CN205427081U - Vcxo晶体电性能测试机构 - Google Patents

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郝建军
李永斌
何庆利
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Tangshan Guoxin Jingyuan Electronics Co Ltd
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Tangshan Guoxin Jingyuan Electronics Co Ltd
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Abstract

本实用新型涉及一种VCXO晶体电性能测试机构，包括测试座、负载板卡和转换板、高度调节块、测试盖板；负载卡上表面设置有VCXO转换板，VCXO转换板上表面设置有测试座，所述VCXO晶体设置在测试座上表面；所述VCXO转换板为双层PCB板，VCXO转换板上表面设置有6个插孔；所述测试座设置导向孔，导向孔有与插孔位置相对应；所述VCXO晶体设置有引脚；所述引脚位置与插孔位置相对应；所述6个引脚通过导向孔***所述6个插孔内。本实用新型VCXO晶体电性能测试机构，结构简单，操作方便，制造成本低，便于安装和拆卸，维修方便，提高生产效率。

Description

VCXO晶体电性能测试机构
技术领域
本实用新型涉及一种压控晶体振荡器测试装置，具体的说，是涉及一种VCXO晶体电性能测试机构。
背景技术
原有的Vcxo电性能测试装置，其VCXO测试装置有6个引脚输出，定义为：1#脚为Vco供电，2#脚为使能端控制，3#脚为GND，4#脚为Out，5#脚为GND，6#脚为Vcc，原有的通用VCXO晶体使能端是2#引脚，和测试电路正好对应测试。现在有客户需要使能端是5#引脚的VCXO晶体，用原有VCXO测试装置测试时，5#脚为GND，能端电压接地，表现为无输出，且测试不同引脚压控端的VCXO晶体时，需更换测试电路，且操作过程复杂，严重影响机台效率。
实用新型内容
针对上述现有技术中的不足，本实用新型提供一种结构合理、检测精度高、操作方便的VCXO晶体电性能测试机构。
本实用新型所采取的技术方案是：
一种VCXO晶体电性能测试机构，包括测试座、负载板卡和VCXO转换板、高度调节块、测试盖板；
负载卡上表面设置有VCXO转换板，VCXO转换板上表面设置有测试座，所述VCXO晶体设置在测试座上表面；
所述VCXO转换板为双层PCB板，VCXO转换板上表面设置有6个插孔；
所述测试座设置导向孔，导向孔有与插孔位置相对应；
所述VCXO晶体设置有引脚；所述引脚位置与插孔位置相对应；所述6个引脚通过导向孔***所述6个插孔内；
所述插孔包括左侧插孔和右侧插孔；
所述左侧插孔分别为第十一插孔、第十二插孔和第十三插孔；所述右侧插孔分别为第十四插孔、第十五插孔和第十六插孔；
所述第十一插孔内设置有第十一引脚；所述第十二插孔内设置有第十二引脚；所述第十三插孔内设置有第十三引脚；所述第十四插孔内设置有第十四引脚；所述第十五插孔内设置有第十五引脚；所述第十六插孔内设置有第十六引脚；所述VCXO转换板下表面设置有五个转接板弹性探针；左侧3个弹性探针分别为第二十一弹性探针、第二十二弹性探针和第二十三弹性探针；右侧2个弹性探针分别为第二十四弹性探针和第二十六弹性探针；
第二十一弹性探针与第十一插孔相连接；
第二十二弹性探针与第十五插孔相连接；
第二十三弹性探针与第十三插孔相连接；
第二十四弹性探针与第十四插孔相连接；
第十二插孔接地；
第二十六弹性探针与第十六插孔相连接；
第二十一弹性探针、第二十二弹性探针、第二十三弹性探针、第二十四弹性探针、第二十六弹性探针分别与负载板卡3测试端相连接。
所述弹性探针为弹簧。
本实用新型相对现有技术的有益效果：
本实用新型VCXO晶体电性能测试机构，结构简单，操作方便，制造成本低，便于安装和拆卸，维修方便，提高生产效率。
附图说明
图1是本实用新型VCXO晶体电性能测试机构置主视结构示意图；
图2是本实用新型VCXO晶体电性能测试机构的VCXO转换板立体结构示意图；
图3是本实用新型VCXO晶体电性能测试机构的测试盖板结构示意图。
附图中主要部件符号说明：
图中：
1、计算机2、测试电路
3、负载板卡4、VCXO转换板
5、测试座6、VCXO晶体
7、高度调节块8、测试盖板
11、第十一插孔12、第十二插孔
13、第十三插孔14、第十四插孔
15、第十五插孔16、第十六插孔
17、弹簧。
具体实施方式
以下参照附图及实施例对本实用新型进行详细的说明：
附图1-3可知，一种VCXO晶体电性能测试机构，包括测试座5、负载板卡3和VCXO转换板4、高度调节块7、测试盖板8；
负载卡3上表面设置有VCXO转换板4，VCXO转换板4上表面设置有测试座5，所述VCXO晶体6设置在测试座5上表面；
所述VCXO转换板4为双层PCB板，VCXO转换板4上表面设置有6个插孔；
所述测试座设置导向孔，导向孔有与插孔位置相对应；
所述VCXO晶体设置有引脚；所述引脚位置与插孔位置相对应；所述6个引脚通过导向孔***所述6个插孔内；
所述插孔包括左侧插孔和右侧插孔；
所述左侧插孔分别为第十一插孔11、第十二插孔12和第十三插孔13；所述右侧插孔分别为第十四插孔14、第十五插孔15和第十六插孔16；
所述第十一插孔内设置有第十一引脚；所述第十二插孔内设置有第十二引脚；所述第十三插孔内设置有第十三引脚；所述第十四插孔内设置有第十四引脚；所述第十五插孔内设置有第十五引脚；所述第十六插孔内设置有第十六引脚；所述VCXO转换板下表面设置有五个转接板弹性探针；左侧3个弹性探针分别为第二十一弹性探针211、第二十二弹性探针212和第二十三弹性探针213；右侧2个弹性探针分别为第二十四弹性探针214和第二十六弹性探针216；
第二十一弹性探针211与第十一插孔相连接；
第二十二弹性探针212与第十五插孔相连接；
第二十三弹性探针213与第十三插孔相连接；
第二十四弹性探针214与第十四插孔相连接；
第十二插孔接地；
第二十六弹性探针216与第十六插孔相连接；
第二十一弹性探针、第二十二弹性探针、第二十三弹性探针、第二十四弹性探针、第二十六弹性探针分别与负载板卡3测试端相连接。
所述弹性探针为弹簧。
本实用新型VCXO晶体电性能测试机构，结构简单，操作方便，制造成本低，便于安装和拆卸，维修方便，提高生产效率。
本实用新型VCXO晶体电性能测试机构，测试使能端是第12引脚的VCXO晶体时，不使用VCXO电路转换板；测试使能端是第15引脚的VCXO晶体时，将VCXO转换板4放置在负载板卡3上面，通过弹性连接体与负载卡上的电路连接，负责把第12引脚和第15引脚的电压互换，然后把测试座5再放置在VCXO转换板4上面，通过弹性探针与VCXO转接板连接，使能端是第15脚的VCXO晶体6放入测试座5内，高度调节块7负责调节测试盖板的下压高度，使晶体与测试座连接良好。负载卡3、VCXO转换板4、测试座5、VCXO晶体6都放置在测试盖板8内，使其与测试电路2紧密连接，通过计算机1和测试电路2进行电性能测试。

