CN209857792U - 带模拟指针的数显卡尺 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种带模拟指针的数显卡尺，包括主尺和副尺，所述副尺上设置有数显组件本体，所述数显组件本体内设置有位移传感器、数据处理芯片和显示屏，所述显示屏上设置有数显数字、小数点、分度标识符号及测量单位符号和模拟指针，所述数显数字和所述小数点用于显示高位数值，所述模拟指针用于显示低位数值，所述分度标识符号及测量单位符号表示当前测量环境下的模拟指针最小度量值及当前测量环境下的度量单位。上述带模拟指针的数显卡尺在常规数显卡尺的基础上，加入了机械式带表卡尺的设计的理念，增加了模拟指针的设计，所述模拟指针与所述分度标识符号及测量单位符号相配合用于显示低位数值，因此使得测量数据的显示更加立体直观。
Description
技术领域
本实用新型涉及数显量具技术领域，尤其涉及一种带模拟指针的数显卡尺。
背景技术
目前，市面上销售的机械带表卡尺是以设置在主尺上的齿条驱动表盘内的齿轮从而带动表针旋转，副尺所示主尺的主刻度值加上表针停下时所指示的表盘刻度值，即为工件的实际尺寸值；这种读数方式需要使用者具备较专业的测量技能才能确保读数最接近工件的真实尺寸；另外，在光线稍弱的工作现场，受光线和视角的影响，即便是具备较专业的测量技能使用者，也难确保读数的准确性。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种带模拟指针的数显卡尺，通过模拟指针来显示低位数据，使得测量者在读数时更加直观清楚。
为实现上述目的，本实用新型提供了一种带模拟指针的数显卡尺，包括主尺和副尺，所述副尺上设置有数显组件本体，所述数显组件本体内设置有位移传感器、数据处理芯片和显示屏，所述显示屏上设置有数显数字、小数点、分度标识符号及测量单位符号和模拟指针，所述数显数字和所述小数点用于显示高位数值，所述模拟指针用于显示低位数值，所述分度标识符号及测量单位符号表示当前测量环境下的模拟指针最小度量值及当前测量环境下的度量单位。
优选地，所述模拟指针为模拟刻度，其根据所述主尺与所述副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态显示。
优选地，所述分度标识符号及测量单位符号为0.01mm，所述模拟刻度共包括100格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与所述副尺的相对位移量为1mm。
优选地，所述分度标识符号及测量单位符号为0.0005in，所述模拟刻度共包括20格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与所述副尺的相对位移量为0.01in。
优选地，所述数显组件本体上还设置有印刷刻度盘，所述印刷刻度盘包括同心设置的内侧英制单位刻度盘和外侧公制单位刻度盘，两者零度刻线对应设置，所述模拟指针的显示位置位于两者之间，且所述模拟指针根据所述主尺与所述副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态旋转。
优选地，所述分度标识符号及测量单位符号为0.01mm，所述模拟指针指示所述公制单位刻度盘，所述公制单位刻度盘包括100格，每格为0.01mm。
优选地，所述分度标识符号及测量单位符号为0.0005in，所述模拟指针指示所述英制单位刻度盘，所述英制单位刻度盘包括100格，每格为0.0005in。
本实用新型所提供的带模拟指针的数显卡尺，所述数显组件本体设置在所述副尺上，所述数显组件本体内设置有位移传感器、数据处理芯片和显示屏，所述位移传感器用于侦测所述主尺与所述副尺之间的相对位移量并传送给所述数据处理芯片，所述数据处理芯片将接收到的相对位移量进行处理并显示在所述显示屏上。
所述显示屏上设置有数显数字、小数点、分度标识符号及测量单位符号和模拟指针，所述数显数字和所述小数点用于显示高位数值，所述模拟指针用于显示低位数值，高位数值与低位数值相结合构成最终的测量结果。
上述带模拟指针的数显卡尺在常规数显卡尺的基础上，加入了机械式带表卡尺设计的理念，增加了模拟指针的设计，所述模拟指针用于显示低位数值，所述分度标识符号及测量单位符号表示当前测量环境下的模拟指针最小度量值及当前测量环境下的度量单位，因此使得测量数据的显示更加立体直观。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本实用新型第一种具体实施方式中带模拟指针的数显卡尺的正视图；
图2为本实用新型第二种具体实施方式中带模拟指针的数显卡尺的正视图；
图3为图1中数显卡尺的公制读数显示示意图；
图4为图1中数显卡尺的英制读数显示示意图；
图5为图2中数显卡尺的公制读数显示示意图；
图6为图2中数显卡尺的英制读数显示示意图。
图1至图6中的附图标记如下：
1、分度标示符号及测量单位符号；2、模拟指针；3、数显数字； 4、小数点；5、数显组件本体；6、印刷刻度盘；7、主尺；8、副尺。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型核心是提供一种带模拟指针的数显卡尺，通过模拟指针来显示低位数据，使得测量者在读数时更加直观清楚。
请参考图1-2，图1为本实用新型第一种具体实施方式中带模拟指针的数显卡尺的正视图；图2为本实用新型第二种具体实施方式中带模拟指针的数显卡尺的正视图。
在第一种具体实施方式中，本实用新型提供的带模拟指针的数显卡尺，包括主尺7和副尺8，副尺8设置在主尺7上并可沿主尺7的长度方向滑动，另外副尺8上设置有数显组件本体5，数显组件本体5 沿副尺8的长度方向设置，其内设置有位移传感器、数据处理芯片和显示屏。所述位移传感器用于侦测所述主尺与所述副尺之间的相对位移量并传送给所述数据处理芯片，所述数据处理芯片将接收到的相对位移量进行处理并显示在所述显示屏上。
