CN209117739U - 手机led驱动测试探针卡 - Google Patents

手机led驱动测试探针卡 Download PDF

Info

Publication number
CN209117739U
CN209117739U CN201821769123.1U CN201821769123U CN209117739U CN 209117739 U CN209117739 U CN 209117739U CN 201821769123 U CN201821769123 U CN 201821769123U CN 209117739 U CN209117739 U CN 209117739U
Authority
CN
China
Prior art keywords
mobile phone
module
test
relay
phone led
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201821769123.1U
Other languages
English (en)
Inventor
赵永昌
鲁斌
谷陈鹏
刘诚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jiaxing Peng Wu Electronic Technology Co Ltd
Original Assignee
Jiaxing Peng Wu Electronic Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jiaxing Peng Wu Electronic Technology Co Ltd filed Critical Jiaxing Peng Wu Electronic Technology Co Ltd
Priority to CN201821769123.1U priority Critical patent/CN209117739U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN209117739U publication Critical patent/CN209117739U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种手机LED驱动测试探针卡，包括与待测器件对接的探针和至少一个手机LED驱动测试模块，各个手机LED驱动测试模块直接安装于接口电路板，各个手机LED驱动测试模块同时与探针相连，所述手机LED驱动测试模块包括第一至第三开关K1～K3、总线控制模块和双通道LED校正模块。本实用新型公开的手机LED驱动测试探针卡，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的手机LED驱动测试模块，完成手机LED驱动芯片多工位并行测试，提高了测试并行度，节省了测试时间，降低了测试成本。

