效果,解决了以往一个面板或者一台电脑只能测试一个电机,造成测试资源的严重浪费和不能满足测试需求的问题;本实用新型还可以根据实际需求控制不同数量的电机,节省了测试资源和满足测试需求。
Description
技术领域
本实用新型涉及电机技术领域,尤其涉及一种多通道串口通讯测试电机的控制***。
背景技术
电机是指依据电磁感应定律实现电能转换或传递的一种电磁装置,其主要作用是产生驱动转矩,作为用电器或各种机械的动力源。
随着科学技术的发展,消费者对电机性能和质量指标提出了越来越高的要求,电机测试的发展与电机工业的发展是密切相关的,电机测试是对电机装配质量及技术性能综合评价的重要环节。
现有技术中,在对一些由主控面板通过串口通讯控制的电机进行测试时,通常一个面板或一台电脑只能测试一个电机,如应用在洗碗机或洗衣机等的电机,当需要测试多个电机时,需要多个主控面板或者多台电脑,严重的浪费了测试资源,同时也无法满足实际生产测试需求。
实用新型内容
针对上述技术问题,本实用新型提供了一种多通道串口通讯测试电机的控制***,实现了一个主控MCU可以测试多个电机的效果,解决了以往一个面板或者一台电脑只能测试一个电机,造成测试资源的严重浪费和不能满足测试需求的问题;本实用新型还可以根据实际需求控制不同数量的电机,节省了测试资源和满足测试需求。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供的具体方案如下:
一种多通道串口通讯测试电机的控制***,包括主控MCU和多个串口扩展IC,所述主控MCU通过SPI通讯控制多个串口扩展IC;所述多个串口扩展IC中,每个串口扩展IC控制4个串口,所述每个串口连接有一个电机。
可选的,所述主控MCU连接有电脑,主控MCU与电脑之间通过RS232连接,来记录电机的错误日志,方便开发人员快速排查错误,调试电机,也可以通过电脑给不同的电机发送不同的测试指令,可以独立测试不同的电机。
可选的,所述主控MCU连接有拨码开关,当不用电脑控制主控MCU时,可以通过拨码开关来控制主控MCU,主控MCU控制电机控制板不同的转速,通过手工控制拨码开关I/O状态,从而选择不同的工作模式。
可选的,所述串口扩展IC的数量为4个,分别为串口扩展IC1、串口扩展IC2、串口扩展IC3和串口扩展IC4;
所述拨码开关为4位拨码开关。
可选的,所述主控MCU为PIC16F1933,主控MCU通过MCU_SCS1-4的4个I/O口作为SPI的片选端口,RST1-4为串口扩展IC1-4的复位控制端口,MCU_SCK、MCU_SDO和MCU_SDI三个端口分别作为SPI的时钟、发送和接收端口。
可选的,所述串口扩展IC1为WK2124,串口扩展IC1的4个串口分别控制的4个电机为电机M1-4。
可选的,所述串口扩展IC1的RX1-4分别连接电机M1-4的RX端口;串口扩展IC1的TX1-4分别连接电机M1-4的TX端口。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:本实用新型的主控MCU通过SPI通讯控制多个串口扩展IC,串口扩展IC的每个串口控制一个电机,实现了一个主控MCU可以测试多个电机的效果,解决了以往一个面板或者一台电脑只能测试一个电机,造成测试资源的严重浪费和不能满足测试需求的问题;本实用新型还可以根据实际需求控制不同数量的电机,节省了测试资源和满足测试需求。
附图说明
图1为本实用新型实施例中提供的***整体框图。
图2为本实用新型实施例中提供的主控MCU与串口扩展IC1的电气连接图。
图3为本实用新型实施例中提供的串口扩展IC1与电机控制器M1的电气连接图。
图4为本实用新型实施例中提供的电脑与主控MCU的通讯电路图。
具体实施方式
为了详细说明本实用新型的技术方案,下面将结合本实用新型实施例的附图,对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。显然,所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于所描述的本实用新型的实施例,本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
例如,一种多通道串口通讯测试电机的控制***,包括主控MCU和多个串口扩展IC,所述主控MCU通过SPI通讯控制多个串口扩展IC;所述多个串口扩展IC中,每个串口扩展IC控制4个串口,所述每个串口连接有一个电机。
本实施例提供的一种多通道串口通讯测试电机的控制***,主控MCU通过SPI通讯控制多个串口扩展IC,串口扩展IC的每个串口控制一个电机,实现了一个主控MCU可以测试多个电机的效果,解决了以往一个面板或者一台电脑只能测试一个电机,造成测试资源的严重浪费和不能满足测试需求的问题;本实用新型还可以根据实际需求控制不同数量的电机,节省了测试资源和满足测试需求。
在一些实施例中,如图1-3所示,提供一种多通道串口通讯测试电机的控制***,包括主控MCU和多个串口扩展IC,主控MCU通过SPI通讯控制多个串口扩展IC;多个串口扩展IC中,每个串口扩展IC控制4个串口,每个串口连接有一个电机。
主控MCU通过SPI通讯控制多个串口扩展IC,一个串口扩展IC可以控制4个串口,一个串口控制一个电机,这样可以根据需求控制多个电机。在该示例中,主控MCU还连接有电脑,主控MCU与电脑之间通过RS232连接,在串行通讯时,要求通讯双方都采用一个标准接口,使不同的设备可以方便的连接起来进行通讯,RS232是目前最常用的一种串行通讯接口,将主控MCU与电脑通过RS232连接后,能够通过电脑来记录电机的错误日志,方便开发人员快速排查错误,调试电机,也可以通过电脑给不同的电机发送不同的测试指令,可以独立测试不同的电机,如图4所示,为电脑与主控MCU的通讯电路图。
