CN205404772U - 一种基于半导体冷却方式的led灯珠老化箱 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其具有呈长方体状的箱体，该箱体内设有至少3个以上测试腔，所述测试腔上下重叠安装于箱体内的一侧，每个测试腔皆配备多个半导体冷却模块、加热管和控制电路，所述控制电路安装在箱体内的另一侧，控制电路所连接的操作面板安装在箱体正面板上；3个测试腔可分别控制温度，且每个腔体内均有多个半导体冷却模块，在相同箱体温度下，可以同时做不同功率灯珠的老化；这样可以为节省老化设备，并一次性进行多款LED灯珠的老化，极大地提高了测试效率；采用半导体冷却方式控制LED灯珠温度，具有没有制冷剂不会泄漏、控制温度精准、可靠性高等优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及LED灯珠老化的测试仪，尤其涉及一种基于半导体冷却方式的并基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱。
背景技术
LED灯因具有环保、节能和寿命长的优点，在各领域得到迅速的推广和应用，有逐步取代传统照明成为主要光源的趋势。LED灯在认证时（如进行LM80标准认证）要进行严格的光衰和寿命测试。测试时要严格控制LED灯珠壳体温度和环境温度，要求环境温度≥壳体温度-5℃。壳体温度指距离LED灯珠壳体1.5毫米的空气中的温度。目前实验室和封装厂家都是用精密恒温箱来实现LED灯珠壳的恒温老化。由于LED灯珠本身发热量大，导致恒温箱只能精确控制环境温度，而不能精确控制壳体温度，更控制不了壳体温度和环境温度的温度偏差在-5℃。当环境温度达到要求的温度时，比如：55℃、85℃，或厂家宣称温度，而实际上因为LED灯珠本身发热量大，加上通常一个测试空间内要点25个以上的LED灯珠，所以LED灯珠的壳体温度会非常高，往往是壳体温度的实际温度远远高于所预设的温度。很多公司环境温度控制到55度，而最后实际的LED灯珠测试过程中会烧焦，最终的测试结果偏离，测试寿命值会偏小，不能真实反映LED灯珠的光衰和寿命。而且多个LED灯珠一起测试，也无法有效控制每一个LED灯珠样品的壳体温度在负2度的偏差内。
LM80测试要求在三个温度下进行测试：55℃（要求控制在53-55℃）、85℃（要求控制在83-85℃）、T3rd（要求控制-2，+0偏差）。由于现有LED灯珠测试仪只有一个测试腔，安装LED灯珠用以冷却控制LED灯珠壳体温度的冷却板的数量少，无法在多个温度下同时进行老化测试，制约了LED灯珠检测速度。故此业内亟需开发一种基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，以提高检测速度。
实用新型内容
本实用新型是要解决现有老化箱只有一个测试腔、只能提供一种测试环境温度、测试效率低的问题，提出一种基于半导体冷却方式的并基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱。
为解决上述技术问题，本实用新型提出的技术方案是设计一种基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其具有呈长方体状的箱体，该箱体内设有至少3个以上测试腔，所述测试腔上下重叠安装于箱体内的一侧、并且在箱体正面板上设置各自的腔门，每个测试腔皆配备多个半导体冷却模块、加热管和控制电路，其中半导体冷却模块用于安置LED灯珠并控制其温度、加热管用于给测试腔加温、控制电路用于控制半导体冷却模块和加热管工作；所述控制电路安装在箱体内的另一侧，控制电路所连接的操作面板安装在箱体正面板上。
上述半导体冷却模块包括电偶块、设置在电偶块制冷侧的LED灯固定座、设置在电偶块散热侧的风扇，电偶块和风扇受所述控制电路控制。
上述电偶块为长方体结构，6个电偶块排成上下两排置于所述测试腔内，所有电偶块上的LED灯固定座朝所述腔门安装、所述风扇由测试腔的后背部伸出。
在所述箱体的背面设置为两扇检修门，检修门上密布散热孔。
所述箱体的侧面板上设有多个散热孔；箱体的顶板上设有多个用于散热的百叶窗。
在所述箱体的底板下设有便于移动箱体的脚轮、以及带有伸缩功能的脚杯。
所述腔门上设有用于观察的透明观察窗。
所有操作面板共同安装在一扇操作门上，该操作门与所述箱体正面板铰接。
相邻测试腔之间、以及测试腔与控制电路之间设有隔热层。
所述测试腔设置在所述箱体的左侧，所述操作面板设置在箱体的右侧。
与现有技术相比，本实用新型因具有3个独立测试腔，可分别控制温度，可以做不同温度的LED灯珠老化测试，且每个腔体内均有多个半导体冷却模块，在相同箱体温度下，可以同时做不同功率灯珠的老化；这样可以为节省老化设备，并一次性进行多款LED灯珠的老化，极大地提高了测试效率；采用半导体冷却方式控制LED灯珠温度，具有没有制冷剂不会泄漏、控制温度精准、可靠性高等优点。上述诸多优点使得本装置具有广阔的市场前景。