Description

手机LED驱动测试探针卡
技术领域
本实用新型属于半导体生产技术领域，具体涉及一种手机LED驱动测试探针卡。
背景技术
手机LED驱动类芯片是一种封装尺寸极小，用于驱动移动设备发光二极管的低功耗芯片，被广泛应用于各种移动设备，每年的出货量都非常巨大。因此，对芯片厂商来说，芯片的量产测试也被提出了更高的要求。
手机LED驱动类芯片晶圆级测试除了常规测试外，主要难点在于其集成的高精度电流源的电流校准测试。目前，这部分测试主要通过独立仪表完成。
在生产实践中芯片厂商发现，上述传统测试方案存在如下缺陷。
1.基于各种独立仪表集成，***通讯开销大，导致测试时间长；
2.需要***集成和二次开发工作，成本高；
3.因为需要集成各种仪表，安装配置麻烦，可靠性差；
4.受独立仪表资源限制，多工位并行测试困难。
实用新型内容
本实用新型针对现有技术的状况，克服上述缺陷，提供一种手机LED驱动测试探针卡。
本实用新型采用以下技术方案，所述手机LED驱动测试探针卡用于获取并且共享来自测试机台的现有设备的输入信息，上述测试机台的现有设备包括电源通道模块、数字信号发生模块和电流电压采集模块，所述手机LED驱动测试探针卡包括与待测器件对接的探针和至少一个手机LED驱动测试模块，各个手机LED驱动测试模块直接安装于接口电路板，各个手机LED驱动测试模块同时与探针相连，所述手机LED驱动测试模块包括：
第一开关K1，所述第一开关K1用于导通或者关断电源通道模块与待测器件之间的通路；
总线控制模块，所述总线控制模块同时与数字信号发生模块和待测器件相连；
第二开关K2，所述第二开关K2用于导通或者关断电压电流采集模块与待测器件之间的通路；
第三开关K3和双通道LED校准模块，所述双通道LED校正模块与待测器件之间的共同端通过第三开关K3接入双通道LED校正模块。
根据上述技术方案，所述总线控制模块包括数据管脚引线SDA_1、时钟信号引线SCL_1、使能信号引线HWEN_1，其中：
所述数据管脚引线SDA_1的一端接于数字信号发生模块的数字信号发生端口，另一端接于被测器件；
所述时钟信号引线SCL_1的一端接于数字信号发生模块的上述数字信号发生端口，另一端接于被测器件；
所述时钟信号引线HWEN_1的一端接于数字信号发生模块的上述数字信号发生端口，另一端接于被测器件。
根据上述技术方案，所述总线控制模块还包括上拉电阻S1_R2，所述数据管脚引线SDA_1同时通过上拉电阻S1_R2接于5V稳压电源。
根据上述技术方案，所述上拉电阻S1_R2为100欧姆。
根据上述技术方案，所述电感升压模块包括继电器K10，其中：
所述继电器K10的4脚接于电源通道模块的输出端口；
所述继电器K10的3脚通过电感L2接于待测器件；
上述待测器件通过电容C7接地。
根据上述技术方案，所述电感L2为10微亨。
根据上述技术方案，所述电容C7为7微法。
根据上述技术方案，所述双通道LED校正模块包括继电器K11、继电器K12、继电器K13和继电器K14以及光电二极管LED1和光电二极管LED2，其中：
所述继电器K11的3脚通过电阻R9接地，所述继电器K12的3脚通过电阻R10接地，所述继电器K13的3脚通过电阻R11接地，所述继电器K14的3脚通过电阻R12接地；
所述继电器K11的4脚和继电器K12的4脚同时接于光电二极管LED1的负极和电压电流采集模块的输出端口，所述继电器K13的4脚和继电器K14的4脚同时接于光电二极管LED2的负极和上述电压电流采集模块的输出端口；
所述光电二极管LED1的正极和光电二极管LED2的正极分别接于待测器件。
根据上述技术方案，所述电阻R9为1欧姆，所述电阻R10为3.33欧姆，所述电阻R11为1欧姆，所述电阻R12为10欧姆。
本实用新型公开的手机LED驱动测试探针卡，其有益效果在于，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的手机LED驱动测试模块，完成手机LED驱动芯片多工位并行测试，提高了测试并行度，节省了测试时间，降低了测试成本。
附图说明
图1是现有的手机LED驱动芯片传统测试方案的示意图。
图2是本实用新型优选实施例的手机LED驱动芯片的整体测试方案示意图。
图3是本实用新型优选实施例的高精度的手机LED驱动测试模块的结构示意图。
图4是图3的总线控制模块的电路结构示意图。
图5是图3的电感升压模块的电路结构示意图。
图6是图3的双通道LED校正模块的电路结构示意图。
具体实施方式
本实用新型公开了一种手机LED驱动测试探针卡，下面结合优选实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步描述。
参见附图的图2至图6，图2示出了所述手机LED驱动测试探针卡的整体测试方案，图3示出了所述手机LED驱动测试探针卡的手机LED驱动测试模块的模块结构，图4示出了所述手机LED驱动测试探针卡的手机LED驱动测试模块的总线控制模块的电路结构，图5示出了所述手机LED驱动测试探针卡的手机LED驱动测试模块的电感升压模块的电路结构，图6示出了所述手机LED驱动测试探针卡的手机LED驱动测试模块的双通道LED校正模块的电路结构。
优选地，所述手机LED驱动测试探针卡用于获取并且共享来自测试机台的现有设备的输入信息，上述测试机台的现有设备包括电源通道模块、数字信号发生模块和电流电压采集模块，所述手机LED驱动测试探针卡包括与待测器件(例如，手机LED驱动芯片，下同)对接的探针和至少一个手机LED驱动测试模块，各个手机LED驱动测试模块直接安装于接口电路板(PCB板)，各个手机LED驱动测试模块同时与探针相连，所述手机LED驱动测试模块包括：
第一开关K1，所述第一开关K1用于导通或者关断电源通道模块与待测器件之间的通路；
总线控制模块，所述总线控制模块同时与数字信号发生模块和待测器件相连；
第二开关K2，所述第二开关K2用于导通或者关断电压电流采集模块与待测器件之间的通路；
第三开关K3和双通道LED校准模块，所述双通道LED校正模块与待测器件之间的共同端通过第三开关K3接入双通道LED校正模块。
进一步地，所述总线控制模块包括数据管脚引线SDA_1、时钟信号引线SCL_1、使能信号引线HWEN_1，其中：
所述数据管脚引线SDA_1的一端接于数字信号发生模块的数字信号发生端口，另一端接于被测器件；
所述时钟信号引线SCL_1的一端接于数字信号发生模块的上述数字信号发生端口，另一端接于被测器件；
所述时钟信号引线HWEN_1的一端接于数字信号发生模块的上述数字信号发生端口，另一端接于被测器件。
其中，所述总线控制模块还包括上拉电阻S1_R2，所述数据管脚引线SDA_1同时通过上拉电阻S1_R2接于5V稳压电源。
其中，所述上拉电阻S1_R2优选为100欧姆。
其中，参见附图的图4，左侧ATE为测试机台的数字信号发生模块的数字信号发生端口，右侧DUT为被测芯片。电阻S1_R2为上拉电阻，用来对数据管脚SDA进行上拉操作。SCL为总线的始终信号输入，HWEN通路为芯片的使能信号。通过这个总线模块，我们可以对芯片进行寄存器的读写以及校准数据的烧录。
进一步地，所述电感升压模块包括继电器K10，其中：
所述继电器K10的4脚接于电源通道模块的输出端口；
所述继电器K10的3脚通过电感L2接于待测器件；
上述待测器件通过电容C7接地。
其中，所述电感L2优选为10微亨。
其中，所述电容C7优选为7微法。
其中，电路中L2为一个10微亨的电感，C7为一个1微法的电容。芯片通过内部的开关电路可以使电能存储在电感里面，然后使用电感的电流为电容进行持续充电，为芯片驱动外部LED提供能量。
进一步地，所述双通道LED校正模块包括继电器K11、继电器K12、继电器K13和继电器K14以及光电二极管LED1和光电二极管LED2，其中：
所述继电器K11的3脚通过电阻R9接地，所述继电器K12的3脚通过电阻R10接地，所述继电器K13的3脚通过电阻R11接地，所述继电器K14的3脚通过电阻R12接地；
所述继电器K11的4脚和继电器K12的4脚同时接于光电二极管LED1的负极和电压电流采集模块的输出端口，所述继电器K13的4脚和继电器K14的4脚同时接于光电二极管LED2的负极和上述电压电流采集模块的输出端口；
所述光电二极管LED1的正极和光电二极管LED2的正极分别接于待测器件。
其中，所述电阻R9优选为1欧姆，所述电阻R10优选为3.33欧姆，所述电阻R11优选为1欧姆，所述电阻R12优选为10欧姆。
其中，使用一对LED来模拟时下手机上流行的双闪光灯应用模式，并且用电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12来进行不同的末端电阻匹配，从而可以对芯片进行精确的电流校准。
进一步地，所述手机LED驱动测试探针卡还可视实际需要并行设置多个手机LED驱动测试模块，以便实现多工位并行测试，从而大大降低测试时间，减少测试成本。
根据上述优选实施例，本实用新型专利申请公开的手机LED驱动测试探针卡，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的手机LED驱动测试模块，完成手机LED驱动芯片多工位并行测试，提高了测试并行度，节省了测试时间，降低了测试成本。
值得一提的是，本实用新型专利申请公开的手机LED驱动测试探针卡，其有益效果简述如下。
1.一种新型手机LED驱动芯片测试方案，可用于手机LED驱动芯片晶圆级及终测中；
2.利用现有设备代替引入新设备，降低购买和维护成本；
3.通过板载的测试模块的方式提高测试并行度和灵活性，降低了测试成本。
对于本领域的技术人员而言，依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围。

