CN205209888U - 一种晶片强度检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种晶片强度检测装置，包括检测台，检测台设有检测槽；检测台设有支撑杆，支撑杆的端部设有限位板，限位板的下方设有锁片，限位板之间设有扣杆，导向管内套装有压管，导向管的下端设有旋管，旋管与压管通过螺纹连接，压管的下端设有压头，检测台上设有压力传感片，压力传感片设置在锁片的下方，压力传感片与压力检测器连接。本实用新型方便对压头进行升降控制，通过压头方便对晶片进行压破，从而方便对晶片强度进行检测。

Description

一种晶片强度检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种检测装置，具体涉及一种晶片强度检测装置。

背景技术

抗拉强度测试仪，拉伸性能，拉伸强度与变形率，拉断力，抗撕裂性能，热封强度性能，滚筒剥离试验，90度剥离，绳类拉断力，裤型撕裂力，180度剥离，压缩试验，弯曲试验，剪切试验，顶破试验等完成不同的试验，根据客户的需求不同，可以安装不同的夹具，宽试样夹具，日式夹具。现有的抗拉强度测试仪不方便对晶片的强度进行检测。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种可以将待检测的晶片放置在检测台上，可以将待检测的晶片安装在压力传感片上，旋管的旋转可以控制压管沿着导向管实现移动，从而方便对压头进行升降控制，通过压头方便对晶片进行压破，从而方便对晶片强度进行检测的晶片强度检测装置。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种晶片强度检测装置，包括检测台，检测台的一端设置在第一底座上，第一底座上设有第一支撑柱，第一支撑柱呈竖直布置，检测台的一端设置在第一支撑柱上；检测台的另一端设置在第二底座上，第二底座上设有第二支撑柱，第二支撑柱呈竖直布置，检测台的另一端设置在第二支撑柱上；检测台设有检测槽；检测台的一端上设有第一支撑杆，第一支撑杆为弧形形状，第一支撑杆的端部设有第一限位板，第一限位板呈水平布置，第一限位板的下方设有第一锁片，第一限位板插接有第一锁杆，第一锁杆的下端与第一锁片连接，第一锁杆的上端为自由端；检测台的另一端上设有第二支撑杆，第二支撑杆为弧形形状，第二支撑杆的端部设有第二限位板，第二限位板的下方设有第二锁片，第二限位板插接有第二锁杆，第二锁杆的下端与第二锁片连接，第二锁杆的上端为自由端；第一限位板与第二限位板之间设有扣杆，扣杆设有导向管，导向管呈竖直布置，导向管内套装有压管，导向管的下端设有旋管，旋管与压管通过螺纹连接，压管的下端设有压头，检测台上设有第一压力传感片与第二压力传感片，第一压力传感片设置在第一锁片的下方，第二压力传感片设置在第二锁片的下方，检测台设有压力检测器，第一压力传感片、第二压力传感片分别与压力检测器连接。

进一步的，所述第一锁杆的上端设有第一旋帽。

进一步的，所述第一旋帽的外表面设有防滑纹。

进一步的，所述第二锁杆的上端设有第二旋帽。

进一步的，所述第二旋帽的外表面设有防滑纹。

采用上述结构后，本实用新型有益效果为：可以将待检测的晶片放置在检测台上，可以将待检测的晶片的一端安装在第一压力传感片上，可以将待检测的晶片的另一端安装在第二压力传感片上，通过第一锁片与第二锁片可以使晶片锁接更加牢固；旋管的旋转可以控制压管沿着导向管实现移动，从而方便对压头进行升降控制，通过压头方便对晶片进行压破，从而方便对晶片强度进行检测。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

附图标记说明：

检测台11、第一底座12、第一支撑柱13、第二底座14、第二支撑柱15、检测槽16、第一支撑杆17、第一限位板18、第一锁片19、第一锁杆20、第一旋帽21、第二支撑杆22、第二限位板23、第二锁片24、第二锁杆25、第二旋帽26、扣杆27、导向管28、压管29、旋管30、压头31、第一压力传感片32、第二压力传感片33、压力检测器34。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。

如图1所示，本实用新型所述的一种晶片强度检测装置，包括检测台11，检测台11的一端设置在第一底座12上，第一底座12上设有第一支撑柱13，第一支撑柱13呈竖直布置，检测台11的一端设置在第一支撑柱13上；检测台11的另一端设置在第二底座14上，第二底座14上设有第二支撑柱15，第二支撑柱15呈竖直布置，检测台11的另一端设置在第二支撑柱15上；检测台11设有检测槽16；检测台11的一端上设有第一支撑杆17，第一支撑杆17为弧形形状，第一支撑杆17的端部设有第一限位板18，第一限位板18呈水平布置，第一限位板18的下方设有第一锁片19，第一限位板18插接有第一锁杆20，第一锁杆20的下端与第一锁片19连接，第一锁杆20的上端为自由端；检测台11的另一端上设有第二支撑杆22，第二支撑杆22为弧形形状，第二支撑杆22的端部设有第二限位板23，第二限位板23的下方设有第二锁片24，第二限位板23插接有第二锁杆25，第二锁杆25的下端与第二锁片24连接，第二锁杆25的上端为自由端；第一限位板18与第二限位板23之间设有扣杆27，扣杆27设有导向管28，导向管28呈竖直布置，导向管28内套装有压管29，导向管28的下端设有旋管30，旋管30与压管29通过螺纹连接，压管29的下端设有压头31，检测台11上设有第一压力传感片32与第二压力传感片33，第一压力传感片32设置在第一锁片19的下方，第二压力传感片33设置在第二锁片24的下方，检测台11设有压力检测器34，第一压力传感片32、第二压力传感片33分别与压力检测器34连接；第一锁杆20的上端设有第一旋帽21，第一旋帽21的外表面设有防滑纹，第二锁杆25的上端设有第二旋帽26，第二旋帽26的外表面设有防滑纹。

本实用新型晶片强度检测装置，可以将待检测的晶片放置在检测台11上，可以将待检测的晶片的一端安装在第一压力传感片32上，可以将待检测的晶片的另一端安装在第二压力传感片33上，通过第一锁片19与第二锁片24可以使晶片锁接更加牢固；旋管30的旋转可以控制压管29沿着导向管28实现移动，从而方便对压头31进行升降控制，通过压头31方便对晶片进行压破，从而方便对晶片强度进行检测。

其中，第一锁杆20的上端设有第一旋帽21，第一旋帽21的外表面设有防滑纹，所以通过第一旋帽21方便对第一锁杆20进行转动控制。

其中，第二锁杆25的上端设有第二旋帽26，第二旋帽26的外表面设有防滑纹，所以通过第二旋帽26方便对第二锁杆25进行转动控制。

以上所述仅是本实用新型的较佳实施方式，故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。

Claims (5)

1.一种晶片强度检测装置，包括检测台（11），其特征在于：检测台（11）的一端设置在第一底座（12）上，第一底座（12）上设有第一支撑柱（13），第一支撑柱（13）呈竖直布置，检测台（11）的一端设置在第一支撑柱（13）上；检测台（11）的另一端设置在第二底座（14）上，第二底座（14）上设有第二支撑柱（15），第二支撑柱（15）呈竖直布置，检测台（11）的另一端设置在第二支撑柱（15）上；检测台（11）设有检测槽（16）；检测台（11）的一端上设有第一支撑杆（17），第一支撑杆（17）为弧形形状，第一支撑杆（17）的端部设有第一限位板（18），第一限位板（18）呈水平布置，第一限位板（18）的下方设有第一锁片（19），第一限位板（18）插接有第一锁杆（20），第一锁杆（20）的下端与第一锁片（19）连接，第一锁杆（20）的上端为自由端；检测台（11）的另一端上设有第二支撑杆（22），第二支撑杆（22）为弧形形状，第二支撑杆（22）的端部设有第二限位板（23），第二限位板（23）的下方设有第二锁片（24），第二限位板（23）插接有第二锁杆（25），第二锁杆（25）的下端与第二锁片（24）连接，第二锁杆（25）的上端为自由端；第一限位板（18）与第二限位板（23）之间设有扣杆（27），扣杆（27）设有导向管（28），导向管（28）呈竖直布置，导向管（28）内套装有压管（29），导向管（28）的下端设有旋管（30），旋管（30）与压管（29）通过螺纹连接，压管（29）的下端设有压头（31），检测台（11）上设有第一压力传感片（32）与第二压力传感片（33），第一压力传感片（32）设置在第一锁片（19）的下方，第二压力传感片（33）设置在第二锁片（24）的下方，检测台（11）设有压力检测器（34），第一压力传感片（32）、第二压力传感片（33）分别与压力检测器（34）连接。

2.根据权利要求1所述的晶片强度检测装置，其特征在于：第一锁杆（20）的上端设有第一旋帽（21）。

3.根据权利要求2所述的晶片强度检测装置，其特征在于：第一旋帽（21）的外表面设有防滑纹。

4.根据权利要求1所述的晶片强度检测装置，其特征在于：第二锁杆（25）的上端设有第二旋帽（26）。

5.根据权利要求4所述的晶片强度检测装置，其特征在于：第二旋帽（26）的外表面设有防滑纹。