CN206977779U - 一种pcb板v‑cut防呆结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种PCB板V‑CUT防呆结构，包括工艺边与线路板本体，所述工艺边与线路板本体交界处设有 V‑CUT 路径；所述工艺边或线路板本体上设有测试焊盘；所述测试焊盘通过一迂回穿过 V‑CUT 路径两侧的测试导线连接，所述测试导线落入单元还连接有两个辅助焊盘，所述辅助焊盘之间部分重叠。本实用新型在 PCB 的 V‑CUT 路径两侧设置测试导线以及在测试导线两端的测试焊盘，能够快速、精确地检测线路板的 V‑CUT 情况。

Description

一种PCB板V-CUT防呆结构

技术领域

本实用新型涉及印刷线路板质量检测技术领域，具体涉及一种PCB板V-CUT防呆结构。

背景技术

V-CUT 是印刷线路板生产中的一个步骤，即在印刷线路板及其辅助板边交界处挖槽，以便在后续装配工程中将辅助板边去除。通常是预设 V-CUT 行刀路径，通过数控机床使刀具沿行刀路径切割。但由于 V-CUT 工序中存在各种不确定因素，可能产生漏切的线路板。在此后的检测工序中，难以靠目视将未 V-CUT 的线路板识别出。

实用新型内容

本实用新型目的是提供一种PCB板V-CUT防呆结构，它能有效地解决背景技术中所存在的问题。

本实用新型所要解决的技术问题采用以下技术方案来实现 ：

一种PCB板V-CUT防呆结构，包括工艺边与线路板本体，所述工艺边与线路板本体交界处设有 V-CUT 路径；所述工艺边或线路板本体上设有测试焊盘；所述测试焊盘通过一迂回穿过 V-CUT 路径两侧的测试导线连接，所述测试导线落入单元还连接有两个辅助焊盘，所述辅助焊盘是侧视投影为T型的可插拔焊盘，辅助焊盘包括伸入线路板本体的引脚及连接测试导线的测试端盖，所述测试端盖之间部分重叠。

通过检测两测试焊盘的导通情况，可筛选出未经 V-CUT 的线路板。经 V-CUT 处理后，上述测试导线将被切断，两个测试焊盘为断开状态。当线路板被遗漏V-CUT，则可监测出测试焊盘仍为连通状态，应及时将该线路板送回 V-CUT 工序处理。设置辅助焊盘是为了加强测试效果的准确性，测试时可通过测试焊盘与辅助焊盘之间是否为断开状态来判断相应一段测试导线是否被切断，进一步的细化检测。由于辅助焊盘设置于线路板本体单元内，辅助焊盘采用插拔式安装，测试后直接拆卸，不影响其他元器件的安装。两个测试端盖设置为部分重叠，测试时测试工具可一端抵触任一测试端盖而另一端抵触测试焊盘进行检测，检测更容易准确定位，检测也更为方便。

所述测试焊盘设置在工艺边上，所述测试导线包括设置在工艺边上与焊盘连接的测试焊盘测试段、设置在线路板本体上的迂回段、设置在 V-CUT 路径上连接迂回段与焊盘测试段的测试段。

或者，所述测试焊盘设置在线路板本体，所述测试导线包括设置在线路板本体上与测试焊盘连接的焊盘测试段、设置在工艺边上的迂回段、设置在 V-CUT 路径上连接迂回段与焊盘测试段的测试段。

在 V-CUT 工序中，设置在 V-CUT 测试段将被切断。此外，本实用新型将测试焊盘设置在同侧，从而便利检测工序的进行。

进一步的，所述测试段的的线宽小于所述迂回段与焊盘测试段的线宽。

为简化测试导线的成型工艺，可提高测试导线的线宽。但测试导线过宽，则难以在V-CUT工序中被彻底切断，降低测试精确度。因此本实用新型的测试导线中的焊盘测试段及迂回段线宽较大使之易于成型，而测试段线宽较小而易于切断。

所述测试段的间距沿测试焊盘向迂回段方向递减 ；所述迂回段为无底边的等腰梯形。

上述结构可有效降低制造成型导线的成本。

所述焊盘测试段与迂回段的线宽为 0.25mm ；所述测试段线宽为 0.1mm。

经发明人验证，0.25mm 宽的焊盘测试段与迂回段较易成型，不易被蚀刻药水腐蚀断开。0.1mm 的测试段既能保证成型效果，又能最大限度的提高测试精度。

所述迂回段的上底距 V-CUT 路径至少 0.3mm。

上述结构可防止因测试导线偏移而未经过 V-CUT 路径，导致测试失效。

所述辅助焊盘是侧视投影为T型的可***式焊盘。

本实用新型的有益效果是 ：

本实用新型在 PCB 的 V-CUT 路径两侧设置测试导线以及在测试导线两端的测试焊盘，能够快速、精确地检测线路板的 V-CUT 情况。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