在一些实施例中,主控MCU连接有拨码开关,当不用电脑控制主控MCU时,可以通过拨码开关来控制主控MCU,主控MCU控制电机控制板不同的转速,通过手工控制拨码开关I/O状态,从而选择不同的工作模式。
在该示例中,串口扩展IC的数量为4个,分别为串口扩展IC1、串口扩展IC2、串口扩展IC3和串口扩展IC4;拨码开关为4位拨码开关。其中,主控MCU为PIC16F1933,主控MCU通过MCU_SCS1-4的4个I/O口作为SPI的片选端口,并设置低电平片选有效,RST1-4为串口扩展IC1-4的复位控制端口,并设置高电平复位有效,MCU_SCK、MCU_SDO和MCU_SDI三个端口分别作为SPI的时钟、发送和接收端口。
串口扩展IC1为WK2124,串口扩展IC1的4个串口分别控制的4个电机为电机M1-4,串口扩展IC1的RX1-4分别连接电机M1-4的RX端口;串口扩展IC1的TX1-4分别连接电机M1-4的TX端口。同理的,串口扩展IC2的4个串口分别控制的4个电机为电机M5-8,串口扩展IC2的RX5-8分别连接电机M5-8的RX端口;串口扩展IC2的TX5-8分别连接电机M5-8的TX端口。串口扩展IC3的4个串口分别控制的4个电机为电机M9-12,串口扩展IC3的RX9-12分别连接电机M9-12的RX端口;串口扩展IC3的TX9-12分别连接电机M9-12的TX端口。串口扩展IC4的4个串口分别控制的4个电机为电机M13-16,串口扩展IC4的RX13-16分别连接电机M13-16的RX端口;串口扩展IC4的TX13-16分别连接电机M13-16的TX端口。
电机上包括有电机控制器,因此,在该示例中,如图1所示,将电机控制器M1-M16通过以上电路连接到串口扩展IC1-4,每个串口扩展IC可以控制4个不同的电机控制器,电机控制器M1-M16的每个Uart子通道可以单独收发控制。串口扩展IC将对电机控制器M1-M16发来的数据做数据缓存,然后再通过SPI端口转送到主控MCU处,主控MCU通过SPI端口给串口扩展IC发送数据,写入串口扩展IC发送缓存,串口扩展IC通过识别1-4通道,发送相关数据到电机控制器,电机控制器和串口扩展IC的通讯协议可自行定义。
具体的,电脑通过RS232与主控MCU连接,通过设定的通讯协议完成以下内容:电脑通过RS232发送一帧数据,即可在一帧数据内同时分别控制电机控制器M1-M16,控制信息包括转速档位、加速度和领加一位附加功能位,主控MCU通过Uart发送一帧数据到电脑,数据内容包括每个电机控制器M1-M16的通讯状态、保护状态、当前转速档位、当前加速度。
当不用电脑控制主控MCU时,可以通过拨码开关来控制主控MCU,主控MCU控制电机控制器不同的转速,通过手工控制SW1-4的I/O状态,从而选择不同的工作模式。本示例的定义如下:
其中,符号*为任意状态, SW4的控制选择为,高电平为启用控制,电机控制器根据SW1-3的不同对应不同档位转速,低电平为关闭电源,所有电机停止,拨码开关能够便于测试人员进行测试。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围,因此,本实用新型的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (7)
1.一种多通道串口通讯测试电机的控制***,其特征在于,包括主控MCU和多个串口扩展IC,所述主控MCU通过SPI通讯控制多个串口扩展IC;
所述多个串口扩展IC中,每个串口扩展IC控制4个串口,所述每个串口连接有一个电机。
2.根据权利要求1所述的多通道串口通讯测试电机的控制***,其特征在于,所述主控MCU连接有电脑,主控MCU与电脑之间通过RS232连接。
3.根据权利要求1所述的多通道串口通讯测试电机的控制***,其特征在于,所述主控MCU连接有拨码开关。
4.根据权利要求3所述的多通道串口通讯测试电机的控制***,其特征在于,所述串口扩展IC的数量为4个,分别为串口扩展IC1、串口扩展IC2、串口扩展IC3和串口扩展IC4;
所述拨码开关为4位拨码开关。
5.根据权利要求4所述的多通道串口通讯测试电机的控制***,其特征在于,所述主控MCU为PIC16F1933,主控MCU通过MCU_SCS1-4的4个I/O口作为SPI的片选端口,RST1-4为串口扩展IC1-4的复位控制端口,MCU_SCK、MCU_SDO和MCU_SDI三个端口分别作为SPI的时钟、发送和接收端口。
6.根据权利要求4所述的多通道串口通讯测试电机的控制***,其特征在于,所述串口扩展IC1为WK2124,串口扩展IC1的4个串口分别控制的4个电机为电机M1-4。
7.根据权利要求6所述的多通道串口通讯测试电机的控制***,其特征在于,所述串口扩展IC1的RX1-4分别连接电机M1-4的RX端口;串口扩展IC1的TX1-4分别连接电机M1-4的TX端口。
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CN112904175A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-06-04 | 广东派捷智能装备有限公司 | 基于ict的多点串行测试结构、*** |
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