Claims (6)

1.一种手机LED驱动测试探针卡，用于获取并且共享来自测试机台的现有设备的输入信息，上述测试机台的现有设备包括电源通道模块、数字信号发生模块和电流电压采集模块，其特征在于，所述手机LED驱动测试探针卡包括与待测器件对接的探针和至少一个手机LED驱动测试模块，各个手机LED驱动测试模块直接安装于接口电路板，各个手机LED驱动测试模块同时与探针相连，所述手机LED驱动测试模块包括：
第一开关K1，所述第一开关K1用于导通或者关断电源通道模块与待测器件之间的通路；
总线控制模块，所述总线控制模块同时与数字信号发生模块和待测器件相连；
第二开关K2，所述第二开关K2用于导通或者关断电压电流采集模块与待测器件之间的通路；
第三开关K3和双通道LED校准模块，所述双通道LED校正模块与待测器件之间的共同端通过第三开关K3接入双通道LED校正模块。
2.根据权利要求1所述的手机LED驱动测试探针卡，其特征在于，所述总线控制模块包括数据管脚引线SDA_1、时钟信号引线SCL_1、使能信号引线HWEN_1，其中：
所述数据管脚引线SDA_1的一端接于数字信号发生模块的数字信号发生端口，另一端接于被测器件；
所述时钟信号引线SCL_1的一端接于数字信号发生模块的上述数字信号发生端口，另一端接于被测器件；
所述时钟信号引线HWEN_1的一端接于数字信号发生模块的上述数字信号发生端口，另一端接于被测器件。
3.根据权利要求2所述的手机LED驱动测试探针卡，其特征在于，所述总线控制模块还包括上拉电阻S1_R2，所述数据管脚引线SDA_1同时通过上拉电阻S1_R2接于5V稳压电源。
4.根据权利要求3所述的手机LED驱动测试探针卡，其特征在于，所述上拉电阻S1_R2为100欧姆。
5.根据权利要求1所述的手机LED驱动测试探针卡，其特征在于，所述双通道LED校正模块包括继电器K11、继电器K12、继电器K13和继电器K14以及光电二极管LED1和光电二极管LED2，其中：
所述继电器K11的3脚通过电阻R9接地，所述继电器K12的3脚通过电阻R10接地，所述继电器K13的3脚通过电阻R11接地，所述继电器K14的3脚通过电阻R12接地；
所述继电器K11的4脚和继电器K12的4脚同时接于光电二极管LED1的负极和电压电流采集模块的输出端口，所述继电器K13的4脚和继电器K14的4脚同时接于光电二极管LED2的负极和上述电压电流采集模块的输出端口；
所述光电二极管LED1的正极和光电二极管LED2的正极分别接于待测器件。
6.根据权利要求5所述的手机LED驱动测试探针卡，其特征在于，所述电阻R9 为1欧姆，所述电阻R10为3.33欧姆，所述电阻R11为1欧姆，所述电阻R12为10欧姆。
CN201821769123.1U 2018-10-30 2018-10-30 手机led驱动测试探针卡 Active CN209117739U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201821769123.1U CN209117739U (zh) 2018-10-30 2018-10-30 手机led驱动测试探针卡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201821769123.1U CN209117739U (zh) 2018-10-30 2018-10-30 手机led驱动测试探针卡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN209117739U true CN209117739U (zh) 2019-07-16