所述显示屏上设置有数显数字3、小数点4、分度标识符号及测量单位符号1和模拟指针2，实际测量时，数显数字3和小数点4用于显示高位数值，所述高位数值直接显示在所述显示屏上，另外，分度标识符号及测量单位符号1表示当前测量环境下的模拟指针2的最小度量值及当前测量环境下的度量单位，模拟指针2用于显示低位数值，具体数值需要提取，所述高位数值与所述低位数值相结合构成最终的测量结果。
在第一种具体实施方式中，模拟指针2为电子显示的模拟刻度，所述模拟刻度为圆形刻度，其根据主尺7与副尺8的相对位移量的递增顺时针动态显示，同时根据主尺7与副尺8的相对位移量的递减逆时针方向动态显示，由此测量者可根据模拟刻度的显示清楚且迅速地读取模拟指针2所显示的数值。
上述数显卡尺包括两种度量单位，使用时可互相转换，一种是公制单位mm，一种是英制单位in，因此也对应两种模拟刻度。
采用公制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.01mm，此时模拟刻度共包括100格，当模拟刻度显示满格时，对应主尺7与副尺8的相对位移量为1mm，也即每格模拟刻度代表 0.01mm。
采用英制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.0005in，此时模拟刻度共包括20格，当模拟刻度显示满格时，对应主尺7与副尺8的相对位移量为0.01in，也即每格模拟刻度代表0.0005in。
在第二种具体实施方式中，数显组件本体5上还设置有印刷刻度盘6，具体的，其可设置在所述显示屏的外侧，印刷刻度盘6包括同心设置的内侧英制单位刻度盘和外侧公制单位刻度盘，均可以为圆形刻度盘，两者零度刻线对应设置。当然，英制单位刻度盘和公制单位刻度盘的相对位置也可以互换。模拟指针2的显示位置位于两者之间，未测量时模拟指针2位于上述零度刻线的位置，测量开始时，模拟指针2根据主尺7与副尺8的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态旋转。此时由于模拟指针2为电子显示，印刷刻度盘6也为平面设计，因此读数时并不会产生误差。
第二种实施方式中，上述带模拟指针的数显卡尺仍包括两种度量单位，使用时可互相转换。
采用公制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.01mm，模拟指针2的对应数值从对应所述公制单位刻度盘读取，所述公制单位刻度盘包括100格，每格为0.01mm。
采用公制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.0005in，模拟指针2的对应数值从对应所述英制单位刻度盘读取，所述英制单位刻度盘包括100格，每格为0.0005in。
为更好的对上述两种实施例中的读数方法进行说明，请参考图3- 图6，图3为图1中数显卡尺的公制读数显示示意图，其对应读数为 302.33mm；图4为图1中数显卡尺的英制读数显示示意图，其对应读数为11.9165in；图5为图2中数显卡尺的公制读数显示示意图，其对应读数为90.65mm；图6为图2中数显卡尺的英制读数显示示意图，其对应读数为1.9365in。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
以上对本实用新型所提供的带模拟指针的数显卡尺进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。
Claims (7)
1.一种带模拟指针的数显卡尺，其特征在于，包括主尺和副尺，所述副尺上设置有数显组件本体，所述数显组件本体内设置有位移传感器、数据处理芯片和显示屏，所述显示屏上设置有数显数字、小数点、分度标识符号及测量单位符号和模拟指针，所述数显数字和所述小数点用于显示高位数值，所述模拟指针用于显示低位数值，所述分度标识符号及测量单位符号表示当前测量环境下的模拟指针最小度量值及当前测量环境下的度量单位。
2.如权利要求1所述的带模拟指针的数显卡尺，其特征在于，所述模拟指针为模拟刻度，其根据所述主尺与所述副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态显示。
3.如权利要求2所述的带模拟指针的数显卡尺，其特征在于，所述分度标识符号及测量单位符号为0.01mm，所述模拟刻度共包括100格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与所述副尺的相对位移量为1mm。
4.如权利要求2所述的带模拟指针的数显卡尺，其特征在于，所述分度标识符号及测量单位符号为0.0005in，所述模拟刻度共包括20格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与所述副尺的相对位移量为0.01in。
5.如权利要求1所述的带模拟指针的数显卡尺，其特征在于，所述数显组件本体上还设置有印刷刻度盘，所述印刷刻度盘包括同心设置的内侧英制单位刻度盘和外侧公制单位刻度盘，两者零度刻线对应设置，所述模拟指针的显示位置位于两者之间，且所述模拟指针根据所述主尺与所述副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态旋转。
6.如权利要求5所述的带模拟指针的数显卡尺，其特征在于，所述分度标识符号及测量单位符号为0.01mm，所述模拟指针指示所述公制单位刻度盘，所述公制单位刻度盘包括100格，每格为0.01mm。
7.如权利要求5所述的带模拟指针的数显卡尺，其特征在于，所述分度标识符号及测量单位符号为0.0005in，所述模拟指针指示所述英制单位刻度盘，所述英制单位刻度盘包括100格，每格为0.0005in。
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2019
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