附图说明
下面结合附图和实施例对本外观设计作出详细的说明，其中：
图1为本实用新型较佳实施例的正视图；
图2为本实用新型较佳实施例正视图带局部剖视图；
图3为半导体冷却模块正视方向的立体视图；
图4为半导体冷却模块后视方向的立体视图；
图5为本实用新型较佳实施例的俯视图；
图6为本实用新型较佳实施例的背视图；
图7为本实用新型较佳实施例的右侧视图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
本实用新型揭示了一种基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，参看图1和图2，其具有呈长方体状的箱体1，该箱体内设有至少3个以上测试腔，所述测试腔上下重叠安装于箱体内的一侧、并且在箱体正面板上设置各自的腔门2，每个测试腔皆配备多个半导体冷却模块、加热管3和控制电路。半导体冷却模块上面可插接多个LED灯珠，LED灯珠在老化测试时会发出大量热量，半导体冷却模块接通直流电后制冷，避免LED灯珠过热烧毁。加热管用于给测试腔加温，将测试腔温度控制在规定的范围内。控制电路用于控制半导体冷却模块和加热管工作；所述控制电路安装在箱体内的另一侧，控制电路所连接的操作面板4安装在箱体正面板上。从图1示出的较佳实施例中可以看出，有3个测试腔，对应地有3个操作面板4，可以通过操作面板输入操作指令，分别控制测试腔的温度，可以做不同温度的LED灯珠老化测试，且每个腔体内均有多个半导体冷却模块，在相同箱体温度下，可以同时做不同功率灯珠的老化；这样可以为节省老化设备，并一次性进行多款LED灯珠的老化，极大地提高了测试效率。
参看图3和图4示出的半导体冷却模块的正视立体视图和后视方向立体视图，所述半导体冷却模块包括电偶块30、设置在电偶块制冷侧的LED灯固定座31、设置在电偶块散热侧的风扇32，电偶块和风扇受所述控制电路控制。
参看图2示出的较佳实施例，所述电偶块30为长方体结构，6个电偶块排成上下两排置于所述测试腔内（上排3个、下排3个），所有电偶块上的LED灯固定座31朝所述腔门2安装、所述风扇32由测试腔的后背部伸出（参看图7示出的右侧视图）。图2中图标33所指是电偶块的出线口。参看图6示出的背视图，在所述箱体1的背面设置为两扇检修门7，检修门上密布散热孔5。伸出测试腔的风扇32位于测试腔后背与检修门7之间，风扇排出的热风由散热孔5中向外散出。参看图7，所述箱体1的侧面板上设有多个散热孔5；参看图5，箱体的顶板上设有多个百叶窗10，用以加强散热。
参看图1、2、6，在所述箱体1的底板下设有便于移动箱体的脚轮11、以及带有伸缩功能的脚杯12。脚杯与箱体底板螺接可以上下伸缩，当老化箱到达合适的位置时，可转动脚杯将老化箱顶起，从而将老化箱稳固地放在地上。
为了便于观察测试腔内的情况，在腔门2上设置用于观察的透明观察窗。
为便于安装和检修，设计中将所有操作面板4共同安装在一扇操作门13上，该操作门与所述箱体1正面板铰接。图1中图标21所指为控制电路的电源开关。
在较佳实施例中，相邻测试腔之间、以及测试腔与控制电路之间设有隔热层。
在较佳实施例中，所述测试腔设置在所述箱体1的左侧，所述操作面板4设置在箱体的右侧。如此设置便于右手控制操作面板。
以上实施例仅为举例说明，非起限制作用。任何未脱离本申请精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于本申请的权利要求范围之中。
Claims (10)
1.一种基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：具有呈长方体状的箱体（1），该箱体内设有至少3个以上测试腔，所述测试腔上下重叠安装于箱体内的一侧、并且在箱体正面板上设置各自的腔门（2），每个测试腔皆配备多个半导体冷却模块、加热管（3）和控制电路，其中半导体冷却模块用于安置LED灯珠并控制其温度、加热管用于给测试腔加温、控制电路用于控制半导体冷却模块和加热管工作；所述控制电路安装在箱体内的另一侧，控制电路所连接的操作面板（4）安装在箱体正面板上。
2.如权利要求1所述的基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：所述半导体冷却模块包括电偶块（30）、设置在电偶块制冷侧的LED灯固定座（31）、设置在电偶块散热侧的风扇（32），电偶块和风扇受所述控制电路控制。
3.如权利要求2所述的基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：所述电偶块（30）为长方体结构，6个电偶块排成上下两排置于所述测试腔内，所有电偶块上的LED灯固定座（31）朝所述腔门（2）安装、所述风扇（32）由测试腔的后背部伸出。
4.如权利要求1所述的基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：在所述箱体（1）的背面设置为两扇检修门（7），检修门上密布散热孔（5）。
5.如权利要求1所述的基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：所述箱体（1）的侧面板上设有多个散热孔（5）；箱体的顶板上设有多个用于散热的百叶窗（10）。
6.如权利要求1所述的基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：在所述箱体（1）的底板下设有便于移动箱体的脚轮（11）、以及带有伸缩功能的脚杯（12）。
7.如权利要求1所述的基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：所述腔门（2）上设有用于观察的透明观察窗。
8.如权利要求1所述的基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：所有操作面板（4）共同安装在一扇操作门（13）上，该操作门与所述箱体（1）正面板铰接。
9.如权利要求1所述的基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：相邻测试腔之间、以及测试腔与控制电路之间设有隔热层。
10.如权利要求1所述的基于半导体冷却方式的LED灯珠老化箱，其特征在于：所述测试腔设置在所述箱体（1）的左侧，所述操作面板（4）设置在箱体的右侧。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201620154833.8U CN205404772U (zh) | 2016-03-01 | 2016-03-01 | 一种基于半导体冷却方式的led灯珠老化箱 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201620154833.8U CN205404772U (zh) | 2016-03-01 | 2016-03-01 | 一种基于半导体冷却方式的led灯珠老化箱 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN205404772U true CN205404772U (zh) | 2016-07-27 |
Family
ID=56947171
Family Applications (1)
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| CN201620154833.8U Active CN205404772U (zh) | 2016-03-01 | 2016-03-01 | 一种基于半导体冷却方式的led灯珠老化箱 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN205404772U (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107860996A (zh) * | 2017-10-27 | 2018-03-30 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种集成式电子设备高温老化装置 |
| CN108254705A (zh) * | 2018-03-16 | 2018-07-06 | 广东天圣高科股份有限公司 | 一种检测灯具老化的装置 |
| CN109613044A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-04-12 | 淮北旭日建材有限公司 | 一种混凝土防冻剂抗冻能力的冷冻检测装置 |
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2016
- 2016-03-01 CN CN201620154833.8U patent/CN205404772U/zh active Active
Cited By (4)
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| CN108254705B (zh) * | 2018-03-16 | 2020-12-22 | 广东天圣高科股份有限公司 | 一种检测灯具老化的装置 |
| CN109613044A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-04-12 | 淮北旭日建材有限公司 | 一种混凝土防冻剂抗冻能力的冷冻检测装置 |
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