CN206311835U - 一种现场金相显微镜检验用可调节支架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及现场金相显微镜技术领域，尤其是一种现场金相显微镜检验用可调节支架，包括用于支撑现场金相显微镜的底座，所述底座的底面设有两个支撑装置，所述支撑装置包括第一连接杆，所述第一连接杆的一端与底座铰接，所述第一连接杆的另一端铰接有第二连接杆，第二连接杆远离第一连接杆的一端铰接有安装块，所述安装块远离第二连接杆的表面设有支撑板，所述支撑板远离安装块的表面设有磁铁块，所述底座的两侧还设有调节装置，本实用新型结构简单，使用方便，不仅能够对现场金相显微镜的位置进行固定，还能提高金相视场观察的清晰度，从而便于工作人员对金相视场的评定。
Description
技术领域
本实用新型涉及现场金相显微镜技术领域，尤其涉及一种现场金相显微镜检验用可调节支架。
背景技术
现场金相显微镜用于对大型且无法进行搬运的金属工件进行检验的仪器，然而需要检验的金属工件的种类和形状较多，尤其对于管道、管道弯头、和复杂表面的大型工件检验，由于不可能将工件表面加工成足够大平面，因此很难使金相显微镜物镜与工件金相检验点平面相垂直，从而很难获得清晰的金相视场，严重影响金相组织观察和评定。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种现场金相显微镜检验用可调节支架。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
设计一种现场金相显微镜检验用可调节支架，包括用于支撑现场金相显微镜的底座，所述底座的底面设有两个支撑装置，所述支撑装置包括第一连接杆，所述第一连接杆的一端与底座铰接，所述第一连接杆的另一端铰接有第二连接杆，第二连接杆远离第一连接杆的一端铰接有安装块，所述安装块远离第二连接杆的表面设有支撑板，所述支撑板远离安装块的表面设有磁铁块，所述底座的两侧还设有调节装置，所述调节装置包括大小相同的第一螺纹管和第二螺纹管，所述第二螺纹管的侧面铰接有滑块，所述底座靠近滑块的侧面开设有滑槽，所述滑块能配合安装在滑槽内，所述第一螺纹管铰接在连接杆的侧面，所述第一螺纹管和第二螺纹管的内部均螺纹连接有螺杆。
优选的，所述滑槽的两端表面均粘接有限位块，且滑块能与限位块接触。
优选的，所述螺杆位于第二螺纹管上方的一端还套接有手轮。
本实用新型提出的一种现场金相显微镜检验用可调节支架，有益效果在于：通过加入支撑装置，用于根据对金属管件表面的圆弧程度进行调节，方便金相显微镜物镜与工件金相检验点平面相垂直；通过加入调节装置，根据现场金相显微镜与被测金属抛光面的距离进行适当的调整，便于现场金相显微镜更好的对工件金相检验点进行检测；本使用新型结构简单，使用方便，不仅能够对现场金相显微镜的位置进行固定，还能提高金相视场观察的清晰度，从而便于工作人员对金相视场的评定。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种现场金相显微镜检验用可调节支架的结构示意图。
图中：支撑板1、安装块2、第一螺纹管3、第一连接杆4、底座5、手轮6、第二螺纹管7、滑块8、限位块9、滑槽10、螺杆11、第二连接杆12、磁铁块13。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1，一种现场金相显微镜检验用可调节支架，包括用于支撑现场金相显微镜的底座5，底座5的底面设有两个支撑装置，支撑装置包括第一连接杆4，第一连接杆4的一端与底座5铰接，第一连接杆4的另一端铰接有第二连接杆12，第二连接杆12远离第一连接杆4的一端铰接有安装块2，安装块2远离第二连接杆12的表面设有支撑板1，支撑板1远离安装块2的表面设有磁铁块13。
底座5的两侧还设有调节装置，调节装置包括大小相同的第一螺纹管3和第二螺纹管7，第二螺纹管7的侧面铰接有滑块8，底座5靠近滑块8的侧面开设有滑槽10，滑块8能配合安装在滑槽10内，滑槽10的两端表面均粘接有限位块9，且滑块8能与限位块9接触，可以提高滑块8在滑动时的稳定性，第一螺纹管3铰接在连接杆12的侧面，第一螺纹管3和第二螺纹管7的内部均螺纹连接有螺杆11，螺杆11位于第二螺纹管7上方的一端还套接有手轮6，方便工作人员对螺杆11进行调节。
工作原理：先根据被测管件的表面弯曲程度对第一连接杆4、第二连接杆12和安装块2进行调节，然后通过磁铁块13将现场金相显微镜固定在被测管件检验点的正上方，接着根据现场金相显微镜与被测管件检验点之间的距离对螺杆11进行调节，从而对被测管件进行检验。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种现场金相显微镜检验用可调节支架，包括用于支撑现场金相显微镜的底座(5)，其特征在于，所述底座(5)的底面设有两个支撑装置，所述支撑装置包括第一连接杆(4)，所述第一连接杆(4)的一端与底座(5)铰接，所述第一连接杆(4)的另一端铰接有第二连接杆(12)，第二连接杆(12)远离第一连接杆(4)的一端铰接有安装块(2)，所述安装块(2)远离第二连接杆(12)的表面设有支撑板(1)，所述支撑板(1)远离安装块(2)的表面设有磁铁块(13)，所述底座(5)的两侧还设有调节装置，所述调节装置包括大小相同的第一螺纹管(3)和第二螺纹管(7)，所述第二螺纹管(7)的侧面铰接有滑块(8)，所述底座(5)靠近滑块(8)的侧面开设有滑槽(10)，所述滑块(8)能配合安装在滑槽(10)内，所述第一螺纹管(3)铰接在连接杆(12)的侧面，所述第一螺纹管(3)和第二螺纹管(7)的内部均螺纹连接螺杆(11)。
2.根据权利要求1所述的一种现场金相显微镜检验用可调节支架，其特征在于，所述滑槽(10)的两端表面均粘接有限位块(9)，且滑块(8)能与限位块(9)接触。
3.根据权利要求1所述的一种现场金相显微镜检验用可调节支架，其特征在于，所述螺杆(11)位于第二螺纹管(7)上方的一端还套接有手轮(6)。
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| CN201621447552.8U CN206311835U (zh) | 2016-12-27 | 2016-12-27 | 一种现场金相显微镜检验用可调节支架 |
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| CN201621447552.8U CN206311835U (zh) | 2016-12-27 | 2016-12-27 | 一种现场金相显微镜检验用可调节支架 |
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| CN206311835U true CN206311835U (zh) | 2017-07-07 |
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| CN201621447552.8U Expired - Fee Related CN206311835U (zh) | 2016-12-27 | 2016-12-27 | 一种现场金相显微镜检验用可调节支架 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107345917A (zh) * | 2017-07-28 | 2017-11-14 | 贵州电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种工件显微缺陷检测*** |
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2016
- 2016-12-27 CN CN201621447552.8U patent/CN206311835U/zh not_active Expired - Fee Related
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