Claims (2)

1.一种VCXO晶体电性能测试机构，其特征在于：包括测试座（5）、负载板卡（3）和VCXO转换板（4）、高度调节块（7）、测试盖板（8）；
负载卡（3）上表面设置有VCXO转换板（4），VCXO转换板（4）上表面设置有测试座（5），所述VCXO晶体（6）设置在测试座（5）上表面；
所述VCXO转换板（4）为双层PCB板，VCXO转换板（4）上表面设置有6个插孔；
所述测试座设置导向孔，导向孔有与插孔位置相对应；
所述VCXO晶体设置有引脚；所述引脚位置与插孔位置相对应；所述6个引脚通过导向孔***所述6个插孔内；
所述插孔包括左侧插孔和右侧插孔；
所述左侧插孔分别为第十一插孔（11）、第十二插孔（12）和第十三插孔（13）；所述右侧插孔分别为第十四插孔（14）、第十五插孔（15）和第十六插孔（16）；
所述第十一插孔内设置有第十一引脚；所述第十二插孔内设置有第十二引脚；所述第十三插孔内设置有第十三引脚；所述第十四插孔内设置有第十四引脚；所述第十五插孔内设置有第十五引脚；所述第十六插孔内设置有第十六引脚；所述VCXO转换板下表面设置有五个转接板弹性探针；左侧3个弹性探针分别为第二十一弹性探针（211）、第二十二弹性探针（212）和第二十三弹性探针（213）；右侧2个弹性探针分别为第二十四弹性探针（214）和第二十六弹性探针（216）；
第二十一弹性探针（211）与第十一插孔（11）相连接；
第二十二弹性探针（212）与第十五插孔（15）相连接；
第二十三弹性探针（213）与第十三插孔（13）相连接；
第二十四弹性探针（214）与第十四插孔（14）相连接；
第十二插孔接地；
第二十六弹性探针（216）与第十六插孔（16）相连接；
第二十一弹性探针、第二十二弹性探针、第二十三弹性探针、第二十四弹性探针、第二十六弹性探针分别与负载板卡3测试端相连接。
2.根据权利要求1所述VCXO晶体电性能测试机构，其特征在于：所述弹性探针为弹簧。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN108195241A (zh) * 2018-02-08 2018-06-22 深圳大成创安达电子科技发展有限公司 一种电子***检测装置及检测方法
CN108414869A (zh) * 2018-06-11 2018-08-17 南京尤尼泰信息科技有限公司 一种适用于多种规格晶振的测试***
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