图2为本实用新型辅助焊盘的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。

实施例1

一种PCB板V-CUT防呆结构，如图1-图2所示，包括工艺边2与线路板本体1，所述工艺边2与线路板本体1交界处设有 V-CUT 路径3；所述工艺边或线路板本体上设有测试焊盘4；所述测试焊盘4通过一迂回穿过 V-CUT 路径3两侧的测试导线连接，所述测试导线落入单元还连接有两个辅助焊盘6，所述辅助焊盘6是侧视投影为T型的可插拔焊盘，辅助焊盘6包括伸入线路板本体1的引脚61及连接测试导线的测试端盖62，所述测试端盖62之间部分重叠。

通过检测两测试焊盘的导通情况，可筛选出未经 V-CUT 的线路板。经 V-CUT 处理后，上述测试导线将被切断，两个测试焊盘为断开状态。当线路板被遗漏V-CUT，则可监测出测试焊盘仍为连通状态，应及时将该线路板送回 V-CUT 工序处理。

所述测试焊盘 4 设置在工艺边 2 上，所述测试导线包括设置在工艺边 2 上与测试焊盘 4 连接的焊盘测试段 51、设置在线路板本体 1 上的迂回段 52、设置在 V-CUT路径上连接迂回段 52 与焊盘测试段 51 的测试段 53。

在 V-CUT 工序中，设置在 V-CUT 测试段 53 将被切断。此外，本实用新型将测试焊盘 4 设置在工艺边 2 上，从而便利检测工序的进行。

所述测试段的间距沿测试焊盘向迂回段方向递减 ；所述迂回段为无底边的等腰梯形。

所述焊盘测试段 51 与迂回段 52 的线宽为 0.25mm ；所述测试段 53 线宽为0.1mm。

所述迂回段的上底距 V-CUT 路径至少 0.3mm。

所述辅助焊盘6是侧视投影为T型的可***式焊盘。

本实用新型在 PCB 的 V-CUT 路径两侧设置测试导线以及在测试导线两端的测试焊盘，能够快速、精确地检测线路板的 V-CUT 情况。

以上为本实用新型的其中具体实现方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些显而易见的替换形式均属于本实用新型的保护范围。

Claims (7)

1.一种PCB板V-CUT防呆结构，包括工艺边（2）与线路板本体（1），其特征在于：所述工艺边（2）与线路板本体（1）交界处设有 V-CUT 路径（3）；所述工艺边或线路板本体上设有测试焊盘（4）；所述测试焊盘（4）通过一迂回穿过 V-CUT 路径（3）两侧的测试导线连接，所述测试导线落入单元还连接有两个辅助焊盘（6），所述辅助焊盘（6）是侧视投影为T型的可插拔焊盘，辅助焊盘包括伸入线路板本体的引脚及连接测试导线的测试端盖，所述测试端盖之间部分重叠。

2.根据权利要求1所述的一种PCB板V-CUT防呆结构，其特征在于：所述测试焊盘（4）设置在工艺边（2）上，所述测试导线包括设置在工艺边（2）上与测试焊盘（4）连接的焊盘测试段（51）、设置在线路板本体（1）上的迂回段（52）、设置在 V-CUT 路径（3）上连接迂回段（52）与焊盘测试段（51）的测试段（53）。

3.根据权利要求1所述的一种PCB板V-CUT防呆结构，其特征在于：所述测试焊盘设置在线路板本体（1），所述测试导线包括设置在线路板本体（1）上与测试焊盘（4）连接的焊盘测试段（51）、设置在工艺边（2）上的迂回段（52）、设置在 V-CUT 路径（3）上连接迂回段（52）与焊盘（4）测试段的测试段（53）。

4.根据权利要求2或3所述的一种PCB板V-CUT防呆结构，其特征在于：所述测试段（53）的线宽小于所述迂回段（52）与焊盘测试段（53）的线宽。

5.根据权利要求4所述的一种PCB板V-CUT防呆结构，其特征在于：所述测试段（53）的间距沿测试焊盘（4）向迂回段（52）方向递减；所述迂回段（52）为无底边的等腰梯形。

6.根据权利要求5所述的一种PCB板V-CUT防呆结构，其特征在于：所述焊盘测试段与迂回段的线宽为 0.25mm ；所述测试段线宽为 0.1mm。

7.根据权利要求6所述的一种PCB板V-CUT防呆结构，其特征在于：所述迂回段的上底距V-CUT路径至少 0.3mm。