Family

ID=67202907

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201821769123.1U Active CN209117739U (zh) 2018-10-30 2018-10-30 手机led驱动测试探针卡

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN209117739U (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021169317A1 (zh) * 2020-02-24 2021-09-02 上海御渡半导体科技有限公司 一种芯片共享资源串行测试装置及方法
CN114256730A (zh) * 2020-09-24 2022-03-29 华为技术有限公司 芯片测试装置
CN115656770A (zh) * 2022-10-19 2023-01-31 杭州国磊半导体设备有限公司 电源驱动芯片的测试方法、装置、计算机设备及存储介质

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021169317A1 (zh) * 2020-02-24 2021-09-02 上海御渡半导体科技有限公司 一种芯片共享资源串行测试装置及方法
CN114256730A (zh) * 2020-09-24 2022-03-29 华为技术有限公司 芯片测试装置
CN114256730B (zh) * 2020-09-24 2024-03-26 华为技术有限公司 芯片测试装置
CN115656770A (zh) * 2022-10-19 2023-01-31 杭州国磊半导体设备有限公司 电源驱动芯片的测试方法、装置、计算机设备及存储介质
CN115656770B (zh) * 2022-10-19 2023-09-01 杭州国磊半导体设备有限公司 电源驱动芯片的测试方法、装置、计算机设备及存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN209117739U (zh) 手机led驱动测试探针卡
CN204832267U (zh) 一种芯片测试平台
CN202693755U (zh) 集成电路综合测试装置
CN103792498A (zh) 一种电源自动测试方法
CN102608522A (zh) 恒温晶体振荡器老化参数自动化测量仪
CN201096865Y (zh) 太阳能电池测试装置
CN106093841A (zh) 一种手持式电能表现场校验仪
CN208421196U (zh) 一种用于测试设备的纹波有效值测量装置
CN201331568Y (zh) 一种用于数模混合信号集成电路的测试装置
CN214041466U (zh) 通用老化母板、转接板及测试装置
CN203849400U (zh) 一种智能电表载波通讯模块动态功耗检测装置
CN203397348U (zh) 一种新型的内存条测试治具
CN106200623B (zh) 堆芯测量***逻辑模块的半物理仿真测试装置
CN105301516B (zh) 一种便于bga芯片电源测试治具和方法
CN204882853U (zh) 电能表耐压试验装置
CN103901382A (zh) 一种时间电流表的校准检测装置
CN201444192U (zh) 高压开关特性测试仪校验装置
CN215526091U (zh) 用于三相电能表和集中器的载波接口状态检测设备
CN109727882A (zh) 半导体功率器件的并行测试设备
CN209446732U (zh) 实时时钟检测装置
CN206400062U (zh) 高性能射频遥控自动化测试装置
CN201909841U (zh) 电能表端子曲回式自动接拆线装置
CN201535784U (zh) 一种老化测试基板
CN208314133U (zh) 一种简易的高精度的射频测试***
CN203520072U (zh) 一种信号转换器总成检测设备

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant