CN205301215U - 一种内存高温测试箱 - Google Patents
一种内存高温测试箱 Download PDFInfo
- Publication number
- CN205301215U CN205301215U CN201620058144.7U CN201620058144U CN205301215U CN 205301215 U CN205301215 U CN 205301215U CN 201620058144 U CN201620058144 U CN 201620058144U CN 205301215 U CN205301215 U CN 205301215U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- platform
- test platform
- internal memory
- slot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 142
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 15
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 15
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 8
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本实用新型提供一种内存高温测试箱,其结构包括测试箱体、具有测试主板的测试平台及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器,测试主板具有电源电路和***待测内存的插槽,插槽的电源引脚与电源电路连接。测试箱体被分割成至少两个测试空间,测试平台为抽屉式结构,测试平台配合***或拔出测试箱体的测试空间,且在测试平台配合***测试箱体的测试空间时,测试平台和测试空间围成密封的测试环境,当将内存***测试主板的插槽且内存接收来自电源电路提供的电压时,内存升温;再通过KVM切换器连接测试平台和外部显示器,查看检测结果;整个检测过程能真实、快速的显示内存在温度升高过程中的参数变化,以避免内存实际使用中引发的故障,实用性强。
Description
技术领域
本实用新型涉及机箱内部内存的测试,具体地说是一种内存高温测试箱。
背景技术
机器在使用过程中容易产生大量的热量,并在机箱内部形成一个高温环境,内存在特殊环境中使用,会出现很多常温下不易发现的故障,这些故障都会暴露出整台机器的质量问题;针对内存的测试,往往是在常温下进行的,测试温度无法与机器运转时产生的温度对比,所以隐患很难被发现。
发明内容
本实用新型的技术任务是解决现有技术的不足,提供一种内存高温测试箱。
本实用新型的技术方案是按以下方式实现的:
一种内存高温测试箱,包括测试箱体、具有测试主板的测试平台、以及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器,所述测试主板具有电源电路和***待测内存的插槽,插槽的电源引脚与电源电路连接以从电源电路接收电压。所述测试箱体被分割成至少两个互不连通的测试空间,所述测试平台为抽屉式结构,抽屉式结构的测试平台配合***或拔出测试箱体的测试空间,且在测试平台配合***测试箱体的测试空间时,测试平台和测试空间围成密封的测试环境。
进一步的,所述测试平台完全***测试空间时裸露在外的表面设置有把手,以方便抽拉测试平台。
优选,所述测试箱体通过三块隔板分割成四个测试空间,测试平台的数量为四个,四个测试平台与四个测试空间一一对应并水平***或拔出测试空间。
优选,所述测试主板上设置有至少一个***待测内存的插槽,每个插槽的电源引脚分别与电源电路连接以从电源电路接收电压。
本实用新型的一种内存高温测试箱与现有技术相比所产生的有益效果是:
1)本实用新型设计合理,结构简单,旨在提供一个密封的检测空间,并模拟内存的工作状态,以对内存进行高温检测,当然,此处的“高温”是相对于内存未处于使用状态时的温度来说的;
2)在本实用新型的测试平台上安装现有结构的测试主板,将测试平台水平***测试箱体的测试空间,由于测试平台与该测试空间围成密封的测试环境,当将内存***测试主板的插槽且内存接收来自电源电路提供的电压时,内存会升温,即相当于模拟了内存在密闭高温条件下的检测,再通过KVM切换器连接测试平台和外部显示器,以对内存的参数性能进行实时查看;整个检测过程真实、快速,能有效了解内存在密封高温环境下的性能参数变化,在内存温度逐渐升高的过程中,及时发现并避免内存在实际使用过程中可能引发的故障,实用性强。
附图说明
附图1是本实用新型中测试箱体的结构示意图;
附图2是本实用新型中测试平台的结构示意图;;
附图3是本实用新型中测试平台完全水平***测试箱体的测试空间的结构示意图。
附图中的标记分别表示:
1、测试箱体,2、隔板,3、测试空间,4、测试平台,5、测试主板,
6、插槽,7、把手。
具体实施方式
下面结合附图1、2、3,对本实用新型的一种内存高温测试箱作以下详细说明。
如附图所示,本实用新型的一种内存高温测试箱,其结构包括测试箱体1、具有测试主板5的测试平台4、以及连接测试平台4和外部显示器的KVM切换器,所述测试主板5具有电源电路和***待测内存的插槽6,插槽6的电源引脚与电源电路连接以从电源电路接收电压。其中,测试箱体1、具有测试主板5的测试平台4、以及连接测试平台4和外部显示器的KVM切换器均为现有技术,所以附图中并未画出KVM切换器、以及KVM切换器连接测试平台4和外部显示器的示意图。
所述测试箱体1通过三块水平放置的隔板2分割成四个互不连通的测试空间3,所述测试平台4为抽屉式结构,数量为四个,四个抽屉式结构的测试平台4与四个测试空间3一一对应并水平***或拔出四个测试空间3,且在测试平台4配合***测试箱体1的测试空间3时,测试平台4和测试空间3围成密封的测试环境。
所述测试平台4完全***测试空间3时裸露在外的表面设置有把手7,以方便抽拉测试平台4。
优选,所述测试主板5上设置有至少一个***待测内存的插槽6,每个插槽6的电源引脚分别与电源电路连接以从电源电路接收电压。
使用时,将内存***测试主板5的插槽6,将测试平台4水平***测试箱体1的测试空间3,使测试平台4与该测试空间3围成密封的测试环境,开启电源,使***插槽6的内存接收来自测试主板5的电源电路提供的电压,此时,在密封的测试环境中,内存逐渐升温。同时,由于KVM切换器连接测试平台4和外部显示器,工作人员可以通过外部显示器真实、快速、有效的了解内存在密封高温环境下的性能参数变化,避免内存在实际使用中因性能参数变化可能引发的故障。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接连接,也可以通过中间媒介间接连接,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
最后应当说明的是,以上内容仅用以说明本发明的技术方案,而非对本发明保护范围的限制,尽管该具体实施方式部分对本发明作了详细地说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
Claims (4)
1.一种内存高温测试箱,包括测试箱体、具有测试主板的测试平台、以及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器,所述测试主板具有电源电路和***待测内存的插槽,插槽的电源引脚与电源电路连接以从电源电路接收电压,其特征在于,所述测试箱体被分割成至少两个互不连通的测试空间,所述测试平台为抽屉式结构,抽屉式结构的测试平台配合***或拔出测试箱体的测试空间,且在测试平台配合***测试箱体的测试空间时,测试平台和测试空间围成密封的测试环境。
2.根据权利要求1所述的一种内存高温测试箱,其特征在于,所述测试平台完全***测试空间时裸露在外的表面设置有把手。
3.根据权利要求1或2所述的一种内存高温测试箱,其特征在于,所述测试箱体通过三块隔板分割成四个测试空间,测试平台的数量为四个,四个测试平台与四个测试空间一一对应并水平***或拔出测试空间。
4.根据权利要求3所述的一种内存高温测试箱,其特征在于,所述测试主板上设置有至少一个***待测内存的插槽,每个插槽的电源引脚分别与电源电路连接以从电源电路接收电压。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201620058144.7U CN205301215U (zh) | 2016-01-21 | 2016-01-21 | 一种内存高温测试箱 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201620058144.7U CN205301215U (zh) | 2016-01-21 | 2016-01-21 | 一种内存高温测试箱 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN205301215U true CN205301215U (zh) | 2016-06-08 |
Family
ID=56430227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201620058144.7U Expired - Fee Related CN205301215U (zh) | 2016-01-21 | 2016-01-21 | 一种内存高温测试箱 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN205301215U (zh) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106019114A (zh) * | 2016-06-23 | 2016-10-12 | 上海战旗电子有限公司 | 测试温箱 |
CN106707138A (zh) * | 2016-12-29 | 2017-05-24 | 广东长虹电子有限公司 | 应用于电路板测试的测试装置 |
CN108446191A (zh) * | 2017-12-31 | 2018-08-24 | 广东三木科技有限公司 | 一种能模拟不同环境的内存条测试*** |
CN108761857A (zh) * | 2018-05-18 | 2018-11-06 | 江苏中致显科技有限公司 | 一种液晶显示模组测试装置及测试方法 |
CN111707933A (zh) * | 2020-08-20 | 2020-09-25 | 浙江杭可仪器有限公司 | 一种存储器老化测试柜 |
-
2016
- 2016-01-21 CN CN201620058144.7U patent/CN205301215U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106019114A (zh) * | 2016-06-23 | 2016-10-12 | 上海战旗电子有限公司 | 测试温箱 |
CN106707138A (zh) * | 2016-12-29 | 2017-05-24 | 广东长虹电子有限公司 | 应用于电路板测试的测试装置 |
CN108446191A (zh) * | 2017-12-31 | 2018-08-24 | 广东三木科技有限公司 | 一种能模拟不同环境的内存条测试*** |
CN108761857A (zh) * | 2018-05-18 | 2018-11-06 | 江苏中致显科技有限公司 | 一种液晶显示模组测试装置及测试方法 |
CN108761857B (zh) * | 2018-05-18 | 2023-12-05 | 江苏聚泰科技有限公司 | 一种液晶显示模组测试装置及测试方法 |
CN111707933A (zh) * | 2020-08-20 | 2020-09-25 | 浙江杭可仪器有限公司 | 一种存储器老化测试柜 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN205301215U (zh) | 一种内存高温测试箱 | |
CN201225932Y (zh) | 温度开关测试装置 | |
CN203455389U (zh) | 输电线路绝缘子漏电流模拟试验台 | |
CN105510786B (zh) | 一种高压电缆典型缺陷仿真试验平台 | |
CN104052399A (zh) | 一种光伏旁通二极管可靠性评估装置与方法 | |
CN104198855A (zh) | 多因素相色管老化模拟实验方法 | |
CN204142158U (zh) | 一种微动开关检验工装 | |
CN204065398U (zh) | 智能电表高低温老化检验装置 | |
CN206074164U (zh) | 变压器高压套管端部一字型金具三维拉力传感器 | |
CN102680931B (zh) | 接地装置特性参数测试***检定装置 | |
CN207528835U (zh) | 电容器参数测试装置 | |
CN103217659A (zh) | 特快速暂态过电压测量***的标定方法与标定装置 | |
Yang | Research on three-phase calibration method of HV Three-phase Combined Transformer and its implementation | |
CN110764436A (zh) | 射检台自动化测试设备、控制方法及控制装置 | |
CN203101620U (zh) | 互感器电路板检验装置 | |
CN103795341A (zh) | 一种光伏组件抗pid衰减的测试方法 | |
CN111693781B (zh) | 一种核电站棒控棒位***电气回路综合测试装置 | |
CN209690794U (zh) | 基于物联网的热熔断体温度智能检测*** | |
CN206906515U (zh) | 一种电源插头线综合测试仪 | |
CN109085467B (zh) | 用于绝缘粘结剂电气性能研发的试验平台及*** | |
CN103293501B (zh) | 一种用于开关设备绝缘检测仪的校验装置 | |
CN202583442U (zh) | 接地装置特性参数测试***检定装置 | |
CN206505129U (zh) | 一种用于纯电动汽车pdu全电箱的测试设备 | |
CN104155628A (zh) | 一种智能电表高低温老化检验装置 | |
CN103713225A (zh) | 电容放电测试仪 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20160608 Termination date: 20170121 |